专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]基于双的快速矢量测量装置及测量方法-CN202110374508.8有效
  • 陈增辉;韩微微;徐坤 - 南华大学
  • 2021-04-07 - 2022-12-27 - G01M11/02
  • 基于双的快速矢量测量装置及测量方法,该测量装置包括激光器、产生模块、待测试器件模块、90°混频器模块和数据处理模块。产生模块包括信号产生模块和本振产生模块,激光器分别与信号产生模块和本振产生模块连接,信号产生模块、待测试器件模块、90°混频器模块依次连接,本振产生模块与90°混频器模块连接,90°混频器模块的输出端与数据处理模块电连接。通过同一激光器源在产生模块分别产生信号和本振,然后对信号进行混频、傅里叶变换、归一化等处理,最终获取待测器件的频谱响应。本发明能抑制镜频信号的干扰,提高信号频谱利用率和测量精度。
  • 基于双光频梳快速矢量测量装置测量方法
  • [发明专利]系统及其偏控制方法-CN202010747324.7有效
  • 倪凯;余浩洋;周倩;李星辉;王晓浩 - 清华大学深圳国际研究生院
  • 2020-07-29 - 2022-02-01 - H01S3/098
  • 一种双系统及其偏控制方法,该系统包括重复频率不同且拥有重叠的光谱范围的信号光源和本振光源、双干涉模块以及数据采集、处理与偏控制模块,数据采集、处理与偏控制模块对信号和本振产生的干涉信号进行实时采集,对采集的干涉信号截取出干涉峰,实时获得干涉信号幅频谱的实际位置,并将其与频谱的目标位置进行比较,根据误差信号,通过调节信号或本振的泵浦电流或腔内色散,闭环控制信号或本振的相对偏本发明仅使用双干涉信号本身的频谱即可实现不低于重差刷新率的偏控制,实现双系统的长期稳定运行。
  • 双光频梳系统及其控制方法
  • [发明专利]一种产生微波的装置及方法-CN202010157648.5在审
  • 桂成程;李彦波;周恒 - 华为技术有限公司
  • 2020-03-09 - 2021-09-10 - H04B10/50
  • 本申请提供一种产生微波的装置及方法。该装置包括:第一激光器,用于提供第一连续;第一光学微腔,用于根据第一连续光和控制信号生成第一,控制信号用于控制微波的频率间隔;第二光学微腔,用于根据第一连续光和控制信号生成第二,第一的第一频率间隔和第二的第二频率间隔不同;第一探测器,用于对第一和第二进行光电转换,得到微波,微波的频率间隔为第一频率间隔和第二频率间隔的差值。本申请中,基于第一和第二产生的微波,其频率间隔为第一的频率间隔和第二的频率间隔的差值,可提供具有较小频率间隔的微波,以满足实际应用需求。
  • 一种产生微波装置方法
  • [发明专利]一种重复频率可调的单腔双产生装置和方法-CN202210443882.3在审
  • 李晓洲;李博;杨博 - 大连理工大学
  • 2022-04-26 - 2022-07-29 - H01S3/05
  • 本发明属于技术领域,提供一种重复频率可调的单腔双产生装置和方法。所述单腔双产生装置包括光学谐振腔和调控模块。首先,构建任一光学谐振腔,使其能够输出具有固定重复频率的第一;其次,构建调控模块,将其嵌入光学谐振腔中,并基于光学自成像原理,利用频域和时域二阶相位调制,实现重复频率调控,输出重复频率可调的第二本发明所提供的单腔双产生装置和方法,能够在一个谐振腔内实现不同重复频率的双输出,并且重复频率灵活可调,具有结构简单、相干性好、能量效率高等优点。
  • 一种重复频率可调单腔双光频梳产生装置方法
  • [发明专利]一种太赫兹扫系统-CN202010814765.4有效
  • 张新亮;陈燎;张驰;王若兰 - 华中科技大学
  • 2020-08-13 - 2022-02-18 - H04B10/50
