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- [发明专利]一种用于MCU内置的低速振荡器-CN202310783087.3在审
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孙洋
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无锡矽杰微电子有限公司
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2023-06-28
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2023-09-19
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H03B5/06
- 本发明涉及振荡器技术领域,公开了一种用于MCU内置的低速振荡器,包括时钟信号产生单元、频率测试单元、频率校准单元和输出单元;时钟信号产生单元分别向频率测试单元和输出单元输入时钟信号;频率测试单元基于输入的第二时钟信号对时钟信号进行测试,并向频率校准单元输入测试结果;频率校准单元基于测试结果调整时钟信号产生单元输出的时钟信号的频率大小,并在测试结果符合要求时向所述输出单元发送校准完成信号;输出单元接收到所述校准完成信号后输出时钟信号;在使用时,本发明通过频率测试单元和频率校准单元进行测试和校准,以此调整时钟信号产生单元输出的时钟信号的频率,从而可以确保本发明最终输出的时钟信号的精度。
- 一种用于mcu内置低速振荡器
- [发明专利]用于测试半导体存储器件的装置和方法-CN200410057582.3无效
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赵诚范
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三星电子株式会社
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2004-08-20
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2005-03-09
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G11C29/00
- 提供了一种用于测试半导体存储器件的装置和方法,其中测试模式信号的频率能够选择性地被改变。所述测试装置包括主测试器、输入频率转换器和输出频率转换器。所述主测试器产生具有第一频率的第一输入测试模式信号、第一编程控制信号、和第二编程控制信号,接收具有第一频率的第一输出测试模式信号,并且检测半导体存储器件的操作性能。所述输入频率转换器响应于第一编程控制信号而将所述第一输入测试模式信号转换成具有第二频率的第二输入测试模式信号,并且将所述第二输入测试模式信号输出至半导体存储器件。所述输出频率转换器响应于第二编程控制信号而将从半导体存储器件接收的、具有第二频率的第二输出测试模式信号转换成所述第一输出测试模式信号,并且输出所述第一输出测试模式信号。所述测试装置和方法可以通过选择性改变测试模式信号的频率来测试具有高操作频率的半导体存储器件。
- 用于测试半导体存储器件装置方法
- [发明专利]测试系统使用的低抖动时钟-CN02806958.7无效
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保罗·达拉里卡;伯奈尔·G·韦斯特
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尼佩泰斯特公司
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2002-03-19
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2004-09-08
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G01R31/319
- 为待测试装置(DUT)产生测试信号,包括:产生主参考信号;根据该主参考信号,用微调技术产生测试模式信号;产生测试时钟信号,通过把该主参考信号作为输入提供给锁相环(PLL),并控制该PLL内的一个或多个程序可控分频器,以调整该测试时钟信号,使之成为测试模式信号频率的倍数或约数,从而使该测试时钟信号与该测试模式信号相位匹配且频率相似;把该测试时钟信号加到DUT的时钟输入引脚;最后,把该测试模式信号加到DUT的数据引脚当测试模式信号频率变化时,可以通过对程序可控分频器改编程序,调整测试时钟信号频率,以校准测试模式信号变化了的频率。
- 测试系统使用抖动时钟
- [发明专利]听诊器频率测试系统-CN201210056144.X有效
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焦亚桂
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温州康诺克医疗器械有限公司
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2012-03-06
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2012-07-25
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A61B7/02
- 本发明属于医疗器械技术领域,涉及一种测试系统,尤其是涉及一种听诊器频率测试系统。它解决了现有技术中不能快速准确地测试听诊器频率的问题。本听诊器频率测试系统,包括标准信号发生器、频率测试仪、信号采样机构和显示装置,所述的标准信号发生器与频率测试仪相连,所述的频率测试仪与信号采样机构相连,所述的信号采样机构上设有标准声音信号输出口和待测声音信号输出口,所述的频率测试仪上设有分别用于接收标准声音信号和待测声音信号的第一输入端口和第二输入端口,所述的显示装置与频率测试仪相连。本发明具有设计合理,结构简单,易于操作,能够方便、快捷、准确地测试听诊器频率等优点。
- 听诊器频率测试系统
- [实用新型]听诊器频率测试系统-CN201220080016.4有效
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焦亚桂
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温州康诺克医疗器械有限公司
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2012-03-06
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2012-12-05
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A61B7/02
- 本实用新型属于医疗器械技术领域,涉及一种测试系统,尤其是涉及一种听诊器频率测试系统。它解决了现有技术中不能快速准确地测试听诊器频率的问题。本听诊器频率测试系统,包括标准信号发生器、频率测试仪、信号采样机构和显示装置,所述的标准信号发生器与频率测试仪相连,所述的频率测试仪与信号采样机构相连,所述的信号采样机构上设有标准声音信号输出口和待测声音信号输出口,所述的频率测试仪上设有分别用于接收标准声音信号和待测声音信号的第一输入端口和第二输入端口,所述的显示装置与频率测试仪相连。本实用新型具有设计合理,结构简单,易于操作,能够方便、快捷、准确地测试听诊器频率等优点。
- 听诊器频率测试系统
- [发明专利]测试装置及测试方法-CN200980131219.2无效
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秋田德则
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爱德万测试株式会社
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2009-08-12
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2011-07-06
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G01R31/28
- 使工作频率不同的多个测试模块通过单一的同步模块所生成的同步信号而同步。提供一种测试装置,包括:同步模块,在以具有基准频率的基准时钟动作的同时,生成指定周期的同步信号;以及测试模块,以基准频率的n倍频率的高频率时钟动作,基于与同步信号同步的测试周期信号测试被测试设备;测试模块具有:对同步信号进行模拟的周期模拟器;移相器,按照模拟的同步信号的相位数据与n的乘积除以基准时钟的周期得到的移相相位(级)数对高频率时钟的相位进行移相;测试周期生成部,生成以移相的高频率时钟的边缘定时转化的测试周期脉冲信号及显示测试周期脉冲信号与测试周期的相位差的测试周期相位数据
- 测试装置方法
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