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[发明专利]光学膜缺点自动标示装置-CN201711025778.8在审
发明人：张航;彭朝东;陈志忠 -专利权人：深圳精创视觉科技有限公司
申请日： 2017-10-27 - 公布日： 2018-02-16 - 主分类号： G01N21/896 文献下载
摘要：本发明属于光学检测领域，尤其涉及一种光学膜缺点自动标示装置，包括架体，所述架体上设有放料模组、运料模组、检测模组、喷墨模组、收料模组、控制模组，本发明能够依控制模组所设定阀值检测出光学膜缺点，经过分类器依其型态赋予分类，并依据缺点严重程度判断是否需要进行标示，检测模组将欲标示之缺点信息以TCP/IP及特定通讯协定格式传输至控制模组，控制模组接收缺点信息后即进行合理性排班规划，然后向喷墨模组发出相对应指令，待缺点到达相对应之喷墨模组时，对喷墨模组下达触发喷印指令，本发明能够自动对光学膜卷材进行运送、检测、标示，结构简单，成本低廉，操作调节使用方便，能够适用于光学膜批量缺点标示且标示准确率高，应用前景广阔。
光学缺点自动标示装置

[实用新型]光学膜缺点自动标示装置-CN201721403309.0有效
发明人：张航;彭朝东;陈志忠 -专利权人：深圳精创视觉科技有限公司
申请日： 2017-10-27 - 公布日： 2018-05-29 - 主分类号： G01N21/896 文献下载
摘要：本实用新型属于光学检测领域，尤其涉及一种光学膜缺点自动标示装置，包括架体，所述架体上设有放料模组、运料模组、检测模组、喷墨模组、收料模组、控制模组，本实用新型能够依控制模组所设定阈值检测出光学膜缺点，经过分类器依其型态赋予分类，并依据缺点严重程度判断是否需要进行标示，检测模组将欲标示之缺点信息以TCP/IP及特定通讯协定格式传输至控制模组，控制模组接收缺点信息后即进行合理性排班规划，然后向喷墨模组发出相对应指令，待缺点到达相对应之喷墨模组时，对喷墨模组下达触发喷印指令，本实用新型能够自动对光学膜卷材进行运送、检测、标示，结构简单，成本低廉，操作调节使用方便，能够适用于光学膜批量缺点标示且标示准确率高，应用前景广阔。
模组控制模组标示光学膜本实用新型标示装置检测模架体指令应用前景广阔操作调节程度判断放料模组格式传输光学检测光学膜卷通讯协定阈值检测分类器准确率触发喷印收料运料合理性运送分类检测赋予规划

[发明专利]系统芯片的缺点检测-CN201080031112.3无效
发明人：斯蒂芬·波莱德纳 -专利权人： FTS电脑技术有限公司
申请日： 2010-07-07 - 公布日： 2012-05-23 - 主分类号： G06F11/00 文献下载
摘要：本发明涉及用于在包含若干IP芯核的系统芯片(SoC)中辨识缺点的方法，其中各IP芯核均为缺点包容单位，且当中该些IP芯核通过网络芯片，以信息的方式互相通信，此外，其中优等的IP芯核提供TRM(可信资源监视器)，其中(独立的)缺点包容单位会辨识和推出从一个非优先IP芯核发送至另一非优先IP芯核的带缺点的控制信息，如此一来，这带缺点的控制信息就不会导致信息接受方有任何故障。
系统芯片缺点检测

[发明专利]λ/4板的缺点检查方法-CN202310088482.X在审
发明人：家原惠太;铃木畅;深见空斗 -专利权人：日东电工株式会社
申请日： 2023-02-09 - 公布日： 2023-08-11 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明的λ/4板的缺点检查方法包含：将第一起偏器、第一λ/4板、第二λ/4板和第二起偏器依次配置；及从第一起偏器侧的面入射光，观察第二起偏器侧的面的外观，检测第一λ/4板的缺点，其包含：将该第一起偏器的吸收轴与该第二起偏器的吸收轴设定为平行板的慢轴与该第二λ/4板的慢轴设定为平行，将该第一起偏器的吸收轴与该第一λ/4板的慢轴所成的角设定为35°～55°，并且将该第二起偏器的吸收轴与该第二λ/4板的慢轴所成的角设定为35°～55°，根据第一λ/4板的缺点部分的相位差
缺点检查方法

