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- [发明专利]光线跟踪系统中的相交测试-CN202210262491.1在审
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G·克拉克;S·芬尼
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想象技术有限公司
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2022-03-17
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2022-09-27
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G06T15/06
- 提供了用于在光线跟踪系统中确定光线是否与3D轴对齐框相交的方法和相交测试模块，轴对齐框表示由每个维度的前向平面和后向平面定义的体积。标识框的在沿着光线的最远位置与光线相交的前向平面。确定是否光线与已标识前向平面相交的位置沿着光线不远于光线与维度子集中的后向平面相交的位置，并且此确定用于确定光线是否与轴对齐框相交。维度子集包括前向平面未被标识的两个维度，但不包括前向平面已被标识的维度。在不执行测试以确定是否光线与已标识前向平面相交的位置沿着光线不远于光线与前向平面已被标识的维度中的后向平面相交的位置的情况下，确定光线是否与框相交。
- 光线跟踪系统中的相交测试
- [发明专利]微电子传感器设备-CN200880123020.0有效
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D·J·W·克伦德
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皇家飞利浦电子股份有限公司
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2008-12-18
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2010-12-08
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G01N21/64
- 本发明涉及一种用于在介质中的用于包含靶成分的检测体积中响应于入射辐射而提供消逝辐射的光学设备，该检测体积具有至少一个小于衍射极限的平面内维度(W1)。衍射极限由辐射波长和介质限定。消逝辐射由具有小于衍射极限的最小平面内孔隙维度W1的孔隙限定结构提供。检测体积在所述孔隙限定结构之间提供。此外，孔隙限定结构限定了最大平面内孔隙维度W2；其中所述最大平面内孔隙维度大于衍射极限。提供了一种源，其用于发射在光学设备处入射的具有一定波长且具有不平行于平面外法线方向的入射方向的辐射束，以便响应于光学设备处入射的辐射而在检测体积中提供消逝辐射。入射平面平行于最大平面内孔隙维度。
- 微电子传感器设备
- [发明专利]游标控制装置-CN97102659.9无效
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何恒春
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致伸实业股份有限公司
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1997-02-21
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1998-08-26
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G06F3/033
- 一种游标控制装置用来控制一电脑系统屏幕平面上显示的三维影像内一标的物的三维位移。该装置包含有一外壳,其上设有二呈近似直角的弯角关系的操作面及二游标控制器分别设于该二操作面上用来产生二位移信号。三维空间影像与屏幕平面垂直的水平面由相互垂直的第一维度及第二维度构成,与屏幕平面平行的垂直面由相互垂直的第二维度及第三维度构成。标的物于水平面以及垂直面上的位移系分别由二游标控制器所产生的位移讯号来控制。
- 游标控制装置
- [实用新型]平面度检具-CN201721557349.0有效
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赵勇
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珠海市有兴精工机械有限公司
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2017-11-21
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2018-05-22
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G01B21/30
- 本实用新型涉及平面度检具，包括支撑底座、可调点接触平衡柱、测量支撑架和三维度可调平面度测量仪，所述支撑底座为待测工件水平的圆台型支撑座，所述可调点接触平衡柱通过螺纹连接高度可调地螺接在所述支撑底座上，所述待测工件放置在所述可调点接触平衡柱顶面上，所述三维度可调平面度测量仪通过所述测量支撑架固定，所述三维度可调平面度测量仪测量所述待测工件的上平面的不同点的高度数据得到平面度。本实用新型的平面度检具，通过3个可调点接触平衡柱构成3点水平支撑面，待测工件平齐地放置上面，三维度可调平面度测量仪测量不同点的高度换算得到平面度，直接显示在显示屏上，结构简单，测量速度快，精度高，直观显示
- 平面度检具
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