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[发明专利]一种用于定量荧光测量的校准方法及校准配件-CN202010783184.9有效
发明人：董美丽;倪敬书;吴鹏;王贻坤;花昌义;何腾超;钟卫帅;郭超;王霞 -专利权人：中国科学院合肥物质科学研究院;安徽易康达光电科技有限公司
申请日： 2020-08-06 - 公布日： 2023-09-19 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：本发明涉及了一种用于定量荧光测量的校准方法及校准配件，校准方法包括以下步骤：首先测量激发光源的光源强度，测量荧光标记试剂的荧光及温度，然后测量待测物的荧光背景信号及与荧光标记试剂反应后的荧光信号及待测物的温度；通过与校准模型进行匹配，获得校准参数，对待测样品荧光信号进行校准，并对荧光背景进行修正，计算得到待测成分的浓度。此外，本发明还提供了一种用于定量荧光测量的校准配件。
一种用于定量荧光测量校准方法配件

[发明专利]荧光组合物、荧光带、荧光校准色卡以及荧光分析系统-CN202310071520.0在审
发明人：杜满新;程宁宁;胡鹏通;王允军 -专利权人：苏州星烁纳米科技有限公司
申请日： 2023-01-30 - 公布日： 2023-08-11 - 主分类号： C09K11/88 文献下载
摘要：本发明公开了荧光组合物、荧光带、荧光校准色卡以及荧光分析系统，荧光组合物，包括荧光粒子、消光粒子、可聚合单体、引发剂，在荧光组合物中，所述消光粒子的重量百分含量为10~50 wt%。本发明的荧光校准色卡不受基底材料粗糙度的限制，获得的荧光校准色卡稳定性高，荧光无衰减，从而能够方便地对荧光分析仪进行校准测试，提高了校准精度。
荧光组合校准以及分析系统

[发明专利]超低量程荧光计校准-CN201980014594.2在审
发明人：雍顺祜 -专利权人：埃科莱布美国股份有限公司
申请日： 2019-03-01 - 公布日： 2020-10-09 - 主分类号： G01N21/27 文献下载
摘要：荧光计可用于测量超低浓度的发荧光物质，诸如穿过反渗透膜进入渗透物流的超低浓度的荧光示踪剂。在一些实例中，可以通过基于荧光计测得的荧光反应，重置一些而非所有用于测定所述渗透物中的荧光示踪剂的浓度的校准参数来重新校准所述荧光计。例如，可以为所述荧光计原位重置或重新校准校准曲线的截距，即使所述荧光计尚未进行完全重新校准，也可能提供显著的精度提高。
量程荧光校准

[发明专利]激光微阵列芯片扫描仪的浓度梯度荧光校准片及校准方法-CN201911148674.5在审
发明人：安爽;张冠斌;梁冬;赵淑英 -专利权人：成都博奥独立医学实验室有限公司;绵阳市人民医院
申请日： 2019-11-21 - 公布日： 2020-03-06 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：本发明公开了一种激光微阵列芯片扫描仪的浓度梯度荧光校准片及其校准方法，浓度梯度荧光校准片包括玻璃基片和布置在玻璃基片表面的无机纳米荧光液点阵；无机纳米荧光液点阵包括若干个无机纳米荧光液分点阵，每个无机纳米荧光液分点阵的无机荧光混合液液滴呈A行×B列排列，无机纳米荧光液分点阵中同一行无机纳米荧光液液滴的溶液浓度相同且相邻两行无机纳米荧光液液滴的溶液浓度呈倍数关系变化，其中，A为5～20，B为10～40。所述校准方法使用上述激光微阵列芯片扫描仪的浓度梯度荧光校准片对待测机扫描仪进行校准并以无机纳米荧光液分点阵中第1行的无机纳米荧光液滴作为索引标志。本发明的制备方法操作简单、生产周期短且成本低廉，校准效果好。
激光阵列芯片扫描仪浓度梯度荧光校准方法

[发明专利]荧光计校准装置和方法-CN202180062504.4在审
发明人： K·邱;S·杨;D·帕伊克;X·高;D·库兹涅特索夫;T·麦克尼尔;M·威勒 -专利权人：巴克曼实验室国际公司
申请日： 2021-07-13 - 公布日： 2023-05-12 - 主分类号： B01L3/00 文献下载
摘要：用于使用校准单元校准荧光计的系统和方法，所述校准单元包括容纳具有已知荧光的一种或多种校准溶液的密封容器。本发明的校准装置包括容纳在储存室中的密封校准单元，所述储存室可永久地或暂时地固定到荧光计的顶部，使得所述校准溶液可通过手动或自动手段被直接从所述储存室移动到荧光计单元进行校准操作。任意给定校准所需的所有溶液可仅少量地包含在所述校准单元内。
荧光校准装置方法

