“双腔式腔衰荡”专利关键词查询_检索下载_查询列表_检索列表_行业专利分布_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果6198668个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]基于双腔式腔衰荡技术的大气NO3自由基浓度测量系统-CN201310637745.4有效
发明人：胡仁志;王丹;谢品华;方武;李传新;陈浩;刘建国;刘文清 -专利权人：中国科学院安徽光学精密机械研究所
申请日： 2013-12-02 - 公布日： 2017-02-01 - 主分类号： G01N21/39 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于双腔式腔衰荡技术的大气NO3自由基浓度测量系统，利用两个衰荡腔来同时测量衰荡时间和本底衰荡时间，包括函数发生器、二极管激光器、光隔离器、第一衰荡腔、第二衰荡腔、窄带滤色片、光电探测器外部调制的二极管激光器输出脉冲激光，经过一个光隔离器，通过分束镜将脉冲激光分成两束，分别进入第一衰荡腔和第二衰荡腔，两个衰荡腔后接光电探测器。由第一衰荡腔采集获得的衰荡信号提取出NO3自由基的衰荡时间；同时由第二衰荡腔获得的衰荡时间提取出NO3自由基的本底衰荡时间。
基于双腔式腔衰荡技术大气 no3 自由基浓度测量系统

[发明专利]一种基于窄线宽连续激光和随机耦合的光腔衰荡信号衰荡时间获取方法-CN202111305411.8有效
发明人：李斌成;王静;杨巨川 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2021-11-05 - 公布日： 2023-03-24 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于窄线宽连续激光和随机耦合的光腔衰荡信号衰荡时间获取方法，将窄线宽连续激光束直接入射进入光学谐振腔，记录随机耦合产生的光腔衰荡信号，对记录的光腔衰荡信号采用双指数函数拟合，从而消除随机耦合过程时间特性的不确定性对衰荡时间获取的影响，通过多次测量结果统计平均获得衰荡时间的准确值。本方法与传统的采用调制光学谐振腔腔长实现共振耦合和采用声光调制器快速关断激光束的窄线宽连续激光光腔衰荡方法相比，具有构型简单、调节方便、成本低等优点，可用于基于光腔衰荡的高反/高透光学元件反射率/透过率/光学损耗测量和基于光腔衰荡光谱的痕量气体检测中。
一种基于窄线宽连续激光随机耦合光腔衰荡信号时间获取方法

[实用新型]基于双路光衰荡腔的痕量气体检测装置-CN201420656737.4有效
发明人：常建华;郭跃;王志丹;朱成刚;桂诗信 -专利权人：南京信息工程大学
申请日： 2014-11-06 - 公布日： 2015-02-25 - 主分类号： G01N21/31 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种基于双路光衰荡腔的痕量气体检测装置，属于气体检测技术领域。该痕量气体检测装置包括光源单元、光衰荡单元以及信号接收与处理单元，所述光源单元包括相互连接的光源、光分束器，所述光衰荡模块包括两个相同的光衰荡腔，所述信号接收与处理单元包括两个光探测器以及与两个光探测器分别连接的计算模块，所述两个光衰荡腔的光输入端与光分束器的两个输出端分别连接，两个光衰荡腔的衰荡光信号输出端与两个光探测器分别连接。相比现有技术，本实用新型利用双路光衰荡腔同时获取两条衰荡曲线，从而可方便快捷地获得待测气体的浓度。
基于双路光衰荡腔痕量气体检测装置

[发明专利]一种用于光腔衰荡高反射率测量的双传感器调腔方法-CN202111283103.X在审
发明人：何星;田中州;赖柏衡;赵旺;王帅;杨平 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2021-11-01 - 公布日： 2022-01-28 - 主分类号： G01N21/03 文献下载
摘要：本发明提供一种用于光腔衰荡高反射率测量的双传感器调腔方法，在光腔衰荡技术测量光路中利用相机与光电探测器(PD)共同分析衰荡腔透射光场，实现调腔误差诊断，完成精密调腔。在衰荡腔粗调准阶段，以光场形态和透射光场强度峰值作为调腔评价指标，在保证基横模输出的情况下使腔透射峰值最高；在精调准阶段，根据腔透射光场强度提取的光腔衰荡时间常数作为调腔评价指标，使衰荡时间常数达到最大完成衰荡腔调节这种调腔方式可以不依赖于操作人员主观判断，便于仪器化和自动化。
一种用于光腔衰荡高反射率测量传感器方法

