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[发明专利]测试针-CN202110525275.7在审
发明人：柏立成;唐杰 -专利权人：深圳市金冈科技有限公司
申请日： 2021-05-11 - 公布日： 2021-07-13 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：本发明公开了一种测试针，包括检测部、接触部以及弹性部，所述弹性部包括若干倾斜段和若干弯曲段，若干倾斜段和若干弯曲段彼此首尾连接成可以沿长度方向伸缩的蜿蜒形状，所述倾斜段上开设有条形槽。本发明提供的测试针，不扭曲变形，检测可靠性好。
测试

[实用新型]测试针-CN202120989828.X有效
发明人：柏立成;唐杰 -专利权人：深圳市金冈科技有限公司
申请日： 2021-05-11 - 公布日： 2021-12-17 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种测试针，包括检测部、接触部以及弹性部，所述弹性部包括若干倾斜段和若干弯曲段，若干倾斜段和若干弯曲段彼此首尾连接成可以沿长度方向伸缩的蜿蜒形状，所述倾斜段上开设有条形槽。本实用新型提供的测试针，不扭曲变形，检测可靠性好。
测试

[实用新型]测试针-CN202122017859.1有效
发明人：邓带弟;唐杰;柏立成 -专利权人：深圳市金冈科技有限公司
申请日： 2021-08-25 - 公布日： 2022-02-15 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种测试针，包括检测部、接触部以及弹性部，所述弹性部包括若干倾斜段和若干弯曲段，若干倾斜段和若干弯曲段彼此首尾连接成可以沿长度方向伸缩的蜿蜒形状，所述倾斜段和弯曲段中部开设条形槽，所述条形槽沿所述倾斜段和弯曲段的长度方向延伸本实用新型提供的测试针，弹性好，使用寿命长。
测试

[实用新型]测试针-CN200420064778.0无效
发明人：林惠强 -专利权人：萨摩亚商质量管理有限公司
申请日： 2004-06-03 - 公布日： 2005-07-13 - 主分类号： A61B5/15 文献下载
摘要：一种测试针，筒体内部的针座为一体成形且前端中央突伸有突柱，该突柱与针座周围环肋间设有剖沟槽，该针座后端延设具有容室的管径；将一弹性组件穿套于针座的突柱与套盖间且抵止于剖沟槽，针座管径末端设有一C型扣片，且针座的环肋抵止于套盖的环肋，此时弹性组件呈压缩状态，于针头完成穿刺后，推挤推杆到底，使推杆的锥状突柱穿伸并撑开C型扣片，由于弹性组件的回复力，使针头随针座容收回筒体容室中，使其达到一次性使用且具有安全性功效的测试针结构
测试

[外观设计]测试针-CN202030083295.X有效
发明人：付盼红;张明海 -专利权人：渭南高新区木王科技有限公司
申请日： 2020-03-13 - 公布日： 2020-08-14 - 主分类号： 10-05 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：测试针。2.本外观设计产品的用途：用于检测电路。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：主视图。
测试

[实用新型]一种测试针组件及其组成的测试接触片-CN201820971578.5有效
发明人：周峰 -专利权人：四川峰哲精密设备有限公司
申请日： 2018-06-23 - 公布日： 2018-12-21 - 主分类号： G01R1/06 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种测试针组件及其组成的测试接触片。测试针组件包括至少两组并排设置的测试针组，所述测试针组包括第一测试针主体和设置在第一测试针主体上方的第二测试针主体；所述第一测试针主体上设有第一测试针头，所述第二测试针主体上设有位于第一测试针头右侧的第二测试针头，所述第一测试针主体与第二测试针主上均设有测试板接触面。测试接触片，包括测试接触片基板，及其上设置的至少一个上述测试针组件。本实用新型结构简单，成本低廉，使用时测试针组的两个测试针头同时与产品引脚相接触并进行测试，而测试针组件至少包括两组并排设置的测试针组，测试时则至少有四个测试针头与产品引脚相接触，极大地解决了测试针组件与产品引脚接触失效的问题
测试针测试针组件测试针头测试接触片引脚本实用新型并排设置两组测试测试板基板

