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[发明专利]电子设备及其控制方法-CN202080042406.X在审
发明人：皇甫旻秀;洪贤石 -专利权人：三星电子株式会社
申请日： 2020-04-09 - 公布日： 2022-02-08 - 主分类号： G01S17/90 文献下载
摘要：一种电子设备包括处理器，被配置为基于接收到反射光的第一像素的位置来识别第一距离，并且基于接收到反射光的第二像素的位置来识别第二距离，并且计算第一距离和第二距离之间的差，并且基于通过计算获取的距离和通过第二传感器识别的电子设备的移动距离，识别反射光是由对象反射的反射光还是在对象上反射然后再次由另一对象反射的反射光。
电子设备及其控制方法

[发明专利]融合多波长响应的反射光谱测量方法及系统-CN202210539426.9在审
发明人：翁士状;朱睿;王景红;汤乐;潘美静;谭羽健 -专利权人：安徽工业技术创新研究院六安院
申请日： 2022-05-17 - 公布日： 2022-08-09 - 主分类号： G01N21/31 文献下载
摘要：本发明特别涉及一种融合多波长响应的反射光谱测量方法，包括如下步骤：S100、将被测物体放在物体放置平台上；S200、依次打开多波长光源中不同波长的LED灯，被测物体被照射后形成不同波长的反射光响应；S300、响应检测单元接收反射光响应并转换成模拟信号输出至微控制单元；S400、微控制单元对响应检测单元输出的模拟信号进行预处理；S500、预处理后的数据通过训练好的神经网络进行光谱反演后输出反射光谱数据。使用多个不同波长的LED灯依次照射物体获得多个反射光响应，降低了检测成本且操作简单；通过训练好的神经网络建立反射光响应和参考反射光谱的反演模型并将反射光响应反演为高光谱分辨率的反射光谱，解决了物体反射光谱的准确高效获取
融合波长响应反射光谱测量方法系统

[发明专利]光拾取装置-CN200810008967.9无效
发明人：木村茂治;井手达朗;渡边康一 -专利权人：日立视听媒体股份有限公司
申请日： 2008-01-31 - 公布日： 2009-04-29 - 主分类号： G11B7/135 文献下载
摘要：本发明提供一种光拾取装置，其用于减轻来自多层光盘中的相邻层的反射光成为杂散光，而对寻道控制信号和数据信号造成的不良影响。将包含来自其它层(512)的杂散光的来自多层光盘(501)的反射光，通过反射光会聚透镜(405)暂时进行会聚后由反射板(43)进行反射。在透镜和反射板之间，在与反射板相分离的状态下以包含光轴的形状配置光栅元件(45)，该光栅元件做成沟槽深度为λ/4不产生0次光，并且设定为使±1次以上的衍射光不返回反射光会聚透镜这样的间距。由此，来自目标层(511)的反射光一直透过到检测器(52)，但来自其它层(512)的反射光被遮断，因此检测到的控制信号或数据信号不会受到其它层的影响。
拾取装置

[发明专利]一种提高BOSA器件隔离度的方法-CN201610699771.3在审
发明人：吕亚平;薛振峰;付永安;孙莉萍;张军;高庭;罗超;武超群 -专利权人：武汉电信器件有限公司
申请日： 2016-08-22 - 公布日： 2017-01-04 - 主分类号： G02B6/42 文献下载
摘要：本发明公开了一种提高BOSA器件隔离度的方法，该方法包括以下步骤：1)偏振光源发出发射光；2)发射光以偏振分光片允许通过的偏振方向透过偏振分光片，并进入插针；3)发射光达到插针的表面和系统中能够反射的光部位时，形成反射光；4)反射光返回到偏振分光片，由于反射光的偏振方向相对于发射光的偏振方向改变明显，偏振分光片不允许反射光通过，将反射光进行隔离；偏振光源、偏振相关分光片等元器件技术成熟，成本低，体积小，易于批量生产
一种提高 bosa 器件隔离方法

[发明专利]激光照射装置以及激光照射方法-CN201780015551.7有效
发明人：伊崎泰则;中川爱湖 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2017-03-03 - 公布日： 2021-07-09 - 主分类号： B23K26/00 文献下载
摘要：本发明的激光照射装置具备：激光光源，其产生激光；空间光调制器，其具有显示相位图案的显示部；物镜，其将通过空间光调制器出射的激光聚光于对象物；传像光学系统，其将显示部中的激光图像传送至物镜的入射光瞳面；反射光检测器，其对入射于对象物并在与激光入射面相反侧的反射面被反射的激光的反射光进行检测；以及，控制部，该控制部控制显示于显示部的相位图案。当反射光检测器对反射光进行检测时，控制部使反射光像差校正图案显示于显示部，该反射光像差校正图案是对在激光透过具有规定厚度的2倍厚度的对象物的情况下所产生的像差进行校正的相位图案。
激光照射装置以及方法

