“缺陷信息”专利关键词查询_检索下载_查询列表_检索列表_行业专利分布_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果2274676个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]一种适用于图像缺陷标注的数据存储方法-CN201810948961.3有效
发明人：刘光杰;刘伟伟;方俊;郑田宇;杨路辉 -专利权人：南京理工大学
申请日： 2018-08-20 - 公布日： 2023-05-26 - 主分类号： G06F16/51 文献下载
摘要：本发明公开了一种适用于图像缺陷标注的数据存储方法，该方法将存储内容分为图像信息、缺陷索引信息以及缺陷信息三个部分，其中缺陷信息包括缺陷外包矩形信息、缺陷类型信息、缺陷等级信息、未定义信息和缺陷像素坐标信息；图像信息、缺陷索引和缺陷信息三块数据内部均采用顺序存储方式；每个缺陷信息所在的地址和长度信息均存储在缺陷索引信息中，缺陷索引信息与缺陷信息之间则采用链式存储方式。利用本发明的存储方法，顺序存储的方式使得存储和读取数据速度快，链式存储的方式使得访问缺陷信息数据方便快速。
一种适用于图像缺陷标注数据存储方法

[发明专利]一种车辆缺陷的推荐方法及装置-CN202110981350.0有效
发明人：胡大林;胡艳玲;唐珊珊;杨强 -专利权人：北京赛目科技股份有限公司
申请日： 2021-08-25 - 公布日： 2023-08-22 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本申请提供了一种车辆缺陷的推荐方法及装置，通过车辆的硬件信息和软件信息分别输入缺陷推荐模型，以输出硬件缺陷信息和软件缺陷信息；将车辆信息输入缺陷推荐模型，以输出车辆缺陷信息；将硬件缺陷信息、软件缺陷信息和车辆缺陷信息展示在用户界面中，以获取用户在用户界面中确认的缺陷信息；将用户确认的缺陷信息和缺陷信息对应的车辆信息反馈给缺陷推荐模型，并更新缺陷推荐模型的决策网络，基于车辆信息自动决策推荐出车辆各部件在不同场景下可能产生的安全缺陷，
一种车辆缺陷推荐方法装置

[发明专利]缺陷信息收集方法、缺陷信息获取方法及相关设备-CN202310437854.5在审
发明人：毛成武;黄廷龙;周依来;邓雯靓;蒋斌西 -专利权人：鸿富锦精密电子（成都）有限公司
申请日： 2023-04-21 - 公布日： 2023-08-15 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本申请公开了一种缺陷信息收集方法、缺陷信息获取方法及相关设备，该缺陷信息收集方法包括：采集待修复产品的识别码图像；根据识别码图像获取待修复产品的产品图像，并显示产品图像；接收产品图像上的缺陷位置信息以及缺陷位置信息相应的修复选项信息；将缺陷位置信息、修复选项信息以及待修复产品的识别码关联生成待修复产品的产品缺陷信息；将产品缺陷信息存储至待修复产品数据库。本申请可以自动记录缺陷位置信息及相应的修复选项信息，生成产品缺陷信息存储至待修复产品数据库，从而降低了全检人员的劳动强度。并且可以避免修复人员与全检人员的信息不匹配，进而提高待修复产品的重工良率。
缺陷信息收集方法获取相关设备

[发明专利]光学薄膜的缺陷信息综合管理装置及其方法-CN201610875826.1在审
发明人：金种佑;朴真用;李太圭 -专利权人：东友精细化工有限公司
申请日： 2016-09-30 - 公布日： 2017-09-12 - 主分类号： G06Q10/06 文献下载
摘要：本发明涉及光学薄膜的缺陷信息综合管理装置及其方法。所述装置包括缺陷信息收集部，其收集从一次工序的缺陷管理机及二次工序的缺陷管理机传送的对于光学薄膜的缺陷信息；缺陷信息匹配部，其使一次工序的缺陷信息与二次工序的缺陷信息匹配；缺陷检测判断部，其基于匹配的结果，以二次工序的缺陷信息为基准，将一次工序的缺陷信息进行比较来判断有无相同缺陷的检测；缺陷信息修正部，其在检测到相同缺陷的情况下，算出一次工序及二次工序中的该缺陷信息的位置之差，并基于算出的位置之差来修正一次工序的缺陷信息；及缺陷信息汇总部，其对修正后的一次工序的缺陷信息及二次工序的缺陷信息进行汇总。
光学薄膜缺陷信息综合管理装置及其方法