[发明专利]一种测试针及其组成的测试接触片-CN201811046626.0在审
发明人：周峰 -专利权人：四川峰哲精密设备有限公司
申请日： 2018-09-08 - 公布日： 2018-12-07 - 主分类号： G01R1/06 文献下载
摘要：一种测试针，其特征在于：包括至少两个并排设置的测试针分支，所述测试针组包括第一测试针分支（1）和设置在第一测试针分支（1）上方的第二测试针分支（2）；所述第一测试针分支（1）上设有第一测试针头（3），所述第二测试针分支（2）上设有位于第一测试针头（3）右侧的第二测试针头（4），所述第一测试针分支（1）与第二测试针分支（3）上均设有测试板接触面（5）。本发明不仅结构简单，而且成本低廉，使用时测试针的两个测试针头上同时与产品引脚相接触并进行测试，而至少包括两组并排设置的测试针，测试时则至少有四个测试针头与产品引脚相接触，因此极大地降低了测试针与产品引脚接触失效的问题，从而提高了产品测试结果的准确率，并提高了产品的合格率，适合推广使用。
测试针测试针头引脚并排设置产品测试结果测试测试接触片测试板准确率两组合格率

[发明专利]一种测试针组件及其组成的测试接触片-CN201810655305.4在审
发明人：周峰 -专利权人：四川峰哲精密设备有限公司
申请日： 2018-06-23 - 公布日： 2018-12-07 - 主分类号： G01R1/06 文献下载
摘要：本发明公开了一种测试针组件，其特征在于：包括至少两组并排设置的测试针组，所述测试针组包括第一测试针主体（1）和设置在第一测试针主体（1）上方的第二测试针主体（2）；所述第一测试针主体（1）上设有第一测试针头（3），所述第二测试针主体（2）上设有位于第一测试针头（3）右侧的第二测试针头（4），所述第一测试针主体（1）与第二测试针主体（3）上均设有测试板接触面（5）。本发明不仅结构简单，而且成本低廉，使用时测试针组的两个测试针头上同时与产品引脚相接触并进行测试，而测试针组件至少包括两组并排设置的测试针组，测试时则至少有四个测试针头与产品引脚相接触，因此极大地降低了测试针组件与产品引脚接触失效的问题，从而提高了产品测试结果的准确率，并提高了产品的合格率，适合推广使用。
测试针测试针组件测试针头引脚并排设置两组产品测试结果测试接触片测试测试板准确率合格率

[发明专利]测试针组件及半导体测试装置-CN202111069260.0在审
发明人：柳继营;戚双斌;赵丹 -专利权人：无锡华润安盛科技有限公司
申请日： 2021-09-13 - 公布日： 2023-03-14 - 主分类号： G01R1/073 文献下载
摘要：本申请提供一种测试针组件及半导体测试装置。测试针组件包括连接端体、自连接端体延伸出的第一测试针和第二测试针，第一测试针和第二测试针中的一个作为测试针组件的发射端另一个作为测试针组件的接收端，第二测试针的至少部分向远离第一测试针的一侧延伸形成第一延伸段，第一延伸段的侧壁形成第一接触部，第一测试针靠近第二测试针一侧的侧壁形成第二接触部。上述测试针组件，在测试针的侧壁形成接触部，在对半导体产品进行测试时，半导体产品的连接键(比如引脚)与第一次测试针和第二测试针的侧壁接触连接，使得测试针组件与半导体产品的接触更加稳定，提高测试的稳定性，并且能够避免测试针的端部对半导体产品的连接键造成刮伤等不利影响
测试组件半导体装置

[发明专利]测试针头和半导体测试夹具-CN201410603784.7有效
发明人：石磊 -专利权人：通富微电子股份有限公司
申请日： 2014-10-30 - 公布日： 2018-05-18 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：一种测试针头和半导体测试夹具，其中所述测试针头，包括：第一测试针，所述第一测试针包括位于顶部的第一测试端以及位于底部的第一连接端；覆盖所述第一测试针的侧壁表面的绝缘层；位于绝缘层表面环绕所述第一测试针的第二测试针，第二测试针与第一测试针同轴，第二测试针包括位于顶部的第二测试端以及位于底部的第二连接端，第二测试端具有下凹的第一弧面。本发明的测试针头实现对球形的待测试端子的测试，提高了测试的精度。
测试针头半导体夹具

