专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]生物体测量装置-CN200480031934.6有效
  • 佐藤大树;木口雅史;牧敦;山本刚 - 株式会社日立制作所;株式会社日立医药
  • 2004-07-01 - 2006-12-06 - A61B5/145
  • 一种生物体测量装置。控制照射被检体的峰值波长不同的多个波段的的光照射强度比率,从而以比以往更高的精度来测量生物体内部的信息,为此而改变照射被检体的第一波段的光和第二波段的的光照射强度比率,从而能够控制生物体信息的测量误差另外,从对被检体的安全性的观点来看,照射强度被限制时,将第一波段的照射被检体的光和第二波段的照射被检体的的总照射强度限制在预定值内,在预定值内改变光照射强度比率,从而能够控制生物体信息的测量误差
  • 生物体测量装置
  • [发明专利]异物检测装置、曝光装置以及物品的制造方法-CN201910951717.7有效
  • 中野裕己 - 佳能株式会社
  • 2019-10-09 - 2023-08-11 - G03F1/84
  • 该异物检测装置检测透明部件上的异物,该异物检测装置的特征在于,具有:照射部,对透明部件斜着照射;受部,检测来自被照射照射的透明部件上的异物的散射;以及处理部,进行检测异物的处理,该处理包含:第一模式,将照射部与受部的相对位置设为照射部与受部之间的距离为第一距离的第一状态,基于在第一状态下由受部检测的散射的分布来检测异物;以及第二模式,将照射部与受部的相对位置设为照射部与受部之间的距离为比第一距离长的第二距离的第二状态,基于在第二状态下由受部检测的散射的分布来检测异物。
  • 异物检测装置曝光以及物品制造方法
  • [发明专利]无创分光光度计及相关方法-CN201180015421.6有效
  • 克里斯托弗·格林 - 克里斯托弗·格林
  • 2011-01-19 - 2012-12-12 - A61B3/12
  • 本发明提供一种用于对人或动物对象的眼睛进行无创检查测量和/或监测的设备,该设备具有包括照射装置和接收装置的第一光学系统,该照射装置用于选择性地将照射引导至眼睛的选定结构上,用于从其直接反射和漫反射,并用于以一个或多个脉冲提供照射,该接收装置用于接收作为照射照射的结果从眼睛返回的,并且设置为以相对于照射脉冲的选定时序间歇地记录返回的,以在从选定结构返回的直接反射或漫反射光和其他反射之间进行区分,用于分析所述直接反射或所述漫反射
  • 分光光度计相关方法
  • [发明专利]照明装置-CN201710061627.1在审
  • 姬野徹;山田真;青木慎一;和田英树 - 松下知识产权经营株式会社
  • 2017-01-26 - 2017-08-08 - F21S8/08
  • 照明装置(1)具备以直线状设置在基板(11)上的多个光源(12);以及对多个光源(12)照射中规定的波长的进行遮光的遮光板(14),遮光板(14)被设置在基板(11)上,且至少被设置在多个光源(12)排列的方向上的比多个光源(12)中最靠农耕地侧的光源(12)更靠农耕地侧的位置,遮光板(14)具有使第一照射(A)照射到农耕地的方向、使第二照射(B)照射到与农耕地相反的方向的形状,所述第一照射(A)是来自多个光源(12)的透过了遮光板(14)的,所述第二照射(B)是来自多个光源(12)的没有透过遮光板(14)的
  • 照明装置
  • [发明专利]光源设备和使用所述光源设备的投影仪-CN201480058810.0有效
  • 高桥达也;藤田和弘;村井俊晴;西森丈裕 - 株式会社理光
  • 2014-10-23 - 2017-09-22 - G03B21/20
  • 本发明的光源设备包括激发光源(1a),被配置为发出要用作激发光和投影的颜色分量的照射;荧光部件(5),被布置在激发光路径(X2)中,并且被配置为当使用所述照射照射时生成荧光,所述荧光具有与所述照射的颜色分量不同的颜色分量;路径合并单元,被配置为将荧光路径(X3)与投影路径(X1)合并,使用所述照射照射生成的荧光通过所述荧光路径(X3)传递,所述投影光通过所述投影路径(X1)传递;以及路径切换盘(3),被配置为在所述激发光路径(X2)和所述投影路径(X1)之间切换所述照射
  • 光源设备使用投影仪
  • [发明专利]照射装置-CN201410367899.0有效
  • 岸根努 - 豪雅冠得股份有限公司