[发明专利]一种随机振动驱动衰荡腔免标定气体浓度测量系统-CN201911094846.5有效
发明人：徐立军;曹章;宋振源;张宏宇;刘怡;解恒 -专利权人：北京航空航天大学
申请日： 2019-11-11 - 公布日： 2020-09-25 - 主分类号： G01N21/39 文献下载
摘要：本发明设计了一种随机振动驱动衰荡腔免标定气体浓度测量系统与方法，所用元件包括：窄线宽激光光源、光调制模块、光学衰荡腔和信号采集与处理模块。首先，测量光调制模块对驱动信号的响应延迟时间；然后，调节两束窄线宽激光的中心波长位于同一或相邻吸收峰，采集光通过充有待测气体的衰荡腔出射的光强衰减曲线；选取入射光被完全阻断的时刻作为拟合衰荡信号的起始点对数据进行拟合，得到双波长分别对应的指数衰减系数；最后利用双波长衰减系数的差与气体浓度的关系得到气体组分摩尔分数。本发明利用随机振动实现衰荡腔对双波长的分时选频功能，结构简单、成本低、对测量环境适应性强，在气体检测领域有较高的使用价值和广阔的应用前景。
一种随机振动驱动衰荡腔免标定气体浓度测量系统

[发明专利]一种气体浓度检测装置-CN202311130128.5在审
发明人：毛娜请;徐利军;刘蕴韬;张晓华;张俊博 -专利权人：中国原子能科学研究院
申请日： 2023-09-04 - 公布日： 2023-10-10 - 主分类号： G01N21/31 文献下载
摘要：该气体浓度检测装置包括：激光发生组件、衰荡器和光电探测器，其中，激光发生组件用于产生激光光束；衰荡器具有封闭的衰荡腔，衰荡腔用于容纳待测气体，衰荡腔位于激光发生组件产生的激光光束传输路径上，激光光束能够进入衰荡腔内，并在衰荡腔内传输；光电探测器，设置在与衰荡腔对应的位置，用于探测从衰荡腔内传输出的激光光束的强度。
一种气体浓度检测装置

[发明专利]大口径光学元件反射率测量系统-CN202210128072.9有效
发明人：高磊;龙宇;彭琛;朱涛 -专利权人：重庆大学
申请日： 2022-02-11 - 公布日： 2023-03-10 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明提供一种大口径光学元件反射率测量系统，该系统中第一光束调节装置将宽光谱超快激光转换为线型光束或矩形光束；初始光学谐振腔内不包括光学元件，线型光束或矩形光束在光学谐振腔内衰荡，形成第一衰荡信号；线型光束或矩形光束在包括光学元件的测试光学谐振腔内衰荡，形成第二衰荡信号；根据采集到的所述第一衰荡信号和第二衰荡信号，对应确定初始光学谐振腔的第一衰荡时间和测试光学谐振腔的第二衰荡时间，根据第一衰荡时间、第二衰荡时间、初始光学谐振腔和测试光学谐振腔的腔长，
口径光学元件反射率测量系统

[发明专利]基于频率选择性光反馈光腔衰荡技术的高反射率测量方法-CN200810102778.8有效
发明人：李斌成;龚元;韩艳玲 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2008-03-26 - 公布日： 2008-09-10 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于频率选择性光反馈光腔衰荡技术的高反射率测量方法，采用连续激光入射到初始衰荡腔，衰荡腔出射信号由透镜会聚后由光电探测器转换为电信号，并由数据采集卡记录，衰荡信号由计算机处理得到初始腔衰荡时间；然后插入待测平面镜构成测试衰荡腔，重复测量得到测试腔衰荡时间，并由两个衰荡时间计算得到待测平面镜的反射率。其特征在于：利用两块高反射平凹腔镜和一块高反射平面镜构成初始衰荡腔，激光束从高反射平面镜非垂直入射进初始衰荡腔，入射角保证从平面镜后向反射的一次反射光不进入激光器谐振腔；精确调节两块腔镜，使衰荡腔的频率选择性后向反射激光输出进入激光器谐振腔
基于频率选择性反馈光腔衰荡技术反射率测量方法

