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专利名称

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申请人
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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]光检测装置和光检测系统-CN202180090239.0在审
发明人：小泽秀树;高塚挙文 -专利权人：索尼半导体解决方案公司
申请日： 2021-12-01 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： H04N25/40 文献下载
摘要：根据本公开的光检测装置设置有：光接收单元，具有光接收元件并且根据光接收元件的光接收结果生成包括脉冲的脉冲信号；多个开关，基于多个相应的控制信号而接通/断开，并且每个开关由于在多个控制信号中的对应控制信号的脉冲时段内进入接通状态而发送脉冲信号；多个计数器，设置成对应于多个开关，并且每个计数器作为基于经由多个开关中的对应开关提供的脉冲信号执行计数处理的结果而生成第一计数值；以及信号生成单元，在检测时段中生成多个控制信号，以使多个控制信号的每一个中的脉冲时段依次偏移一单位时段
检测装置系统

[发明专利]光检测装置及光检测系统-CN202280015209.8在审
发明人：本间龙太郎;筱塚康大 -专利权人：索尼半导体解决方案公司
申请日： 2022-01-11 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： G01S7/497 文献下载
摘要：根据本公开的光检测装置包括：光接收部，具有光接收元件、第一开关、第二开关以及信号生成器，第一开关在接通的状态下将光接收元件连接于第一节点，第二开关在接通的状态下将规定的电压施加于第一节点，信号生成器根据第一节点的电压来生成脉冲信号；控制器，控制第一开关和第二开关的操作；检测器，基于脉冲信号检测脉冲信号改变的定时；以及输出部，当第二开关被置于接通状态时，输出对应于检测器的检测结果的检测信号。
检测装置系统

[发明专利]光检测装置以及光检测系统-CN201610286166.3有效
发明人：西胁青儿 -专利权人：松下知识产权经营株式会社
申请日： 2016-05-03 - 公布日： 2020-04-14 - 主分类号： G01J9/02 文献下载
摘要：本公开提供一种光检测装置以及光检测系统，光检测装置具备：光检测器，其具有主面，包含沿着所述主面而配置的至少1个第1检测器以及至少1个第2检测器；光耦合层，其配置在所述光检测器上，包含第1低折射率层、配置在所述第1低折射率层上且包含第1光栅的第1高折射率层、以及配置在所述第1高折射率层上的第2低折射率层，所述第1高折射率层与所述第1低折射率层以及所述第2低折射率层相比折射率高；和遮光膜，其配置在所述光耦合层上，包含至少1个透光区域、以及与所述至少1个透光区域相邻的至少1个遮光区域，所述至少1个透光区域与所述至少1个第1检测器对向，所述至少1个遮光区域与所述至少1个第2检测器对向。
检测装置以及系统

[发明专利]光检测装置以及光检测系统-CN201710046904.1有效
发明人：西胁青儿;鸣海建治;盐野照弘 -专利权人：松下知识产权经营株式会社
申请日： 2017-01-19 - 公布日： 2021-03-09 - 主分类号： G01D5/28 文献下载
摘要：本申请提供一种光检测装置以及光检测系统。本公开的一形态所涉及的光检测装置具备：光检测器，包含第1检测器以及第2检测器；光耦合层，配置在所述光检测器上或者上方；以及偏振元件阵列，配置在所述光耦合层上。所述光耦合层依次包含第1低折射率层、第1高折射率层以及第2低折射率层，所述第1高折射率层包含第1光栅以及与所述第1光栅相邻的第2光栅。所述偏振元件阵列包含使在一方向上偏振的光透过的第1偏振元件、以及与所述第1偏振元件相邻且对在所述一方向上偏振的光进行遮光的第2偏振元件。所述第1光栅以及所述第1偏振元件分别与所述第1检测器对置，所述第2光栅以及所述第2偏振元件分别与所述第2检测器对置。
检测装置以及系统