[发明专利]信息记录介质、缺陷管理方法及装置-CN200610079420.9无效
发明人：秋山实 -专利权人：日本电气株式会社
申请日： 2006-01-23 - 公布日： 2006-11-15 - 主分类号： G11B20/18 文献下载
摘要：本发明提供一种信息记录介质。以具有用于管理数据区域缺陷的信息区域的信息记录介质为对象。上述信息区域由能多组记录在上述数据区域发生的缺陷的管理信息的缺陷信息区域和能多组记录用于从上述缺陷信息区域选择1组上述缺陷管理信息的选择信息的选择信息区域构成。上述选择信息是表示记录该选择信息时记录了最新缺陷管理信息的位置的信息，上述选择信息包含表示更新了上述选择信息的履历信息。从而，在具有能多组记录缺陷管理信息的缺陷信息区域、和能多组记录用于从缺陷信息区域选择1组缺陷管理信息的选择信息的选择信息区域的信息记录介质中，在短时间可靠地特定应使用的缺陷管理信息。
信息记录介质缺陷管理方法装置

[发明专利]一种晶圆缺陷分析方法、系统、设备和介质-CN202010514472.4有效
发明人：蔡孟勳 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2020-06-08 - 公布日： 2023-09-15 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种晶圆缺陷分析方法、系统、设备和介质。该晶圆缺陷分析方法包括获取半导体制程工艺中每片晶圆的批次信息以及缺陷信息，缺陷信息包括热点缺陷信息；设定热点缺陷特征，从热点缺陷信息中筛选出与热点缺陷特征相关联的目标热点缺陷信息；根据批次信息，追踪与热点缺陷特征相关联的目标热点缺陷信息所对应的第一片晶圆，确定缺陷源。在本发明实施例中，通过在半导体制程工艺中获取晶圆的批次信息以及热点缺陷信息，并根据热点缺陷特征筛选出目标热点缺陷信息，最后追踪目标热点缺陷信息所对应的第一片晶圆，确定缺陷源，提高了晶圆缺陷溯源的准确性。
一种缺陷分析方法系统设备介质

[发明专利]缺陷源识别器-CN01802992.2无效
发明人：阿莫斯·多尔;马亚·拉德辛斯基 -专利权人：应用材料有限公司
申请日： 2001-10-02 - 公布日： 2003-02-19 - 主分类号： G01N21/95 文献下载
摘要：分析半导体晶片上缺陷的方法及相关装置。该方法包括识别半导体晶片上的缺陷。在缺陷源识别器客户机内建立缺陷检测信息。通过网络将缺陷检测信息传送到缺陷源识别器服务器。响应缺陷检测信息，在缺陷源识别器服务器处导出缺陷源信息。该缺陷源信息从缺陷源识别器服务器传送到缺陷源识别器客户机。在缺陷源识别器客户机处利用缺陷源信息。在一个方面，对缺陷解决方案信息的利用涉及响应该缺陷解决方案信息，在缺陷源识别器客户机处显示对该缺陷的缺陷解决方案。在另一个方面，对缺陷解决方案信息的利用涉及改变晶片处理系统的操作。
缺陷识别