[发明专利]光腔衰荡光谱仪微量气体采样装置及方法-CN202011594896.2在审
发明人：吴芳芳;孔凡珺;朱珉;张潮海;谢声益 -专利权人：浙江华电器材检测研究所有限公司;南京航空航天大学
申请日： 2020-12-29 - 公布日： 2021-04-23 - 主分类号： G01N21/31 文献下载
摘要：一种光腔衰荡光谱仪微量气体采样装置及方法，它包括气体检测回路、气体循环回路和衰荡光腔，通过气体检测回路和气体循环回路与光腔衰荡光谱仪的衰荡光腔连接，通过真空泵对衰荡光腔抽取真空后，循环气泵驱动高压气瓶排出的气体在气体循环回路中循环，通过待检测气体进入六通阀后，高压气瓶排出的气体载入待检测气体进入衰荡光腔内，光谱仪自动计算光腔衰荡时间，得出待检测气体的浓度，缩短了光腔衰荡光谱仪气体采样时间、降低了待测气体消耗量，提高了测量精度和效率
光腔衰荡光谱仪微量气体采样装置方法

[发明专利]一种基于楔形高透射光学元件的光腔衰荡装置中高反射腔镜透过率的测量方法-CN202211554655.4在审
发明人：李斌成;王静;赵斌兴 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2022-12-05 - 公布日： 2023-05-16 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于楔形高透射光学元件的光腔衰荡装置中高反射腔镜透过率测量方法，该方法以楔形高透射光学元件作为参考元件，基于光腔衰荡技术，先测量楔形高透射光学元件前表面或者后表面的剩余反射率，然后建立同时测量高反射腔镜透射的和楔形高透射光学元件已知反射率表面反射的输出衰荡信号的双通道光腔衰荡装置，同时测量高反射腔镜透射的和楔形高透射光学元件已知反射率表面反射的输出衰荡信号，计算楔形高透射光学元件的反射光腔衰荡信号幅值与待测高反射腔镜透射光腔衰荡信号幅值的比值，实现光腔衰荡装置中高反射腔镜透过率的准确测量
一种基于楔形透射光学元件光腔衰荡装置中高反射透过测量方法

[发明专利]双波长高反射镜反射率测量方法-CN201010593093.5有效
发明人：李斌成;曲哲超;韩艳玲 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2010-12-08 - 公布日： 2011-07-20 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：双波长高反射镜反射率测量方法，将光强周期性调制的两个不同波长的连续激光同时注入由两块或三块双波长高反射镜构成的稳定初始光学谐振腔，当初始光学谐振腔输出信号幅值高于设定阈值时，关断入射激光束，记录光腔衰荡信号；或者在调制信号的下降沿记录光腔衰荡信号，并利用同时测量法或分光探测法或交替测量法得到初始光学谐振腔在两激光波长处的衰荡时间τ01、τ02，计算出腔镜在两波长处的平均反射率R01、R02；同样，在初始光学谐振腔内根据使用角度加入待测双波长高反射镜构成稳定的测试光学谐振腔，利用同时测量法或分光探测法或交替测量法得到测试光学谐振腔情况下两激光波长的衰荡时间τ1、τ2，得到待测双波长高反射镜在两波长处的反射率R1、R2。
波长反射反射率测量方法