[发明专利]λ/4板的缺点检查方法-CN202310088485.3在审
发明人：家原惠太;铃木畅;深见空斗 -专利权人：日东电工株式会社
申请日： 2023-02-09 - 公布日： 2023-08-11 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明的λ/4板的缺点检查方法包含：将第一起偏器、第一λ/4板、第二λ/4板和第二起偏器依次配置；及从第一起偏器侧的面入射光，观察第二起偏器侧的面的外观，检测第一λ/4板的缺点，其包含：使该第一起偏器的吸收轴与该第二起偏器的吸收轴正交
缺点检查方法

[发明专利]印刷电路板缺点校对卡及使用该校对卡的缺点检验方法-CN201510073811.9在审
发明人：李泽清 -专利权人：竞陆电子（昆山）有限公司
申请日： 2015-02-11 - 公布日： 2015-05-20 - 主分类号： G01B5/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种印刷电路板缺点校对卡及使用该校对卡的缺点检验方法，校对卡为透明卡片并且具有宽度为4mil的尺规线和宽度为8mil的尺规线。将校对卡覆盖于电路板表面，使尺规线对准于电路板的缺点处，缺点超出8mil尺规线为不合格品，不超出4mil尺规线为合格品，超出4mil尺规线但不超出8mil尺规线为允收品；尺规线的长度也用于检验缺点，尺规线长度根据客户规格限度值制作，若缺点的宽度和长度两者之一超出该尺规线则为不合格品，反之则为允收品。本发明采用固定长宽的尺规线作为比对基准，通过简单快捷的与作为基准的尺规线进行比对的方式来判定异常品电路板是否不合格，方便了缺点比对，利于判定，节约人员判定工时。
印刷电路板缺点校对使用检验方法

[发明专利]能克服光学缺点的光学薄膜-CN200610136340.2无效
发明人：林清彬 -专利权人：开曼群岛商亚岗科技股份有限公司
申请日： 2006-10-16 - 公布日： 2008-04-23 - 主分类号： G02B5/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种能克服光学缺点的光学薄膜，包括：一透明基层；一结构层(structured layer)连设于该透明基层上，是由多个集光单元(light－concentrating units)例如棱镜单元并列构成于该基层之上tiny elements)连设于该集光单元的顶峰线(peakline)上或连设于该集光单元的表面或棱镜面上，由此构成的光学薄膜能克服消光(wet－out)耦合、莫尔边纹(Moiréfringe)等光学缺点
克服光学缺点光学薄膜

[实用新型]一种缺点位置指示器-CN201420622641.6有效
发明人：王勇 -专利权人：奥宝精密电子（苏州）有限公司
申请日： 2014-10-27 - 公布日： 2015-02-04 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种缺点位置指示器，它包括固定在基座上的光学摄像头、支架和镭射器，所述支架与摄像头的侧部固定连接，所述镭射器固定在支架上且镭射器的中心线与光学摄像头的中心线相交，所述基座上具有一台面，所述镭射器的中心线与光学摄像头的中心线的交点位于台面上
一种缺点位置指示器

[发明专利]一种光学膜缺点喷印装置-CN202110047711.4在审
发明人：李杰;严兵华;谢佳;翟攀攀 -专利权人：恒美光电股份有限公司
申请日： 2021-01-14 - 公布日： 2021-06-01 - 主分类号： B41J2/01 文献下载
摘要：本发明提供了一种光学膜缺点喷印装置，包括自动光学检查机、缺点爆量处理装置、伺服马达行程装置、喷墨装置、查看章型装置和控制系统，其中，自动光学检查机设置在缺点爆量处理装置前方，用于检测光学膜缺点位置及缺点类型；缺点爆量处理装置设置在自动光学检查机与伺服马达行程装置之间，用于控制光学膜从自动光学检查机到喷墨装置的行程时间；喷墨装置设置在伺服马达行程装置下方，用于对光学膜缺点进行排班喷印；查看章型装置设置在伺服马达行程装置后方本发明在常规喷印装置上增加了查看章型装置、优化了喷印逻辑和可针对不同缺点喷印不同章型，能够适用于各类型光学膜缺点的喷印，具有非常广阔的应用前景。
一种光学缺点装置

