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[发明专利]基于Fourier插值的远场方向图快速测量方法-CN202110796464.8有效
发明人：栗曦;王可阳;杨林;郜静逸;杨钰 -专利权人：西安电子科技大学
申请日： 2021-07-14 - 公布日： 2022-09-06 - 主分类号： G01R29/10 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于Fourier插值的远场方向图快速测量方法，解决了远场测量需求采样间隔小才能准确重构天线远场方向图的问题。根据天线的远场测量条件确定待测天线的远场距离；用本发明的待测天线的远场测量间隔准则确定采样间隔；抽测出天线某个表面上辐射远场的幅度和相位，依次计算和得到待测天线远场的Fourier展开系数、远场方向图函数和待测天线的幅度方向图和相位方向图，实现了远场方向图快速测量。
基于 fourier 方向快速测量方法

[发明专利]基于激励系数变量可分离的准远场测量方法-CN202210902679.8有效
发明人：栗曦;张鹏;韩伟 -专利权人：陕西拾贝通讯技术有限公司
申请日： 2022-07-29 - 公布日： 2022-10-28 - 主分类号： G01R29/10 文献下载
摘要：本发明公开了基于激励系数变量可分离的准远场测量方法，包括以下步骤：步骤一：确定待测天线的准远场距离，步骤二：抽测出天线准远场位置处幅度和相位，步骤三：得到一维线阵的远场方向图函数，步骤四：得到二维天线阵列的远场方向图函数基于柱面波展开的一维天线阵列准远场测量方法，适用于测量一维电尺寸大、另一维电尺寸小的天线，且适合测量二维天线阵列，增加了准远场外推算法的普适性，且最终得出的天线远场方向图精准，在待测天线的准远场范围内测量，避免了远场测量需求的测试距离大、近场测量效率低的问题，从而显著提高了天线测试效率。
基于激励系数变量可分离准远场测量方法

[发明专利]双纤准直器的角度测试方法及测试系统-CN202111183510.3在审
发明人：刘志强;刘伟伟 -专利权人：昂纳信息技术（深圳）有限公司
申请日： 2021-10-11 - 公布日： 2022-02-01 - 主分类号： G01B11/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种双纤准直器的角度测试方法及测试系统，该方法包括：当测量面位于近场位置时，获取近场光斑坐标；当测量面位于远场位置时，获取远场光斑坐标；根据所述近场光斑坐标和所述远场光斑坐标判断所述双纤准直器与所述测量面是否垂直；若不垂直，根据所述近场光斑坐标、所述远场光斑坐标以及近场与远场之间的距离确定所述双纤准直器与所述测量面的偏移角度；根据所述偏移角度对所述双纤准直器进行角度补偿以使所述双纤准直器与所述测量面垂直；若垂直，根据所述近场光斑坐标、所述远场光斑坐标以及近场与远场之间的距离确定所述第一光纤和所述第二光纤投射的两束光束之间形成的双纤角度。
双纤准直器角度测试方法系统

[发明专利]基于准远场模式滤波的任意极化线天线阵方向图测量方法-CN202211496612.5有效
发明人：栗曦;张鹏;韩伟 -专利权人：陕西拾贝通讯技术有限公司
申请日： 2022-11-28 - 公布日： 2023-03-10 - 主分类号： G01R29/10 文献下载
摘要：本发明公开了基于准远场模式滤波的任意极化线天线阵方向图测量方法，其特征在于，包括以下技术步骤：步骤一：确定待测天线的准远场测量距离；步骤二：测出天线的准远场位置处某个表面上的幅度和相位；步骤三：通过远场方向图重构技术对测出来的方向图进行修正；步骤四：通过准远场数学吸收反射抑制技术得到最终的远场方向图。可以确定任何极化的单切面远场方向图，只要满足被测天线较小维度的远场要求即可，适应性强，最重要的是，能够排除来自散射源的多径干扰，该方法特别适用于线型天线单切面远场方向图的快速准确测量，线型天线通常具有一维大尺寸和一维较小尺寸
基于准远场模式滤波任意极化天线阵方向测量方法

[发明专利]光束质量测量装置及远场光束质量因子计算方法-CN201911191276.1在审
发明人：李朝辉;赵建科;徐亮;刘峰;张玺斌;毛振 -专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所
申请日： 2019-11-28 - 公布日： 2020-04-10 - 主分类号： G01J1/04 文献下载
摘要：本发明属于高能激光光束质量测量领域，涉及一种光束质量测量装置及远场光束质量因子计算方法，克服传统的光束质量测量装置体积大，集成度低、使用繁琐等问题以及计算远场光束质量因子β的方法准确性不高的问题。整个测量装置光路由缩束器，分光镜，会聚镜，近场相机和远场相机组成，缩束器实现对大口径入射光束的缩束；分光镜用来对缩束后的光束进行分光，一路分给近场测试光路，通过连接近场相机进行近场波面测试，一路分给远场光路，通过会聚镜会聚后进入到远场相机实现远场光束质量测量。基于衍射环的远场光束质量因子β的计算方法，摒弃了传统的背景滤除和信号提取方法，具有计算速度快，数据稳定性高，抗噪声能力强的特点。
光束质量测量装置因子计算方法

