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[发明专利]电路测试系统-CN201310360508.8在审
发明人：曹伟华;郭雯 -专利权人：鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
申请日： 2013-08-19 - 公布日： 2015-03-18 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：一种电路测试系统，包括测试设备、微控制器及开关组合，所述开关组合包括连接所述测试设备的第一开关、第二开关，所述第一开关与所述第二开关均连接所述微控制器，所述第一开关用于连接测试电路，所述第二开关用于连接另一测试电路，所述微控制器用于在接收到一触发信号后开启所述第一开关从而使来自所述测试电路的测试信号传送给所述测试设备，并在一设定时间后断开所述第一开关而开启所述第二开关以使来自所述另一测试电路的测试信号传送给所述测试设备所述电路测试系统用于方便测试所述测试电路。
电路测试系统

[实用新型]电路测试系统-CN202220855027.9有效
发明人：陈攀;徐红如;王吉健 -专利权人：上海琻捷电子科技有限公司
申请日： 2022-04-12 - 公布日： 2022-12-16 - 主分类号： H03M1/10 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种电路测试系统。电路测试系统包括：用于产生模拟信号的信号发生器；用于将模拟信号转换成数字信号的模数转换器电路，与信号发生器相连接；用于基于数字信号得到模数转换器电路的第一频谱的第一处理装置，与模数转换器电路相连接；用于基于数字信号得到模数转换器电路的第二频谱的第二处理装置，与模数转换器电路相连接；用于将第一频谱及第二频谱进行比对的比对装置，与第一处理装置及第二处理装置均相连接。模数转换器电路将模拟信号转换成数字信号，通过第一处理装置和第二处理装置分别得到第一频谱和第二频谱，比对第一频谱及第二频谱，以对模数转换器电路的测试结果进行双重确认，保证了模数转换器电路性能测试的准确性。
电路测试系统

[发明专利]系统模组的测试方法与装置-CN200710301387.4有效
发明人：蔡文浚;张佑臣;黄宝泰;黄凌豪 -专利权人：渠成科技股份有限公司
申请日： 2007-12-25 - 公布日： 2009-01-14 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：一种系统模组的测试方法，可在大量生产期间用来测试集成电路所组成的系统模组。集成电路和其组成的系统模组皆由相同一制造者所制造。该方法包含：在系统模组上进行系统测试，以确定系统模组的性能；接着，根据系统测试的结果核对集成电路的性能；最后，进行集成电路测试，其中集成电路测试包含在系统测试中无法检测的测试项目。一种测试系统模组的测试装置，包含：一系统测试部分，用来在该系统模组上进行多个系统测试，以确定该系统模组和所述集成电路的多个性能；以及一集成电路测试部分，用来进行所述系统测试中无法检测的多个集成电路测试。所述的测试方法和装置中，系统测试涵盖多数集成电路性能测试，减少了重复测试。
系统模组测试方法装置

[发明专利]用于ROMBIST测试的芯片安全防护方法和电路-CN202110354798.X有效
发明人：王宏伟 -专利权人：深圳市纽创信安科技开发有限公司
申请日： 2021-04-01 - 公布日： 2023-04-07 - 主分类号： G11C29/12 文献下载
摘要：本申请公开了一种用于ROMBIST测试系统的芯片安全防护电路,包括时钟监测电路和测试预警电路。其中，时钟监测电路用于监测ROMBIST测试系统的测试时钟，并当测试时钟发生变化时向测试预警电路发送时钟异常信号，测试预警电路用于当未接收到时钟异常信号时输出测试时钟给ROMBIST测试系统，以用于作为ROMBIST测试系统的测试时钟，而当接收到时钟异常信号时输出测试结束信号给ROMBIST测试系统，以中断ROMBIST测试系统的测试。由于通过当ROMBIST测试系统的测试时钟频率发生异常时及时停止测试，使得芯片在测试过程中数据更安全，进而增加芯片的安全属性。
用于 rombist 测试芯片安全防护方法电路

[发明专利]用于多装置以太网供电的现场验证的装置-CN201910361389.5在审
发明人： J.P.希特尔 -专利权人：弗兰克公司
申请日： 2019-04-30 - 公布日： 2019-11-05 - 主分类号： G01R21/00 文献下载
摘要：本发明公开了功率测试装置，所述功率测试装置包括具有引脚的通信端口，所述引脚接收来自被测装置的信号。第一测试电路系统耦合至第一组所述引脚对，并且第二测试电路系统耦合至第二组所述引脚对。交换机耦合至所述第一测试电路系统和/或所述第二测试电路系统。当所述交换机处于第一状态时，所述第一测试电路系统和所述第二测试电路系统彼此电隔离。当所述交换机处于第二状态时，所述第一测试电路系统和所述第二测试电路系统不彼此电隔离。处理器耦合至所述第一测试电路系统、所述第二测试电路系统和所述交换机。存储器存储使得所述处理器控制所述第一测试电路系统、所述第二测试电路系统和所述交换机的操作的指令。
测试电路系统交换机引脚耦合功率测试装置以太网供电电隔离多装置状态时验证处理器控制处理器耦合存储器存储被测装置通信端口指令