[发明专利]光检测装置以及光检测系统-CN201710040480.8有效
发明人：西胁青儿;鸣海建治;盐野照弘 -专利权人：松下知识产权经营株式会社
申请日： 2017-01-19 - 公布日： 2021-04-09 - 主分类号： G01J9/02 文献下载
摘要：本申请提供一种光检测装置以及光检测系统。本公开的一形态所涉及的光检测装置具备：光检测器，包含沿着主面配置的多个第1检测器以及多个第2检测器；光耦合层，配置在所述光检测器上或者上方；以及遮光膜，配置在所述光耦合层上。所述光耦合层包含：第1低折射率层；第1高折射率层，配置在所述第1低折射率层上，包含第1光栅；以及第2低折射率层，配置在所述第1高折射率层上。所述遮光膜包含：透光区域、以及与所述透光区域相邻的遮光区域。所述透光区域与所述多个第1检测器中包含的两个以上的第1检测器对置，所述遮光区域与所述多个第2检测器中包含的两个以上的第2检测器对置。
检测装置以及系统

[发明专利]光检测装置及其光检测方法-CN201980015012.2有效
发明人：陈书履;陈建宇;郑斯璘;那允中;杨闵杰;刘汉鼎;梁哲夫 -专利权人：奥特逻科公司
申请日： 2019-02-22 - 公布日： 2021-08-03 - 主分类号： H01L27/144 文献下载
摘要：一种光检测装置包括半导体衬底。第一锗基光吸收材料由半导体衬底支撑并且被配置成吸收具有大于800nm的第一波长的第一光信号。第一金属线被电耦合到第一锗基光吸收材料的第一区。第一金属线被配置成控制在第一锗基光吸收材料内部产生以由第二区收集的第一类型的光生载流子的量。
检测装置及其方法

[发明专利]光检测设备和光检测系统-CN201710628241.4有效
发明人：森本和浩;池田一;岩田旬史 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2017-07-28 - 公布日： 2022-05-17 - 主分类号： H01L27/144 文献下载
摘要：提供了光检测设备和光检测系统。半导体基板具有第一表面和与第一表面相对的第二表面。光电转换部分具有配置有不同导电类型的第一半导体区域和第二半导体区域的PN结。
检测设备系统

[发明专利]光检测装置及光检测系统-CN201710066011.3有效
发明人：盐野照弘 -专利权人：松下知识产权经营株式会社
申请日： 2017-02-06 - 公布日： 2022-05-24 - 主分类号： G02B5/18 文献下载
摘要：有关本申请的一技术方案的光检测装置具备：光检测器，具有第1受光元件及第2受光元件；透光性的第1层，配置在上述第1受光元件及上述第2受光元件的上方，具有第1面及与上述第1面相反一侧的第2面；透光性的第1光耦合元件，配置于从由上述第1面及上述第2面构成的组中选择的至少1个面，与上述第1受光元件对置；以及透光性的第2光耦合元件，配置于上述至少1个面，与上述第2受光元件对置。与上述第1面相比，上述第2面距上述光检测器更近。
检测装置系统

[发明专利]光检测装置及光检测系统-CN201710949673.5有效
发明人：森本和浩;篠原真人 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2017-10-13 - 公布日： 2022-07-15 - 主分类号： H01L27/146 文献下载
摘要：本发明公开一种光检测装置及光检测系统，在该装置中，在平面图中，第一导电类型的第一半导体区域与第三半导体区域的至少一部分重叠，第二半导体区域与第二导电类型的第四半导体区域的至少一部分重叠，第三半导体区域的关于第一导电类型的电荷的电位的高度低于第四半导体区域的电位的高度
检测装置系统

[发明专利]光检测装置及光检测方法-CN201880090905.9有效
发明人：松井克宜;杉山行信;宅见宗则;丰田晴义;铃木一隆;中村和浩;内田圭祐 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2018-12-25 - 公布日： 2023-06-30 - 主分类号： H04N25/78 文献下载
摘要：光检测装置(1)是检测光的入射位置的光检测装置(1)。光检测装置(1)具备多个像素、多条第1配线、多条第2配线、第1读取部(21)、及第2读取部(31)。多个像素以行列状二维排列，且分别包含第1光感应部及第2光感应部。多条第1配线将多个第1光感应部按每行连接。多条第2配线将多个第2光感应部按每列连接。
检测装置方法