[发明专利]具有临时缺陷管理区域的盘及其盘缺陷管理方法和设备-CN200480002117.8无效
发明人：黄盛凞;高祯完;李坰根 -专利权人：三星电子株式会社
申请日： 2004-01-08 - 公布日： 2006-02-15 - 主分类号： G11B7/007 文献下载
摘要：一种具有至少一个记录层的一次写入盘，包括：临时缺陷管理区域，在其中关于仅仅在相应的记录操作期间检测到缺陷的临时缺陷信息和用于管理临时缺陷信息的临时缺陷管理信息被记录；和缺陷管理区域，在其中记录在临时缺陷管理区域中的临时缺陷信息和临时缺陷管理信息分别作为缺陷信息和缺陷管理信息被记录
具有临时缺陷管理区域及其方法设备

[发明专利]物品的预览检验方法及其设备-CN01140762.X有效
发明人：川守田阳一;福田良三;德田一也;村中谦治;五十岚松真 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2001-07-27 - 公布日： 2002-03-13 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明提供了一种用于在目测前对检验品预览检验的方法,该方法包括缺陷信号检测步骤用于在所述检验品的缺陷状态的基础上检测缺陷信号,详细缺陷信息产生步骤用于在由所述缺陷信号检测步骤检测到的缺陷信号的基础上产生详细缺陷信息,以及详细缺陷信息显现步骤用于在所述检验品上显现由所述详细缺陷信息产生步骤产生的详细缺陷信息,以及一种用于在目测前对检验品预览检验的设备,该设备包括缺陷信号检测装置用于在所述检验品的缺陷状态的基础上检测缺陷信号,详细缺陷信息产生装置用于在由所述缺陷信号检测装置检测到的缺陷信号的基础上产生详细缺陷信息,以及详细缺陷信息显现装置用于在所述检验品上显现由所述详细缺陷信息产生装置产生的详细缺陷信息。
物品预览检验方法及其设备

[发明专利]缺陷检修方法、装置和设备-CN202111146442.3在审
发明人：刘亚东;李勇;张泽明 -专利权人：景旺电子科技（珠海）有限公司
申请日： 2021-09-28 - 公布日： 2022-01-14 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本申请公开了一种缺陷检修方法、装置和设备，属于电路板检修技术领域。所述方法包括：第一设备获取电路板的扫描图像；根据扫描图像，获取电路板的多个缺陷信息；设置多个缺陷信息中每个缺陷信息的检修权限，每个缺陷信息的检修权限未解除时不允许进入下一缺陷信息的缺陷检修流程，每个缺陷信息的检修权限在所指示的缺陷完成检修后能够被解除，每个缺陷信息的检修权限解除时允许进入下一缺陷信息的缺陷检修流程；将多个缺陷信息发送给服务器，以指示第二设备根据多个缺陷信息对电路板进行缺陷检修。本申请通过为电路板的多个缺陷信息设置检修权限可以保证电路板的所有缺陷都能得到检修，从而避免了缺陷检修漏失，从而保证了电路板的质量。
缺陷检修方法装置设备

[发明专利]缺陷源检测方法-CN202310465632.4在审
发明人：张景春 -专利权人：上海华力微电子有限公司
申请日： 2023-04-26 - 公布日： 2023-07-21 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种缺陷源检测方法，包括：提供缺陷芯片，获得缺陷芯片的缺陷信息；建立缺陷源检测模型；将缺陷信息、缺陷芯片的版图及缺陷芯片的制备进程信息输入至缺陷源检测模型中，缺陷源检测模型仿真处理后输出缺陷芯片的缺陷源本发明通过建立缺陷源检测模型，缺陷源检测模型结合缺陷信息、缺陷芯片的版图及缺陷芯片的制备进程信息进行仿真处理，利于线上快速检测获得缺陷芯片的缺陷源。
缺陷检测方法

