专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种激光差动层析定方法与装置-CN201811342275.8有效
  • 赵维谦;邱丽荣;杨帅;王允 - 北京理工大学
  • 2018-11-13 - 2020-07-10 - G01N21/63
  • 本发明涉及一种激光差动层析定方法与装置,属于光学成像与检测技术领域。该方法利用后置光瞳遮挡一半测量光束,使用分光瞳差动探测系统对未被遮挡的测量光束进行探测,并利用差动响应曲线的绝对零来实现高精度层析定。将激光差动技术与光线追迹技术有机融合,建立光线追迹及其补偿模型以消除各定表面参数之间的影响,并通过线性拟合绝对零附近的数据实现快速触发定。本发明仅使用一路探测器即可得出差动响应曲线,并利用差动响应曲线的绝对零实现层析定,系统结构及装调过程大大简化,同时避免了调整不准所引入的误差,定精度大幅提高。本发明将为成像/检测领域提供一种新的技术途径。
  • 一种激光差动层析方法装置
  • [发明专利]双边错位差动测量方法-CN201510015231.4有效
  • 赵维谦;邱丽荣;王允 - 北京理工大学
  • 2015-01-12 - 2017-07-28 - G01M11/02
  • 本发明属于光学成像与检测技术领域,涉及一种双边错位差动测量方法。该方法通过对轴向特性曲线自身两侧边数据组的错位差动相减处理,来准确求得系统特性曲线的极值位置。本发明由于利用了特性曲线靠近半高宽位置附近对轴向位移非常灵敏的两段数据来进行差动相减处理,因而由该数据段推算出的特性曲线的极值位置与现有特性曲线顶部拟合方法相比灵敏度大幅提高,其结果在不改变显微系统结构的条件下,可显著改善现有显微系统的轴向分辨力和信噪比等。本发明将为成像/检测领域提供一种新的技术途径。
  • 双边错位差动测量方法
  • [发明专利]横向相减差动曲率半径测量方法-CN201910316312.6有效
  • 赵维谦;姚竹贤;邱丽荣 - 北京理工大学;北京航天控制仪器研究所
  • 2019-04-19 - 2020-12-11 - G01B11/255
  • 本发明属于光学精密测量技术领域,涉及一种横向相减激光差动曲率半径测量方法。该方法将差动探测器中焦前后两路探测器探测到的光斑分别采用不同大小虚拟针孔进行横向相减得到锐化后的横向相减响应曲线,将两路横向相减响应曲线差动相减后得到横向相减差动响应曲线,根据横向相减差动响应曲线的过零精确确定被测球面的“”位置和“猫眼”位置,得到被测球面曲率径的精确值。本发明中横向相减激光差动的光强响应曲线过零附近的斜率大于传统的差动光强响应曲线,因而定灵敏度高,测量精度得到提高,并且抗环境干扰能力强。本方法测量精度高,抗表面散射和环境干扰能力强。
  • 横向差动曲率半径测量方法
  • [发明专利]扫描内窥镜系统-CN201180056803.3无效
  • 小林将太郎 - HOYA株式会社
  • 2011-09-14 - 2013-07-24 - A61B1/00
  • 扫描内窥镜系统由以下构成:光源,在二维平面上周期性移动并用激发光线扫描对象;光源控制装置,控制光源,使得激发光的照射密度在整个扫描区域内等于或低于指定密度;针孔,被设置在与激发光的焦点共轭的位置处;图像信号检测装置,经由针孔接收从由激发光激发的对象产生的荧光并检测图像信号;以及图像生成装置,使用检测到的图像信号来生成图像。
  • 扫描内窥镜系统
  • [发明专利]横向相减差动抛物面顶点曲率半径测量方法-CN201910316323.4有效
  • 邱丽荣;郝群;肖阳;赵维谦 - 北京理工大学
  • 2019-04-19 - 2020-08-11 - G01B11/255
  • 本发明属于光学精密测量技术领域,涉及一种横向相减差动抛物面顶点曲率半径测量方法。该方法将差动探测器中焦前后两路探测器探测到的光斑分别采用不同大小虚拟针孔进行横向相减得到锐化后的横向相减响应曲线,将两路横向相减响应曲线差动相减后得到横向相减差动响应曲线,根据横向相减差动响应曲线的过零精确确定被测抛物面镜的表面顶点和焦点位置本发明中横向相减激光差动的光强响应曲线过零附近的斜率大于传统的差动光强响应曲线,因而定灵敏度高,测量精度得到提高;并且抗环境干扰能力强。本方法测量精度高,抗环境干扰能力强。
  • 横向差动抛物面顶点曲率半径测量方法
  • [发明专利]反射式横向相减差动焦距测量方法-CN201910316127.7有效
