专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]半导体封装结构及半导体封装方法-CN202210436918.5在审
  • 吴建忠;潘效飞;曹周;陈莉 - 无锡华润安盛科技有限公司
  • 2022-04-19 - 2023-10-27 - H01L25/07
  • 本发明提供了一种半导体封装结构及半导体封装方法中,通过保护层中的互连线以及保护层上与互连线连接的多个焊点,形成扇出结构,从而避免了引线框架的使用以及提高了走线的紧凑度,从而极大的减小了半导体封装结构的尺寸,并且还能降低寄生影响,提升产品性能。进一步的,所述半导体封装结构中形成有散热结构,由此,其不仅可以通过焊点进行散热,还可以通过所述散热结构进行散热,实现了双面双通道的散热,从而提高了散热效率,进而提高了其可承受的功率密度。
  • 半导体封装结构方法
  • [实用新型]一种粘结膜固定环去除装置-CN202320682137.4有效
  • 潘效飞;李怿 - 无锡华润安盛科技有限公司
  • 2023-03-30 - 2023-10-27 - H01L21/67
  • 本申请提供一种粘结膜固定环去除装置,用于对半导体封装工艺所采用的粘结膜及粘结膜固定环进行分离,粘结膜固定环中部具有中空区域,粘结膜上设有位于中空区域的半导体晶圆时,半导体晶圆的外边缘与粘结膜固定环的内侧壁之间具有环状的第一间隔空间,粘结膜固定环去除装置包括按压部及操作部。按压部为能够置于第一间隔空间内的环状结构;操作部设于按压部的一侧,操作部包括操作把手以及连接操作把手与按压部的连接部,操作把手与按压部之间相间隔。上述粘结膜固定环去除装置,便于将粘结膜固定环自粘结膜上分离,按压部按压于粘结膜固定环内部的粘结膜上,有利于保护按压部以内的粘结膜不被去除粘结膜固定环的外力影响,提高半导体晶圆的良率。
  • 一种粘结固定去除装置
  • [发明专利]一种半导体产品及其制造方法-CN202210021969.1在审
  • 阙燕洁;陈莉 - 无锡华润安盛科技有限公司
  • 2022-01-10 - 2023-07-18 - H01L23/495
  • 本申请提供一种半导体产品及其制造方法。所述半导体产品包括裸片和用于与所述裸片连接的引线框架,所述裸片具有与所述引线框架电连接的电连接键,所述引线框架的预设位置设有辅助焊接层,所述电连接键的端部焊接于所述辅助焊接层,所述辅助焊接层的浸润性低于所述引线框架的浸润性。上述半导体产品,通过在引线框架的预设位置设置比引线框架浸润性低的辅助焊接层,有利于改善由于引线框焊接时浸润性较高带来的电连接键的端部与引线框架之间出现的短路、导通电阻漂移问题,提高焊接稳定性,从而提高裸片与引线框架之间的电连接的稳定性,提高半导体产品的良率。
  • 一种半导体产品及其制造方法
  • [实用新型]芯片的外观检测设备以及外观检测系统-CN202222013858.4有效
  • 柳继营;戚双斌;赵丹 - 无锡华润安盛科技有限公司
  • 2022-08-01 - 2023-06-06 - G01N21/95
  • 本申请提供了一种芯片的外观检测设备以及外观检测系统,待测芯片包括塑封体、位于塑封体底面上的散热结构以及位于塑封体表面上的丝印,芯片的外观检测设备包括固定结构以及图像采集设备,其中,固定结构具有位于固定结构的表面上的第一凹槽,固定结构还具有第一开口,在待测芯片位于固定结构的表面上的情况下,散热结构位于第一凹槽内,且第一开口使得塑封体表面裸露;图像采集设备位于固定结构的一侧,图像采集设备用于获取固定结构的表面上的待测芯片的图像。本申请解决现有技术中芯片的误判率较高的问题。
  • 芯片外观检测设备以及系统
  • [发明专利]IPM的封装方法以及IPM封装中的键合方法-CN201910315116.7有效
  • 王永庭 - 无锡华润安盛科技有限公司
  • 2019-04-18 - 2023-04-25 - H01L25/16