  • 2014-07-30 - 2019-05-21 - B05D3/06
  • 只用一光源就可以同时对圆环状照射区域照射的光照射装置。将光照射于配置在指定位置被照射物圆环状照射区域的光照射装置,具备:LED组件,射出;第1透镜,与LED组件具有共通光轴,且将LED组件射出的紫外的发散角缩小,并使形成指定发散角;第2透镜,与第1透镜具有共通光轴,且将穿透所述第1透镜的以使其成以光轴O为中心的圆环状的方式折射;以及第3透镜,与第2透镜具有共通光轴,且将穿透所述第2透镜的圆环状聚焦于所述照射区域上。
  • 照射装置
  • [发明专利]测距装置以及测距装置的控制方法-CN202080070358.5在审
  • 水野文明 - 株式会社电装
  • 2020-09-14 - 2022-05-13 - G01C3/06
  • 本发明涉及搭载于车辆的测距装置(20),具备:发光部(40),射出照射;扫描部(50),使上述照射(IL)在预先设定的扫描范围(MR)内扫描;受部(60),与上述照射的扫描对应地接受包含来自上述扫描范围的上述照射的反射(RL)的,并输出与上述反射的受状态相应的电信号;以及测定部(70),使用从上述受部输出的上述信号,来至少测定距上述扫描范围中的物体的距离,根据上述车辆的行驶状况来使由上述扫描部扫描的上述照射的扫描状态变化
  • 测距装置以及控制方法
  • [发明专利]图像读取装置-CN200610092351.5有效
  • 远藤孝文;丰田滋 - 三菱电机株式会社
  • 2006-06-01 - 2007-06-20 - H04N1/028
  • 本发明的图像读取装置具有:传送单元,在传送方向传送具有水印的被照射物;第1光源,配置在被照射物的一面侧,对被照射物的传送路径上的照射照射;第2光源,配置在被照射物的另一面侧,对照射照射;检出单元,从照射部在与传送方向相反的方向隔开预定距离来配置,并检出被照射物的透射部分;点亮控制单元,在由该检出单元检出的该透射部分通过照射部的期间,以使第2光源点亮的方式进行控制;透镜阵列,配置在被照射物的一面侧,对由照射部的被照射物的反射部分反射后的反射以及透过透射部分的透射进行会聚;传感器,接受由该透镜阵列会聚后的
  • 图像读取装置
  • [发明专利]集成电路检查装置-CN201610452908.5有效
  • 中村共则;平井伸幸 - 浜松光子学株式会社
  • 2012-05-25 - 2020-08-21 - G01N21/956
  • 本发明涉及一种集成电路检查装置,其是用于检查包含半导体基板及形成于半导体基板的表面侧的电路部的集成电路的集成电路检查装置,具备:产生部,其产生照射于集成电路的;波长宽度调整部,其调整照射于集成电路的的波长宽度;照射位置调整部,其调整照射于集成电路的照射位置;及检测部,其在来自产生部的经由半导体基板的背面而照射于电路部时,检测来自集成电路的
  • 集成电路检查装置
  • [发明专利]集成电路检查装置-CN201280026635.8有效
  • 中村共则;平井伸幸 - 浜松光子学株式会社
  • 2012-05-25 - 2014-02-05 - H01L21/66
  • 本发明涉及一种集成电路检查装置,其是用于检查包含半导体基板及形成于半导体基板的表面侧的电路部的集成电路的集成电路检查装置,具备:产生部,其产生照射于集成电路的;波长宽度调整部,其调整照射于集成电路的的波长宽度;照射位置调整部,其调整照射于集成电路的照射位置;及检测部,其在来自产生部的经由半导体基板的背面而照射于电路部时,检测来自集成电路的
  • 集成电路检查装置
  • [发明专利]探测系统及探测方法-CN201580038292.0有效
  • 市桥光芳 - 富士胶片株式会社
  • 2015-07-13 - 2020-04-14 - G01N21/21
  • 本发明提供一种方法及系统,该方法在选择性地包含右旋圆偏振或左旋圆偏振中任一种旋向的圆偏振已被感应的状态下,通过使圆偏振路交叉而对象物通过时所感应的量发生变化来探测对象物,该系统依次包含照射圆偏振照射部、对象物移动部及感应圆偏振的检测部,上述检测部位于由上述照射部所照射入射的位置,由上述照射部所照射入射于上述检测部的路与上述对象物移动部交叉,由上述照射部选择性地照射的圆偏振的旋向与由检测部选择性地感应的圆偏振的旋向相同
  • 探测系统方法

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