专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种芯片、信号位移电路及电子设备-CN201980093562.6在审
  • 蒋其梦;彭兴强;孙程豪 - 华为技术有限公司
  • 2019-12-30 - 2021-10-15 - H03K19/0175
  • 本申请公开了一种芯片及信号位移电路,应用于充电器或适配器等移动终端上,该芯片合封有采用工艺制作的第一驱动裸片和第二驱动裸片,以及采用氮化镓工艺制作的第一氮化镓裸片和第二氮化镓裸片,第一驱动裸片与控制器的两个输出端连接,第一驱动裸片上集成有第一电路,第二驱动裸片集成有第二电路,第一氮化镓裸片上集成有氮化镓电路,氮化镓电路耐高压,第一电路接收控制器输出的脉冲信号HI,并将HI传递到氮化镓电路;氮化镓电路分担第二电路的输入电压VB,并将HI传递到第二电路。这样可以确保采用低压工艺制作的低压第二驱动裸片不被高输入电压损坏,从而降低了芯片的成本。
  • 一种芯片信号位移电路电子设备
  • [发明专利]一种芯片、信号位移电路及电子设备-CN201910172026.7有效
  • 蒋其梦;彭兴强;孙程豪 - 华为技术有限公司
  • 2019-03-07 - 2020-12-25 - H03K19/0175
  • 本申请公开了一种芯片及信号位移电路,应用于充电器或适配器等移动终端上,该芯片合封有采用工艺制作的第一驱动裸片和第二驱动裸片,以及采用氮化镓工艺制作的第一氮化镓裸片和第二氮化镓裸片,第一驱动裸片与控制器的两个输出端连接,第一驱动裸片上集成有第一电路,第二驱动裸片集成有第二电路,第一氮化镓裸片上集成有氮化镓电路,氮化镓电路耐高压,第一电路接收控制器输出的脉冲信号HI,并将HI传递到氮化镓电路;氮化镓电路分担第二电路的输入电压VB,并将HI传递到第二电路。这样可以确保采用低压工艺制作的低压第二驱动裸片不被高输入电压损坏,从而降低了芯片的成本。
  • 一种芯片信号位移电路电子设备
  • [发明专利]基于CMOS平台的低成本多芯片选区异质集成方法-CN201710818651.5有效
  • 冯朋;肖希;王磊;李淼峰;杨奇;余少华 - 武汉邮电科学研究院
  • 2017-09-12 - 2019-11-05 - H01L21/84
  • 本发明公开了一种基于CMOS平台的低成本多芯片选区异质集成方法,涉及与非材料的异质集成领域。该方法包括:在非衬底上通过外延,光刻,刻蚀等工艺制作出共面电极非芯片;然后在非芯片的晶圆正面注入热固性聚合物溶剂并固化,通过选择性腐蚀工艺去掉衬底与缓冲层,并通过光刻溅射等工艺形成键合金属层;利用集成了非芯片台面与对版标记的版图通过CMOS工艺在SOI晶圆的顶层上制作出器件结构与键合金属层;利用集成非芯片与芯片的版图完成对准贴合,并通过真空键合完成非芯片在芯片上异质集成。本发明操作简单,工艺兼容性好,制作成本低,集成度高,可用于平台上非材料功能器件的有效集成。
  • 基于cmos平台低成本芯片选区集成方法
  • [发明专利]一种芯片背腔湿法释放工艺-CN202211702442.1在审
  • 王丹丹;孔亮;陈迎迎 - 苏州恒芯微电子有限公司
  • 2022-12-29 - 2023-03-21 - B81C1/00
  • 本发明涉及半导体芯片加工技术领域,具体涉及一种芯片背腔湿法释放工艺。本发明中通过在芯片正面形成聚酰亚胺涂层保护芯片正面的金属线路,用氮化硅保护膜保护芯片背面待腐蚀区域以外的区域,用湿法腐蚀液对芯片背面待腐蚀区域进行刻蚀,释放出背腔,得到具有背腔结构的芯片该工艺有效避免了使用聚四氟乙烯夹具保护芯片正面的金属线路时可能出现的芯片受损,以及使用聚四氟乙烯夹具时手动安装需要耗费大量的时间的问题;利用本发明的芯片背腔湿法释放工艺,能够在不变动芯片产线原有设备的前提下,能够实现芯片的大批量的在线连续湿法释放。
  • 一种芯片湿法释放工艺
  • [发明专利]一种亚微米尺寸的通孔结构及其制备方法、电子设备-CN202310467668.6有效
  • 王玮;林晨希;陈浪 - 北京大学
  • 2023-04-26 - 2023-10-03 - H01L21/768
  • 本申请提供一种亚微米尺寸的通孔结构及其制备方法、电子设备,涉及半导体技术领域,包括:提供衬底;在衬底的第一侧形成第一金属层;对衬底的第二侧进行减薄,以使第一金属层贯穿衬底的第二侧;在衬底的第二侧形成第二金属层;其中,在衬底的第一侧形成第一金属层,包括:对衬底的第一侧进行刻蚀,形成多个盲孔;在盲孔的一侧形成第一金属材料层;对第一金属材料层进行刻蚀,形成第一金属层。本申请通过在衬底一侧直接制备盲孔,避免形成外延层,提升了通孔制备工艺工艺兼容性,降低了通孔制备工艺的制作难度以及制作成本。
  • 一种微米尺寸硅通孔结构及其制备方法电子设备
  • [发明专利]一种降低静态随机存储器制备工艺中阴影效应的方法-CN201310491996.6无效
  • 俞柳江 - 上海华力微电子有限公司
  • 2013-10-18 - 2014-01-22 - H01L21/8244
  • 一种降低静态随机存储器制备工艺中阴影效应的方法,包括:步骤S1:提供衬底,并形成浅沟槽隔离;步骤S2:在衬底上设置栅氧化层和多晶硅栅,并在栅氧化层两侧设置源极区和漏极区;步骤S3:在衬底表面设置光阻层,且光阻层之侧壁与衬底之上表面具有倾角α,0<α<90°;步骤S4:通过环状注入工艺,对目标区域进行离子注入。本发明通过在所述衬底之异于所述栅氧化层的表面设置光阻层,且光阻层之侧壁与衬底之上表面具有倾角α,0<α<90°,使得所述环状注入之注入方向在所述衬底上的投影面积减小,故在进行所述环状注入工艺时,所述环状注入离子便可注入到目标区域,以降低静态随机存储器制备工艺中的阴影效应。
  • 一种降低静态随机存储器制备工艺阴影效应方法

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