专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]镜头及其照相机、录像机、望远镜和超长焦镜头-CN201621410618.6有效
  • 张程 - 歌尔科技有限公司
  • 2016-12-21 - 2017-08-04 - G02B13/22
  • 本实用新型公开一种双镜头及其照相机、录像机、望远镜和超长焦镜头,双镜头,包括沿着光线入射方向依次设置的镜头L1和像镜头L2;镜头L1和像镜头L2的主光轴重合;镜头L1的像焦距与像镜头L2的焦距相重合,该焦距重合位置处设置有视场光阑;主光线平行于主光轴,入瞳位于无穷位置处,镜头L1和视场光阑构成心光路;像主光线平行于主光轴,出瞳位于无穷位置处,像镜头L2和视场光阑构成像心光路;其系统调节方便,操作性强,适用范围广,具有高分辨率、超宽景深和超低畸变,尤其适用于在机器视觉精密测量、高精度检测领域的广泛应用。
  • 双远心镜头及其照相机录像机望远镜超长
  • [发明专利]指纹识别装置和电子设备-CN201980000384.8有效
  • 蒋鹏 - 深圳市汇顶科技股份有限公司
  • 2019-03-07 - 2023-05-05 - G06V40/13
  • 本申请实施例提供了一种指纹识别装置和电子设备,该指纹识别装置包括:镜头阵列,用于接收经由人体手指反射形成的光信号,并对所述光信号进行准直和聚焦;指纹传感器,设置于所述镜头阵列的下方,并且与所述镜头阵列采用分离式装配结构,所述指纹传感器用于基于穿过所述镜头阵列的所述光信号进行成像。本申请实施例的指纹识别装置能够实现镜头阵列与指纹传感器之间的灵活装配。
  • 指纹识别装置电子设备
  • [发明专利]视觉测量光学系统装置-CN201610318291.8在审
  • 于波;刘佳 - 西安远心光学系统有限公司
  • 2016-05-13 - 2016-10-12 - G01B11/00
  • 包括视觉采集硬件、图像处理单元及机柜,所述机柜承载所述视觉采集硬件和图像处理单元置于其顶部,所述视觉采集硬件包括双镜头组件、平行光源组件及工业相机,所述双镜头组件和平行光源组件分别设于所述待测工件两侧,且三者安装在同一光轴,所述工业相机设于所述双镜头组件远离所述平行光源组件的一端;所述图像处理单元包括图像处理模块及控制模块,所述控制模块与所述工业相机数据信号连接。本发明采用双镜头光学系统,采用和像心结合的光学结构来设计整个镜头的光学系统,的像面和像面重合在整个系统的光阑处,控制光阑的通光孔径满足整个光学系统的度要求。
  • 视觉测量光学系统装置
  • [实用新型]一种双心光学镜头-CN201621454159.1有效
  • 于涛;刘哲 - 陕西维视数字图像技术有限公司
  • 2016-12-28 - 2017-08-04 - G02B13/22
  • 本实用新型公开了一种双心光学镜头由前组A、第一中组B、第二中组C、后组D、C接口E、垫圈F组成;所述前组A设置在双心光学镜头的前端;所述第一中组B设置在前组A的后端;所述第二中组C设置在第一中组B的后端本实用新型采用和像心结合的光学结构来设计整个镜头的光学系统,的像面和像面重合在整个系统的光阑处,控制光阑的通光孔径满足整个光学系统的度要求。
  • 一种双远心光学镜头
  • [实用新型]CIS芯片外观缺陷检测的光学成像装置-CN202221322659.5有效
  • 肖鋆;蒋剑峰;郑军 - 聚时科技(上海)有限公司
  • 2022-05-30 - 2022-11-08 - G01N21/88
  • 本实用新型属于机器视觉技术领域,具体涉及一种CIS芯片外观缺陷检测的光学成像装置,包括镜头,所述镜头为包括同轴和旁轴两路光路的双筒镜头,同轴和旁轴两路光路之间通过波长分光镜分光;还包括分别与同轴和旁轴两路光路连接的黑白面阵相机和彩色面阵相机旁轴光路包括旁轴像镜片组,所述旁轴像镜片组安装在镜头的侧面,且与之垂直;所述镜头包括同轴像镜片组和镜片组,在同轴像镜片组、镜片组和旁轴像镜片组之间设置波长分光镜,所述波长分光镜呈本实用新型通设计双筒镜头,结合光源,实现单工位多幅图像的成像,提高检测性能的同时增加了系统的UPH和可靠性。
  • cis芯片外观缺陷检测光学成像装置

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