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[发明专利]一种光束偏振可控装置、热退偏补偿系统及使用方法-CN202310351503.2在审
发明人：胡东霞;张君;吴振海;薛峤;严雄伟;肖凯博;邵婷;龙蛟;张晓璐;蒋新颖;郑建刚;高松 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2023-04-04 - 公布日： 2023-07-14 - 主分类号： H01S3/10 文献下载
摘要：本发明涉及一种光束偏振可控装置、热退偏补偿系统及使用方法，属于热退偏补偿技术领域，光束退偏具有一定的空间分布，首先采用波前传感器测量寻常光和非寻常光之间相位差的空间分布，然后在光束偏振可控装置上加载所需空间分布的电场，电光晶体内不同位置将产生相应的双折射，光束通过时寻常光和非寻常光之间的相位差将得到校正，从而实现自适应地补偿热退偏。相较于传统静态热退偏补偿系统，本发明能够根据光束热退偏的空间分布进行主动编程控制，实现闭环主动补偿光束热退偏，能够有效提升热退偏的补偿效果以及复杂热退偏分布下退偏补偿的适应性，进而提高激光系统光路设计的灵活性
一种光束偏振可控装置热退偏补偿系统使用方法

[发明专利]一种深紫外退偏器检测装置及检测方法-CN202010689303.4有效
发明人：曾爱军;张灵浩;夏克贵;朱玲琳;黄惠杰 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2020-07-17 - 公布日： 2022-03-08 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种深紫外退偏器检测装置及检测方法。高端光刻机工作波长位于深紫外波段，可选用光学材料非常稀少，许多其他波段常用的偏振器件难以加工，这给退偏器的性能检测带来了困难。本装置中，单色光源发出的光依次通过布儒斯特起偏镜、待测退偏器和布儒斯特检偏系统。布儒斯特检偏系统包含布儒斯特检偏镜和探测器，由探测器记录出射强度。起偏和检偏镜的表面为平面，光以布儒斯特角入射，获得线偏反射光。由记录的出射光强度的最大值和最小值，可得到退偏光的偏振度，从而反映了退偏器的退偏性能。本发明提供的一种深紫外退偏器检测装置及检测方法具有结构稳定、光路简洁、元部件易生产制造等特点，满足了深紫外退偏器的检测需要。
一种深紫外退偏器检测装置方法

[发明专利]手性液晶退偏器及其制备方法-CN200510021563.X有效
发明人：张大勇;罗飞;骆永全;刘海涛;张宁;刘仓理;李剑峰 -专利权人：中国工程物理研究院流体物理研究所
申请日： 2005-08-30 - 公布日： 2006-03-22 - 主分类号： G02F1/13 文献下载
摘要：本发明提供了一种手性液晶退偏器及其制备方法。本发明的手性液晶退偏器包括光学透明材料(1、2)，在光学透明材料(2)上加工有楔形或梯形槽阵列，并涂敷形成取向膜(3、5)，并诱导手性液晶自组织成为具有晶体特征的结构；光学透明材料(1、2)贴合形成具有楔形或梯形空腔的液晶盒当手性液晶退偏器为单楔形结构时还包括控制楔角的垫片(4)。手性液晶退偏器兼具楔形晶体退偏器和旋光晶体退偏器的特点，可在宽光谱范围内实现单色光退偏，且对任意方向的入射偏振光都有很好的退偏效果。本发明制作工艺简单，成本大幅度降低，特别是对于大口径光束退偏优势更加明显。
手性液晶退偏器及其制备方法

[发明专利]一种预测带钢跑偏值的方法和装置-CN202210360159.9在审
发明人：夏江涛;罗军;彭文杰;杜蓉 -专利权人：武汉钢铁有限公司
申请日： 2022-04-06 - 公布日： 2022-08-05 - 主分类号： C21D11/00 文献下载
摘要：本申请涉及图像数据处理技术领域，公开了一种预测带钢跑偏值的方法，包括获取训练数据，向连退跑偏值预测模型输入所述训练数据；所述连退跑偏预测模型根据所述训练数据生成跑偏预测曲线和输出超出预设的上限值的异常数据信息；将所述跑偏预测曲线和所述异常数据信息作为预测结果输出，用于优化连退线的纠偏机制。本申请通过连退跑偏值预测模型获得带钢在连退工序中的跑偏预测结果；通过预测结果提前采取纠偏措施，调整生产工艺带钢纠偏的控制参数，将带钢在连退工序中跑偏值控制在行业误差允许范围内，提高带钢加工质量和生产效率
一种预测带钢跑偏值方法装置