[发明专利]荧光探测器的校准方法及荧光探测器-CN202110246561.X在审
发明人：刘树然;吴再辉;刘莹;安帅;昝明辉 -专利权人：郑州中科生物医学工程技术研究院
申请日： 2021-03-05 - 公布日： 2022-09-09 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：本发明涉及荧光探测器的校准，特别涉及荧光探测器的校准方法及荧光探测器。荧光探测器的校准方法包括以下步骤：步骤一、使用待校准荧光探测器检测校准用样品，得到检测值a；步骤二，若检测值a＞设定值b，根据检测值，通过待校准荧光探测器的控制装置以闭环方式降低激发光源的光强，使检测得到的检测值＝设定值b；若检测值a＜设定值b，根据检测值，通过待校准荧光探测器的控制装置以闭环方式增加激发光源的光强，使检测得到的检测值＝设定值b。荧光探测器能够根据检测值调整荧光探测器的激发光源，使激发光源的光强降低或增加；上述方案能够解决现有的荧光探测器校准时装配调试困难、CV值不易控制的问题。
荧光探测器校准方法

[发明专利]多光谱分析系统的校准-CN201980038953.8在审
发明人： R.吴;D.肖纳 -专利权人：珀金埃尔默健康科学股份有限公司
申请日： 2019-06-10 - 公布日： 2021-03-26 - 主分类号： G01N21/27 文献下载
摘要：用于校准多光谱分析系统(1000)的方法包括校准该系统以使用校准样品检测来自包括第一荧光实体和第二荧光实体的生物样品(900)中的第一荧光实体的荧光发射，其中校准样品的特征在于第一浓度的第一荧光实体和第二浓度的第二荧光实体
光谱分析系统校准

[发明专利]一种荧光微球校准卡的制备方法-CN202110765213.3在审
发明人：王路海;王铮;胡伟 -专利权人：基蛋生物科技股份有限公司
申请日： 2021-07-07 - 公布日： 2022-08-23 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：本发明公开了一种荧光微球校准卡的制备方法，包括以下步骤：将荧光素、偶联剂加入微球中进行搅拌反应，得到荧光微球溶液；将荧光微球溶液稀释至不同的倍数；对不同倍数的荧光微球溶液稀释液进行划线，得到荧光微球校准卡本发明具备较好的检测精密度及重复性；使用荧光微球校准卡实现了对荧光POCT仪器的光路校准，实际应用效果较好。
一种荧光校准制备方法

[发明专利]一种碱性覆盖剂压片荧光分析方法-CN202110398450.0在审
发明人：席云荣;刘秀秀;邵海秀;李金花 -专利权人：山东莱钢永锋钢铁有限公司
申请日： 2021-04-12 - 公布日： 2021-07-09 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：本发明涉及一种碱性覆盖剂压片荧光分析方法，包括以下步骤：碱性覆盖剂试样的磨制粒度≥180目，进入研钵研制的碱性覆盖剂试样定量为60±2克，研制时间为100秒；校准样品的制备，用于建立校准曲线的校准样品，校准样品为包含不同种类、不同含量的元素；制备校准样品样片，将灼烧后的校准样品利用压片机进行压制样片，压制压力为30吨，保压时间为30秒；校准曲线的建立，利用X射线荧光光谱仪分别测定制备校准样品样片中钙和硅元素的荧光强度值，利用理论系数进行元素之间的校正，建立元素含量与校正后荧光强度值的校准曲线；制备校准样品样片的方法制备待测样品样片，再利用X射线荧光光谱仪分析待测样品样片，获得镁和硅元素校正后的荧光强度值。
一种碱性覆盖压片荧光分析方法

[发明专利]一种用于荧光仪器校准测量的校准基片及其制备方法-CN200410069327.0有效
发明人：葛玥;杨文军;赵淑英;郭良宏;程京 -专利权人：北京博奥生物芯片有限责任公司;清华大学
申请日： 2004-07-16 - 公布日： 2005-03-02 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于荧光仪器校准测量的校准基片及其制备方法，目的是提供一种光学性质稳定、使用寿命长的校准基片。本发明所提供的校准基片，是在玻璃基片上点设有无机荧光材料的阵列；所述无机荧光材料是稀土元素与稀土元素或非稀土元素掺杂形成的复合物。其制备包括如下步骤：1)将无机荧光材料分散于水溶液中；2)将无机荧光材料溶液以阵列形式排布于玻璃基片表面，得到校准基片。本发明校准基片不存在光漂白问题，使用寿命长；无机荧光材料在基片表面固定牢度高，基本不会机械擦伤基片，无需苛刻的保存条件。本发明用途广泛，可用于微阵列生物芯片扫描仪多通道检测、荧光显微镜、荧光光谱仪、微孔板仪等常用荧光光学仪器的校准和测试。
一种用于荧光仪器校准测量及其制备方法

