专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种旋转磁场激励的漏磁检测传感器-CN202022202972.2有效
  • 王伟;殷晓康;杨丽强;李振;李伟;袁新安;陈国明 - 中国石油大学(华东)
  • 2020-09-30 - 2021-08-06 - G01N27/83
  • 本实用新型涉及一种旋转磁场激励的漏磁检测传感器,包括激励装置上半部分、激励装置下半部分、激励线圈骨架、检测装置、穿线孔,激励装置上半部分和激励装置下半部分分别均匀缠绕于激励线圈骨架上,共同组成激励装置,检测装置置于激励装置中心。激励装置包括激励线圈I、激励线圈II、激励线圈III、激励线圈IV、激励线圈V和激励线圈Ⅵ。检测装置包括检测线圈骨架、检测线圈,检测线圈均匀缠绕于检测线圈骨架上的凹槽,并且通过穿线孔引出。本发明的有益效果是:激励装置可以产生两对反向的旋转磁场,漏磁场对各个方向的缺陷都敏感,避免了机械旋转,检测线圈可以拾取由缺陷产生的所有轴向扰动信号,不受提离的影响,适配于不同外径的管道。
  • 一种旋转磁场激励检测传感器
  • [实用新型]一种芯片功耗的检测装置-CN202022100292.X有效
  • 毛晟;陈锴 - 上海壁仞智能科技有限公司
  • 2020-09-22 - 2020-12-29 - G01R31/28
  • 本实用新型实施例提供一种芯片功耗的检测装置,其中,芯片功耗的检测装置包括:检测源;与检测源连接的功耗激励产生模块,检测源发送使能信号至功耗激励产生模块,以使功耗激励产生模块产生激励信号;至少一个待检测模块,功耗激励产生模块与至少一个待检测模块连接,以使功耗激励产生模块将激励信号输入至目标待检测模块,以得到目标待检测模块的真实功耗。本实用新型实施例提供的芯片功耗的检测装置可以使功耗激励产生模块产生激励信号,用于待检测模块产生功耗,然后再使功耗激励产生模块将激励信号输入至目标待检测模块,从而可以得到目标待检测模块的真实功耗,以满足后续对芯片功耗分析的需求
  • 一种芯片功耗检测装置
  • [发明专利]一种电磁复合无损检测传感器、系统及方法-CN202111653957.2在审
  • 高斌;刘乾杭 - 四川沐迪圣科技有限公司
  • 2021-12-30 - 2022-04-08 - G01L1/12
  • 本发明公开了一种电磁复合无损检测传感器、系统及方法,属于无损检测技术领域包括激励组件和接收组件;激励组件包括接收极低频激励信号、低频激励信号或中高频激励信号的第一激励线圈,以及接收中低频激励信号或高频激励信号的第二激励线圈将基于不同频率激励信号进行工作的激励组件、接收组件集成于同一传感器中,通过在不同时刻向第一激励线圈、第二激励线圈通入不同激励信号进而实现不同的无损检测,包括涡流检测、交流电磁场检测、磁巴克豪森噪声检测、增量磁导率检测等多种无损检测,进而能够获取微观组织引起的应力变化、增量的磁导率对应力影响、电导率与磁导率对应力的影响,以此实现准确判断构件应力大小,为复杂应力理论研究提供了实验验证基础。
  • 一种电磁复合无损检测传感器系统方法
  • [发明专利]一种芯片功耗的检测方法和装置-CN202011004309.X在审
  • 毛晟;陈锴 - 上海壁仞智能科技有限公司
  • 2020-09-22 - 2020-12-15 - G01R31/28
  • 本发明实施例提供一种芯片功耗的检测方法和装置,其中,芯片功耗的检测装置包括:检测源;功耗激励产生模块,所述功耗激励产生模块与所述检测源连接;至少一个待检测模块,所述功耗激励产生模块与至少一个所述待检测模块连接所述芯片功耗的检测方法包括:检测源发送使能信号至功耗激励产生模块,以使所述功耗激励产生模块生成激励信号;功耗激励产生模块将所述激励信号输入至目标待检测模块,以得到所述目标待检测模块的真实功耗,以满足后续对芯片功耗分析的需求
  • 一种芯片功耗检测方法装置
  • [发明专利]指纹传感器和终端设备-CN201610754542.7有效
