专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种模组测试系统及模组测试方法-CN202110724048.7在审
  • 周超;郑雷 - 上海移远通信技术股份有限公司
  • 2021-06-29 - 2021-09-28 - G05B23/02
  • 本申请提供一种模组测试系统及模组测试方法。该系统包括:测试台;机器手,设置在测试台上;多个测试夹具,设置在测试台上,每个测试夹具对应待测试模组的其中一道测试;总控模块,与机器手及多个测试夹具连接,总控模块用于根据待测试模组在当前测试的结束信息控制下一测试对应的测试夹具打开,并控制机器手将待测试模组放置在下一测试对应的测试夹具上,以及控制下一测试对应的测试夹具对待测试模组进行测试。通过该方式使得模组测试系统可以自动完成待测试模组的多道测试,减少了人工的介入,进而减少了工作人员的工作量,提高了测试效率。
  • 一种模组测试系统方法
  • [发明专利]测试产线-CN201711381667.0有效
  • 何维光;丁余辉;毛金伟;刘益涛 - 宁波舜宇光电信息有限公司
  • 2017-12-20 - 2022-01-11 - B07C5/342
  • 本发明提供了一种测试产线,包括第一产线段。该第一产线段包括:一台或多台用于第一测试的第一测试设备;和第一筛选设备,用于移除不符合第一测试的标准的产品。该产线系统可以进一步包括与第一产线段串联连接的第二产线段,所述第二产线段包括:一台或多台用于第二测试的第二测试设备;和,第二筛选设备,用于移除不符合第二测试的标准的产品。本发明提供的测试产线可以实现组合不同测试的产线系统的高测试效率和高良率。
  • 测试
  • [发明专利]智能终端生产工序的管控方法和系统-CN201710647659.X在审
  • 刘大勇 - 西安易朴通讯技术有限公司
  • 2017-08-01 - 2017-11-24 - G05B19/418
  • 本发明公开了一种智能终端生产工序的管控方法和系统,所述智能终端中预存工艺路线,所述工艺路线包括至少一条测试,每条所述测试包括工序名称和测试状态,所述管控方法包括以下步骤读取所述智能终端中的所述工艺路线,所述工艺路线包含第一测试,所述第一测试包括第一工序名称和第一测试状态;判断所述第一工序名称与当前工序是否一致,若是则根据所述第一测试状态进行生产工序的管控。本发明提供了一种简单有效的智能终端生产线的生产工序的管控方法,能够使得智能终端在生产线上按照既定工序测试,本发明成本低、部署速度快、对环境要求低且适应性好。
  • 智能终端生产工序方法系统
  • [发明专利]LED灯加工工艺-CN201210446550.7无效
  • 杜国新 - 山东骏风电子有限公司
  • 2012-11-10 - 2013-04-17 - B23P15/00
  • 该工艺的驱动电路加工时增加ICT测试,灯具装配加工中增加耐压和绝缘测试,具体加工工艺步骤包括A驱动电路加工;B灯板贴片加工;C灯具装配加工。本发明增加ICT测试、耐压和绝缘测试后节省了原材料,维修方便,降低了产品出现漏电和击穿现象的频率,保证了安全系数。
  • led加工工艺
  • [发明专利]基于分组编码遗传算法的不可靠测试优选方法-CN201510127767.5有效
  • 杨成林;焦志敏;刘震 - 电子科技大学
  • 2015-03-23 - 2017-10-31 - G01R31/28
  • 本发明公开了一种基于分组编码遗传算法的不可靠测试优选方法,将每个测试下的所有测试作为一个分组,分别对每个分组采用遗传算法得到该测试下的最优测试集,在遗传算法中个体适应度函数的设定规则为当个体染色体编码对应测试集的检测率未达到预设的测试的目标检测率指标时,适应度值为0,当达到预设的测试的目标检测率指标时,个体染色体编码对应测试集中选中测试测试代价总和越低,适应度函数的值越大;将每个测试下得到的最优测试集组合得到总的测试集,如果总测试集的检测率没有达到总目标检测率,逐个加入未选中的测试,直到满足总目标检测率。
  • 基于分组编码遗传算法不可靠测试优选方法
  • [发明专利]一种批量同时测试设备的方法及系统-CN202110970923.X在审
  • 曾祥根;周旭成;李鹏 - 四川长虹网络科技有限责任公司
  • 2021-08-23 - 2021-11-19 - G01R31/00
  • 本发明提供了一种批量同时测试设备的方法,包括服务器和分别与所述服务器通信连接的多个测试位,所述集线器实现多个所述待测设备多端口的同时连接,所述处理端用于对待测设备测试,所述第一工序测试位包括:与待测设备连接;向所述待测设备启动测试;生成所述待测设备的测试报告上传至所述服务器;所述非第一工序测试位与待测设备连接;从所述服务器获取所述待测设备于上一位的测试位产生的测试报告,并判断是否启动测试位的测试,实现同时对多个被测设备的测试,并可以判断所述待测设备是否存在漏测的情况,确保了测试的完整性。
  • 一种批量同时测试设备方法系统
  • [发明专利]半导体电路的制备方法-CN202110988108.6在审
  • 王敏;左安超;谢荣才;高远航 - 广东汇芯半导体有限公司
  • 2021-08-26 - 2021-12-07 - H01L21/48
  • 本发明涉及一种半导体电路的制备方法,通过对制备得到的待测半导体电路先切除连筋,然后再对连筋切除后的待测半导体电路进行参数测试,通过参数测试的待测半导体电路确认为合格的半导体电路,降低了参数测试测试装难度,无需采用结构复杂以及精度要求高的测试装,进而在自动化生产反复测试过程中测试装接触部位不易老化,能够延长测试装寿命,降低了测试装成本;另外,对切筋后的待测半导体电路进行参数测试时合格品会进行引脚成型步骤
  • 半导体电路制备方法

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