专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]运载火箭电爆电路的检测系统-CN201410116094.9有效
  • 吕振彬;朱飞翔;顾剑峰 - 上海航天电子通讯设备研究所
  • 2014-03-26 - 2014-05-28 - G01R31/28
  • 一种运载火箭电爆电路的检测系统,其包括前端测试设备与后端测试设备;所述前端测试设备包括仪器舱电路测试组合、一级电爆电路测试组合、二级电爆电路测试组合、三级电爆电路测试组合,各测试组合分别与待检测火箭连接,接收并存储所述待检测火箭发送的电爆电路信号;所述设备包括后端测试设备与前端测试设备,后端测试设备包括电爆电路监测计算机,所述前端测试设备包括仪器舱电路测试组合、一级电爆电路测试组合、二级电爆电路测试组合、三级电爆电路测试组合将接收到的电爆电路信号进行存储,并通过网络发送给所述电爆电路监测计算机进行检测。本发明采用分布式测试技术的运载火箭电爆电路监测系统具备快速、机动、灵活等优点,实现了运载火箭的快速、机动测试发射。
  • 运载火箭电路检测系统
  • [发明专利]内建自测试方法、装置及片上系统-CN201510062392.9有效
  • 冯燕;陈岚 - 中国科学院微电子研究所
  • 2015-02-06 - 2019-03-15 - G01R31/316
  • 本发明实施例公开了一种内建自测试装置,包括与模拟/混合信号电路相连接的测试控制电路;与所述测试控制电路相连接的测试图形生成电路测试响应分析电路;与所述测试响应分析电路相连接的存储器;所述测试图形生成电路和所述测试响应分析电路还分别与所述模拟/混合信号电路相连接;其中,所述测试响应分析电路包括故障检测模块和参数计算模块;所述测试控制电路用于在监测到测试模式信号时,指示所述测试图形生成电路生成与所述测试模式相对应的测试图形,并指示所述测试响应分析电路切换至与所述测试模式相对应的工作模式可以实现对模拟/混合信号电路的多方式测试。本申请实施例还提供一种内建自测试方法及片上系统。
  • 测试方法装置系统
  • [发明专利]一种PCI-E测试-CN202010714169.9有效
  • 韩雪涛;范文水;闫庆烁 - 深圳市微特精密科技股份有限公司
  • 2020-07-23 - 2021-05-25 - G01R31/52
  • 本发明涉及电子测试技术领域,尤其涉及一种PCI‑E测试卡,包括微处理器、电源接口电路、开短路测试电路、电阻测试电路、电压测试电路、IO扩展电路、RS485通讯电路、USART通讯电路、Micro‑USB接口电路、PCI‑E接口电路、JTAG接口电路、拨码开关;本发明不仅能够同时对主板、显卡等进行开短路测试、电阻测试、电压测试,还能对主板、显卡等进行通讯功能测试测试种类齐全,能够同时测试多种数据,操作简单、测试效率高,适用范围广,实用性强。
  • 一种pci测试
  • [实用新型]一种全自动电解电容测试设备-CN201521074035.6有效
  • 朱健雄 - 朱健雄
  • 2015-12-18 - 2016-06-08 - G01R31/00
  • 本实用新型提供了一种全自动电解电容测试设备,包括设备壳体和设置在壳体内的测试电路,所述测试电路包括依次连接的电容进料及极性对应电路、残余电压释放电路、容量损耗判定电路、未充电和反极测试电路、分流充电电路、漏电测试电路,其特征在于:在所述未充电和反极测试电路之后还依次连接有过电流冲击测试电路、过电压判定测试电路和保压测试电路,所述保压测试电路连接所述分流充电电路
  • 一种全自动电解电容测试设备
  • [发明专利]一种模拟芯片测试电路及系统-CN202010216807.4在审
  • 张悦 - 合肥悦芯半导体科技有限公司
  • 2020-03-25 - 2020-07-10 - G01R31/28
  • 本申请提供一种模拟芯片测试电路及系统,用于模拟芯片的测试。其中,测试电路包括:通讯电路测试控制电路、模拟输出电路和模拟输入电路,通讯电路测试控制电路连接,测试控制电路分别与模拟输出电路和模拟输入电路连接;通讯电路用于接收源自服务器的控制信号,并将控制信号发送到测试控制电路测试控制电路用于基于控制信号生成相应的电平信号,并输出至模拟输出电路,模拟输出电路用于将电平信号转换为模拟信号后输出;模拟输入电路用于接收源自待测模拟芯片输出的待测模拟信号,并将待测模拟信号转换为数字信号后输出至测试控制电路测试控制电路用于基于数字信号对待测模拟芯片进行测试,并将测试结果通过通讯电路发送给服务器。
  • 一种模拟芯片测试电路系统
  • [发明专利]一种测试电路板的方法及装置-CN202310144688.X在审
  • 姚世杰;张旭;董翠霞;黄君龙;李旗;齐敏;徐先柱;郄永学 - 北京广利核系统工程有限公司
  • 2023-02-07 - 2023-05-05 - G01R31/317
  • 本申请提供了一种测试电路板的方法及装置,涉及仪器控制技术领域。测试设备首先响应于对电路板进行测试的请求,控制上位机中的测试软件进入电路测试配置界面;然后测试设备响应于运维人员基于电路测试配置界面设置的测试参数,通过目标电路板对应的测试系统上预置的测试接口,向目标电路板输入测试信号;再根据测试参数及输入的测试信号,利用下位机对目标电路板进行测试;最后展示基于测试信号得到的测试结果。这样,利用上位机向目标电路板对应的测试系统上预置的测试接口输入测试信号,并利用下位机完成对电路板的测试,不需要将电路板进行拆卸以进行测试,进而避免了电路板多次插拔可能会对电路板和机柜接口造成不可逆的损伤的问题
  • 一种测试电路板方法装置
  • [发明专利]高速测试电路与方法-CN201210051692.3有效
  • 丁达刚;王智彬;王明弘;吴俊鹏;田立勤 - 补丁科技股份有限公司
  • 2012-03-01 - 2013-03-13 - G01R31/28
  • 本发明提出一种高速测试电路与方法。该高速测试电路接收自一测试仪而来的测试仪频率,并对一待测电路进行测试,此高速测试电路包含:一倍频电路,其接收自该测试仪频率,产生N倍频率的频率输出,其中N为正实数;一测试频率产生器,其根据倍频电路的输出及测试仪频率,产生一测试频率,此测试频率在低频与高频之间切换;一测试讯号产生器,其根据该测试频率而操作,此测试讯号产生器产生测试讯号,以供传送给待测电路;以及一比较电路,其根据待测电路测试讯号的响应讯号,产生比对结果,其中,此高速测试电路在高频测试频率下对待测电路进行高速测试,而在低频测试频率下执行低速动作。
  • 高速测试电路方法

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