  • 本发明公开了一种太赫兹扫源及系统,太赫兹光源领域,太赫兹扫源包括:第一产生模块,用于周期性发射第一重的第一原始,并将第一原始拉伸为具有ns量级宽度的第一输出;第二产生模块,用于发射中心波长和带宽可控的第二重的第二原始,并将第二原始拉伸为具有ns量级宽度的第二输出,第一重与第二重存在重差;耦合放大模块,用于将接收到的第一输出和第二输出进行功率耦合产生太赫兹频率的光强度信号本申请通过光纤双频进行色散拉伸后光学拍频来产生宽扫描带宽、高扫速率、高线性度的太赫兹扫源。
  • 一种赫兹系统
  • [发明专利]一种窄脉冲型扫光源-CN202010893796.3有效
  • 张新亮;陈燎;张驰;王若兰 - 华中科技大学
  • 2020-08-28 - 2022-05-24 - H04B10/50
  • 本发明公开了一种窄脉冲型扫光源,属于激光光源领域。包括具有大带宽的第一、大色散单元、第二、光电探测器和光强度调制器;第一的输出端与大色散单元的输入端连接,大色散单元的输出端与光强度调制器的第一输入端连接;第二的输出端与光电探测器的输入端连接,光电探测器的输出端与光强度调制器的第二输入端连接;第二的重复频率与第一具有重差;光电探测器将第二转换成第二电,第二电与第二具有相同重复周期,并与第一的脉冲在时域上以重差为周期地重合和错开发明产生宽带宽、高步进精度、高线性度的窄脉冲型扫光源,其扫速率灵活可调。
  • 一种脉冲型扫频光源
  • [发明专利]一种太赫兹双梳成像系统-CN202211599835.4在审
  • 黎华;马旭红;李子平;曹俊诚 - 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
  • 2022-12-14 - 2023-04-25 - G01N21/3581
  • 本发明涉及一种太赫兹双梳成像系统,包括:第一量子级联激光器、第二量子级联激光器、第一路、第二路和频谱分析仪;所述第一量子级联激光器以模式工作,作为采样源,用于发出太赫兹;所述第一路用于将所述太赫兹汇聚至待测样品上,得到采样信号;所述第二路用于将透过所述待测样品的采样信号耦合到所述第二量子级联激光器的谐振腔内;所述第二量子级联激光器以模式工作,作为本征,用于实现采样信号和本征信号的多外差拍频得到双信号;所述频谱分析仪用于对双信号进行分析记录。
  • 一种赫兹双光梳成像系统
  • [发明专利]一种双测距系统及方法-CN202111604613.2在审
  • 张磊;胡攀攀;徐威 - 武汉万集光电技术有限公司
  • 2021-12-24 - 2023-07-04 - G01B11/14
  • 本申请适用于双测距技术领域,提供一种双测距系统及方法,双测距系统包括第一、第二、第一环形器、第二环形器、第三环形器、色散模块、第一耦合器及第二耦合器。本申请通过色散模块对第一和第二进行时域拉伸,消除了传统双测距系统中非模糊测量范围与测量速率的相互制约,在保证系统具有较大的测量范围的前提下提升了测量速率;同时,借助时域拉伸,系统的直接测量维度由时域转换到频域,使得系统的测量精度不随时域拉伸过程中脉冲的展宽而劣化,实现了大范围、高速率以及高精度的双距离测量。
  • 一种双光频梳测距系统方法
  • [发明专利]一种自参考太赫兹双系统-CN202210532621.9在审
  • 黎华;马旭红;李子平;曹俊诚 - 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
  • 2022-05-10 - 2022-09-13 - G01J3/02
  • 本发明涉及一种自参考太赫兹双系统,包括:第一、第二、T型偏置器和分波器;第一梳发出的信号经过自由空间耦合进入第二的谐振腔中,并与第二拍频产生双信号;T型偏置器用于获取由第二的自探测机制得到的双信号;分波器用于将双信号分成两路双信号,第一路双信号通过梳齿提取装置提取出一根梳齿后进入混频器的LO端口,第二路双信号直接进入混频器的RF端口;混频器用于将双信号与提取出的一根梳齿进行混频,并向频谱分析仪输出混频后的自参考双信号;频谱分析仪用于实时检测得到的自参考双信号。本发明能够获得高稳定的双光谱。
  • 一种参考赫兹双光梳系统

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