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[实用新型]激光陀螺腔体成盘加工上盘测量装置-CN201721862777.4有效
发明人：呼俊;姜绪木 -专利权人：南京迈得特光学有限公司
申请日： 2017-12-27 - 公布日： 2018-07-24 - 主分类号： G01B11/26 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种激光陀螺腔体成盘加工上盘测量装置，包括第一自准直平行光管、第二自准直平行光管和第三自准直平行光管，其中，第一自准直平行光管位于中间，第二自准直平行光管和第三自准直平行光管分别位于第一自准直平行光管两侧，且第二自准直平行光管与第一自准直平行光管之间的夹角、第三自准直平行光管与第一自准直平行光管之间的夹角均为0°～90°。本实用新型通过三个自准直平行光管的相互配合，能够对截面为任意多边形的靠体和激光陀螺腔体组合上盘进行测量，有效提高了测量的灵活性，提高了生产效率。
自准直平行光管激光陀螺腔体上盘本实用新型测量装置测量生产效率靠体加工配合

[发明专利]一种高精度同向双光轴以及多光轴平行性调校方法-CN201710828543.6有效
发明人：安飞;张建;王涛;马丽娜;杨芝艳;张亚平 -专利权人：西安科佳光电科技有限公司
申请日： 2017-09-14 - 公布日： 2019-12-20 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明提供一种高精度同向双光轴以及多光轴平行性调校方法，能够在保证调校精度的前提下能够进一步简化调校过程，提高调校效率。该高精度同向双光轴平行性调校方法包括：调校第一光轴使其水平，作为基准轴；用自准直光管瞄准第一光轴，调整自准直光管使其与第一光轴共轴；将平面反射镜放在自准直光管与第一光轴之间，反射面朝向自准直光管，校准平面反射镜反射面与自准直光管光轴垂直；将自准直光管移至平面反射镜有效范围内对应于第二光轴前方的区域，调整自准直光管，使自准直光管中心与平面反射镜的反射像重合；移出平面反射镜，调整第二光轴，使第二光轴与自准直光管中心共轴，此时第一光轴与第二光轴平行
一种高精度同向光轴以及平行调校方法

[发明专利]一种经纬仪外场无穷远距离校正方法-CN201410593371.5有效
发明人：唐杰;蔡盛 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2014-10-28 - 公布日： 2017-09-12 - 主分类号： G01C25/00 文献下载
摘要：本发明一种经纬仪外场无穷远距离校正方法，解决现有技术对大中型经纬仪外场调焦存在较大误差的技术问题；本发明包括以下步骤步骤一采用高精度平面镜对自准直平行光管进行自校准平面镜沿着自准直平行光管光轴方向放置，镜面与自准直平行光管的光轴垂直，调整自准直平行光管上分划板的位置，直到分划板上平面镜的返回像最清晰；步骤二将被校准后的自准直平行光管作为无穷远距离基准，对经纬仪调焦系统进行无穷远距离校正经纬仪的光轴与自准直平行光管光轴的方向平行，且经纬仪的通光口径与自准直平行光管的通光口径相互对应，通过经纬仪的光学系统观察分划板图像，并调节经纬仪上的调焦组件的位置，直到分划板图像最清晰。
一种经纬仪外场无穷远距离校正方法

[发明专利]光轴平行性检测方法-CN202111462695.1在审
发明人：马文家;王志乾;刘玉生;韩岩;王旻;李建荣;刘畅 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2021-12-02 - 公布日： 2022-03-11 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明提供一种光轴平行性检测方法，包括以下步骤：S1、预安装步骤：S101、将自准直光管与平行光源的出射光准直；S102、在自准直光管和平行光源之间放置折光元件并确定折光元件的位置；S103、在自准直光管和折光元件之间放置折转光管；S2、对折转光管进行检测：平行光源出射的光束通过折转光管后进入折光元件，光束经过折光元件的折转后进入自准直光管中，此时自准直光管测得折转光管的光轴平行性误差Δα与Δβ；当Δα和Δβ为零值时，表明折转光管在水平方向和竖直方向都不存在平行性误差通过五棱镜与折转光管相配合的方式，在不使用平面镜作为检测工具的情况下进行平行性的检测，提高了检测的适用性。
光轴平行检测方法