[实用新型]一种测试装置及测试系统-CN202021791169.0有效
发明人：王树锋;陈阳 -专利权人：前海晶云（深圳）存储技术有限公司
申请日： 2020-08-24 - 公布日： 2021-03-05 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本申请公开了一种测试装置及测试系统，该测试装置包括：测试电路、供电电路、检测电路与处理电路，测试电路连接待测芯片与检测电路，处理电路连接检测电路，供电电路分别连接测试电路、检测电路和处理电路；处理电路控制供电电路经测试电路向待测芯片输出第一电压，测试电路对待测芯片在第一电压下进行系统测试；处理电路控制供电电路经检测电路向待测芯片输出第二电压以替换第一电压，测试电路对待测芯片在第二电压下进行系统测试，待测芯片在第二电压下进行电压拉偏极限测试，检测电路检测待测芯片的电气信号状态本申请通过使用第二电压替换第一电压，实现在工作状态下的电压热替换，并便于对待测芯片进行系统测试的同时进行拉偏极限测试。
一种测试装置系统

[实用新型]一种基准电压通用测试装置-CN201720938304.1有效
发明人：梁宇飞;乔秀铭;赵帅 -专利权人：航天科工防御技术研究试验中心
申请日： 2017-07-28 - 公布日： 2018-02-16 - 主分类号： G01R19/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种基准电压通用测试装置，包括测试插座、测试电路板以及集成电路测试系统；所述测试插座通过测试电路板与集成电路测试系统连接，且待测试的器件通过器件管脚与测试插座连接；其中，所述测试电路板一侧设置有与集成电路测试系统匹配的接口，另一侧设置有与测试插座匹配的接口；所述测试插座一端与测试电路板连接，另一端设置有与待测试的器件管脚匹配的接口；所述待测试的器件通过测试插座和测试电路板与集成电路测试系统中的相应测试接口连接，完成器件的基准电压测试所述基准电压通用测试装置能够在利用现有测试系统的基础上，提高器件基准电压的测试效率和准确性。
一种基准电压通用测试装置

[实用新型]一种高速光电耦合器通用测试装置-CN201720936000.1有效
发明人：赵帅;乔秀铭;梁宇飞 -专利权人：航天科工防御技术研究试验中心
申请日： 2017-07-28 - 公布日： 2018-01-30 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种高速光电耦合器通用测试装置，包括测试插座、测试电路板以及集成电路测试系统；测试插座通过测试电路板与集成电路测试系统连接，且待测试光电耦合器与测试插座连接；其中，测试电路板一侧设置有与集成电路测试系统匹配的接口，另一侧设置有与测试插座匹配的接口；测试插座一端与测试电路板连接，另一端设置有与待测试光电耦合器管脚匹配的接口；测试电路板中设置有多组与测试插座匹配的接口组；待测试光电耦合器通过测试插座和测试电路板与集成电路测试系统中的相应测试接口连接，完成光电耦合器的测试。所述高速光电耦合器通用测试装置能够在利用现有测试系统的基础上，提高光电耦合器的测试效率和准确性。
一种高速光电耦合器通用测试装置

[发明专利]一种测试装置、系统及方法-CN202010858877.X在审
发明人：王树锋;陈阳 -专利权人：前海晶云（深圳）存储技术有限公司
申请日： 2020-08-24 - 公布日： 2020-12-18 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本申请公开了一种测试装置、系统及方法，该测试装置包括：测试电路、供电电路、检测电路与处理电路，测试电路连接待测芯片与检测电路，处理电路连接检测电路，供电电路分别连接测试电路、检测电路和处理电路；处理电路控制供电电路经测试电路向待测芯片输出第一电压，测试电路对待测芯片在第一电压下进行系统测试；处理电路控制供电电路经检测电路向待测芯片输出第二电压以替换第一电压，测试电路对待测芯片在第二电压下进行系统测试，待测芯片在第二电压下进行电压拉偏极限测试，检测电路检测待测芯片的电气信号状态本申请通过使用第二电压替换第一电压，实现在工作状态下的电压热替换，并便于对待测芯片进行系统测试的同时进行拉偏极限测试。
一种测试装置系统方法

[实用新型]一种不断电的继电保护测试仪-CN201620490596.2有效
发明人：张宏;刘凤珍;田野;杨宁;赵欣艳;张震亚 -专利权人：国网辽宁省电力有限公司朝阳供电公司;国家电网公司
申请日： 2016-05-26 - 公布日： 2016-12-14 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种不断电的继电保护测试仪，包括电源系统和测试系统，电源系统包括储能电路、转换电路、电源输出电路，测试系统包括主电路、测试电路，所述储能电路连接市电，储能电路连接转换电路、电源输出电路，主电路与电源输出电路连接，测试电路通过变压整流单元与电源输出电路连接，测试电路的功率放大单元连接继电器。本发明电源系统具有储能功能，当市电波动大、电源质量差或市电断电的情况下，给继电保护测试仪供电，不影响精度，提供质量合格的试验数据。
一种断电保护测试仪