[发明专利]影像配准装置、图像生成系统、影像配准方法及影像配准程序-CN202080063314.X在审
发明人：塚田明宏 -专利权人：株式会社电装
申请日： 2020-09-08 - 公布日： 2022-04-15 - 主分类号： G06T7/33 文献下载
摘要：影像配准装置与测距传感器(10)可通信地连接，并且与相机(20)可通信地连接，该测距传感器通过由受光元件感知通过光照射而从物体反射的反射光来生成包含距离信息的反射光图像，通过由该受光元件感知相对于反射光的背景光来生成与反射光图像相同坐标系的背景光图像影像配准装置具备：图像获取部(41)，获取反射光图像、背景光图像和相机图像；以及图像处理部(42)，通过确定背景光图像的特征点与相机图像的特征点之间的对应关系，来实施与背景光图像相同坐标系的反射光图像与相机图像的影像配准
影像装置图像生成系统方法程序

[发明专利]基于频闪切换照明的掩膜版缺陷检测方法及系统-CN202111078994.5在审
发明人：周文彩;刘建明;张彦鹏 -专利权人：江苏维普光电科技有限公司
申请日： 2021-09-15 - 公布日： 2021-12-24 - 主分类号： G01N21/89 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于频闪切换照明的掩膜版缺陷检测方法及系统，用于检测具有铬层和透明基底的掩膜版的缺陷，方法步骤中包含：在掩膜版匀速移动的过程中，透射光和反射光交替照射于掩膜版；透射光照射于掩膜版时，透射光先透过透明基底，后被成像于图像采集面；反射光照射于掩膜版时，反射光先经铬层反射，后被成像于图像采集面；采集每一次成像于图像采集面的透射光的透射光图像信号及每一次成像于图像采集面的反射光的反射光图像信号；对采集到的透射光图像信号和反射光图像信号分别进行提取、重组，得到掩膜版表面透射图像和反射图像。本发明可以在透射光和反射光以极高频率切换的同时获得掩膜版表面上铬层和透明基底上的缺陷，检测效率高。
基于切换照明掩膜版缺陷检测方法系统

[发明专利]识别装置以及电子设备-CN201811010955.X在审
发明人：小野博明 -专利权人：索尼半导体解决方案公司
申请日： 2018-08-31 - 公布日： 2019-04-26 - 主分类号： G06K9/00 文献下载
摘要：本发明提供不会受到环境光的变动的影响而能够高精度地进行识别的识别装置以及电子设备。本发明提供一种识别装置，具备：直接反射光信息计算部，基于对对象物照射光而探测所述光的TOF传感器获得的传感数据，计算与来自所述对象物的直接反射光相关的直接反射光信息；对象物检测部，基于所述直接反射光信息检测所述对象物；以及对象物识别部，基于所检测到的所述对象物的所述直接反射光信息来进行该对象物的识别。
对象物反射光信息识别装置电子设备对象物识别部对象物检测传感数据传感器反射光环境光计算部照射光检测探测

[发明专利]使用光波的距离测定装置-CN03127570.2有效
发明人：石锅郁夫;古平纯一 -专利权人：株式会社拓普康
申请日： 2003-08-08 - 公布日： 2004-03-31 - 主分类号： G01S7/48 文献下载
摘要：一种光波距离测定装置具备：具有去路光轴、用于投射测定光的投光光学系统；以及具有归路光轴、用于接受反射光的受光光学系统，该受光光学系统具有：用于接受反射光并使之聚焦的受光透镜；反射光入射的受光面；以及环状的穿孔多焦点光学构件，将其配置在该受光面与上述受光透镜之间，以使反射光聚焦到上述受光面上。
使用光波距离测定装置

[发明专利]探测方法、探测设备及计算机可读存储介质-CN202310804573.9在审
发明人：雷述宇 -专利权人：宁波飞芯电子科技有限公司
申请日： 2023-06-30 - 公布日： 2023-08-22 - 主分类号： G01S7/4913 文献下载
摘要：本申请提供一种探测方法、探测设备及计算机可读存储介质，涉及激光雷达技术领域，该方法包括：根据接收的反射光，确定反射光对应的至少一个特征参数；根据预先设置的电压对应关系，确定与至少一个特征参数相对应的驱动电压；根据驱动电压驱动滤光组件；再次通过滤光组件过滤得到反射光；根据再次得到的反射光，结合预先设置的驱动序列信号进行运算，得到探测参数。在本申请提供的技术方案中，通过确定的驱动电压对滤光组件进行驱动，使得滤光组件可以更多地过滤得到由出射光所形成的反射光，探测设备则可以根据大量的出射光所形成的反射光进行运算，进而可以减少滤光组件对由出射光所形成的反射光的过滤
探测方法设备计算机可读存储介质