  • 张自宝;张杰;徐坤平;杨云 - 比亚迪股份有限公司
  • 2016-08-29 - 2018-09-11 - G06K9/00
  • 本发明公开了一种指纹传感器和终端设备,其中,指纹传感器包括:感应芯片,感应芯片包括感应单元阵列、第一接地端和用于提供第一激励信号的第一激励信号源,感应单元包括用于与用户手指之间形成检测电容的检测电极,电容检测电路,电容检测电路分别与第一激励信号源、检测电极和第一接地端相连,用于根据检测电容、第一激励信号和第二激励信号生成检测电压;第二激励信号源,第二激励信号源与第一接地端相连,用于提供第二激励信号,且第二激励信号和第一激励信号同步本发明实施例的指纹传感器能够提高指纹检测精度,进而能够提高指纹识别率,且对封装厚度要求低,适用性好。
  • 指纹传感器终端设备
  • [发明专利]振动信号检测系统及检测方法-CN201611173935.5有效
  • 田孝忠;王雪莉;谭东杰;刘路;王海明;孙巍;邱红辉;周琰;蔡永军;孟佳 - 中国石油天然气股份有限公司
  • 2016-12-16 - 2020-10-09 - G01H9/00
  • 本发明公开一种振动信号检测系统及检测方法,属于振动检测领域。该系统包括:振动传感模块、N个激励信号放大模块和N+1个检测信号放大模块,振动传感模块、N个激励信号放大模块和N+1个检测信号放大模块通过传感光纤依次连接,且每两个相邻的检测信号放大模块之间具有一个激励信号放大模块;振动传感模块用于发射激励信号和检测信号;N个激励信号放大模块中的每个激励信号放大模块用于对激励信号进行放大;N+1个检测信号放大模块中的每个检测信号放大模块用于在激励信号的激励下对检测信号进行放大。本发明解决了振动信号检测系统难以实现远距离的振动信号检测的问题,延长了振动信号的检测距离。本发明用于振动信号检测
  • 振动信号检测系统方法
  • [发明专利]荧光分光分析装置-CN200680036276.9有效
  • 西村淳一;铃木明美 - 奥林巴斯株式会社
  • 2006-09-27 - 2008-10-01 - G01N21/64
  • 荧光分光分析装置(100)具有激励光学系(110)、激励光控制部(130)、荧光检测部(140)、信号处理部(150)以及运算部(160)。激励光学系(110)具有生成激励光的激励光照射部(120),激励光控制部(130)控制激励光照射部(120),使不同波长的激励光错开时间排他地照射到试样(S)。激励光照射部(120)将不同波长的激励光照射到试样(S)上的一个部位。荧光检测部(140)根据照射的激励光,检测从试样(S)产生的荧光。信号处理部(150)对反映由荧光检测部(140)得到的荧光强度的信号进行处理。运算部(160)基于激励光控制部(130)引起的照射到试样(S)的激励光的波长的变化和荧光检测部(140)的检测结果,对每一个不同波长的荧光的波动进行相关分析。
  • 荧光分光分析装置
  • [发明专利]一种体外循环的集成设备检测系统-CN202211242665.4在审
  • 董骥;王明杰;王佳音 - 中国航空工业集团公司西安飞机设计研究所
  • 2022-10-11 - 2023-01-20 - G01R31/00
  • 本申请属于集成设备检测技术领域,特别涉及一种体外循环的集成设备检测系统。该系统包括激励信号源,包括多个激励信号源产生装置,用于根据需要产生不同的激励信号;检测仪器,包括多个检测模块,用于对接收的输出信号进行测量;转换适配器,用于接收各激励信号,并通过接口输送给待检测设备,接收待检测设备的输出信号,并将其输送给各检测模块;控制器,用于根据预置的检测项目确定所需的激励信号源及检测模块,调用相应的激励信号源产生装置产生激励信号,控制转换适配器将激励信号发送给待检测设备,并将待检测设备产生的输出信号发送给对应的检测模块本申请能够实现不开盖检测,减少资源堆积,提高检测效率。
  • 一种体外循环集成设备检测系统

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