[实用新型]一种电力缺陷处理系统-CN201621420325.6有效
发明人：牛雪飞;李振动;王翀;柏峰;于文博;赵伟;吴炜;孙松强;袁亮;刘启蒙;王艳召;阚世洋;张鑫磊 -专利权人：国家电网公司;国网冀北电力有限公司检修分公司
申请日： 2016-12-21 - 公布日： 2017-06-20 - 主分类号： H04L29/08 文献下载
摘要：本实用新型提供的电力缺陷处理系统，包括处理器、电力缺陷信息接收器以及发送器；其中，所述处理器的输入端与所述电力缺陷信息接收器的输出端相连，所述处理器的输出端与所述发送器的输入端相连，接收电力缺陷信息，输出电力缺陷处理信息，所述电力缺陷处理信息为依据接收的电力缺陷信息而生成的信息。基于本实用新型公开的电力缺陷处理系统，当发生电力缺陷的情况下，能够依据电力缺陷信息生成电力缺陷处理信息，从而使电力缺陷检修人员直接依据生成的电力缺陷处理信息快速对电力缺陷进行处理，提高了电力缺陷处理效率
一种电力缺陷处理系统

[发明专利]PCB产品的过程管控方法和系统-CN201711098243.3在审
发明人：刘文敏;李学喆;邱勇萍;李文杰;宫立军 -专利权人：广州兴森快捷电路科技有限公司;深圳市兴森快捷电路科技股份有限公司;宜兴硅谷电子科技有限公司
申请日： 2017-11-09 - 公布日： 2018-05-15 - 主分类号： G05B19/418 文献下载
摘要：所述方法包括：根据历史缺陷信息构建缺陷库，缺陷库中的信息包括多条缺陷记录，每条缺陷记录包括缺陷名称、缺陷情况信息、缺陷产生站点、缺陷侦测站点以及缺陷产生机理。检测PCB产品生产过程时，在每个站点检测产生的缺陷事件信息，缺陷事件信息包括缺陷情况信息、缺陷侦测站点以及缺陷产生站点；根据缺陷事件信息查询所述缺陷库，得到缺陷事件对应的缺陷记录；根据缺陷记录中的缺陷产生机理信息，生成针对缺陷事件的管控指令，根据管控指令管控所述PCB产品生产过程中的缺陷事件。无需根据人经验判断，提高PCB产品生产过程中管控的准确性以及全面性，进而从根本上消除生产PCB产品过程中的缺陷。
pcb 产品过程方法系统

[发明专利]用于输出信息的方法和装置-CN201710972693.4有效
发明人：王飞;张克鹏;周秀霞;何军 -专利权人：百度在线网络技术（北京）有限公司
申请日： 2017-10-18 - 公布日： 2021-04-30 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本申请实施例公开了用于输出信息的方法和装置。该方法的一具体实施方式包括：通过对目标代码进行静态代码扫描，生成目标代码的抽象语法树和静态扫描结果；对于静态扫描结果中的每个代码缺陷信息，执行特征值生成操作：根据该代码缺陷信息和抽象语法树中标记位置信息与该代码缺陷信息的代码缺陷位置信息匹配的至少一个标记节点，生成与该代码缺陷信息对应的代码缺陷特征值；以及响应于与该代码缺陷信息对应的代码缺陷特征值不属于历史代码缺陷特征值集合，将该代码缺陷信息标记为新增代码缺陷信息；将至少一个代码缺陷信息中标记为新增代码缺陷信息的数目确定为新增代码缺陷数目；输出结果统计信息。该实施方式提高了信息输出内容的丰富性。
用于输出信息方法装置

[发明专利]全息信息存储介质和用于检查其缺陷的设备和方法-CN200880124485.8无效
发明人：黄盛凞;郑泽成 -专利权人：三星电子株式会社
申请日： 2008-09-11 - 公布日： 2010-12-08 - 主分类号： G11B7/007 文献下载
摘要：在全息信息存储介质上记录缺陷条目，所述缺陷条目包括参考信息层的缺陷块的位置信息和状态信息，所述状态信息指示位于与参考信息层的缺陷块的位置的垂直方向相邻的其他信息层的块的缺陷状态。一种检查缺陷的方法，所述方法包括确定参考信息层中的块是否是有缺陷的，并基于参考信息层的缺陷确定的结果，确定位于与参考信息层的缺陷块的位置的垂直方向相邻的其他信息层的块是否是有缺陷的。
全息信息存储介质用于检查缺陷设备方法

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
下一页»
尾页
共 100000 条