[发明专利]用于表征表面均匀度的方法和系统-CN201980070830.2在审
发明人：弗朗西斯·T·卡鲁索;杰佛瑞·K·伊莱亚森;戴维·L·霍费尔特;约瑟夫·E·赫尔南德斯;乔舒亚·A·格利克森 -专利权人： 3M创新有限公司
申请日： 2019-11-13 - 公布日： 2021-06-04 - 主分类号： G01N21/84 文献下载
摘要：本发明公开了一种方法，该方法包括将光从光源(12)发射到至少部分反射的表面(24)上。在屏幕(32)处从表面收集反射光(13)，以利用相机(40)在第一图像(42)中捕获反射光的强度分布(34)。通过对反射光的强度分布的傅里叶变换执行合适的滤波来处理(50)反射光的第一图像的强度分布，以便强调具有感兴趣的强度变化的特征。分析该反射光的该强度分布的具有该感兴趣的变化的特征以确定该表面的均匀度值。
用于表征表面均匀方法系统

[发明专利]真正性识别系统及真正性识别薄膜的使用方法-CN99801931.3有效
发明人：盐泽昭仁;铃木慎一郎;西村凉;星野秀一;竹内逸雄;榊原干彦;横山祐美 -专利权人：日石三菱株式会社;日本发条株式会社;大日本印刷株式会社
申请日： 1999-08-27 - 公布日： 2004-06-09 - 主分类号： G03H1/18 文献下载
摘要：真正性识别薄膜(10)至少包括反射性薄膜(11)，具有在入射的光中仅反射左圆偏振光或者右圆偏振光之一而生成反射光的圆偏振光选择性。在该反射性薄膜(11)上设有全息图形成部(11a)。该全息图形成部(11a)把与反射光相同的圆偏振光的光反射到与反射光不同的方向上，而形成全息图象。放置在不同位置上的检测器分别检测来自反射性薄膜(11)的反射光和来自全息图形成部(11a)的全息图象。
真正识别系统薄膜使用方法

[实用新型]一种用于激光切割头的反射光探测装置-CN201820862618.2有效
发明人：李峰西;高凯;赵同峰;李良友;李志伟;苏尚君 -专利权人：济南森峰科技有限公司
申请日： 2018-06-05 - 公布日： 2019-02-15 - 主分类号： B23K26/70 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种用于激光切割头的反射光探测装置，其特征在于，它包括安装在聚焦镜片和保护镜片之间的反射光探测器，所述的反射光探测器连接到控制器的信号输入端，控制器的信号输出端连接有电磁继电器，激光切割头内的激光器通过电磁继电器连接到供电端通过反射光探测器检测切割头内反射光的光强度信息，当切割头内反射光的光强度超出报警值时，通过控制电磁继电器，及时切断对激光器的供电线路，有效避免切割头被烧坏。
反射光探测器电磁继电器激光切割头切割头探测装置控制器激光器反射光内反射烧坏本实用新型光强度信息信号输出端信号输入端供电线路聚焦镜片供电端镜片报警检测

[发明专利]一种检测系统-CN202110260802.6在审
发明人：苏胜飞;田井宇 -专利权人：深圳市华讯方舟光电技术有限公司
申请日： 2021-03-10 - 公布日： 2021-08-10 - 主分类号： G01N21/95 文献下载
摘要：本申请公开了一种检测系统，该检测装置用于对待检测目标进行检测，包括：光学器件，设置于待检测目标上，用于接收待检测目标反射的第一反射光与第二反射光；可见光成像装置，通过光学器件接收第一反射光，以得到待检测目标的图像；OCT成像装置，通过光学器件向待检测目标输出检测光，并从光学器件接收第二反射光，以得到待检测目标的参数。本申请通过设置光学器件，将由待检测目标发射的第一反射光传输至可见光成像装置，实现对待检测目标二维成像；同时将由待检测目标发射的第二反射光传输至OCT成像装置，获取待检测目标的深度信息，实现二维与三维的扫描检测
一种检测系统

[发明专利]无创分光光度计及相关方法-CN201180015421.6有效
发明人：克里斯托弗·格林 -专利权人：克里斯托弗·格林
申请日： 2011-01-19 - 公布日： 2012-12-12 - 主分类号： A61B3/12 文献下载
摘要：本发明提供一种用于对人或动物对象的眼睛进行无创检查测量和/或监测的设备，该设备具有包括照射装置和接收装置的第一光学系统，该照射装置用于选择性地将照射光引导至眼睛的选定结构上，用于从其直接反射和漫反射，并用于以一个或多个脉冲提供照射光，该接收装置用于接收作为照射光照射的结果从眼睛返回的光，并且设置为以相对于照射光脉冲的选定时序间歇地记录返回的光，以在从选定结构返回的直接反射光或漫反射光和其他反射光之间进行区分，用于分析所述直接反射光或所述漫反射光
分光光度计相关方法