[发明专利]新型光学退偏器-CN201210245354.3有效
发明人：何冬玲;赵泽雄;潘鑫;贺谭斌 -专利权人：珠海保税区光联通讯技术有限公司
申请日： 2012-07-13 - 公布日： 2012-10-24 - 主分类号： G02B27/28 文献下载
摘要：本发明提供一种新型光学退偏器，包括合光组件以及退偏组件，合光组件具有双折射棱镜，双折射棱镜的第一晶体的光轴与第二晶体的光轴之间形成90º的夹角，其中，退偏组件位于合光组件的光出射端，退偏组件具有分光元件以及位于分光元件出射端的合光元件本发明提供的光学退偏器能够对线性偏振光进行退偏，并可以实现对光束的合光和/或隔离，且生产成本低，体积小。
新型光学退偏器

[发明专利]一种旋光晶体透过率测量装置及测量方法-CN202211192550.9在审
发明人：刘城名;朱玲琳;曾爱军;黄惠杰 -专利权人：上海镭望光学科技有限公司
申请日： 2022-09-28 - 公布日： 2023-01-06 - 主分类号： G01N21/59 文献下载
摘要：一种旋光晶体透过率测量装置及测量方法，测量装置包括：单色器、退偏器、可控旋光器件、光电探测器和控制器；单色器、退偏器、可控旋光器件和光电探测器沿光束传播方向依次设置；待测旋光晶体置于退偏器和可控旋光器件之间的光路中，单色器产生预设波长的单色光，单色光经退偏器后不完全退偏地照射至待测旋光晶体，待测旋光晶体对入射的不完全退偏光束改变其偏振态，可控旋光器件旋转偏振态，光电探测器对经偏振态旋转的光束进行采样以获得测量光束通过对偏振态旋转以达到时域退偏，使得测量光束近似的达到了完全退偏，极大地提高了旋光晶体透过率测量的准确性。
一种晶体透过测量装置测量方法

[发明专利]基于液晶光调制器的退偏测量与补偿装置-CN201810408257.9在审
发明人：李学春;黄庭瑞;黄文发;黄大杰 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2018-05-02 - 公布日： 2018-11-06 - 主分类号： H01S3/10 文献下载
摘要：一种基于液晶光调制器的退偏测量与补偿装置，包括第一透镜、第二透镜、光寻址液晶空间光调制器、偏振分光棱镜、第三透镜、第四透镜、CCD和控制电脑。可被用于激光能量通量小于300mJ/cm²下的各类激光放大器中，补偿由于热效应和不理想的偏振元件导致的激光退偏效应。本发明完全基于像传递设计，可以方便地实时测量和补偿激光的退偏效应，避免了转换测量与补偿退偏过程中的光学器件拆卸的复杂步骤。该装置结构简单，可以补偿任意形态的退偏形态，免除了补偿综合退偏形态的复杂系统，降低了激光系统复杂度。
透镜退偏液晶光调制器补偿装置退偏效应测量热效应激光液晶空间光调制器激光能量通量偏振分光棱镜激光放大器复杂步骤复杂系统光学器件激光系统控制电脑偏振元件实时测量装置结构复杂度光寻址拆卸传递转换

