专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]大口径反射光学元件高反射率扫描测量多波长集成方法-CN201210172475.X有效
  • 李斌成;曲哲超 - 中国科学院光电技术研究所
  • 2012-05-27 - 2012-10-10 - G01M11/02
  • 大口径反射光学元件高反射率扫描测量多波长集成方法,根据技术原理,将第i束激光(i=1,…N,N>2)注入由高反射镜构成稳定的第i个初始光学谐振,记录信号,并利用单指数函数拟合得到第i个初始光学谐振在第i束激光波长处的时间τ0i;同样,在初始光学谐振内根据使用角度加入待测大口径反射光学元件构成稳定的第i个测试光学谐振,待测大口径反射光学元件置于二维位移平台上,记录信号,并利用单指数函数拟合得到第i个测试光学谐振在第i束激光波长处的时间τi,通过τ0i和τi可得到待测高反射镜在第i束激光波长处的反射率Ri,通过移动二维位移平台可以对待测大口径反射光学元件实现反射率二维成像测量。
  • 口径反射光学元件反射率扫描测量波长集成方法
  • [发明专利]一种光电系统及其入射路调节方法-CN202180001785.2在审
  • 陈波;杨志泉;陈从干 - 徐州旭海光电科技有限公司
  • 2021-06-30 - 2021-11-12 - G01N21/39
  • 本申请适用于技术领域,提供一种光电系统及其入射路调节方法,光电系统通过激光器输出探测光束,光学谐振来回反射探测光束后衰减为出射光束,第一探测器接收出射光束并转换为第一电信号,光电控制模块调节激光器的工作参数,使探测光束的波长与光学谐振的纵模相匹配,根据第一电信号获取出射光束的光强度,在出射光束的光强度大于预设阈值时,调节激光器的工作参数以关断探测光束,数据处理模块根据第一电信号获取探测光束在光学谐振内的时间;光学谐振为基横模束腰位于平面反射镜的平凹,或者,光电系统还包括基模与出射光束的基横模相匹配的单模输出光纤,能够有效抑制高阶横模,提高系统灵敏度。
  • 一种腔衰荡光电系统及其入射调节方法
  • [实用新型]一种光谱路稳定装置-CN202123316763.1有效
  • 邵杰;梁荫杰;吴琼;付松琳;陈达如 - 浙江师范大学
  • 2021-12-28 - 2022-10-18 - G01N21/31
  • 本实用新型公开了一种光谱路稳定装置,包括光源、路调节模块、无源谐振、高阻尼系数合金板以及信号探测模块。激光光束由光纤准直器输出,经反射镜以及匹配透镜调整后使激光TEM00模与谐振共振实现模式匹配,同时抑制高阶横模;路调节模块以及信号探测模块固定在高阻尼系数合金板上,减少了环境振动对光路的影响,保持了光谱产品在运输过程中保持TEM00输出。该装置不需要专业人员对光路重新调节,有效保证光谱技术的测量精度和稳定性。
  • 一种光腔衰荡光谱稳定装置
  • [发明专利]一种高反射镜透过率的标定方法-CN201710332421.8在审
  • 李斌成;王静;崔浩;高椿明 - 电子科技大学
  • 2017-05-12 - 2018-02-13 - G01M11/02
  • 本发明公开了一种高反射镜透过率的标定方法,该方法以高透射光学元件作为参考元件,基于技术,先测量初始光学谐振的输出信号,拟合得到初始光学谐振时间τ0;分别垂直和小角度倾斜插入参考高透射光学元件后,形成稳定测试光学谐振,分别测量参考高透射光学元件垂直和小角度倾斜时测试光学谐振的输出信号,拟合得到测试光学谐振时间分别为τ1和τ2,经计算得到该参考高透射光学元件的剩余反射率;当参考高透射光学元件小角度倾斜时,测量参考高透射光学元件的反射光强信号与待标定高反射镜透射光强信号的比值,实现高反射镜透过率的标定。
  • 一种反射透过标定方法
  • [发明专利]大口径光学元件反射率测量系统-CN202210128072.9有效
  • 高磊;龙宇;彭琛;朱涛 - 重庆大学
  • 2022-02-11 - 2023-03-10 - G01M11/02
  • 本发明提供一种大口径光学元件反射率测量系统,该系统中第一光束调节装置将宽光谱超快激光转换为线型光束或矩形光束;初始光学谐振内不包括光学元件,线型光束或矩形光束在光学谐振,形成第一信号;线型光束或矩形光束在包括光学元件的测试光学谐振,形成第二信号;根据采集到的所述第一信号和第二信号,对应确定初始光学谐振的第一时间和测试光学谐振的第二时间,根据第一时间、第二时间、初始光学谐振和测试光学谐振长,
  • 口径光学元件反射率测量系统
  • [发明专利]负压状态下多组分痕量气体在线检测装置和方法-CN202110395933.5有效
  • 云奋蛟;窦彦军;康平;阎文斌 - 内蒙古光能科技有限公司
  • 2021-04-13 - 2023-07-21 - G01N21/39
  • 本发明提供一种负压状态下多组分痕量气体在线检测装置和方法,内通入待测气体,激光控制中心控制可调谐激光器发出的波长为λ1、λ2、λ3的激光信号,开关控制波长λ1、λ2、λ3其中之一的激光信号经过分束器分为能量比为99∶1的两束激光信号,99%能量的激光信号经隔离器后耦合到中,1%能量的激光信号传输到校准系统中,并根据波长与之一一对应,光电转换器捕捉校准信息并传输到中央数据处理及控制中心,光电探测器捕捉从中透射出来的激光信号,并将捕捉信息传输到中央数据处理及控制中心,得到时间,根据时间计算待测气体浓度,本发明提供了一种灵敏度高的多组分痕量杂质气体在线检测方法。
  • 状态组分痕量气体在线检测装置方法
  • [发明专利]一种吸收式激光击穿检测装置-CN201510292847.6在审
  • 王欢;李建春;陈昱 - 南京先进激光技术研究院
  • 2015-06-01 - 2015-08-19 - G01N21/63
  • 一种吸收式激光击穿检测装置,包括吸收、激发光源、检测光源、声光调制器、探测器以及控制工作过程的电学控制系统;本发明装置将激光诱导击穿技术与技术相结合,在一个中放置待检测样品,激发光聚焦入射到待检测样品上,待检测样品由于吸热而形成纳米粒子云团并扩散到中,检测光在两端高反镜间来回反射并不断被相应的物质吸收,通过在外的探测器探测出射的信号,可以推算出物质的含量。本发明结合激光诱导击穿和技术,利用高反射率的反射镜,检出极限可以达到ppb量级;激发光照射前吸收抽真空,可防止空气中其它成分的干扰,并能减少谱线加宽,使被探测的谱线容易区分,提高了灵敏度。
  • 一种吸收激光击穿检测装置

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