专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种流延膜片剥离力测试装置-CN202222505655.7有效
  • 王宇航;任海东;曹秀华;苏健雄;黄昆;秦晨;沈斌 - 广东风华高新科技股份有限公司
  • 2022-09-21 - 2023-04-07 - G01N19/04
  • 本实用新型涉及低温共烧陶瓷技术领域,特别是涉及一种流延膜片剥离力测试装置,包括支撑架、绳体和电子天平,支撑架的上端固定有电机,绳体的上端固定连接在电机的输出轴外侧,绳体的下端连接有夹持件;电子天平位于夹持件下方,电子天平的称重台上放置有配重台,配重台的上端固定有竖直布置的基板,基膜背离陶瓷膜片的一侧贴合固定在基板的一侧,夹持件夹持基膜的下端,电机转动卷绕绳体,使得夹持件向上运动,从而使得陶瓷膜片从基膜上剥离,观察剥离陶瓷膜片过程中电子天平读数的变化值,可得出流延膜片剥离力;本实用新型的流延膜片剥离力测试装置结构简单、成本低,降低了流延膜片的剥离力测试成本。
  • 一种膜片剥离测试装置
  • [发明专利]一种隔膜压缩机膜片疲劳测试装置-CN202310857652.6在审
  • 王郡疃;王菲;廖小红;鹿浪 - 中鼎恒盛气体设备(芜湖)股份有限公司
  • 2023-07-13 - 2023-10-24 - G01M13/00
  • 本发明公开了一种隔膜压缩机膜片疲劳测试装置,涉及膜片测试技术领域,包括主支架、横梁以及夹头,所述横梁直线滑动连接于主支架上,所述主支架上安装有用于对膜片进行固定的夹座,所述横梁上安装有用于对膜片施加检测载荷的夹头,本发明通过压力传感器一和压力传感器二的设置及分布能够控制膜片实际承受的弯曲强度,以便设置合适的弯曲位移,且能够很好的观测夹头作用力是否作用于膜片的中心位置,以避免薄片因作用力作用偏差导致薄片屈曲失效,并且能够比较膜片两端的压力值,从而能够更好控制夹头偏移膜片横向轴线位置的误差,简化了数据的计算,便于变量的控制。
  • 一种隔膜压缩机膜片疲劳测试装置
  • [实用新型]探杆外置流体闭环式一体化在线液体密度测试变送器-CN200920273943.6无效
  • 马兆辉 - 马兆辉
  • 2009-12-01 - 2010-09-15 - G01N9/26
  • 本实用新型公开一种探杆外置流体闭环式一体化在线液体密度测试变送器,由液晶显示屏、上通道压力膜片、下通道压力膜片和差压传感器组成,上通道压力膜片设置在保护密封管侧壁上的上膜片法兰盘中部,下通道压力膜片设置在保护密封管侧壁上的下膜片法兰盘的中部下膜片法兰盘和上膜片法兰盘分别与带有法兰并且与罐体连通的管道连接,保护密封管通过连接法兰与差压传感器连接,液晶显示屏与差压传感器连接。是一种探杆设在罐体外部,不直接与液体接触的探杆外置流体闭环式一体化在线液体密度测试变送器。
  • 探杆外置流体闭环一体化在线液体密度测试变送器
  • [发明专利]一种BGA封装产品射频性能测试夹具-CN201910341707.1有效
  • 笪余生;廖翱;张童童;吕英飞;刘志辉 - 中国电子科技集团公司第二十九研究所
  • 2019-04-26 - 2021-10-22 - G01R1/04
  • 本发明公开了一种BGA封装产品射频性能测试夹具,包括测试夹具底板、加压机构、定位机构、测试母板和弹性膜片;加压机构设置在测试夹具底板上,测试母板设置于测试夹具底板与加压机构之间,弹性膜片置于测试母板的BGA焊盘侧,定位机构安装在测试母板与加压机构之间,在加压机构对待测BGA封装产品加压到一定程度后,弹性膜片的受压点位两侧导通,使得BGA球与测试母板BGA焊盘接触导通,进而实现射频传输的目的;测试母板导出其所接收到的参数本发明装置可以实现毫米波频段BGA封装产品的毫米波传输性能的测试功能,扩展了射频BGA封装产品的频率测试范围至40GHz以上,测试效率提升50%以上,互连结构返修更换效率提高2倍以上。