[发明专利]荧光计的校准方法-CN201180014856.9有效
发明人： E·托克图夫;C·J·欧文;S·K·特里吉斯泰德;A·菲利普晨柯 -专利权人：埃科莱布美国股份有限公司
申请日： 2011-03-29 - 公布日： 2012-11-28 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：为了处理影响荧光测量的水样品的一种或更多种光学性能，一些实施例提供用于校准荧光计的方法。在一些情况下，用来自特定的现场地点的样品水制备一种或更多种校准溶液。从水样品和一种或更多种校准溶液进行荧光测量，并且，基于测量确定校准参数。在一些情况下，通过向样品水加入示踪物以包含较高浓度的荧光示踪剂制备校准溶液，并且，进行测量以表征校准斜率系数。在一些情况下，通过添加酸制备校准溶液，并且进行测量以表征样品中的背景荧光。
荧光校准方法

[发明专利]一种荧光校准色片、荧光校准色卡及其制备方法-CN202310636622.2在审
发明人：黄威超;杜满新;刘旭升;王允军 -专利权人：苏州星烁纳米科技有限公司
申请日： 2023-05-31 - 公布日： 2023-09-05 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：本发明提供一种荧光校准色片、荧光校准色卡及其制备方法，其量子点/荧光矿物质等荧光材料不受环境影响、稳定性好，并且不同批次生产的荧光校准色片的亮度值一致，易于制备。其中，所述荧光校准色片包括基体、设置在所述基体内的中空的空腔、以及一端与所述空腔贯通连接的进料管和出料管，所述进料管和出料管的另一端密封，所述空腔内充满着荧光组合物。
一种荧光校准及其制备方法

[发明专利]用于光学氧传感器的校准卡-CN200980151738.5有效
发明人： D·W·迈耶 -专利权人：膜康公司
申请日： 2009-11-03 - 公布日： 2011-11-30 - 主分类号： G01N21/31 文献下载
摘要：校准卡10和利用校准卡10校准光学传感器的方法。所述校准卡10包括：(i)第一氧敏荧光团块41，第一氧敏荧光团块41被配置和安排成将第一氧敏荧光团块41限制为暴露于接近0％的氧气，和(ii)第二氧敏荧光团块42，第二氧敏荧光团块42被配置和安排成使第二氧敏荧光团块
用于光学传感器校准

[发明专利]一种防氧化涂料中多组分测定的压片X射线荧光分析方法-CN202310026636.2在审
发明人：许超;陈宁娜;张蕾;曾静;魏春阳 -专利权人：中冶武汉冶金建筑研究院有限公司;中国一冶集团有限公司
申请日： 2023-01-09 - 公布日： 2023-06-09 - 主分类号： G01N23/2202 文献下载
摘要：一种防氧化涂料中多组分测定的压片X射线荧光分析方法，涉及X射线荧光测量领域。防氧化涂料中多组分测定的压片X射线荧光分析方法是制备得到校准样品和待测样品；设置待检测组分在X射线荧光光谱仪中的测量条件；使用X射线荧光光谱仪对校准样品进行检测，创建Kappa，分析校准样品并输入待测元素含量，根据校准样品提供的Kii Av，修改kappa的Kii Sens值；使用X射线荧光光谱仪对待测样品进行检测。防氧化涂料中多组分测定的压片X射线荧光分析方法对校准样品创建Kappa后根据校准样品的Kii Av修改kappa的Kii Sens值后检测待测样品，能对新型材料样品进行准确检测。
一种氧化涂料组分测定压片射线荧光分析方法

[发明专利]一种利用荧光胶温度计算高温老化LED芯片结温的方法-CN202210746556.X在审
发明人：陈凡;毛志勇;刘寅傲;罗杰;陈龙;王昆黍 -专利权人：上海精密计量测试研究所
申请日： 2022-06-28 - 公布日： 2022-10-21 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明实施例提供了一种利用荧光胶温度计算高温老化LED芯片结温的方法，包括步骤：通过热电偶测试的LED荧光胶温度校准红外法测试的LED荧光胶温度，确定校准P系数；确定LED芯片的温度敏感参数K系数；采用热电偶P系数校准后的红外法重新测定荧光胶温度，采用瞬态热阻法测试芯片结温；单独改变恒温炉温度，确定其对校准红外法荧光胶温度‑瞬态热阻法芯片结温曲线的影响；单独改变加热电流，确定其对校准红外法荧光胶温度‑瞬态热阻法芯片结温曲线的影响；将LED接入老化电路，采用校准红外法测试荧光胶温度，结合荧光胶温度‑芯片结温曲线，计算LED芯片结温。本发明无需测试荧光胶发射率，解决了传统方法不能快速精确测定高温老化LED芯片结温的不足。
一种利用荧光温度计算高温老化 led 芯片方法

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