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[实用新型]一种荧光定量PCR仪的校准装置-CN202320166407.6有效
发明人：李超;白晓波;杜海;吴洋;张光祥;李柏仪;李征 -专利权人：徐州市检验检测中心
申请日： 2023-02-09 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： C12M1/34 文献下载
摘要：本实用新型涉及医疗器械温度检测技术领域，尤其涉及一种荧光定量PCR仪的校准装置，通过设置装有电路板的主机及呈三角形分别固装在所述主机上的三个相同的校准模块，所述校准模块均包括温度校准单元和光学校准单元，一个校准模块的中心处于Y向中心线上，另两个校准模块以所述Y向中心线为中线对称设置在边缘，实现了对中间及边缘的测量，实现了小通量的荧光定量PCR仪的物理检测；通过所述滤光片设为窄带滤光片，跨度范围小，能够实现对特定报告荧光基团波长范围的针对性校准；通过校准模块设有的探头采集的温度数据及被测荧光定量PCR仪采集的光学数据，能够有效反应荧光定量PCR仪的准确可靠性。
一种荧光定量 pcr 校准装置

[发明专利]荧光校准载片-CN201680075788.X有效
发明人： M·I·博安法;S·M·瓦尔斯特尔;M·A·维尔斯储雷恩 -专利权人：皇家飞利浦有限公司
申请日： 2016-12-22 - 公布日： 2021-11-02 - 主分类号： G02B21/34 文献下载
摘要：本发明涉及荧光成像。为了增强与用于校准荧光显微镜的多个荧光通道的相容性，提供了一种校准载片(10)，所述校准载片(10)包括基底(12)和像素布局(14)。所述金属纳米结构被布置成产生等离子10体共振，所述等离子体共振允许激发波长处的吸收光(20)产生光致发光和/或荧光(22)以生成荧光图像。所述荧光图像包括被提供用于荧光显微镜的校准的多个像素强度值。
荧光校准

[实用新型]气溶胶颗粒分析仪中的紫外激光能量监控和受激荧光补偿系统-CN200720178752.2有效
发明人：鹿建春;刘毅;李劲松;李娜;刘强;张晓青;孙振海;温占波;赵建军;王洁 -专利权人：中国人民解放军军事医学科学院微生物流行病研究所北京汇丰隆生物科技发展有限公司
申请日： 2007-09-26 - 公布日： 2008-08-27 - 主分类号： G01N15/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种紫外激光能量监控和受激荧光补偿系统，该系统包括紫外激光发射器、紫外光路单元、荧光检测单元、紫外激光强度检测单元和荧光强度校准单元，所述紫外激光强度检测单元通过紫外光路单元与紫外激光发射器光学连接，且位于紫外激光光源发射方向上，紫外光路单元与荧光检测单元光学连接，荧光检测单元与荧光强度校准单元电连接，紫外激光强度检测单元与荧光强度校准单元电连接；紫外激光强度检测单元检测到的紫外激光发射器产生的紫外激光强度与标准值的相对偏差输送到荧光强度校准单元进行荧光强度校准采用该系统，解决了紫外激光器工作在不同的重复脉冲频率下，由于能量不稳定而导致的荧光强度变化和最终测量结果误差的问题。
气溶胶颗粒分析中的紫外激光能量监控荧光补偿系统

[发明专利]X射线荧光分析校准所用校准样品的制备和定值方法-CN201210249502.9有效
发明人：马振珠;刘玉兵;戴平;韩蔚;王忠文;赵鹰立;张亚珍;闫冉 -专利权人：中国建材检验认证集团股份有限公司
申请日： 2012-07-18 - 公布日： 2014-02-12 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：本发明一种X射线荧光分析校准所用校准样品的制备和定值方法，利用实验室收到的实际样品为基体，通过掺入基准试剂(或替代试剂)来制备校准样品。校准样品的数量及各成份的质量分数范围可以任意控制，校准样品的定值全部通过X射线荧光仪完成，无需进行化学分析，配备X-射线荧光分析仪的实验室即可自行制备校准样品，无需化学分析实验室及相关技术人员协助。
射线荧光分析校准所用样品制备方法