  • 一种bga封装产品射频性能测试夹具
  • [实用新型]消除温度影响的振弦式位移传感器-CN201721287643.4有效
  • 陈万庆;杨涛;韩中情;沈涛胜;谢元康;郝天之 - 广西大学
  • 2017-09-30 - 2018-05-08 - G01B17/00
  • 本实用新型公开了一种消除温度影响的振弦式位移传感器,包括保护套筒、测试振弦、感应膜片以及温度传感器,感应膜片固定设置于保护套筒的一端,测试振弦设于保护套筒内部,测试振弦的长度方向与保护套筒的轴向相一致,测试振弦的一端通固定于保护套筒的一端,测试振弦的另一端固定于感应膜片测试振弦中部设有一个软铁块,软铁块下方设有一个固定于保护套筒的马蹄型磁铁,马蹄型磁体的一个极正对软铁块,马蹄型磁铁缠绕有导电线圈,测试振弦、感应膜片分别设置有温度传感器。
  • 消除温度影响振弦式位移传感器
  • [发明专利]膜片测试系统-CN99816816.5有效
  • G·K·雷德;K·A·史密斯;M·A·拜尼;T·莱舍尔;M·科克斯 - 卡斯卡德微技术公司
  • 1999-07-21 - 2002-07-31 - B24B29/00
  • 衬底(200)最好由延展性材料构造成,而工具(210)具有最终装置所需的形状,该最终装置用于与检验装置上的接触垫片相接触,该工具被带入与该衬底相接触。该工具最好由比衬底硬的材料构造成,使得凹陷(216)能容易地在衬底上制成。最好已形成图案的非导电(绝缘)层由该衬底支承。导电材料被置入该凹陷内并且之后最好被抛光以便从非导电层的顶部表面除去多余物并提供平坦的总体表面。示踪件在非导电层及导电材料上形成图案。然后聚酰亚胺层最好在该整个表面上方形成图案。然后用任何合适的工艺除去该衬底。
  • 膜片测试系统
  • [实用新型]膜片检测仪的合模装置-CN201320221498.5有效
  • 张小松;沈长明;曹拥军 - 南通市华冠电器有限公司
  • 2013-04-26 - 2013-09-25 - G01M3/02
  • 本实用新型涉及膜片气密性测试机械模具领域,特别涉及一种膜片检测仪的合模装置。它包括上模、下模、导轴和气缸机构,上模上方连接在气缸机构的活塞杆上,下模在上模下面对应上模,导轴连接在上模上面两端,其特征是膜片检测仪的合模装置还包括密封垫,密封垫装于下模上面,即上模和下模中间;所述的下模上开有八个测试孔本实用新型的优点是设计简单,气密性好,一次性可以测试八个膜片,不需要人工观察测试,节省了人力,提高了生产效率。
  • 膜片检测装置
  • [实用新型]一种消防烟雾检测仪-CN201620484058.2有效
  • 郑水丽 - 郑水丽
  • 2016-05-25 - 2016-11-16 - G08B17/10
  • 本实用新型涉及一种消防烟雾检测仪,包括检测盒、分隔过滤膜片和检测试剂,所述分隔过滤膜片的四周安装有固定环和限位柱,所述限位柱的端部安装有螺纹套,所述检测试剂的外部安装有包裹囊和固定罩,所述固定罩上设有针孔本实用新型通过设置分隔过滤膜片、限位柱、螺纹套和铰接座有助于调节固定分隔过滤膜片的位置,通过设置检测盒、检测试剂、固定环、固定罩和针孔有助于安装并限制固定检测试剂的位置,且结构简单,操作方便,经济实用。
  • 一种消防烟雾检测
