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[发明专利]信息获取装置以及信息获取方法-CN201610086166.9在审
发明人：石黑英人;江口司;土屋仁;伊藤惠 -专利权人：精工爱普生株式会社
申请日： 2016-02-15 - 公布日： 2016-08-24 - 主分类号： A61B5/1455 文献下载
摘要：本发明提供了传感器灵敏度即使随时间变化也能高精度地检测被检体中的反射光的特性的信息获取装置以及信息获取方法。成分测定装置(1)具备：传感器模块(12)，输入反射光(32)并输出与反射光(32)的光强度对应的信号；校正板(21)，将用于比较反射光(32)的光强度的第一反射光(32a)输出到传感器模块(12)；以及校正单元(14)，通过在被测定部(2a)反射的第二反射光(32b)和第一反射光(32a)切换输入传感器模块(12)的反射光(32)。
信息获取装置以及方法

[发明专利]配线电路板的制造方法-CN201010115681.8有效
发明人：井原辉一;丰田佳弘 -专利权人：日东电工株式会社
申请日： 2010-02-11 - 公布日： 2010-08-18 - 主分类号： G01N21/956 文献下载
摘要：该制造方法包括以下工序：准备包括绝缘层和形成在上述绝缘层上的导体图案的配线电路板；将配线电路板配置在支承台上；通过从配线电路板的上侧朝向配线电路板照射光，来检测光被导体图案反射而成的图案反射光、光经由未被导体图案覆盖的绝缘层被支承台反射而成的台反射光、和光被未被导体图案覆盖的绝缘层上存在的异物反射而成的异物反射光，根据图案反射光、台反射光及异物反射光之间的对比度来检查导体图案及异物。在检查导体图案及异物的工序中，台反射光的反射率为30％～70％；异物反射光的反射率为10％以下。
电路板制造方法

[发明专利]光学式移动传感模块及其光学式移动传感器-CN200510009127.0无效
发明人：廖炳谦;马国栋 -专利权人：达方电子股份有限公司
申请日： 2005-02-03 - 公布日： 2006-08-09 - 主分类号： G01S17/50 文献下载
摘要：本发明公开了一种光学式移动传感器，其包括激光光源、导光元件、检测单元以及转换单元。激光光源具有共振腔。导光元件具有凹穴，该凹穴具有第一出光面以及反射部。第一出光面以及反射部分别位于所述凹穴的侧壁。激光光源朝待测物发射激光光束，激光光束从第一出光面射出导光元件并与待测物接触，产生第一散反射光以及反射光。第一散反射光的部分光线进入所述共振腔。反射光由反射部反射回所述待测物，当反射光接触待测物时，产生第二散反射光及再反射光。第二散反射光及再反射光的部分光线进入所述共振腔。
光学移动传感模块及其传感器

[发明专利]一种基于两级反射光消除网络的图像反射光去除方法-CN202011573740.6在审
发明人：赵东;王青;汪磊;李晨;张见;牛明;郜云波;马弘宇;陶旭;刘朝阳;杨成东 -专利权人：南京信息工程大学滨江学院
申请日： 2020-12-25 - 公布日： 2021-04-02 - 主分类号： G06T5/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种基于两级反射光消除网络的图像反射光去除方法，首先设置两级反射光消除网络中生成器的一级子网络和二级子网络；然后设定两级反射光消除网络中生成器的损失函数，由像素损失和感知损失两部分构成；再设定两级反射光消除网络中鉴别器的损失函数；训练两级反射光消除网络直到两级反射光消除网络参数收敛得到训练好的两级反射光消除网络；最后用训练好的两级反射光消除网络对测试数据集进行图像反射光去除，输出图像反射光去除以后的透射图。本发明克服了现有技术中容易出现色彩失真和细节损失的缺点，使得本发明对反射图像的去除效果更加明显，并且不存在色彩失真。
一种基于两级反射光消除网络图像去除方法