[发明专利]宽距离光束平行性检测装置-CN200810051491.7无效
发明人：张磊;付跃刚;郑建平;张露;刘智颖;胡源 -专利权人：长春理工大学
申请日： 2008-11-28 - 公布日： 2009-04-15 - 主分类号： G01B11/26 文献下载
摘要：本发明涉及宽距离光束平行性检测装置，其由自准直平行光管和扩径准直臂构成；本发明装置能够检测宽距离平行光束的平行性，其距离能够达到1.5m，不需要将被检测的两路平行光束包含在自准直平行光管的口径之内，这样能够减小自准直平行光管的口径，并且大大降低了制造自准直平行光管的成本。同时，五棱镜和光楔的使用，使得对五棱镜的加工精度要求大大降低，但这并不影响整个装置的检测精度，反而提供了很高的精度。自准直平行光管中分光系统的引入，使得本装置的检测波段由白光光谱段扩展至激光和红外光光谱段，成为多光谱光学系统。
距离光束平行检测装置

[实用新型]一种光学零位检测装置-CN201821230397.3有效
发明人：范会兵;张嘉航;焦仁雷;吴其军 -专利权人：无锡市星迪仪器有限公司
申请日： 2018-08-01 - 公布日： 2019-02-05 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本实用新型涉及光学检测技术领域，具体公开了一种光学零位检测装置，其中，包括：试验台、第一平面反射器、第二平面反射器、第一自准直平行光管、第二自准直平行光管和测试平行光管，第一平面反射器和第二平面反射器固定在所述试验台的上表面，第一平面反射器和所述第二平面反射器之间间隔且成角度设置，第一自准直平行光管和第二自准直平行光管均与试验台间隔距离设置，第一自准直平行光管的光轴与第一平面反射器的镜面中心法线位于同一直线，第二自准直平行光管的光轴与第二平面反射器的镜面中心法线位于同一直线，测试平行光管与试验台间隔距离设置。
平面反射器自准直平行光管试验台零位检测装置法线本实用新型间隔距离镜面中心平行光管同一直线光轴光学检测技术成角度设置测试上表面检测

[发明专利]一种高精度同向双光轴以及多光轴平行性调校方法-CN201710828847.2有效
发明人：安飞;张建;王涛;马丽娜;杨芝艳;张亚平 -专利权人：西安科佳光电科技有限公司
申请日： 2017-09-14 - 公布日： 2019-12-20 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明提供一种高精度同向双光轴以及多光轴平行性调校方法，能够在保证调校精度的前提下能够进一步简化调校过程，提高调校效率。该高精度同向双光轴平行性调校方法包括：调校第一光轴使其水平，作为基准轴；用第一自准直光管瞄准第一光轴，调整自准直光管使其与第一光轴共轴；放入平面反射镜，校准平面反射镜反射面与第一自准直光管光轴垂直；将第二自准直光管与第一自准直光管并排放置，使第二自准直光管处于平面反射镜有效范围内对应于第二光轴前方的区域，使第二自准直光管中心与平面反射镜的反射像重合；移出平面反射镜，调整第二光轴，使第二光轴与第二自准直光管中心共轴，此时第一光轴与第二光轴平行
一种高精度同向光轴以及平行调校方法

