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[发明专利]原位监测密集排布大口径光学元件损伤的方法-CN201910514243.X有效
发明人：张传超;王海军;张丽娟;蒋晓龙;陈静;方振华;廖威;栾晓雨;蒋晓东 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2019-06-14 - 公布日： 2023-04-28 - 主分类号： G01N21/95 文献下载
摘要：本发明公开了一种原位监测密集排布大口径光学元件损伤的方法，按照以下步骤进行：S1：将各个大口径光学元件分别嵌入各自的安装夹持框中；S2：在各个大口径光学元件上安装遮光条；S3：将各个安装夹持框沿前后方向等距地装入高功率激光装置中；S4：当需要原位监测任一大口径光学元件的损伤情况时，打开该大口径光学元件的线光源，并关闭其余大口径光学元件的线光源；S5：利用图像采集设备采集该大口径光学元件的暗场图像。采用以上方法，具备了排除相邻元件干扰获取无伪损伤的高质量元件损伤图像的能力，能够直观地原位在线监测大口径光学元件的损伤，便捷高效获得损伤的尺寸和分布位置信息。
原位监测密集排布口径光学元件损伤方法

[发明专利]一种大口径平面光学元件面形绝对测量系统-CN202110188369.X有效
发明人：朱小平;李加福;杜华;王凯;赵沫;赵彦龙 -专利权人：中国计量科学研究院
申请日： 2021-02-19 - 公布日： 2023-08-04 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：一种大口径平面光学元件面形绝对测量系统，包括一对位移传感器及其位姿调整机构、大行程直线导轨、待测大口径平面光学元件、旋转机构及其角度调整机构和倾角测量仪，一对位移传感器反向共轴设置；控制器位移传感器沿大行程直线导轨移动，同时位移传感器测量其距离大口径平面光学元件测量面上测量线的距离，其中测量前将三面待检测的大口径平面光学元件两两组合后，依次按角度线进行扫描测量；控制倾角测量仪测量大口径平面光学元件测量面倾角变化；根据测量的大口径平面光学元件测量面倾角变化、位移传感器距离大口径平面光学元件测量面上测量线的距离，进行三面互检面形分离算法以及三维面形的重建后对大口径平面光学元件测量面进行平面度评定。
一种口径平面光学元件绝对测量系统

[发明专利]一种实现定值轴向载荷施加的非线性大口径光学元件夹持装置-CN201310156090.9有效
发明人：梁迎春;苏瑞峰;曹永智;刘海涛;于福利 -专利权人：哈尔滨工业大学
申请日： 2013-04-28 - 公布日： 2013-09-04 - 主分类号： B25B11/00 文献下载
摘要：实现定值轴向载荷施加的非线性大口径光学元件夹持装置，它涉及一种非线性大口径光学元件夹持装置。本发明解决了非线性大口径光学元件在重力和夹持的作用下容易发生变形，导致其谐波转换效率下降的问题。本发明的非线性大口径光学元件放置在支撑框上；支撑框四周分布安装定位边块，定位边块与支撑框固定连接，定位边块上设有胶钉水平安装孔，胶钉穿过胶钉水平安装孔与非线性大口径光学元件接触；非线性大口径光学元件的迎光面四周分布安装弹性压片本发明用于非线性大口径光学元件全周长夹持及定值轴向载荷施加实验方案中。
一种实现轴向载荷施加非线性口径光学元件夹持装置

[发明专利]快速统计大口径光学元件表面污染和损伤的方法-CN201910228707.0在审
发明人：王海军;张传超;王静轩;陈静;张丽娟;蒋晓龙;廖威;栾晓雨;蒋晓东 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2019-03-25 - 公布日： 2019-06-04 - 主分类号： G01N21/94 文献下载
摘要：本发明公开了一种快速统计大口径光学元件表面污染和损伤的方法，包括以下步骤：S1：将大口径光学元件置于暗室内；S2：启动并调整全反射照明模块，使光线以全反射角入射大口径光学元件的表面；S3：利用图像采集系统对大口径光学元件的表面进行图像采集；S4：关闭全反射照明模块；S5：启动并调整低角度入射照明模块；S6：利用图像采集系统对大口径光学元件的表面进行图像采集。采用以上方法，避免了复杂的流程，简洁、高效、直观地实现了大口径光学元件表面污染和损伤的快速分辨和统计，解决了目前技术不能兼顾同时统计污染和损伤的问题。
大口径光学元件表面污染照明模块损伤图像采集系统图像采集全反射入射统计全反射角分辨直观室内污染

[发明专利]用于大口径光学元件损伤观测的无线侧照明装置及方法-CN202310175409.6在审
发明人：栾晓雨;蒋一岚;王海军;蒋晓龙;陈静;张传超;廖威;张丽娟 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2023-02-27 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于大口径光学元件损伤观测的无线侧照明装置及方法，包括对大口径光学元件进行固定的装调组件，还包括设置在待测大口径光学元件侧面，以提供损伤检测光源的照明模块；其中，所述照明模块通过相配合的线缆本发明提供一种用于大口径光学元件损伤观测的无线侧照明装置及方法，该装置无需单独外接有线电源，从而极大地扩展了大口径光学元件损伤观测的使用场景，观测时侧照明LED灯条可均匀辐照于整个大口径光学元件，根据观测距离和角度的不同
用于口径光学元件损伤观测无线照明装置方法