  • 本发明提供了一种IPM的封装方法以及IPM封装中的键合方法,对IGBT芯片与电路板之间直径相对较粗的第一引线采用频率相对较低的超声波进行第一冷超声波键合,对驱动芯片与电路板之间的直径相对较细的第二引线采用频率相对较高的超声波进行第二冷超声波键合。好处在于:相对于金铜线热超声波键合,利用冷超声波键合无需加热,可以避免高温加热导致的承载IGBT芯片及驱动芯片的绝缘基板与基岛分离,以及避免分离过程中绝缘基板撕裂导致的绝缘性能变差,进而避免IPM耐压性差及散热不良等问题,提高IPM良率和性能。
  • ipm封装方法以及中的
  • [发明专利]MCM封装结构及其制作方法-CN202111138572.2在审
  • 沈堂芹;潘效飞;陈建华;程智超;王衡 - 无锡华润安盛科技有限公司
  • 2021-09-27 - 2023-03-31 - H01L25/18
  • 本发明提供了一种MCM封装结构及其制作方法,MCM封装结构包括:引线框架、第一芯片、第一导电柱、第二导电柱、第一金属片、第二芯片、第二金属片以及塑封层;引线框架至少包括基岛、第一引脚、第二引脚以及第三引脚;第一芯片包括第一栅极、第一电极与第二电极,第一栅极连接于第一引脚,第一电极连接于基岛;第一导电柱的第一端连接于第二引脚;第二导电柱的第三端连接于第三引脚;第一金属片分别连接于第二电极与第一导电柱;第二芯片包括第二栅极、第三电极与第四电极,第四电极连接于第一金属片;第二金属片分别连接于第三电极与第二导电柱;塑封层暴露基岛、第一引脚、第二引脚以及第三引脚。可实现封装结构体积小、结构紧凑、集成度高的需求。
  • mcm封装结构及其制作方法
  • [发明专利]测试针组件及半导体测试装置-CN202111069260.0在审
  • 柳继营;戚双斌;赵丹 - 无锡华润安盛科技有限公司
  • 2021-09-13 - 2023-03-14 - G01R1/073
  • 本申请提供一种测试针组件及半导体测试装置。测试针组件包括连接端体、自连接端体延伸出的第一测试针和第二测试针,第一测试针和第二测试针中的一个作为测试针组件的发射端另一个作为测试针组件的接收端,第二测试针的至少部分向远离第一测试针的一侧延伸形成第一延伸段,第一延伸段的侧壁形成第一接触部,第一测试针靠近第二测试针一侧的侧壁形成第二接触部。上述测试针组件,在测试针的侧壁形成接触部,在对半导体产品进行测试时,半导体产品的连接键(比如引脚)与第一次测试针和第二测试针的侧壁接触连接,使得测试针组件与半导体产品的接触更加稳定,提高测试的稳定性,并且能够避免测试针的端部对半导体产品的连接键造成刮伤等不利影响。
  • 测试组件半导体装置
  • [发明专利]半导体封装结构的去边方法及装置-CN202110692226.2在审
  • 方欣 - 无锡华润安盛科技有限公司
  • 2021-06-22 - 2022-12-23 - H01L21/48
  • 本申请提供一种半导体封装结构的去边方法及装置。本申请中,半导体封装结构的去边方法,应用于半导体切割机,半导体封装结构包括框架与芯片,框架包括边框与基岛,边框环绕所述基岛,基岛与边框连接,芯片位于基岛上;所述方法,包括:采集半导体封装结构的图像,得到第一待识别图像;对第一待识别图像进行识别,确定半导体封装结构属于去边产品;根据去边产品对应的目标切割工序对边框执行切割操作,以去除边框。本申请实施例中,通过半导体切割机可自动实现对去边产品的边框执行切割操作,以去除边框,减少人工参与,提高了去边效率。
  • 半导体封装结构方法装置
  • [实用新型]编带封装装置-CN202221588431.0有效
  • 郭仕勇;柳继营;赵丹 - 无锡华润安盛科技有限公司
  • 2022-06-23 - 2022-11-29 - B65B15/04
  • 本实用新型提供了一种编带封装装置,包括基座,基座具有用于编带穿过的通道,在编带的宽度方向上,通道具有两个通道侧壁,两个通道侧壁中的一个通道侧壁上具有限位端;其中,限位端沿编带的宽度方向可伸缩地设置,以使限位端始终与编带的宽度方向的一侧边缘抵接,同时,编带的宽度方向的另一侧边缘始终与两个通道侧壁中没有限位端的通道侧壁抵接,以约束编带在其宽度方向上的运动。本实用新型解决了现有技术中因垫块与载带之间的抵顶容易出现过松或者过紧的状态,导致封合时出现压痕粗细不均匀,设置双重压痕的现象发生的问题。