[发明专利]一种高精度反向双光轴以及多光轴平行性调校方法-CN201710828866.5有效
发明人：安飞;张建;马丽娜;杨芝艳;王涛;张亚平 -专利权人：西安科佳光电科技有限公司
申请日： 2017-09-14 - 公布日： 2020-01-10 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明提供一种高精度反向双光轴以及多光轴平行性调校方法，能够在保证调校精度的前提下能够进一步简化调校过程，提高调校效率。其中反向双光轴平行性调校方法包括：调整两个自准直光管共轴；调整第一光轴与第一自准直光管共轴；将平面反射镜放在第二自准直光管与第一光轴之间，使反射像与第二自准直光管中心重合；将第一自准直光管移至平面反射镜前，使其中心与平面反射镜的反射像重合；向第二光轴方向移动平面反射镜和第二自准直光管，使第二自准直光管处于平面反射镜有效范围内对应于第二光轴前方的区域；调整平面反射镜；调整第二自准直光管，使其发出的像和反射像重合；移出平面反射镜，调整第二光轴与第二自准直光管中心共轴。
自准直光管平面反射镜光轴调校反射像光轴平行性重合共轴光轴方向移动调校效率有效范围中心共轴中心重合移出保证

[发明专利]一种红外光机系统的自准直装调系统及方法-CN202011180334.3在审
发明人：谭杭杭;孙佳明;何兴飞;贾志涛;吴磊;高鹏涛;王鹏 -专利权人：中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所
申请日： 2020-10-29 - 公布日： 2021-01-29 - 主分类号： G02B27/62 文献下载
摘要：本发明提供了一种红外光机系统的自准直装调系统，该系统包括：红外光管用于出射红外平行光；反射镜工装用于反射红外光管出射的红外平行光；自准直工装设置在红外光管和所述反射镜工装之间，用于将红外光管所发出的红外平行光分为两束；以及光电自准直仪用于将自准直工装所拆分的两束光分别转化为可观测的像。本发明所提供的红外光机系统的自准直装调系统，使用常规红外光管，而不使用复杂、昂贵的自准红外光管即可建立系统基准，使用了角锥棱镜作为参考像的反射元件，无需精确调整红外光管与自准直工装的相对位置，进一步提升了装调效率，自准直工装空间尺寸小，可用于红外光管与待装调红外光机系统之间距离较小的装调结构的装调结构的装调。
一种红外光系统准直装调方法

[发明专利]建立光学水平准线的自平反向二点互调法-CN98100074.6无效
发明人：李天初 -专利权人：中国计量科学研究院
申请日： 1998-01-22 - 公布日： 1999-07-28 - 主分类号： G01C25/00 文献下载
摘要：本发明在角度计量领域公开了一种建立光学水平准线的互调法,在互调中自平悬吊平行平面反射镜作为中间参考,从基准自准直光管观测,自平悬吊平行平面反射镜在绕竖直轴旋转180°前后,其两个反射面法线夹角的角平分线即为水平线,用基准自准直光管和自平悬吊平行平面反射镜反复互调逼近,直到自平悬吊平行平面反射镜转动180°前后均使基准自准直光管自准直,此时基准自准直光管出射光轴即为水平准线。
建立光学水平准线平反二点互调法

[发明专利]激光自准直平行光管-CN99122617.8无效
发明人：艾华;郑乃捷;韩旭东 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械研究所
申请日： 1999-12-10 - 公布日： 2001-06-20 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本实用新型属于自动化检测技术领域,涉及一种对光学仪器领域中的位置检测装置的改进,可广泛应用于高速运动目标自准时的信息高速提取,如经纬仪、转台、飞机发动机叶片飞行实验平衡检测,角位移传感器动态特性的检测,以及精度的检测,光学平面冷加工件的小角度的检测。
激光平行

[发明专利]望远镜四通轴孔端面平行度误差检测方法-CN201410333884.2有效
发明人：王志臣;赵勇志;王槐;王国强 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2014-07-14 - 公布日： 2017-02-15 - 主分类号： G01B11/26 文献下载
摘要：望远镜四通轴孔端面平行度误差的检测方法，应用于光电设备加工的光学检测技术领域，为了解决现有的三坐标仪检测方法需购置三坐标测量仪，存在成本高的问题，该方法包括以下步骤，望远镜四通放置稳定，沿轴孔方向摆放自准直平行光管，将反射镜组件紧贴四通轴孔第一侧端面，反射面朝向自准直平行光管；调整自准直平行光管，使反射的十字丝像返回自准直平行光管中；测出自准直平行光管与反射镜的垂直误差，转动反射镜组件，每隔30°测量一次，用最小二乘法拟合第一侧轴孔端面与平行光管的垂直误差θ；将反射镜组件移到第二侧轴孔端面，与前述方法相同，拟合第二侧轴孔端面与平行光管的垂直误差δ；θ与δ的差值为望远镜四通轴孔端面平行度误差。
望远镜四通端面平行误差检测方法