[发明专利]高功率激光远场焦面测量相机-CN201110067452.8无效
发明人：李红光;达争尚;董晓娜 -专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所
申请日： 2011-03-21 - 公布日： 2011-09-14 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种高功率激光远场焦面测量相机，该高功率激光远场焦面测量相机包括测量相机楔板以及焦面测量相机探测器；入射至测量相机楔板的入射光经测量相机楔板反射后形成反射光；焦面测量相机探测器设置于经测量相机楔板反射后所形成的反射光路上本发明提供了一种在高功率阶段只需一次试验即可得出远场焦面变化，同时可以给出焦面光斑的形状的高功率激光远场焦面测量相机。
功率激光远场焦面测量相机

[发明专利]确定RFID器件的性能的方法-CN200680053190.7无效
发明人： I·J·福斯特;T·C·威克利 -专利权人：艾利丹尼森公司
申请日： 2006-11-02 - 公布日： 2009-03-11 - 主分类号： G01R29/08 文献下载
摘要：一种用于确定诸如处于标牌、标签、包裹、薄膜、纸箱、包装或这些中的一部分的里面或上面的RFID器件的远场性能的方法，其包括执行RFID器件的近场测试或测量，以及基于近场测试或测量的结果确定或预测远场性能。确定或预测远场性能可以涉及基于近场结果或测量计算远场性能的测量。被预测的远场性能可以包括多种性能因素中的任何一个，包括范围、灵敏度、频率性能、读出灵敏度、写入灵敏度、峰值操作频率和/或给定频带上的平均灵敏度。使用近场测试结果来预测远场性能可以允许使用小型测试设备、RFID器件的现场测试、快速测试和/或较低成本测试。
确定 rfid 器件性能方法

[发明专利]一种未知信号传播速度下远近场到达时间差测量定位方法-CN202111288597.0在审
发明人：徐文虎;杨彬祺;陈琛;唐海军 -专利权人：成都迅翼卫通科技有限公司
申请日： 2021-11-02 - 公布日： 2021-11-30 - 主分类号： H04W64/00 文献下载
摘要：本发明提出了一种未知信号传播速度下远近场到达时间差测量定位方法，通过设计近场信号时间达到时间差测量模型和远场信号达到时间差测量模型，然后设计估计参数g，通过估计参数g对近场信号时间达到时间差测量模型和远场信号达到时间差测量模型进行关系变换，得到近场信号时间达到时间差测量和远场信号达到时间差测量通用的远近场定位估计模型。本发明通过以上设置设计了一种将近场和远场统一解形式的定位方法，解决了在未知信号的传播速度的情况下的远场和近场的方法不可互相通用的问题。
一种未知信号传播速度远近到达时间差测量定位方法

[发明专利]基于多极子与幅度项补偿的线阵天线近场测量方法-CN202211061595.2在审
发明人：张依轩;翦璋;焦永昌;张玉;林中朝 -专利权人：西安电子科技大学
申请日： 2022-09-01 - 公布日： 2022-11-18 - 主分类号： G01R29/10 文献下载
摘要：本发明提出了一种基于多极子与幅度项补偿的线阵天线近场测量方法，实现步骤为：获取线性阵列天线三个工作频率点的近场电场信号；构建近场多极子模型和远场点模型；获取近场多极子展开系数向量；获取远场电场信号向量；对中心工作频率远场电场信号向量进行幅度项补偿；获取线性阵列天线单切面的近场测量结果。本发明在获取线阵天线近场测量结果的过程中，将所得的差分远场电场信号向量对中心工作频率远场电场信号向量进行幅度项补偿，以获取补偿后的单切面远场电场信号，避免了现有技术将二维问题中的多极子展开直接用于二维简化的三维问题的测量中导致的外推远场电场信号幅度项误差较大的缺陷，有效提高了测量精度。
基于多极幅度补偿天线近场测量方法

[发明专利]一种杂波抑制的现场电磁测量装置及方法-CN202110892748.7在审
发明人：洪涛;杨博光;姜文;胡伟;龚书喜 -专利权人：西安电子科技大学
申请日： 2021-08-04 - 公布日： 2021-11-02 - 主分类号： G01R29/08 文献下载
摘要：本发明公开了一种杂波抑制的现场电磁测量装置及方法，其装置包括近远场变换模块、分析模块、数据测试模块、坐标系平移模块、延拓模块和杂波抑制模块。本发明的方法是利用现场测量方法获取有杂波干扰情况下的待测目标测量数据，进行近远场变换并平移坐标系、延拓远场电场数据的定义域，再利用滤波函数对模式分离后的展开式模系数进行滤波，然后结合待测目标数据对不同空间位置的场源贡献，分离杂波干扰，重建远场方向图，得到杂波抑制后的远场方向图，本发明提高了电磁测量精度，实现了现场测量中的杂波抑制。
一种抑制现场电磁测量装置方法