[发明专利]一种荧光免疫分析仪校准卡及其制备方法-CN201811592359.7有效
发明人：周建瑜;王培勇;卢军 -专利权人：重庆鼎润医疗器械有限责任公司
申请日： 2018-12-25 - 公布日： 2023-08-18 - 主分类号： G01N33/533 文献下载
摘要：本发明公开了一种荧光免疫分析仪校准卡及其制备方法，所述校准卡的底层为支撑板，该支撑板上固定有荧光带和质控带，所述荧光带和质控带均含有荧光组合物，所述荧光组合物包括多孔树脂、填充剂、硅烷偶联剂和LED荧光粉该校准卡上的荧光物质可满足多个波段荧光分析仪的校准，在连续经过40次激发后，荧光信号仍能保持稳定的荧光值，变异系数CV小于等于0.5％，可以长期保存12月以上，稳定性好，灵敏度高，极大的延长了保存时间，提高了检测效率和结果的可靠性，扩大了应用范围，从而解决了荧光物质不稳定和激发波长单一的问题。在荧光分析仪的出厂检及其在使用过程中的质量控制上具有潜在推广应用价值。
一种荧光免疫分析校准及其制备方法

[发明专利]一种采用荧光标准卡对荧光分析仪进行校准测试的方法-CN202111414436.1在审
发明人：张思源;方龙;徐飞阳;周银霞;房艳明;赵叔阳 -专利权人：苏州星烁纳米科技有限公司
申请日： 2021-11-25 - 公布日： 2023-05-26 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：本发明公开了一种采用荧光标准卡对荧光分析仪进行校准测试的方法，荧光标准卡包括底壳、具有固定荧光强度的荧光带、设置在荧光带上的滤光膜，滤光膜的透光率可以设置为0‑100％的任意数值；方法包括如下步骤：S1、准备具有确定透光率数值的滤光膜，制备得到荧光标准卡；S2、将上述荧光标准卡放入荧光分析仪中进行校准测试。本发明在固定荧光带强度的情况下，通过简单地更换不同透光率的滤光膜，得到具有梯度的荧光标准卡，从而能够方便地对荧光分析仪进行校准测试，降低了批间差，提高了校准精度；制备方法简单，荧光带由于经过了严格的水氧隔绝的封装保护，荧光性能稳定，不易随时间衰减，稳定性高；量子点具有很好的光稳定性且抗光漂白能力强。
一种采用荧光标准分析进行校准测试方法

[发明专利]一种炼钢化渣剂压片X荧光测量方法-CN202110863854.2在审
发明人：席云荣;刘秀秀;邵海秀;李金花 -专利权人：山东钢铁集团永锋临港有限公司
申请日： 2021-07-29 - 公布日： 2021-09-28 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：本发明为一种炼钢化渣剂压片X荧光测量方法，包括对炼钢化渣剂进行研磨；制备用于校准曲线的校准样品，校准样品是是经过化学分析定值的厂内炼钢化渣剂样品；对校准样品进行灼烧；通过压片机对校准样品进行压制；建立校准曲线；利用X射线荧光光谱仪分析待测样品样片，获得元素校正后的荧光强度值；设置元素测量条件。本发明能够对炼钢化渣剂中镁和硅含量用X射线荧光光谱方法进行分析，可应用于炼钢化渣剂中镁和硅含量元素的测定，能够实现高钛渣的快速全面快速分析，优于同类高温熔融X射线荧光分析的检验周期，满足对于准确、快速检验的要求
一种炼钢化渣剂压片荧光测量方法