[实用新型]单体电芯电压内阻测试机-CN201822071346.7有效
发明人：张明发;葛瑞具 -专利权人：东莞市久森新能源有限公司
申请日： 2018-12-10 - 公布日： 2019-09-20 - 主分类号： G01R31/385 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种单体电芯电压内阻测试机，单体电芯电压内阻测试机包括一安装架、一正极测试针、一负极测试针、一正极驱动机构以及一负极驱动机构，一电芯设于安装架上，正极测试针位于安装架的一侧，负极测试针位于安装架的另一侧，电芯的正极极耳弯折后位于安装架与正极测试针之间，电芯的负极极耳弯折后位于安装架与负极测试针之间，正极驱动机构与正极测试针相连并驱动正极测试针靠近或远离安装架，正极测试针与安装架靠近时，电芯的正极极耳夹设于正极测试针与安装架之间，负极驱动机构与负极测试针相连并驱动负极测试针靠近或远离安装架，负极测试针与安装架靠近时，电芯的负极极耳夹设于负极测试针与安装架之间。
测试针安装架正极负极电芯单体电芯电压内阻测试机负极极耳负极驱动正极极耳正极驱动夹设弯折本实用新型驱动

[实用新型]一种用于血糖仪测试针的防刺装置-CN202121404371.8有效
发明人：赵阳 -专利权人：西安交通大学医学院第一附属医院
申请日： 2021-06-23 - 公布日： 2022-03-15 - 主分类号： A61B5/151 文献下载
摘要：本实用新型涉及医疗器械技术领域，且公开了一种用于血糖仪测试针的防刺装置，包括血糖采血笔组件，所述血糖采血笔组件上安装有伸缩组件，所述伸缩组件包括测试针套、测试针、套环、杆体、弹簧、固定块、移动杆和滑槽，所述测试针套的内部设有所述测试针；当完成测试后，通过逆时针转动把手带动螺杆向外移动，弹簧的拉力可自动带动套环、杆体和移动杆通过滑槽向下带动测试针向测试针套内移动，很好的将测试针收入进测试针套内，避免了传统测试完血糖后直接取出测试针，容易出现刺伤手的情况，同时设置推动块和推杆将测试针套直接推出测试针支架，进一步的提升了测试针的安全性，避免用户出现刺伤的情况。
一种用于血糖仪测试装置

[实用新型]AV端口专用测试探针-CN201020127226.5无效
发明人：魏秦 -专利权人：上海凯恒电子科技有限公司
申请日： 2010-03-10 - 公布日： 2010-12-15 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种AV端口专用测试探针，包括具有共同轴心的内测试针和外测试针，所述内测试针和外测试针沿所述轴心的轴线方向分别经一弹性部件沿各自针头方向所抵持，并且，所述内测试针和所述外测试针经定位件插接定位；所述内测试针外部设有一内测试针套，所述外测试针外部设有一外测试针套，所述内测试针套和所述外测试针间还设有绝缘套。它将测试探针直接下在了AV连接器的插件端口上，从而把AV连接器、AV连接器与PCB板的焊接质量全部检测进去，消除现有检测方式无法检测AV连接器的质量隐患，提高了产品质量的稳定性。
av 端口专用测试探针

[发明专利]测试针头和半导体测试夹具的形成方法-CN201410603672.1有效
发明人：石磊 -专利权人：南通富士通微电子股份有限公司
申请日： 2014-10-30 - 公布日： 2015-01-14 - 主分类号： H01L21/60 文献下载
摘要：一种测试针头和半导体测试夹具的形成方法，其中所述测试针头的形成方法，包括：提供基底；在所述基底上形成第一测试针，所述第一测试针包括位于顶部的第一测试端和位于底部的第一连接端；在第一测试针的侧壁上形成绝缘层；在绝缘层的表面形成第二测试针，所述第二测试针环绕所述第一测试针，所述第二测试针包括位于顶部的第二测试端和位于底部的第二连接端，所述第二测试针的第二测试端具有下凹的第一弧面。本发明方法形成的测试针头实现对球形的待测试端子的测试，提高了测试的精度。
测试针头半导体夹具形成方法

[实用新型]测试针座-CN202120989713.0有效
发明人：柏立成;唐杰 -专利权人：深圳市金冈科技有限公司
申请日： 2021-05-11 - 公布日： 2022-02-01 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种测试针座，包括固定座、浮动设于固定座的定位座以及测试针组，在所述固定座上形成限位槽，所述测试针组设于限位槽内，所述测试针组包括若干隔片和若干测试针，若干所述测试针分布于相邻隔片之间，使若干隔片和若干测试针依次靠紧后放入限位槽内。本实用新型提供的测试针座，维护和调整测试针方便，成本低。
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