[发明专利]光检测装置及光检测方法-CN201880090879.X有效
发明人：松井克宜;宅见宗则;丰田晴义;铃木一隆;中村和浩 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2018-12-25 - 公布日： 2023-03-24 - 主分类号： H04N25/443 文献下载
摘要：光检测装置(1)检测光的入射位置。光检测装置(1)具备多个像素(11)、第1电路(23)、第2电路(33)、第1读取部(21、22)、及第2读取部(31、32)。多个像素(11)以行列状二维排列，且分别具有第1光感应部(15)及第2光感应部(16)。第1电路(23)将多个第1光感应部(15)按每行连接。第2电路(33)将多个第2光感应部(16)按每列连接。第1电路(23)具有切换在同一行彼此相邻的第1光感应部(15)之间的电连接与切断的行开关(27)。
检测装置方法

[发明专利]光检测模块以及光检测装置-CN201980055666.8有效
发明人：川田高弘;北田菜津子;武石贵明;野崎孝明 -专利权人：西铁城时计株式会社
申请日： 2019-08-15 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：本发明提供一种可以同轴进行去往试样的光的照射和来自试样的检查光的检测、不易受杂散光的影响的小型光检测模块。本发明的光检测模块具有：光源，其出射去往试样的照射光；分束器，其朝输入输出口反射照射光，而且使通过输入输出口入射的来自试样的检查光透过；受光元件，其接收检查光；以及壳体，其内置分束器，而且具有第1开口、第2开口、第3开口以及第4开口，所述第1开口设置光源而供照射光传播，所述第2开口相当于输入输出口，所述第3开口设置受光元件，所述第4开口引导照射光当中透过了分束器的杂散光，第1开口至第4开口在分束器的位置上相互连通
检测模块以及装置

[发明专利]光检测装置和光检测方法-CN201210507327.9无效
发明人：前田龙男 -专利权人：索尼公司
申请日： 2012-11-30 - 公布日： 2013-06-19 - 主分类号： G02B21/36 文献下载
摘要：本发明涉及光检测装置和光检测方法，其中，光检测装置包括图像传感器、信号获得单元、曝光时间段确定单元和曝光控制器。
检测装置方法

[发明专利]电梯门光幕检测保护装置-CN201310377261.0有效
发明人：江楫 -专利权人：上海三菱电梯有限公司
申请日： 2013-08-27 - 公布日： 2015-03-18 - 主分类号： B66B13/14 文献下载
摘要：本发明公开了一种电梯门光幕检测保护装置包括检测光眼、驱动机构、传动机构、控制模块、光眼位置检测单元，所述检测光眼包括发射端光眼和接收端光眼；所述传动机构与驱动机构连接，并在驱动机构的驱动下带动发射端光眼和/或接收端光眼往复运动，且检测光眼的运动速度大于人进出电梯门的速度；所述光眼位置检测单元用于判断检测光眼的运动位置；所述控制模块与检测光眼、光眼位置检测单元连接，用于处理光眼检测信号和光眼运动位置信号。本发明通过驱动机构和传动机构使检测光眼进行往复运动（上下直线往复移动或上下往复摆动），从而大大提高了光幕的检测覆盖范围，通过对驱动机构的控制甚至可以做到无检测盲区，极大地提高了电梯的安全性能。
电梯门光幕检测保护装置

[发明专利]光发射模组及其损坏的检测方法、深度获取装置和电子设备-CN201811134192.X有效
发明人：张学勇 -专利权人： OPPO广东移动通信有限公司
申请日： 2018-09-27 - 公布日： 2020-06-05 - 主分类号： G02B27/09 文献下载
摘要：本申请公开了一种光发射模组、光发射模组损坏的检测方法、深度获取装置和电子设备。光发射模组包括光源、光学元件、多个光检测器和处理器。光源用于发射激光。光学元件用于扩散或扩束激光。多个光检测器位于光源与光学元件之间，多个光检测器用于接收激光以形成多个光检测电信号。处理器用于获取多个光检测电信号、以及根据多个光检测电信号之间的差值判断光学元件的损坏情况。本申请实施方式的光发射模组、光发射模组损坏的检测方法、深度获取装置和电子设备，通过多个光检测器接收激光形成多个光检测电信号，并根据多个光检测电信号之间的差值准确地判断光学元件的损坏情况。
发射模组及其损坏检测方法深度获取装置电子设备

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