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- [发明专利]测试装置及其产品测试方法-CN201310532603.1在审
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林淳智
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纬创资通股份有限公司
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2013-10-31
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2015-04-29
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G01D21/00
- 本发明涉及一种测试装置及其产品测试方法。所述方法包括下列步骤:首先,接收测试开始指令;接着,反应于测试开始指令而对至少一待测产品分别进行第一测试程序,以测试至少一待测产品的多个第一待测项目,当至少一待测产品对应的第一测试程序以及至少一待测产品各别的手动测试程序皆完成时,回报至少一待测产品的测试结果,其中至少一待测产品各别的手动测试程序用以测试至少一待测产品的多个第二待测项目。本发明通过该方法,可以让产品测试流程中的自动测试以及手动测试实质上同时开始,进而达到节省测试时间的功效。
- 测试装置及其产品方法
- [发明专利]显示面板的测试电路、方法及显示面板-CN202010067307.9有效
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白国晓
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云谷(固安)科技有限公司
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2020-01-20
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2021-03-23
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G09G3/00
- 本申请提供了一种显示面板的测试电路、方法及显示面板,涉及显示技术领域。该显示面板的测试电路,包括:面板测试子电路,用于根据接收的多个面板测试控制信号,控制面板测试开关单元导通或关断,传输多个面板测试信号;阵列测试子电路,用于根据接收的多个阵列测试控制信号,控制阵列测试开关单元导通或关断,根据传输的多个面板测试信号,通过测试端输出短路判断信号,短路判断信号用于判断显示面板内是否存在发生短路的数据线;在一个测试子周期内,至少一组阵列测试开关单元导通,在至少一组阵列测试开关导通的情况下,与显示面板中不同种类子像素对应的面板测试信号轮替变更为生效电平
- 显示面板测试电路方法
- [发明专利]数字半导体器件的测试装置及方法-CN201010606331.1有效
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朱渊源;辛吉升
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上海华虹NEC电子有限公司
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2010-12-27
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2012-07-04
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G01R31/3177
- 本发明公开了一种数字半导体器件的测试装置及方法,测试装置包括时序发生器模块、算法向量发生器模块、可编程数据选择器模块和测试模组,测试模组包括逻辑测试模块,波形格式控制器模块,管脚电路模块和数字比较模块,逻辑测试模块接收主时钟信号和第一测试向量,同时向波形格式控制器模块发送第二测试向量,在测试开始之前,将第一测试向量传输到所述逻辑测试模块中并存储,测试开始时,逻辑测试模块挑选存储的第一测试向量,组成第二测试向量本发明对现有存储器测试仪功能进行了强化,使其不仅具备原有强大的存储器测试功能,并且兼具复杂逻辑器件测试的能力,同时极高的同测能力也是现有的逻辑测试仪所无法企及的,有效地降低了测试成本,节省了测试时间。
- 数字半导体器件测试装置方法
- [实用新型]测试装置-CN202020533765.2有效
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黄菊莲;牟云飞;吴海平;张少波;闫欣;刘伟锋
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西安西谷微电子有限责任公司
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2020-04-13
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2020-11-20
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G01D18/00
- 本实用新型公开了一种测试装置,涉及电器件参数的测试技术领域,为解决现有技术中,测试装置存在的设备及人力成本高的技术问题,本实用新型的技术方案如下:包括测试控制器、提示装置、ATE测试机及测试开发板;所述测试控制器的输出端与提示装置的输入端连接,输入/输出端与ATE测试机的输入端连接,所述ATE测试机的输入端与测试开发板的输出端连接,所述测试开发板的测试端与待测器件连接,并向所述待测器件发送测试信号,所述ATE测试机通过测试开发板再接收待测器件的反馈信号,并将反馈信号发送至测试控制器,所述测试控制器根据预设信号值判断反馈信号是否符合,并驱动所述提示装置发出当前测试结果。
- 测试装置
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