[发明专利]基于两级反射光消除网络和像素损失的反射光去除方法-CN202011573525.6有效
发明人：赵东;汪磊;王青;李晨;张见;牛明;郜云波;马弘宇;陶旭;刘朝阳;杨成东 -专利权人：南京信息工程大学滨江学院
申请日： 2020-12-25 - 公布日： 2022-11-08 - 主分类号： G06T5/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种基于两级反射光消除网络和像素损失的反射光去除方法，首先设置两级反射光消除网络中生成器的一级子网络和二级子网络；然后设定两级反射光消除网络中生成器基于像素损失的损失函数；再设定两级反射光消除网络中鉴别器的损失函数；训练两级反射光消除网络直到两级反射光消除网络参数收敛得到训练好的两级反射光消除网络；最后用训练好的两级反射光消除网络对测试数据集进行图像反射光去除，输出图像反射光去除以后的透射图。本发明克服了现有技术中容易出现色彩失真和细节损失的缺点，使得本发明对反射图像的去除效果更加明显，并且不存在色彩失真。
基于两级反射光消除网络像素损失去除方法

[发明专利]蚀刻量检测方法、蚀刻方法和蚀刻装置-CN200410042961.5有效
发明人：野泽秀二;西牧克洋 -专利权人：东京毅力科创株式会社
申请日： 2004-06-04 - 公布日： 2005-02-02 - 主分类号： H01L21/3065 文献下载
摘要：光La的一部分在光刻胶掩模层(316)的上面反射，得到反射光La1。光La的另一部分在孔H的底面反射，得到反射光La2。反射光La1与反射光La2相互干涉重合，产生干涉光Lai。光Lb的一部分在光刻胶掩模层(316)与多晶硅膜(304)的界面反射，得到反射光Lb1。光Lb的另一部分在光刻胶掩模层(316)的上面反射，得到反射光Lb2。反射光Lb1与反射光Lb2相互干涉重合，产生干涉光Lbi。使用干涉光Lai与干涉光Lbi，算出多晶硅膜(304)的蚀刻量。
蚀刻检测方法装置

[发明专利]偏振态测量装置和偏振态测量方法-CN202110406838.0在审
发明人：张经纬;蒋履辉;张蔚 -专利权人：华为技术有限公司
申请日： 2021-04-15 - 公布日： 2022-10-21 - 主分类号： G01J4/00 文献下载
摘要：偏振态测量装置包括晶体，反射结构和探测器组。当入射光入射到第一反射结构时，产生第一反射光和第一透射光。第一反射光入射至第二反射结构，产生第二反射光和第二透射光。第二反射光入射至第三反射结构，产生第三反射光和第三透射光。探测器组用于测量第一透射光，第二透射光，第三透射光和第三反射光的四个光强度。四个光强度用于得到入射光的偏振态。本申请中的第一反射光和第二反射光经过晶体，可以增加传输矩阵的数量，从而提高设计偏振态测量装置的灵活性。
偏振测量装置测量方法

[发明专利]激光辐照下运动物体反射光、透射光的检测装置及方法-CN202211138649.0在审
发明人：张博;吕宣德;王晓白 -专利权人：中国航空制造技术研究院
申请日： 2022-09-19 - 公布日： 2022-12-20 - 主分类号： G01N21/47 文献下载
摘要：本发明涉及一种激光辐照下运动物体反射光、透射光的检测装置及方法，包括运动装置，用以放置样品，并使所述样品基于一定方向运动；激光辐照光路模块，用以产生激光辐照线束射向处于运动状态的所述样品；反射光检测器，用以检测反射光数据；反射光收集罩，用以引导照射在处于运动状态下所述样品表面产生的反射光，将所述反射光引导至所述反射光检测器。其目的是实现实时对高速运动物体在激光照射下发出的反射光或透射光进行检测。
激光辐照运动物体反射光透射检测装置方法