[发明专利]点阵式印字设备缺点恢复的控制方法-CN200810072040.1有效
发明人：郑国日;陈阵;陈铭邦 -专利权人：福建实达电脑设备有限公司
申请日： 2008-10-31 - 公布日： 2009-03-25 - 主分类号： B41J2/30 文献下载
摘要：本发明涉及一种点阵式印字设备缺点恢复的控制方法，该方法将点阵式印字设备的印字头沿字体高度方向从上至下分成n个印字点模块，在印字出现缺点时，屏蔽掉出现缺点的第i个印字点模块，并用与其最近且没有缺点的第j个印字点模块替代完成本该第
阵式设备缺点恢复控制方法

[实用新型]弥补缺点完善人体的模特-CN200920079948.5无效
发明人：王顺桥 -专利权人：王顺桥
申请日： 2009-04-01 - 公布日： 2010-10-13 - 主分类号： A47F8/02 文献下载
摘要：弥补缺点完善人体的模特，在女模特乳房空缺乳头的部位补上乳头。
弥补缺点完善人体模特

[发明专利]STI空穴结构设计缺点的检测方法-CN202211249416.8在审
发明人：白杰;米琳;宁威;许隽 -专利权人：华虹半导体（无锡）有限公司
申请日： 2022-10-12 - 公布日： 2022-12-27 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明提供一种STI空穴结构设计缺点的检测方法，包括提供衬底，在衬底上形成垫氧层以及形成与垫氧上的硬掩膜层，通过光刻、刻蚀形成贯通硬掩膜层、垫氧层、衬底的凹槽；在凹槽上形成线形氧化层；将衬底划分为第一、利用第二光源照射第二区域中的线形氧化层表面，使得第二区域中线形氧化层层表面的氢键多于第一区域中的线性氧化层表面的氢键；通过淀积、研磨在每个凹槽中形成STI，之后去除硬掩膜层；获取第一、二区域中的空穴结构的数据并分析设计缺点
sti 空穴结构设计缺点检测方法

[发明专利]图案化晶圆缺点检测系统及其方法-CN201410143477.5有效
发明人：阿曼努拉·阿杰亚拉里;京林;春林·卢克·曾 -专利权人：联达科技设备私人有限公司
申请日： 2008-08-04 - 公布日： 2021-10-22 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明提供了一个检测半导体装置的系统。该系统包括了一个区域系统，从一个半导体晶圆选取多个区域。一个金模板系统，为每一个区域生成一个区域金模板，以使得一个晶片图象可以和多个区域的金模板相互对比。一个组金模板系统，从区域金模板中生成多个组金模板，以使得所述的晶片图象可以和多个组金模板中的金模板相互对比。
图案化晶圆缺点检测系统及其方法

[发明专利]图案化晶圆缺点检测系统及其方法-CN200810210608.1有效
发明人：阿曼努拉·阿杰亚拉里;京林;春林·卢克·曾 -专利权人：半导体技术设备私人有限公司
申请日： 2008-08-04 - 公布日： 2009-02-04 - 主分类号： G01N21/956 文献下载
摘要：本发明提供了一个图案化晶圆缺点检测系统及其方法，用于检测半导体装置。该系统包括了一个区域系统，从一个半导体晶圆选取多个区域。
图案化晶圆缺点检测系统及其方法

[发明专利]一种偏光膜缺点汇整标记系统-CN202110187395.0有效
发明人：严兵华;谢佳;施明志;余镇宇;郭育诚;张均铭 -专利权人：恒美光电股份有限公司
申请日： 2021-02-18 - 公布日： 2023-08-22 - 主分类号： B41J2/47 文献下载
摘要：本发明公开了一种偏光膜缺点汇整标记系统，系统在前制程延伸站、涂布站和保护膜贴合站设置多组自动光学检查机，用于检测偏光膜各层缺点，自动生成缺点档案并上传至数据库；延伸站设激光喷印机，喷印二维码，各站设置读取装置读取二维码记录的生产管理号和米数信息；涂布站和保护膜贴附站设置汇整标记系统和喷墨机进行偏光膜缺点数据的汇整喷印。本发明提供的缺点汇整标记系统，通过喷印二维码记录卷料信息，扫码载入二维码信息、汇整缺点档案，自由选择缺点汇整站别，按不同类型或通道分类、选择喷印，实现偏光膜缺点喷印的可调整性和准确性，有效地防止了缺点的遗失
一种偏光缺点标记系统

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