[发明专利]一种光腔衰荡高反射率测量的数据处理方法-CN201510198761.7有效
发明人：韩艳玲;李斌成;崔浩;周胜 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2015-04-24 - 公布日： 2017-06-13 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种光腔衰荡高反射率测量的数据处理方法，其特征在于在基于光腔衰荡法测量大口径光学元件高反射率时，分析大口径光学元件反射率均匀性测试过程中待测光学元件不同位置反射率值与相应衰荡信号幅值间的关系，通过二次多项式拟合等处理方法，利用拟合参数及衰荡信号幅值计算得到待测光学元件反射率，通过与光腔衰荡方法得到反射率结果对比，印证了该方法的有效性。同时，利用拟合参数还可计算得到激光在衰荡腔内往返一次后两透射波相位延迟δ的余弦值cosδ，该值表征了所建立的光腔衰荡高反射率测试系统光路调节状况，cosδ越接近于1说明光腔调节越好。
一种光腔衰荡高反射率测量数据处理方法

[发明专利]一种基于衰荡腔模型的腔镜失调判定方法-CN202210865949.2在审
发明人：田中州;何星;王帅;林海奇;杨康建;杨平 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2022-07-22 - 公布日： 2022-10-18 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于衰荡腔模型的腔镜失调判定方法，该方法包括：搭建衰荡腔，根据角谱传输理论和多波长干涉理论建立衰荡腔内激光传输模型，构建不同腔镜失调量下的腔损耗分布状态模型库，实验得到特定腔镜未知失调量下的腔损耗分布，通过比对模型数据库判定腔镜失调状态，输出腔镜失调结果。本方法通过建立衰荡腔模型，可得到各种腔镜失调状态下的腔损耗分布模型数据库，筛选出与实际衰荡腔系统情况相符的特定模型，快速判断腔镜失调类型，输出腔镜失调判定结果，方便进行针对性的重新调整失调腔镜，得到近乎无相对失调的衰荡腔系统，便于提高基于衰荡腔的实验测量精度，具有方法新颖、腔镜失调状态可准确判断、腔镜相对失调量可量化等优点。
一种基于衰荡腔模型失调判定方法

[发明专利]一种基于振动频谱定位的无源衰荡腔准直方法-CN202211348046.3在审
发明人：何星;田中州;杨康建;王帅;杨平 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2022-10-31 - 公布日： 2023-02-03 - 主分类号： G01H9/00 文献下载
摘要：本发明提供一种基于振动频谱定位的无源衰荡腔准直方法，首先搭建无源衰荡腔，从无源衰荡腔一端注入连续波探测光束，另一端采用光电器件获取无源衰荡腔透射信号。接下来向某端腔镜在水平方向和竖直方向分别施加特定频率的振动，调节另一端腔镜的同时采集的无源衰荡腔透射信号并进行频谱分析。通过振动频谱定位，直至出现特征振动频谱，即完成了另一端腔镜相对于入射光束的准直；在该腔镜完成准直后，向其施加特定频率振动并重复上述过程，即可完成无源衰荡腔两端腔镜的准直。该方法基于振动频谱定位来完成无源衰荡腔准直过程，具有特征鲜明，操作便捷的特点，同时该方法具备极高的理论精度，对于光腔衰荡技术的应用具有重要意义。
一种基于振动频谱定位无源衰荡腔准直方法

[发明专利]一种基于光腔衰荡技术同时测量高反射/高透射光学元件的反射率和透过率的方法-CN201610972470.3有效
发明人：李斌成;崔浩;王静 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2016-11-04 - 公布日： 2019-04-02 - 主分类号： G01N21/55 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于光腔衰荡技术同时测量高反射/高透射光学元件的反射率和透过率的方法，步骤为：采用光腔衰荡技术，先测量初始光腔的衰荡信号并拟合得到初始光腔的衰荡时间。然后加入待测高反射/高透射光学元件形成稳定测试光腔，分别测量从待测光学元件输出和输出腔镜输出的衰荡信号并拟合得到测试光腔的衰荡时间，经计算得到高反射光学元件的反射率或高透射光学元件的透过率；同时将待测光学元件输出的光腔衰荡信号幅值与输出腔镜输出的光腔衰荡信号幅值进行比值计算
一种基于光腔衰荡技术同时测量反射透射光学元件反射率透过方法

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
下一页»
尾页
共 100000 条