[发明专利]用于PCR仪的荧光校准件及其制造方法-CN202210789659.4在审
发明人：朱信;郭旻;郭求真;王梓;戴涛;陈衍娟 -专利权人：鲲鹏基因（北京）科技有限责任公司
申请日： 2022-07-06 - 公布日： 2022-08-12 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：本公开的实施例提供了用于PCR仪的荧光校准件及其制造方法。该方法包括：根据所述PCR仪的待校准的荧光通道的光学特性选择相应的稀土元素荧光粉，所述光学特性包括与所述待校准的荧光通道对应的激发光和发射光的光谱；将具有可逆热凝胶特性的第一物质加热至预设温度，使所述第一物质转化为液态；将所述稀土元素荧光粉均匀混合至转化为液态的所述第一物质中，形成第一混合物；多次定量提取所述第一混合物；以及对各次提取的所述第一混合物进行低温处理，以使各次提取的所述第一混合物分别转化为固态，从而形成针对所述待校准的荧光通道的多个荧光校准件
用于 pcr 荧光校准及其制造方法

[发明专利]一种用于荧光仪器校准测量的标准样片及其制备方法-CN201710458313.5有效
发明人：钟源;李劲劲;张玲;王晶;钟青;王雪深;傅博强;王兰若 -专利权人：中国计量科学研究院
申请日： 2017-06-16 - 公布日： 2019-11-29 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：本发明公开一种用于荧光仪器校准测量的标准样片，包括基板及荧光薄膜，该荧光薄膜设置于基板上且包括具有不同荧光强度的多个荧光强度区域，每个荧光强度区域具有特定的荧光染料填充占空比。本发明还公开一种用于荧光仪器校准测量的标准样片的制备方法。本发明的用于荧光仪器校准测量的标准样片及其制作方法，通过利用微纳加工技术，精确控制调整荧光薄膜表面上每个像素对应区域内的荧光染料填充占空比，在一个标准样片上获得多个厚度相同的荧光强度区域，且每个荧光强度区域具有精准可控的特定的荧光染料填充占空比
一种用于荧光仪器校准测量标准样片及其制备方法

[发明专利]一种用于荧光免疫分析仪台间差校准的方法-CN202011276182.7在审
发明人：张胜军;汤四媛;罗继全;李昆鹏 -专利权人：三诺生物传感股份有限公司
申请日： 2020-11-16 - 公布日： 2021-03-09 - 主分类号： G01N35/00 文献下载
摘要：本发明涉及荧光免疫检测技术领域，更具体地说，涉及一种用于荧光免疫分析仪台间差校准的方法；其通过将测试机和标准机测试所得的n对数组进行对数运算处理，然后再进行曲线拟合得到对应的拟合曲线函数，在实际测试时将实测数据对数运算处理后代入拟合曲线函数得到对应的值，最后再进行乘幂计算得到校准后的数值；通过上述校准方法，使得不论是在荧光信号强度值较低时，还是在荧光信号强度值较高时，所得校准后的数值的偏差都在3％以内，校准偏差极低；可以非常好地适用常见的低值区间荧光免疫检测指标，适用范围宽，使得最终检测结果更加准确及提升仪器检测的准确性，有效解决现有校准方法在荧光信号强度值低时校正偏差过大的问题。
一种用于荧光免疫分析仪台间差校准方法

[发明专利]一种荧光免疫分析仪检测位置校准方法-CN202310697575.2在审
发明人：李昆鹏;刘辉;罗继全 -专利权人：三诺生物传感股份有限公司
申请日： 2023-06-13 - 公布日： 2023-09-05 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：本申请提供一种荧光免疫分析仪检测位置校准方法，涉及光学检测领域，所述方法包括：当校准条位于荧光免疫分析仪的试剂卡放置通道时，控制荧光免疫分析仪的光学检测模块从初始位置沿校准条的宽度方向移动，同时控制光学检测模块开始持续采集信号；获取光学检测模块在第一预设时间内采集的第一信号；对第一信号进行处理，得到第一数据序列；判断第一数据序列中是否存在波峰位置和/或波谷位置，若是，则根据波峰位置和/或波谷位置，计算出校准条的中间位置；根据中间位置，对试剂卡放置通道的检测位置进行校准。本申请能够在荧光免疫分析仪的维护过程中，特别是多通道的荧光免疫分析仪中，实现检测位置的自动校准。
一种荧光免疫分析检测位置校准方法