[实用新型]一种电池管理系统主控板的测试系统-CN201621358482.9有效
发明人：冯毅思;那伟;叶磊 -专利权人：上海航天电源技术有限责任公司
申请日： 2016-12-12 - 公布日： 2017-07-11 - 主分类号： G05B23/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种电池管理系统主控板的测试系统，包含高压以及绝缘功能测试电路，其通过第一测试接口与电池管理系统主控板连接；双电源供电功能测试电路，其通过第二测试接口与电池管理系统主控板连接；多路功率驱动输出功能测试电路，其通过第二测试接口与电池管理系统主控板连接；高压互锁功能测试电路，其通过第二测试接口与电池管理系统主控板连接；多路唤醒Key上电功能测试电路，其通过第三测试接口与电池管理系统主控板连接；模拟国标充电接口电路功能测试电路，其通过第三测试接口与电池管理系统主控板连接。本实用新型安装占用空间小、电路简单实用易于实现、测试用时时间短，可靠性强，并且成本低。
一种电池管理系统主控测试

[发明专利]电路性能自动测试系统-CN201711172775.7在审
发明人：周豪 -专利权人：成都欧远信电子科技有限公司
申请日： 2017-11-22 - 公布日： 2018-05-08 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了电路性能自动测试系统，所述系统包括：固定单元，用于对待测试电路板进行固定；外观检测单元，用于对待测试电路板进行外观检测；尺寸检测单元，用于对待测试电路板进行尺寸检测；电路检测，用于对待测试电路板进行电路性能检测；解决了现有的电路性能测试效率较低和成本较高的技术问题，实现了测试系统设计合理，电路性能测试效率较高成本较低的技术效果。
电路性能自动测试系统

[发明专利]一种充电电池电路智能测试管理系统及其方法-CN201511015467.4在审
发明人：林心宇;曹小苏;陈建斌 -专利权人：福建联迪商用设备有限公司
申请日： 2015-12-31 - 公布日： 2016-03-16 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明涉及一种充电电池电路智能测试管理系统及其方法,包括中央控制模块以及与其相连的电压比较电路、放电电路、被测板连接检测电路、充电电路测试系统，所述电压比较电路还连接有一电压检测电路，所述电压检测电路连接至所述充电电路测试系统中的可充电电池；所述充电电路测试系统与所述放电电路、中央控制模块、被测板连接检测电路、被测板相连。本发明能够实现在不影响被测板电路的前提下进行电池放电,让充电电路测试系统中的电池始终不工作在饱和状态,且延长了测试系统中的电池寿命。
一种充电电池电路智能测试管理系统及其方法

[发明专利]激光捷联惯导负载信号监测台-CN202211521999.5在审
发明人：谢维冬;汪杜娟;张英琪;李强 -专利权人：重庆前卫科技集团有限公司
申请日： 2022-11-30 - 公布日： 2023-03-14 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本发明公开了激光捷联惯导负载信号监测台，其特征是：包括上位机、控制系统、电源系统、负载系统、信号处理系统、采集系统和接口系统；控制系统包括控制电路、测试电路和继电器，控制电路和测试电路均为多路；电源系统为控制电路、测试电路、继电器和采集系统供电；负载系统包括在用于串接在测试电路中且装有负载电阻的负载板；采集系统包括用于对各个测试电路中测量点处的电力参数进行采集的电力参数采集器；信号处理系统包括了各个信号的输入输出选通和信号隔离处理后输出功能：接口系统包括在各个测试电路中设置的电路板测试接口。本发明具有的优点是：能够提高针对激光捷联惯导中各种电路板的可靠性摸底试验效率、数据的准确性和安全性。
激光捷联惯导负载信号监测

[发明专利]一种基于充电芯片的测试系统及充电测试系统-CN202010884262.4在审
发明人：黄贤超 -专利权人：珠海市一微半导体有限公司
申请日： 2020-08-28 - 公布日： 2020-12-29 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开一种基于充电芯片的测试系统及充电测试系统，其中，一种基于充电芯片的测试系统至少包括模拟电池电路和电池充电电流测量电路，但不包括主控制器和充电管理芯片；另一种基于充电芯片的测试系统包括模拟电池电路、可调节电池电压电路、电池充电电流测量电路和主控制器，但不包括充电管理芯片；而一种基于充电芯片的充电测试系统包括模拟电池电路、可调节电池电压电路、电池充电电流测量电路和主控制器。本发明无需考虑实体电池的使用寿命的影响，保证测试系统接入的充电管理芯片的测试正确性和测试的可靠性，测试系统简单，测试配件成本低，适应范围广。
一种基于充电芯片测试系统

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