专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]快闪存储控制、其纠错控制及其方法和系统-CN200910136250.7有效
  • 钟胜民;钟逸呈 - 财团法人工业技术研究院
  • 2009-05-04 - 2010-06-30 - G11C29/42
  • 本发明涉及一种快闪存储控制、其纠错控制及其方法和系统,其中本发明的纠错控制包含纠错编码纠错分割纠错构造纠错解码。该纠错编码根据欲储存于快闪存储的信息数据产生不同长度的第一纠错数据。该纠错分割根据每一第一纠错数据的长度将每一第一纠错数据分割成一个或多个纠错片段。该纠错构造针对每一从该快闪存储读取的信息数据,合并一个或多个所述纠错片段以产生第二纠错数据。该纠错解码利用该纠错构造产生的该纠错数据纠正该信息数据的错误。
  • 闪存控制器纠错码及其方法系统
  • [发明专利]显示装置-CN202211384332.5在审
  • 金相局 - 三星显示有限公司
  • 2022-11-07 - 2023-05-12 - G09G3/30
  • 显示装置包括:外部存储装置,配置在印刷电路基板区域中且存储第一IC驱动信息;内部存储装置,配置在IC区域中且存储复制所述第一IC驱动信息而生成的第二IC驱动信息;缓冲部,配置在所述IC区域中且接收所述第二IC驱动信息,检测静电放电电流;纠错运算部,配置在所述IC区域中,在检测到所述静电放电电流的情况下,决定所述第一IC驱动信息的第一纠错,并决定所述第二IC驱动信息的第二纠错;以及纠错比较部,配置在所述IC区域中,比较所述第一纠错和所述第二纠错。所述内部存储装置根据所述第一纠错和所述第二纠错的比较结果,利用所述第一IC驱动信息选择性地更新所述第二IC驱动信息。
  • 显示装置
  • [发明专利]采用纠错的数据处理方法和采用该方法的设备-CN01143559.3无效
  • 小竹晃一;石泽良之;小岛正 - 株式会社东芝
  • 2001-12-12 - 2002-07-17 - G11B20/18
  • 本发明提供一种采用纠错的数据处理方法和采用该方法的设备。其中,当为存储(2)中存储的数据生成并添加纠错时,即使该存储(2)上的数据中出现错误,仍可消除该错误的负面影响。在本发明中,当在存储(2)中存储数据时,事先利用另一个存储(1),例如SRAM,生成纠错PI。把纠错PI和数据一起写入到存储(2)中。当存储16个区段的数据和PI后,为数据和PI生成并添加纠错PO。当从存储(2)读出该数据时,每次读出一个PI系列进行一次PI校正处理。这使得即使在存储(2)上该数据被破坏(或出现错误)时仍有可能恢复原始数据。
  • 采用纠错码数据处理方法设备
  • [发明专利]存储存储的操作方法-CN202110631857.3在审
  • 张文选;郑会柱;金壮律 - 爱思开海力士有限公司
  • 2021-06-07 - 2022-03-01 - G11C29/42
  • 本公开涉及存储存储的操作方法。一种存储,包括:纠错生成电路,其适于基于包括N个数据组的消息来生成M比特位纠错,每个数据组包括K比特位数据,其中,K、N和M为正整数;存储核心,其包括N+1个单元区域,用于存储N个数据组和纠错;以及纠错电路,其适于基于从存储核心读取的纠错来纠正从存储核心读取的N个数据组的错误,其中纠错生成电路基于M×[(K*N)+M]校验矩阵来生成M比特位纠错,其中校验矩阵的消息部分包括区分N个数据组的
  • 存储器操作方法
  • [发明专利]采用纠错存储的多位量化方法-CN202310082543.1在审
  • 王少昊;陈子杰;陈平平;赖怡桐;曾泽宇 - 福州大学
  • 2023-01-29 - 2023-05-09 - G06F11/10
  • 本申请的实施例公开了一种采用纠错存储的多位量化方法,所述采用纠错存储的多位量化方法包括:接收存储数据,将所述存储数据以纠错进行编码放入存储中;读取所述存储中所述存储数据的模拟输出值;将所述模拟输出值与多个判决门限比较在低读取裕度条件下,与基于一位量化电路的纠错编解码方案相比,所述多位量化方法能够为纠错编解码方案提供更佳的读取正确率,并且所需的解码运算复杂度更低。当对象存储单元的读取裕度极低时,采用具有全裕度判决功能的灵敏放大器的量化判决电路的输出结果可用于实施多位纠错解码运算。
  • 采用纠错码存储器量化方法
  • [发明专利]存储存储系统、存储的操作方法和存储系统的操作-CN202011189268.6在审
  • 金庚焕;朴善花;金岐润;河成周;韩雅丽 - 爱思开海力士有限公司
  • 2020-10-30 - 2021-05-21 - G11C29/42
  • 本发明涉及存储存储系统、存储的操作方法和存储系统的操作。其中,一种用于操作存储的方法包括确定执行纠错操作。一种用于操作存储的方法包括:确定是否执行纠错操作;响应于确定执行纠错操作生成内部地址;从基于内部地址选择的存储单元读取数据和与数据对应的纠错;基于纠错对数据执行纠错操作以产生经纠错的数据;将经纠错的数据和与经纠错的数据对应的纠错写入到存储单元中;基于在执行纠错操作时检测到的错误将存储中的区域当中的一个或更多个区域确定为需要修复区域;接收第一命令;响应于第一命令将需要修复区域中存储的数据和纠错备份到冗余区域中;以及利用冗余区域修复需要修复区域
  • 存储器系统操作方法操作
  • [发明专利]闪速存储中的纠错方法及装置-CN201710763324.4有效
  • G·多克奎尔;A·戈塔拉 - 质子世界国际公司
  • 2017-08-30 - 2021-08-17 - G06F11/10
  • 一种方法,包括将数据和与数据相关的元数据以逻辑字存储在非易失性存储中。对于存储在非易失性存储中的每个逻辑字,生成对应的纠错。所存储的每个物理字包含逻辑字和对应的纠错。元数据可以包含原子性信息。非易失性存储可以是闪速存储。每个物理字可以包含基于存储在物理字中的逻辑字和对应的纠错的奇偶校验位。可以使用编码表将逻辑字编码成包括对应的纠错的物理字。数据和元数据可以被分割成逻辑字。
  • 存储器中的纠错方法装置
  • [发明专利]数据存储装置及其校验码处理方法-CN201910461259.9有效
  • 李安邦 - 慧荣科技股份有限公司
  • 2019-05-30 - 2023-04-14 - G06F3/06
  • 一种数据存储装置及其校验码处理方法。所述数据存储装置包括非易失性存储和控制。控制包括独立磁盘冗余阵列纠错引擎。独立磁盘冗余阵列纠错引擎具有一存储,并在每N个页面的使用者数据完成编码运算以产生相应的校验码后,独立磁盘冗余阵列纠错引擎就会对所述校验码作压缩,以及将压缩后的校验码先存放在所述存储中,直到K×N个页面的使用者数据的K个校验码都完成压缩并存放在所述存储后,独立磁盘冗余阵列纠错引擎再将压缩后的K个校验码写到非易失性存储中,借此减少独立磁盘冗余阵列纠错引擎所切换状态的频率,并且减少写入数据到非易失性存储的次数与时间
  • 数据存储装置及其校验码处理方法

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