[实用新型]一种用于退偏器退偏性能高精度检测的光学系统-CN201922066322.7有效
发明人：曹恩达;于勇;赵一鸣;李飞 -专利权人：北京遥测技术研究所;航天长征火箭技术有限公司
申请日： 2019-11-26 - 公布日： 2020-08-14 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：一种用于退偏器退偏性能高精度检测的光学系统，包括光源、检测光路系统、退偏器放置平台、功率计以及波长计五部分；光源发射激光经检测光路透射被检退偏器后，聚焦到功率计中获得光能量；通过由V型槽三维调整平台构成的退偏器放置平台可以精确的实现退偏器正入射
一种用于退偏器退偏性能高精度检测光学系统

[发明专利]基于琼斯矩阵的偏振激光雷达标定方法及偏振激光雷达-CN201610547586.2有效
发明人：卜令兵;徐玲;郜海洋;黄晶 -专利权人：南京信息工程大学
申请日： 2016-07-12 - 公布日： 2018-06-19 - 主分类号： G01S7/497 文献下载
摘要：该方法用于修正偏振激光雷达的退偏比；本发明标定方法利用半波片改变发射激光的偏振方向，通过对半波片的角度改变，获得随半波片角度变化的退偏比值及退偏比变化率值，建立比较退偏比函数与退偏比变化率函数的Diff运用最小二乘法对Diff函数进行拟合，获得该系统的琼斯矩阵恒量，根据琼斯矩阵恒量获得对应的半波片优化旋转角度；偏振激光雷达进行远距离探测时，保持半波片优化旋转角度不变，采用琼斯矩阵恒量并利用接收光路中的琼斯矩阵，对退偏比进行修正
琼斯矩阵偏振激光退偏半波片恒量雷达雷达标定变化率修正远距离探测最小二乘法角度变化接收光路相对误差标定波片定标拟合偏振优化激光发射

[发明专利]一种多光路多程放大退偏自补偿系统和方法-CN202211455461.9在审
发明人：王振国;胡东霞;陈林;郑建刚;李平;刘建国;张君;刘勇;熊迁;王琳;林东晖;吴文龙;陈文棋 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2022-11-21 - 公布日： 2023-03-03 - 主分类号： H01S3/067 文献下载
摘要：本发明公开了一种多光路多程退偏自补偿系统和方法，涉及重频高能激光器领域。所述多光路多程放大退偏自补偿系统包括位于第一光路、第二光路、第三光路；所述第一光路为用于多程放大和闭环传输的主光路；所述第二光路与第三光路用于将待偶数程放大的退偏激光的分量光分别进行偏振态旋转，从而实现退偏自补偿与现有技术相比，本发明提供的退偏自补偿方案使得激光在偶数程通过放大器后退偏得到自补偿，整个光路单向运行可天然规避反激光，避免前级被大能量反激光损伤，还可以降低激光输出近场调制，实现可控的多程放大，弥补了目前常用的多程放大光路中光斑口径偏小以及退偏补偿效应不好的缺点，适用于重频高能量系统多程放大光路的退偏补偿。
一种多光路多程放大补偿系统方法

[发明专利]退锡溶液的环保再生方法-CN200710072820.1无效
发明人：刘景亮;叶春汉 -专利权人：刘景亮
申请日： 2007-01-08 - 公布日： 2008-07-16 - 主分类号： C23F1/46 文献下载
摘要：本发明涉及一种退锡溶液的环保再生方法，该退锡溶液包括硝酸、硝酸盐和偏锡酸，包括以下步骤：在退锡溶液中加入浓度为0.2克/升至10克/升的阳离子表面活性剂；在常温下搅拌后静置，所述偏锡酸聚集沉淀；将所述退锡溶液过滤，所述沉淀后的偏锡酸被滤出；被过滤后的退锡溶液返回于退锡工序中使用。同现有技术相比较，本发明的技术效果在于：无需调节pH值，处理工艺简单，易操作，流程短；所加入的溶液只有阳离子表面活性剂，而阳离子表面活性剂连同偏锡酸一起沉淀下来，过滤后的退锡溶液中没有杂质，能直接返回退锡工序中使用
溶液环保再生方法