[发明专利]具有光强调控功能的太阳能照明系统-CN201410442144.2在审
发明人：陈柏洲 -专利权人：鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
申请日： 2014-09-02 - 公布日： 2015-11-25 - 主分类号： F21S11/00 文献下载
摘要：一种具有光强调控功能的太阳能照明系统，包括集光器及第一至第三反射光偏振器。该集光器用于收集太阳光。该第一反射光偏振器用于将该集光器收集的太阳光分为TE偏振光和TM偏振光，该TE偏振光被该第一反射光偏振器反射，该TM偏振光穿过该第一反射光偏振器，该TE偏振光的偏振方向垂直于该TM偏振光的偏振方向。该第二反射光偏振器位于穿过该第一反射光偏振器的TM偏振光的光路上，用于旋转以调整该TM偏振光的光强。该第三反射光偏振器位于被该第一反射光偏振器反射的TE偏振光的光路上，用于旋转以调整该TE偏振光的光强。
有光调控功能太阳能照明系统

[发明专利]自由曲面离轴三反光学系统-CN201410756284.7有效
发明人：侯威;朱钧;金国藩;范守善 -专利权人：清华大学;鸿富锦精密工业（深圳）有限公司
申请日： 2014-12-11 - 公布日： 2019-02-12 - 主分类号： G02B17/06 文献下载
摘要：本发明涉及一种自由曲面离轴三反光学系统，包括一主反射镜，设置在物方光线的出射光路上，用于将所述物方光线反射，形成一第一反射光；一次反射镜，设置在所述主反射镜的反射光路上，用于将所述第一反射光二次反射，形成一第二反射光，该次反射镜的反射面为一光阑面；一第三反射镜，设置在所述次反射镜的反射光路上，用于将所述第二反射光再次反射，形成一第三反射光；以及一图像传感器，位于所述第三反射镜的反射光路上，用于接收所述第三反射光，所述主反射镜以及第三反射镜的反射面均为一6次的xy多项式自由曲面，所述次反射镜为一球面，所述自由曲面离轴三反光学系统在y轴方向的视场角大于等于65°，在x轴方向的视场角大于等于0.8°。
自由曲面离轴三反光学系统

[发明专利]球面透镜反射透过一体式光谱仪-CN201610882440.3有效
发明人：肖顺东;覃亚 -专利权人：佛山市北创光电科技有限公司
申请日： 2016-10-09 - 公布日： 2016-12-21 - 主分类号： G01N21/59 文献下载
摘要：本发明公开了一种球面透镜反射透过一体式光谱仪，包括壳体、光源、透射光路、反射光路、积分球装置、载物台、物镜、光谱卡和处理器，透射光路、反射光路、载物台和物镜均设于壳体上，物镜与反射光路连通，载物台设于反射光路下方，并设于透射光路上方，光源与透射光路、反射光路相对应，透射光路通过积分球装置与光谱卡、处理器连接，反射光出口端通过光谱卡与处理器连接，光谱卡与处理器连接。设有反射光路，经过放置在载物台上的球面透镜的反射光可以进入反射光路，进行反射率光谱分析；设有透射光路，光通过被测镜片进入到积分球装置传输到光谱卡，进行透过光谱分析。可以同时得出球面透镜的反射率和透过率，方便使用，提高检测效果。
球面透镜反射透过体式光谱仪

