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- [发明专利]质量分析装置-CN201980090682.0在审
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藤冈真悟;石原光
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株式会社岛津制作所
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2019-02-19
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2021-09-07
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H01J49/10
- 本发明的质量分析装置具备：导电性的探针；探针移动部，使所述探针在所述探针的前端接触位于使试样附着在所述探针的前端的规定位置的试样的试样采集位置与该前端从所述试样分离的规定的离子生成位置之间沿上下方向移动；高电压施加部，对位于所述离子生成位置的所述探针施加高电压，从附着在该探针的试样产生源自该试样成分的离子；试样保持部(样品盘(4))，包含：试样容纳部(转台部(42))，具有可分别容纳试样的多个凹部(421)；底座部(基部(41))，分离自如地保持该试样容纳部，并具有用于使该试样容纳部移动的机械元件(齿轮(412)、(413))，以使该试样容纳部的所述多个凹部逐一移动至所述试样采集位置。
- 质量分析装置
- [发明专利]一种缩分机-CN201510522350.9有效
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罗建文;王钢
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长沙开元仪器股份有限公司
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2015-08-24
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2018-03-27
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G01N1/20
- 本发明涉及矿产采集技术领域，特别是涉及一种缩分机，其用于从样本流中获取试样，包括试样容器、试样导流板和纵向移动的往复移动机构，试样导流板倾斜设置在往复移动机构的中部，试样容器设于样本流下落位置的横向边侧，试样导流板移动过程中穿过样本流下落位置，以导流试样至试样容器，样本流下落位置位于往复移动机构移动的中段位置，试样导流板匀速移动穿过样本流下落位置。试样导流板在沿直线、且匀速移动通过样本流的下落位置时，所获得的样本流中的试验样本能够保持有序地落入试样容器，获得的试样均匀性强，进而由试样获取的试验数据信息的性能分布于整体样本流中的实际性能分布一致。
- 一种分机
- [实用新型]一种缩分机-CN201520641176.5有效
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罗建文;王钢
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长沙开元仪器股份有限公司
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2015-08-24
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2016-03-30
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G01N1/20
- 本实用新型涉及矿产采集技术领域，特别是涉及一种缩分机，其用于从样本流中获取试样，包括试样容器、试样导流板和纵向移动的往复移动机构，试样导流板倾斜设置在往复移动机构的中部，试样容器设于样本流下落位置的横向边侧，试样导流板移动过程中穿过样本流下落位置，以导流试样至试样容器，样本流下落位置位于往复移动机构移动的中段位置，试样导流板匀速移动穿过样本流下落位置。试样导流板在沿直线、且匀速移动通过样本流的下落位置时，所获得的样本流中的试验样本能够保持有序地落入试样容器，获得的试样均匀性强，进而由试样获取的试验数据信息的性能分布于整体样本流中的实际性能分布一致。
- 一种分机
- [发明专利]前处理装置及具备该前处理装置的分析系统-CN201810862594.5有效
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川上大辅
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株式会社岛津制作所
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2018-08-01
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2021-06-15
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G01N30/06
- 本发明使前处理装置具备对在前处理装置的外部的输送线上输送来的试样容器内的试样进行搅拌吸入的功能。前处理装置包括试样提取部、吸入前试样搅拌部以及搅拌动作控制部。试样提取部具有取样探针，构成为使所述取样探针向在所述试样容器设置部设置的所述试样容器的位置和外部吸入位置移动。吸入前试样搅拌部具有搅拌探针，使所述搅拌探针至少向所述外部吸入位置或所述输送线上的比所述外部吸入位置靠上游的位置移动。搅拌动作控制部构成为控制所述试样提取部和所述吸入前试样搅拌部的动作，从而在利用所述取样探针吸入试样之前利用所述搅拌探针搅拌该试样容器内的试样。
- 处理装置具备分析系统
- [发明专利]用于确定水试样中的分析物的系统-CN201180035541.2有效
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D.赞根伯格;C.舒尔茨
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哈克兰格有限责任公司
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2011-05-31
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2013-05-22
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G01N1/10
- 本发明涉及一种用于确定水试样（12）中的分析物的系统（10）。该系统（10）由至少一个静止的试样取样位置标识发送器（14）组成，其固定地安装在试样取样位置（16）处，例如安装在废水准备装置的蓄水池（17）处，并且其持续或根据要求无线地发送试样取样位置标识。适用于在试样取样位置（16）处进行水试样（12）的试样取样的移动式试样容器（20）属于系统（10）。移动式试样容器（20）具有对应的发送和接收装置（24），其中发送和接收装置（24）具有用于试样取样位置标识和用于试样取样时间戳的存储器。由时间戳发生器产生试样取样时间戳。水分析设备（40）具有用于从配备给试样容器（20）的发送和接收装置（24）无线地接收试样取样位置标识和试样取样时间戳的接收器（42）。
- 用于确定试样中的分析系统
- [发明专利]自动分析装置-CN201780056407.8有效
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高桥拓也;时枝仁;高田英一郎;深谷昌史
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株式会社日立高新技术
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2017-08-04
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2022-09-06
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G01N35/10
- 本发明实现能够与反应容器、试样喷嘴的个体差异无关地控制试样喷嘴的前端与反应容器的底的间隔且能够抑制试样向试样喷嘴的附着的自动分析装置。使试样喷嘴(13a、14a)向反应容器(2)的底面移动，在停止位置探测器(46)探测到停止位置探测板(45)的时刻使移动停止，从该位置上升至停止位置探测板(45)离开停止位置探测器(46)的探测范围的位置能够在使试样喷嘴(13a、14a)的前端与反应容器(2)的底面接触的状态且抑制试样喷嘴(13a、14a)的弯曲的状态下，使试样喷嘴(13a、14a)停止而吐出试样。
- 自动分析装置
- [发明专利]X射线分析装置-CN201880096596.6在审
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秋山刚志
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株式会社岛津制作所
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2018-08-27
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2021-04-02
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G01N23/223
- X射线分析装置(1)具备：试样支承部(10)，其对配置于各待机位置的多个试样(S)进行支承；搬送部(20)，其具有把持试样(S)的把持部(26)，搬送部(20)使试样在各待机位置与测定位置之间移动；X射线照射部(30)，其朝向配置于测定位置的试样照射初级X射线；检测器(40)，其检测从被照射了初级X射线的试样产生的荧光X射线；以及试样室(51)，其包括以能够分离的方式设置的第一部分(511)和第二部分(512)，在测定位置配置有试样(S)的状态下收容试样(S)和把持部(26)。第一部分(511)设置在测定位置的周边，第二部分(512)设置于搬送部(20)。在测定位置配置有试样(S)的状态下，第二部分(512)抵接于第一部分(511)，由此成为形成有试样室(51)的状态。
- 射线分析装置
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