[发明专利]退偏器-CN201180008637.X有效
发明人：万俊康 -专利权人：刘平
申请日： 2011-09-22 - 公布日： 2013-03-20 - 主分类号： G02B27/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种退偏器，包括分光膜、以及设置在分光膜同一侧的导光组件和偏振旋光装置；分光膜的反射率为25%~43%，在入射点处将入射光分为第一反射光和第一透射光，分光膜不垂直于入射光；导光组件将第一透射光引导回到入射点本发明的退偏器采用较少的普通光学元件即可实现，具有结构简单、成本低且体积小的优点。
退偏器

[实用新型]一种硝酸型退锡废液回收利用的装置-CN202022257468.2有效
发明人：曾志佳;朱学理;王曦;高开 -专利权人：光大绿色环保管理（深圳）有限公司
申请日： 2020-10-12 - 公布日： 2021-09-17 - 主分类号： C02F9/10 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种硝酸型退锡废液回收利用的装置，所述装置包括：电透析装置，所述电透析装置用于对退锡废液进行电透析处理，以使所述退锡废液中的偏锡酸与所述退锡废液中的其它离子分离，得到偏锡酸富集液；聚沉反应器，所述聚沉反应器与电透析装置连通，用于接收偏锡酸富集液，并在所述聚沉反应器中加入强电解质，以使所述偏锡酸进行聚沉；离心装置，用于回收聚沉后的所述偏锡酸；回收装置，用于回收电透析装置、聚沉反应器以及所述离心装置中产生的滤液中的金属和在本实用新型中使用电透析技术实现偏锡酸与废液其它离子分离，得到偏锡酸浓液，同时加入强电解质，使偏锡酸得到更有效聚沉，实现了偏锡酸的回收。
一种硝酸型退锡废液回收利用装置

[发明专利]一种硝酸型退锡废液回收利用的装置和方法-CN202011085961.9在审
发明人：曾志佳;朱学理;王曦;高开 -专利权人：光大绿色环保管理（深圳）有限公司
申请日： 2020-10-12 - 公布日： 2021-02-05 - 主分类号： C02F9/10 文献下载
摘要：本发明公开了一种硝酸型退锡废液回收利用的方法及装置，所述方法包括：步骤S1：将退锡废液进行电透析处理，以使所述退锡废液中的偏锡酸与所述退锡废液中的其它离子分离，得到偏锡酸富集液；步骤S2：在偏锡酸富集液中加入强电解质，以使所述偏锡酸进行聚沉；步骤S3：回收聚沉得到的偏锡酸；步骤S4：回收所述步骤S1至所述步骤S3中的滤液中的金属和/硝酸盐。在本发明中所述方法使用电透析技术实现偏锡酸与废液其它离子分离，同时在强电场作用下，偏锡酸胶体向着与自己电荷相反的电极方向迁移，对液相作相对运动，使得偏锡酸得到富集及提纯后，单独收集富集的偏锡酸浓液，同时加入强电解质，使偏锡酸得到更有效聚沉，实现了偏锡酸的回收。
一种硝酸型退锡废液回收利用装置方法

[发明专利]一种用于退偏器性能检测的方法及装置-CN201711496575.7在审
发明人：周建康;靳阳明;黄绪杰;沈为民 -专利权人：苏州大学
申请日： 2017-12-31 - 公布日： 2018-06-29 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于退偏器性能检测的方法及装置。检测装置的结构为：点状光源发出的光经反射准直镜反射，再依次通过起偏器、扩束系统、待检测退偏器、缩束系统、检偏器后，经聚焦镜聚焦，在探测器上记录得到的光信号。依据检测信号，采用偏振灵敏度计算方法，得到检测系统的偏振灵敏度，再依据扩束系统和缩束系统的透过率及穆勒矩阵，得到待检测退偏器的偏振灵敏度。本发明提供的退偏器检测装置和方法，满足了大口径退偏器的检测需要，可在宽波段下和高偏振灵敏性检测要求条件下使用。
退偏器扩束系统缩束系统偏振灵敏度检测检测装置性能检测反射离轴抛物面镜矩阵点状光源检测系统检测信号结构参数要求条件倒置大口径高偏振检偏器聚焦镜宽波段灵敏性起偏器透过率准直镜探测器望远聚焦记录

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