[发明专利]一种振动对光电设备成像质量影响试验分析系统-CN201810517002.6在审
发明人：任国全;周冰;宣兆龙;任成才;王怀光;武东生;范红波;刘爱伟;应家驹;吴定海;韩兰懿 -专利权人：中国人民解放军陆军工程大学
申请日： 2018-05-25 - 公布日： 2018-09-28 - 主分类号： G01M13/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种振动对光电设备成像质量影响试验分析系统，包括振动台、被测稳像系统、自准直平行光管、CCD成像组件、光源和计算机构成；所述被测稳像系统固定安装于振动台上；所述自准直平行光管通过三角架活动安装于被测稳像系统一侧，且所述被测稳像系统其光轴和自准直平行光管其光轴位于同一直线上；所述CCD成像组件安装于自准直平行光管一侧，且所述自准直平行光管其光路聚焦于CCD成像组件其焦平面上；所述CCD成像组件通过视频采集卡与计算机通信连接
自准直平行光管光电设备试验分析质量影响成像光轴半实物仿真试验三角架计算机通信视频采集卡仿真试验光电成像活动安装同一直线组件安装焦平面振动台光路光源聚焦计算机

[发明专利]基于光学自准直原理的球形转子空间二维转角检测方法-CN201510133010.7有效
发明人：王文;张敏;卢科青;时光;范宗尉;袁科杰;程林;赵鼎成 -专利权人：杭州电子科技大学
申请日： 2015-03-25 - 公布日： 2017-03-01 - 主分类号： G01C1/00 文献下载
摘要：本发明公开了基于光学自准直原理的球形转子空间二维转角检测方法。目前球形转子的多维回转角度检测技术还不成熟，传统的单自由度角位移检测方法难以直接应用。本发明的步骤构造球形转子；球形转子的赤道面外围均布三个光电自准直仪测量装置组，每个光电自准直仪测量装置组均包括上、下光电自准直仪测量单元；光源发出的平行光经上平行光管或下平行光管透过透明壳体，照射到多面体上，反射光随球形转子的偏转而偏转，并经上平行光管或下平行光管成像到对应的高速线阵CCD相机上；通过三个光电自准直仪测量装置组获得球形转子相对竖直轴正向偏转的角度，计算出球形转子的偏转角和方位角。本发明基于光学自准直原理，具有高分辨率和测量精度。
基于光学原理球形转子空间二维转角检测方法

[发明专利]一种高精度反向双光轴以及多光轴平行性调校方法-CN201710828390.5有效
发明人：安飞;张建;马丽娜;杨芝艳;王涛;张亚平 -专利权人：西安科佳光电科技有限公司
申请日： 2017-09-14 - 公布日： 2020-04-07 - 主分类号： G01B11/27 文献下载
摘要：本发明提供一种高精度反向双光轴以及多光轴平行性调校方法，能够在保证调校精度的前提下能够进一步简化调校过程，提高调校效率。该高精度反向双光轴平行性调校方法包括：调校第一光轴使其水平，作为基准轴；调整第一自准直光管与第一光轴共轴；放入平面反射镜，在平面反射镜有效范围内，将第一自准直光管移位使其远离第一光轴前方的区域并避开第二光轴后方的区域，再重新校准第一自准直光管；移出平面反射镜，将第二自准直光管对准第一自准直光管；放入平面反射镜，使其反射像与第二准直光管中心重合；将第二自准直光管移至平面反射镜有效反射范围内对应于第二光轴前方的区域；移出平面反射镜，调整第二光轴，使其与第二自准直光管中心共轴。
一种高精度反向光轴以及平行调校方法

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