[实用新型]球面透镜反射透过一体式光谱仪-CN201621108373.1有效
发明人：肖顺东;覃亚 -专利权人：广东北创光电科技股份有限公司
申请日： 2016-10-09 - 公布日： 2017-07-07 - 主分类号： G01N21/59 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种球面透镜反射透过一体式光谱仪，包括壳体、光源、透射光路、反射光路、积分球装置、载物台、物镜、光谱卡和处理器，透射光路、反射光路、载物台和物镜均设于壳体上，物镜与反射光路连通，载物台设于反射光路下方，并设于透射光路上方，光源与透射光路、反射光路相对应，透射光路通过积分球装置与光谱卡、处理器连接，反射光出口端通过光谱卡与处理器连接，光谱卡与处理器连接。设有反射光路，经过放置在载物台上的球面透镜的反射光可以进入反射光路，进行反射率光谱分析；设有透射光路，光通过被测镜片进入到积分球装置传输到光谱卡，进行透过光谱分析。可以同时得出球面透镜的反射率和透过率，方便使用，提高检测效果。
球面透镜反射透过体式光谱仪

[发明专利]光盘信号处理装置及再生装置、信号处理电路及再生电路-CN200710105064.8无效
发明人：山口高广;织田刚 -专利权人：松下电器产业株式会社
申请日： 2007-05-18 - 公布日： 2007-11-28 - 主分类号： G11B19/12 文献下载
摘要：在第一反射光量比较以及第一反射光量存储步骤中，从光盘D的下方至上方对激光的束点位置进行盘搜索，对最先达到规定的反射光量阈值以上的第一反射光量进行存储。之后，在第二反射光量比较以及第二反射光量存储步骤中，从所述光盘D的上方至下方对所述束点位置进行盘搜索，对最先达到所述规定的反射光量阈值以上的第二反射光量进行存储。并且，在反射光量比较步骤中，比较所述第一以及第二反射光量，在类别判断步骤中，利用所述比较结果进行是否为SACD Hybrid的判别。因此，可实现一边使光盘旋转一边执行盘搜索，并且可不受光拾取器的构成电路的性能偏差的影像地判别光盘的种类。
光盘信号处理装置再生电路

[发明专利]光学传感器及其图像形成装置-CN201410548720.1有效
发明人：越智照通;和井田匠;加藤真治;石井稔浩;平井秀二;藤田贵史;行方伸一;山科亮太;吉浦有信;山野元义 -专利权人：株式会社理光
申请日： 2014-10-16 - 公布日： 2018-09-11 - 主分类号： G03G15/00 文献下载
摘要：其包括对光源(110)来的照射光中由记录纸(20)来正反射的正反射光进行受光的正反射光检测器(130)，和对该记录纸来扩散反射的扩散反射光进行受光的扩散反射光检测器(230)，对于记录纸的面的照射光的入射角(θ1)是在(75°)以上(85°)以下的范围内，扩散反射光检测器的构成是，对于通过记录纸的面来扩散反射后的反射光之中相对于记录纸的面的法线的反射角度(θ3)为大于(0°)，并且小于正反射光相对于记录纸的面的法线的反射角度(θ2)的扩散反射光进行受光。
记录纸扩散反射光检测器正反射光受光图像形成装置法线光学传感器扩散反射照射光反射测定对象物记录材料反射光平滑度入射角正反射光源

[实用新型]一种位置检测系统、样本输送系统及样本分析仪-CN202223554819.1有效
发明人：陈章维;刘希凡 -专利权人：中元汇吉生物技术股份有限公司
申请日： 2022-12-29 - 公布日： 2023-06-16 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本实用新型提供一种位置检测系统、样本输送系统及样本分析仪，属于体外诊断设备技术领域，包括第一反射光耦及第二反射光耦，所述第一反射光耦及所述第二反射光耦之间设置有待检测区，所述第一反射光耦及所述第二反射光耦均朝向所述待检测区进行照射；所述第一反射光耦包括第一发光器及第一受光器，所述第二反射光耦包括第二发光器及第二受光器，所述第一受光器设置在所述第二发光器的照射范围外，所述第二受光器设置在所述第一发光器的照射范围外。通过对第一反射光耦和第二反射光耦的照射范围与受光器之间互相避让，避免两个光耦光信号相互干涉情况的出现，提高了位置检测系统检测的精准度，提升位置检测系统工作流程的顺畅性。
一种位置检测系统样本输送分析