[实用新型]用于大口径光学元件损伤观测的无线侧照明装置-CN202320340631.2有效
发明人：栾晓雨;蒋一岚;王海军;蒋晓龙;陈静;张传超;廖威;张丽娟 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2023-02-27 - 公布日： 2023-08-01 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种用于大口径光学元件损伤观测的无线侧照明装置，包括对大口径光学元件进行固定的装调组件，还包括设置在待测大口径光学元件侧面，以提供损伤检测光源的照明模块；其中，所述照明模块通过相配合的线缆本实用新型提供一种用于大口径光学元件损伤观测的无线侧照明装置，该装置无需单独外接有线电源，从而极大地扩展了大口径光学元件损伤观测的使用场景，观测时侧照明LED灯条可均匀辐照于整个大口径光学元件，根据观测距离和角度的不同
用于口径光学元件损伤观测无线照明装置

[发明专利]大口径光学元件表面损伤检测装置和方法-CN201510497866.2有效
发明人：郭亚晶;朱宝强;唐顺兴;姜秀青;刘亚群;陈欣 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2015-08-14 - 公布日： 2017-12-12 - 主分类号： G01N21/958 文献下载
摘要：一种大口径光学元件表面损伤检测的装置和方法，该装置包括照明光源、大口径光学元件座、成像透镜、二维振镜、CCD相机和计算机，本发明利用振镜扫描方式检测光学元件表面损伤的方法无需空间上移动待测元件即可实现对光学元件不同位置的扫描基于振镜扫描方式的大口径元件损伤检测装置和方法可以实现对大口径元件不同位置损伤图像的扫描式采集，并进行拼接得到完整的大口径元件的损伤图像，该方法对CCD的分辨率要求较低，拼接方式简单，可快速准确地完成大口径元件损伤的检测
口径光学元件表面损伤检测装置方法

[发明专利]大口径光学元件全周长冷却装置-CN201610003500.X在审
发明人：苏瑞峰;陈晓娟;朱明智;吴文凯;黄湛;江宝旭 -专利权人：中国工程物理研究院总体工程研究所
申请日： 2016-01-04 - 公布日： 2016-03-23 - 主分类号： H01S3/04 文献下载
摘要：本发明公开了一种大口径光学元件全周长冷却装置，包括上盖板、下盖板、进水管和出水管，所述上盖板安装于所述下盖板的上方，所述上盖板的下表面和所述下盖板的上表面分别设有相互对应的开口环状的冷却水通道凹槽，所述冷却水通道凹槽的两端分别设有进水接口和出水接口通过本发明所述大口径光学元件全周长冷却装置对大口径光学元件进行水冷，不需要对大口径光学元件进行拆卸，只需将冷却水导入冷却水通道凹槽，并在冷却水通道凹槽内部流动，即可将大口径光学元件的热量带走，实现了大口径光学元件的在线冷却
口径光学元件周长冷却装置

[实用新型]大口径光学元件全周长冷却装置-CN201620006699.7有效
发明人：苏瑞峰;陈晓娟;朱明智;吴文凯;黄湛;江宝旭 -专利权人：中国工程物理研究院总体工程研究所
申请日： 2016-01-04 - 公布日： 2016-05-18 - 主分类号： H01S3/04 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种大口径光学元件全周长冷却装置，包括上盖板、下盖板、进水管和出水管，所述上盖板安装于所述下盖板的上方，所述上盖板的下表面和所述下盖板的上表面分别设有相互对应的开口环状的冷却水通道凹槽，通过本实用新型所述大口径光学元件全周长冷却装置对大口径光学元件进行水冷，不需要对大口径光学元件进行拆卸，只需将冷却水导入冷却水通道凹槽，并在冷却水通道凹槽内部流动，即可将大口径光学元件的热量带走，实现了大口径光学元件的在线冷却
口径光学元件周长冷却装置

[发明专利]大口径光学元件清洗装置及大口径光学元件的清洗方法-CN202010160413.1在审
发明人：王震;许乔;卫耀伟;王健;李树刚;刘民才;张飞;唐明;吴倩;罗晋;罗振飞;周永勤;程建国;白友民 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2020-03-09 - 公布日： 2020-06-26 - 主分类号： B08B1/00 文献下载
摘要：本申请公开一种大口径光学元件清洗装置及大口径光学元件的清洗方法。大口径光学元件清洗装置，包括夹持机构、翻转架、翻转驱动部和竖向旋转部。夹持机构用于夹持光学元件，夹持机构可转动地设于翻转架上，翻转驱动部设于翻转架且驱动夹持机构转动，以使得光学元件相对于水平面发生翻转。竖向旋转部与翻转架配合，以使得翻转架可绕竖直方向转动。本申请提供的技术方案能够高效、便捷、安全地实现大口径光学元件的全口径人工擦洗。
口径光学元件清洗装置方法