[发明专利]一种用于手持式ATP荧光检测仪的校准器-CN202310858004.2在审
发明人：邢伟祺;李海燕;邓茂峰;朱雪琦;郭新成;李政;苗保刚 -专利权人：西安天隆科技有限公司
申请日： 2023-07-13 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：本发明公开一种用于手持式ATP荧光检测仪的校准器，涉及生物检测技术领域，以解决现有校准方式难以满足手持式ATP荧光检测仪校准需求或特定场景校准要求的问题。用于手持式ATP荧光检测仪的校准器包括光源控制装置和光路调节装置，光源控制装置包括控制电路、光源和光探测器，光探测器用于测量光源发出的光并反馈至控制电路以保持光源的光功率稳定；光路调节装置包括聚光支架、本发明提供的用于手持式ATP荧光检测仪的校准器可满足手持式ATP荧光检测仪的线性度校准需求与检测含有微量微生物应用场景下的校准要求。
一种用于手持 atp 荧光检测校准

[发明专利]用于水硬度测量的校准方法-CN201680036322.9有效
发明人：李辉;A·诺斯;J·施瓦茨;C·B·威尔森;A·卡哈安 -专利权人：艺康美国股份有限公司
申请日： 2016-07-01 - 公布日： 2022-03-22 - 主分类号： G01N21/27 文献下载
摘要：公开可用于自动校准能够连续测量在工艺水中硬度的浓度的荧光测量仪的方法。所述校准方法用于补偿仪器和设备的偏移、操作条件的改变和试剂和校准标准物的污染。使用本发明校准方法校准所述荧光测量仪改进用于后续硬度浓度测量的精确性和可重复性两者。
用于硬度测量校准方法

[发明专利]用于生物仪器校准的方法和系统-CN201680009172.2有效
发明人： Y·储;J·马克斯;J·弗兰登塔尔;T·韦塞尔;D·吴 -专利权人：生命技术公司
申请日： 2016-02-05 - 公布日： 2020-08-25 - 主分类号： G01N21/27 文献下载
摘要：在一个示例性实施例中，提供了一种用于校准仪器的方法(100)。所述仪器包括一个能够对多个反应位点荧光发射进行成像的光学系统。该方法包括执行感兴趣区域(ROI)校准(102)以确定图像中的反应位点位置。该方法还包括执行纯染料校准(108)以通过比较荧光染料的原始谱图与荧光染料的纯谱图校准数据来确定各个反应位点处所用荧光染料的贡献。该方法还包括执行仪器归一化校准(110)以测定滤光器归一化因子。
用于生物仪器校准方法系统

[发明专利]一种曲面样品的金属镀层检测方法及系统-CN202211509650.X在审
发明人：党乐;杜攀峰;韩晋思;史昌明;佟敏;张俊双;赵海;王栋;崔亚茹;陈忠源;董俊谦;林阿丽 -专利权人：国网内蒙古东部电力有限公司电力科学研究院;国家电网有限公司;西安西电高压开关有限责任公司
申请日： 2022-11-29 - 公布日： 2023-04-18 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：本发明属于金属镀层检测技术领域，为了解决X射线荧光检测法无法直接测量曲面镀层厚度的问题，提供了一种曲面样品的金属镀层检测方法及系统。其中，该方法包括利用校准后的X射线荧光检测仪，测量曲面样品的金属镀层厚度；根据金属镀层厚度测量值与设计厚度的差值，确定曲面样品的金属镀层是否合格；其中，X射线荧光检测仪的校准过程为：选取与曲面样品金属镀层设计厚度最接近的平面标准块，并利用平面标准块对未校准的X射线荧光检测仪进行初始校准；在平面标准块上垂直增设一间隔厚度为S的间隔块，再对初始校准的X射线荧光检测仪进行最终校准；其中，S＝r‑r*cosθ，r为曲面样品的曲率半径；θ
一种曲面样品金属镀层检测方法系统