  • [发明专利]一种压电式压力传感器结构-CN201610764164.0在审
  • 张子青 - 张子青
  • 2016-08-30 - 2016-12-14 - G01L1/16
  • 本发明公开了一种压电式压力传感器结构,壳体的底部设置有压力测试通孔,壳体内设置有呈上、下分布的两片弹性膜片,两片弹性膜片之间设置有压力元件,压力元件的表面紧贴弹性膜片,位于下层的弹性膜片与压力测试通孔相联通,压力元件的上部连接有信号线,信号线延伸出上层的弹性膜片,信号线与放大器电路板的输入端相连接,放大器电路板的输出端连接有引出端子,引出端子从壳体的上部延伸出。本发明在压力元件的两侧设置有弹性膜片,提高压力元件的测试效果,而且,设置有放大器电路板,用于放大弱小的压力元件上输出的电信号,使其检测小的压力,提高适用范围,结构简单,便于实现,具有良好的应用前景。
  • 一种压电压力传感器结构
  • [实用新型]一种用于纸张耐破度仪测试的胶膜-CN202320719875.1有效
  • 殷报春;温波;张华 - 四川长江造纸仪器有限责任公司
  • 2023-04-04 - 2023-07-25 - G01N3/08
  • 本实用新型涉及胶膜技术领域,尤其涉及一种用于纸张耐破度仪测试的胶膜。其技术方案包括测试油缸、压紧丝圈、下夹环和胶膜片,所述测试油缸上表面设置有油缸凸台,所述测试油缸上表面固定安装有压紧丝圈,所述压紧丝圈和测试油缸之间固定安装有下夹环,所述下夹环下表面设置有凸台止口,所述下夹环和测试油缸之间固定安装有胶膜片,所述胶膜片外表面边缘位置处设置有翻边,且翻边位于下夹环和油缸凸台之间。本实用新型能够避免电脑测控纸张耐破度仪测试用的胶膜在由圆片状变为筒状时产生皱褶变形,提高测试准确度。
  • 一种用于纸张耐破度仪测试胶膜
  • [发明专利]晶片测试系统及方法-CN201910988438.8在审
  • 孙倩;陈伟钿;李浩南 - 飞锃半导体(上海)有限公司
  • 2019-10-17 - 2021-03-05 - G01R31/28
  • 本发明公开晶片测试系统及方法。晶片测试系统用于测试晶片,晶片具有第一面和第二面。晶片测试系统包括测试机台、第一探针组、载体、膜片、第二探针组、以及工作台。测试机台包括测试电路。第一探针组与测试机台电学连接,第一探针组用于在操作时与晶片的第一面电学接触。载体与测试机台机械连接,并且承载第一探针组。膜片具有多个孔,膜片用于在操作时与晶片的第二面物理接触。根据本发明的晶片测试系统及方法既能实现在封装前对薄晶片的电学测试,又能提供机械保护,改善芯片在电传导和热传导方面的性能。
  • 晶片测试系统方法
  • [实用新型]晶片测试系统-CN201921752013.9有效
  • 孙倩;陈伟钿;李浩南 - 飞锃半导体(上海)有限公司
  • 2019-10-17 - 2020-07-17 - G01R31/28
  • 本实用新型公开晶片测试系统。晶片测试系统用于测试晶片,晶片具有第一面和第二面。晶片测试系统包括测试机台、第一探针组、载体、膜片、第二探针组、以及工作台。测试机台包括测试电路。第一探针组与测试机台电学连接,第一探针组用于在操作时与晶片的第一面电学接触。载体与测试机台机械连接,并且承载第一探针组。膜片具有多个孔,膜片用于在操作时与晶片的第二面物理接触。根据本实用新型的晶片测试系统能实现在封装前对薄晶片的电学测试,提供机械保护,改善芯片在电传导和热传导方面的性能。
  • 晶片测试系统

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