[发明专利]一种近场标定相机实施远场测量的方法和装置-CN201710164467.3有效
发明人：唐荣富;周剑;姜艾佳;张小苗 -专利权人：成都通甲优博科技有限责任公司
申请日： 2017-03-20 - 公布日： 2019-05-21 - 主分类号： G01C11/00 文献下载
摘要：本发明公开了近场标定相机实施远场测量的方法及装置，方法包括：步骤S10、利用设置在不同物距的参考标志，标定得到相机的近场标定焦距及不同物距中最远物距对应的像距；步骤S11、将最远物距对应的像距作为相机的像距，对远景待测量物体进行对焦，获得远景待测量物体的深度；步骤S12、将深度作为高斯成像模型的物距，根据相机的近场标定焦距，计算高斯成像模型的估计像距，判断估计像距是否满足预定条件；满足则将估计像距、相机的近场标定焦距以及深度作为远场标定结果；步骤S13、利用远场标定结果进行远场测量；能够根据相机近场标定结果实施远场测量，标定精度高，从而提高远场测量精度，同时操作简单方便。
一种近场标定相机实施测量方法装置

[发明专利]一种多探头准远场电磁散射截面（RCS）外推测试系统-CN201911024436.3有效
发明人：周建华;李吉龙;毛小莲 -专利权人：上海霍莱沃电子系统技术股份有限公司
申请日： 2019-10-25 - 公布日： 2023-08-01 - 主分类号： G01S7/41 文献下载
摘要：本发明公开了一种多探头准远场电磁散射截面(RCS)外推测试系统，该系统由准远场电磁散射测量系统和准远场电磁散射测量数据处理系统两部分组成。第一部分通过控制转台实现待测目标一维旋转，配合采用专用测试雷达多探头电路来获取待测目标准远场电磁散射测量所需的原始信号。第二部分实现对电磁散射数据进行采集，根据准远场‑远场变换外推算法计算被测目标的远场水平面RCS。
一种探头准远场电磁散射截面 rcs 测试系统

[发明专利]一种测量激光通信载荷远、近场光斑模式的装置及方法-CN202210890909.3在审
发明人：吴少俊;王天洪;吕世猛 -专利权人：北京极光星通科技有限公司
申请日： 2022-07-27 - 公布日： 2022-11-08 - 主分类号： G01J11/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种测量激光通信载荷远、近场光斑模式的装置及方法，其装置包括分光片、近场测试装置和远场测试装置；所述近场测试装置设置在所述分光片的反射光路上，所述远场测试装置设置在所述分光片的透射光路上。本发明基于分光片的分光功能，将远场测试装置与近场测试装置合并来测同一装置，远场测试装置可以测量光斑远场模式、远场光轴同轴精度，近场测试模式来完成光斑近场的光斑模式、近场多光轴同轴情况；将远、近场光斑探测集成在一起，其结构简单、方便携带，可以跟随激光通信载荷进行外场测试实验以及参与整星力学前后实验，为激光通信载荷及时测量提供切实可行性方案。
一种测量激光通信载荷近场光斑模式装置方法

[发明专利]计及角度误差的天线远场辐射功率拟合方法、系统及介质-CN202310368400.7有效
发明人：徐得珍;李赞;张大伟 -专利权人：中国人民解放军63921部队
申请日： 2023-04-10 - 公布日： 2023-06-27 - 主分类号： G01R29/10 文献下载
摘要：一种计及角度误差的天线远场辐射功率拟合方法、系统以及存储介质，拟合方法包括：获取天线多个扫描角度的角度测量值，获取对应各个扫描角度的远场辐射功率的功率测量值；获取天线测量扫描角度存在的角度随机误差，获取测量远场辐射功率存在的功率随机误差；构建天线远场辐射功率的观测模型；根据角度随机误差以及功率随机误差，确定观测模型对应的权矩阵；初始化参数向量，得到对应的初始值，根据权矩阵，采用测量平差理论，确定参数向量的改正量以及对应的估计值。本申请可实现在扫描角度存在不可忽略的随机误差的情况下天线远场辐射功率的最优拟合。
角度误差天线辐射功率拟合方法系统介质

[发明专利]用于在间接远场系统中进行近场重建的方法和系统-CN201911094299.0在审
发明人：伯诺伊特·德拉特;科比特·罗威尔 -专利权人：罗德施瓦兹两合股份有限公司
申请日： 2019-11-11 - 公布日： 2021-01-12 - 主分类号： G01R29/10 文献下载
摘要：本发明涉及用于在间接远场系统中进行近场重建的方法和系统。所述方法包括如下步骤：在适当几何定义的距离(R0)处针对直接球形近场系统中的正交场分量测量参考天线(14)，针对间接远场系统中的正交场分量测量所述参考天线(14)，以及相对于所述直接球形近场系统中的所述正交场分量优化所述间接远场系统中的所述正交场分量。
用于间接系统进行近场重建方法

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