[发明专利]一种激光光学元件使用寿命加速测试和预计方法-CN201810052233.4有效
发明人：巴荣声;李杰;丁磊;周信达;郑垠波;徐宏磊;陈波;李文洪;姜宏振;刘勇;李东;刘旭;张霖;杨一;郑芳兰;于德强;马可;石振东;马骅;任寰;张保汉;景峰 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2018-01-19 - 公布日： 2020-10-23 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种激光光学元件使用寿命加速测试和预计方法，旨在解决现有技术中无法获取大口径光学元件在任意通量照射下使用寿命的问题；本发明包括：以发次或时间为自变量，以对应的寿命概率为因变量拟合获得大口径光学元件特定激光参数下的寿命概率函数；改变设定参数的照射激光的辐照通量获得不同辐照通量下的大口径光学元件寿命概率曲线，对函数进行数据拟合获得特定寿命概率下的寿命通量函数；本发明可以对激光光学元件使用寿命进行加速测试，缩短测试时间，应用本发明测试结果可以获得特定通量下的大口径光学元件使用寿命，应用经典可靠性理论对激光系统中的激光大口径光学元件进行可靠性分析与预计；本发明适用于大口径光学器件寿命测试领域。
一种激光光学元件使用寿命加速测试预计方法

[实用新型]一种大口径异形光学元件离子束精修快速装夹机构-CN202223372493.0有效
发明人：向雪峰;熊涛;高凡;黄程;刘雨钢 -专利权人：湖北久之洋红外系统股份有限公司
申请日： 2022-12-12 - 公布日： 2023-03-28 - 主分类号： B24B1/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种大口径异形光学元件离子束精修快速装夹机构，其包括U型转接法兰、基板、固定压条；所述U型转接法兰的横板与离子束抛光机上料机构连接，U型转接法兰的环形竖板与基板采用可拆卸方式连接；所述基板有多个，每个基板对应一个大口径异形光学元件；每个基板上均设有元件凹槽，该元件凹槽与大口径异形光学元件相适配；所述固定压条有多个，置于元件凹槽四周，与基板采用可拆卸方式连接，进而将大口径异形光学元件固定在基板上本发明能适用于不同形状大小的大口径异形光学元件的装夹，省时省力。
一种口径异形光学元件离子束快速机构

[发明专利]一种用于大口径光学元件缺陷检测的子母夹具组合机构-CN202010683082.X在审
发明人：王曦;陈坚;赵建华;吴周令 -专利权人：合肥知常光电科技有限公司
申请日： 2020-07-15 - 公布日： 2020-09-29 - 主分类号： B25B11/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于大口径光学元件缺陷检测的子母夹具组合机构，包括有母夹具和子夹具。本发明的子夹具可以依据光学元件的口径尺寸进行定制设计，且适用于多种厚度尺寸的光学元件的装夹，子夹具装夹大口径光学元件的过程中可以自动进行压紧光学元件，并实现圆周定位，操作较为方便；本发明对大口径光学元件装夹完成后，子夹具定位板四个弧形板的内端面与母夹具定位板的内端面紧密接触，其接触的贴合度仅受子夹具弧形板内端面和母夹具定位板内端面平面度的机械加工精度影响，机械加工方法更易于实现；本发明对大口径光学元件装夹完成后，大口径光学元件被稳定装配于子母夹紧组合机构上，保证了光学检测结果的可重复性。
一种用于口径光学元件缺陷检测子母夹具组合机构

[发明专利]一种大口径光学元件卧式电磁支撑装置-CN201510865983.X在审
发明人：朱岩;田伟;苗二龙 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2015-12-01 - 公布日： 2016-03-02 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：一种大口径光学元件卧式电磁支撑装置，属于大口径光学元件面形检测技术领域，涉及一种大口径光学元件卧式电磁支撑装置。本发明支撑装置使光学元件沿圆周方向受力均匀，光学元件面型变化小，能够满足各种尺寸光学元件的支撑要求，特别适合大口径光学元件，且安装过程简单，并根据光学元件不同的面型要求，切换接触/非接触两种支撑模式。
一种口径光学元件卧式电磁支撑装置

[发明专利]一种大口径光学元件真空应力测试仪-CN202110175452.3有效
发明人：贾宝申;姚彩珍;苏春洲;蒋一岚;廖威;唐洪平;张丽娟 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2021-02-06 - 公布日： 2022-02-22 - 主分类号： G01L5/00 文献下载
摘要：本发明公开一种大口径光学元件真空应力测试仪，用于大口径光学元件在真空条件下的应力测量。本发明的大口径光学元件真空应力测试仪，采用不锈钢真空腔，连接分子泵实现高真空；在真空腔的底部铺设LED光源，光源上方分别放置偏振片和匀光片。本发明的大口径光学元件真空应力测试仪适用于大口径光学元件真空状态下的应力分布，具有结构简单，操作方便的优点。
一种口径光学元件真空应力测试仪

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