  • 赵维谦;肖阳;邱丽荣 - 北京理工大学
  • 2019-04-19 - 2020-06-16 - G01M11/02
  • 本发明涉及到一种反射式横向相减差动焦距测量方法,属于光学精密测量技术领域。该方法将差动探测器中焦前后两路探测器探测到的光斑分别采用不同大小虚拟针孔进行横向相减得到锐化后的横向相减响应曲线,将两路横向相减响应曲线差动相减后得到横向相减差动响应曲线,根据横向相减差动响应曲线的过零精确确定被测镜的表面顶点和焦点位置本发明中横向相减激光差动的光强响应曲线过零附近的斜率大于传统的差动光强响应曲线,显著提高了测量系统定精度。
  • 反射横向差动焦距测量方法
  • [发明专利]一种集成法与三角法的位移测量方法-CN202110418490.7有效
  • 卢科青;秦鑫晨;王文;王传勇;陈占锋;居冰峰 - 杭州电子科技大学
  • 2021-04-19 - 2022-05-03 - G01B11/02
  • 本发明公开了一种集成法与三角法的位移测量方法。现有位移测量方式存在精度与量程之间的矛盾。本发明在激光位移传感器探头一侧安装聚焦透镜及位置敏感元件,测量时激光位移传感器进行高精度测量,获取测量值,同时三角法位移测量系统也对激光入射进行测量,测量数据辅助判断被测是否在激光位移传感器的量程范围内,若位移传感器超量程,则三角法位移测量系统获取当前测量的位置值,然后利用该位置值引导三坐标测量机的Z轴沿Z坐标轴方向移动,使测头装置回到激光位移传感器的量程范围内,然后继续测量。本发明能够在保证高精度测量的条件下,同时实现对激光位移传感器量程的扩展。
  • 一种集成共焦法三角位移测量方法
  • [发明专利]后置分光瞳激光差动焦距测量方法与装置-CN201811342402.4有效
  • 赵维谦;杨帅;邱丽荣 - 北京理工大学
  • 2018-11-13 - 2020-06-05 - G01M11/02
  • 本发明涉及后置分光瞳激光差动焦距测量方法与装置,属于光学精密测量技术领域。本方法利用后置光瞳遮挡一半测量光束,使用分光瞳差动探测系统对测量光束进行探测,得到差动响应曲线,利用差动响应曲线的绝对零分别对被测透镜的表面顶点位置和焦点位置进行精确定,得到被测透镜的顶焦距本发明首次将后置分光瞳激光差动技术用于透镜焦距的高精度检测,仅用一路探测器即可实现差动及焦距测量,避免了更换被测镜可能导致的定精度下降,提高了测量精度;对差动响应曲线零附近的数据进行线性拟合,实现快速触发定及测量,使测量速度、精度及抗散射能力大大提升。
  • 后置分光激光差动焦距测量方法装置
  • [发明专利]后置分光瞳激光差动镜组轴向间隙测量方法与装置-CN201811342537.0有效
  • 赵维谦;杨帅;王允;卜乙禄 - 北京理工大学
  • 2018-11-13 - 2020-05-12 - G01B11/14
  • 本发明涉及后置分光瞳激光差动镜组轴向间隙测量方法与装置,属于光学精密测量技术领域。本方法利用后置光瞳遮挡一半测量光束,使用分光瞳激光差动探测系统对测量光束进行探测,利用差动响应曲线的绝对零分别对被测镜组的各表面位置进行定,通过光线追迹及其补偿模型计算镜组内各轴向间隙。本发明首次将后置分光瞳激光差动技术用于镜组轴向间隙的高精度检测,仅用一路探测器即可实现差动,将激光差动技术与光线追迹技术有机融合,消除各定表面参数之间的影响,并通过线性拟合绝对零附近的数据实现快速触发定,避免了更换被测镜可能导致的定精度下降,测量速度、精度及抗散射能力大大提升。
  • 后置分光激光差动共焦镜组轴向间隙测量方法装置
  • [发明专利]双边错位差动超长焦距测量方法-CN201910318159.0有效
  • 赵维谦;邱丽荣 - 北京理工大学
  • 2019-04-19 - 2020-12-11 - G01M11/02
  • 本发明公开的双边错位差动超长焦距测量方法,属于光学精密测量技术领域。本发明在测量系统中,首先在CCD探测的艾丽斑图像上通过软件设置大、小虚拟针孔探测区域并将其探测的两条特性曲线通过相减处理来锐化特性曲线,然后将锐化特性曲线进行双边错位差动相减处理来得到轴向高灵敏的差动特性曲线,其次利用该双边错位差动特性曲线零与共测量系统焦点精确对应所述特性对超长焦距测量中移动测量平面镜各位置进行高精度定寻位,进而实现超长焦距的高精度测量。
  • 双边错位差动超长焦距测量方法

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