  • 封装装置
  • [发明专利]封装装置和芯片的封装方法-CN201910149340.3有效
  • 邵向廉 - 无锡华润安盛科技有限公司
  • 2019-02-28 - 2022-08-26 - H01L23/495
  • 本发明公开了一种封装装置和芯片的封装方法。所述封装装置包括基板和金属连接件,所述基板设置有用于承载所述芯片的多个基岛和用于连接所述芯片的功能区的引脚,至少一所述基岛上设有向上凸起的多个突出部,所述突出部用于贴合所述芯片的功能区,所述金属连接件配置为贴合所述芯片和所述引脚,所述突出部和所述金属连接件将所述芯片与所述引脚连通。通过设置具有多个突出部的基岛,使得用户可根据不同形状的芯片选用对应的范围内的突出部,将芯片的两个表面分别贴合于金属连接件和对应的范围内的突出部,以使芯片的功能区和基板上的引脚的连通。
  • 封装装置芯片方法
  • [发明专利]一种引线框架结构及半导体器件-CN202110077818.3在审
  • 陈莉;潘效飞;龚平 - 无锡华润安盛科技有限公司
  • 2021-01-20 - 2022-08-05 - H01L23/495
  • 本申请提供一种引线框架结构及半导体器件。所述引线框架结构包括基部,设于所述基部相对两侧并自所述基部相对两侧边向上延伸的第一柔性连接部和第二柔性连接部,以及连接于所述第一柔性连接部远离所述基部一端的第一引脚和连接于所述第二柔性连接部远离所述基部一端的第二引脚,所述第一柔性连接部和第二柔性连接部沿所述引线框架结构的高度方向可伸缩。本申请提供的上述引线框架结构及半导体器件,其第一柔性连接部和第二柔性连接部沿所述引线框架的高度方向可伸缩,使得引线框架结构的第一引脚和第二引脚相对基部的高度可灵活调节,便于后续塑封,可以有效避免塑封时塑封料的溢出,提高半导体器件的外观及良率。
  • 一种引线框架结构半导体器件
  • [发明专利]一种芯片封装结构及芯片封装方法-CN201910172569.9有效
  • 谢雷 - 无锡华润安盛科技有限公司
  • 2019-03-07 - 2022-07-01 - H01L21/50
  • 本发明提供了一种芯片封装结构及芯片封装方法,利用一个绝缘支撑体承载多个铜互连线形成铜夹组件,通过将铜夹组件对合于芯片的正面,可使多个铜互连线的两端同时实现焊盘与对应引脚的对位;之后通过一次键合工艺,可实现各个铜互连线、对位的焊盘与引脚的电连接。好处在于:相对于现有传统工艺在芯片正面的焊盘与引线框架的引脚之间多次引线键合的方案,可提高封装效率。此外,铜互连线的最高处大致与芯片上表面齐平,封装结构的整体厚度小。
  • 一种芯片封装结构方法
  • [发明专利]半导体封装结构及其制备方法-CN202011519701.8在审
  • 张小东;潘效飞;龚平 - 无锡华润安盛科技有限公司
  • 2020-12-21 - 2022-06-21 - H01L25/18
  • 本申请提供一种半导体封装结构及其制备方法。本申请中,半导体封装结构包括基板、第一电子元件、载体支架、第二电子元件、第一键合引线与塑封层,基板包括导电层;第一电子元件位于导电层上;载体支架位于基板上方,载体支架包括第一基岛与第一导电引线,第一基岛位于第一电子元件远离基板的一侧,第一基岛与第一电子元件之间的距离大于零,第一导电引线分别与第一基岛、导电层连接;第二电子元件位于第一基岛上;第二电子元件在工作时的发热量小于第一电子元件在工作时的发热量;塑封层包裹住基板、第一电子元件、载体支架与第二电子元件,第一导电引线从塑封层中露出。本申请实施例中,可以减小半导体封装结构的体积。
  • 半导体封装结构及其制备方法

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