专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
专利下载VIP
公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
更多 »
专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
更多 »
钻瓜专利网为您找到相关结果2758067个,建议您升级VIP下载更多相关专利
  • [发明专利]一种用于MCU内置的低速振荡器-CN202310783087.3在审
  • 孙洋 - 无锡矽杰微电子有限公司
  • 2023-06-28 - 2023-09-19 - H03B5/06
  • 本发明涉及振荡器技术领域,公开了一种用于MCU内置的低速振荡器,包括时钟信号产生单元、频率测试单元、频率校准单元和输出单元;时钟信号产生单元分别向频率测试单元和输出单元输入时钟信号频率测试单元基于输入的第二时钟信号对时钟信号进行测试,并向频率校准单元输入测试结果;频率校准单元基于测试结果调整时钟信号产生单元输出的时钟信号频率大小,并在测试结果符合要求时向所述输出单元发送校准完成信号;输出单元接收到所述校准完成信号后输出时钟信号;在使用时,本发明通过频率测试单元和频率校准单元进行测试和校准,以此调整时钟信号产生单元输出的时钟信号频率,从而可以确保本发明最终输出的时钟信号的精度。
  • 一种用于mcu内置低速振荡器
  • [发明专利]用于测试半导体存储器件的装置和方法-CN200410057582.3无效
  • 赵诚范 - 三星电子株式会社
  • 2004-08-20 - 2005-03-09 - G11C29/00
  • 提供了一种用于测试半导体存储器件的装置和方法,其中测试模式信号频率能够选择性地被改变。所述测试装置包括主测试器、输入频率转换器和输出频率转换器。所述主测试器产生具有第一频率的第一输入测试模式信号、第一编程控制信号、和第二编程控制信号,接收具有第一频率的第一输出测试模式信号,并且检测半导体存储器件的操作性能。所述输入频率转换器响应于第一编程控制信号而将所述第一输入测试模式信号转换成具有第二频率的第二输入测试模式信号,并且将所述第二输入测试模式信号输出至半导体存储器件。所述输出频率转换器响应于第二编程控制信号而将从半导体存储器件接收的、具有第二频率的第二输出测试模式信号转换成所述第一输出测试模式信号,并且输出所述第一输出测试模式信号。所述测试装置和方法可以通过选择性改变测试模式信号频率测试具有高操作频率的半导体存储器件。
  • 用于测试半导体存储器件装置方法
  • [发明专利]测试系统使用的低抖动时钟-CN02806958.7无效
  • 保罗·达拉里卡;伯奈尔·G·韦斯特 - 尼佩泰斯特公司
  • 2002-03-19 - 2004-09-08 - G01R31/319
  • 为待测试装置(DUT)产生测试信号,包括:产生主参考信号;根据该主参考信号,用微调技术产生测试模式信号;产生测试时钟信号,通过把该主参考信号作为输入提供给锁相环(PLL),并控制该PLL内的一个或多个程序可控分频器,以调整该测试时钟信号,使之成为测试模式信号频率的倍数或约数,从而使该测试时钟信号与该测试模式信号相位匹配且频率相似;把该测试时钟信号加到DUT的时钟输入引脚;最后,把该测试模式信号加到DUT的数据引脚当测试模式信号频率变化时,可以通过对程序可控分频器改编程序,调整测试时钟信号频率,以校准测试模式信号变化了的频率
  • 测试系统使用抖动时钟
  • [实用新型]用于微波通信装置的测试设备及其测试信号生成电路-CN201621462569.0有效
  • 詹宇昕;刘俊杰 - 华讯方舟科技(湖北)有限公司
  • 2016-12-28 - 2017-08-22 - G01R31/00
  • 本实用新型属于微波产品测试技术领域,公开了一种用于微波通信装置的测试设备及其测试信号生成电路。本实用新型提供的一种测试信号生成电路,内置于一测试设备中,且用于生成测试信号,其包括稳压单元、电压信号切换单元、频率信号生成单元以及测试信号输出单元;稳压单元对直流电源的输出直流电进行稳压处理后输出至电压信号切换单元,以使得电压信号切换单元向测试信号输出单元输出电压信号频率信号生成单元根据工作电压生成频率信号,并将频率信号输出至测试信号输出单元,测试信号输出单元根据电压信号频率信号输出测试信号,降低了实现对微波产品进行特性测试的成本,且使得测试信号的生成过程变得更简单。
  • 用于微波通信装置测试设备及其信号生成电路
  • [发明专利]测试电路、测试系统和测试方法-CN202111246405.X在审
  • 陈晶晶;曾雪松;李若园 - 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
  • 2021-10-26 - 2023-04-28 - G01R31/28
  • 一种测试电路、测试系统和测试方法,所述测试电路包括:测试频率产生单元,适于在相应的控制信号的控制下,生成具有相应测试频率测试时钟信号;分频处理单元,适于将待测动态D触发器和静态D触发器在所述测试时钟信号的控制下的数据输出频率进行分频处理,得到对应的测试数据输出频率和参考数据输出频率测试机台,适于将所述测试数据输出频率和所述参考数据输出频率进行比较;当确定所述测试数据输出频率和所述参考数据输出频率一致时,生成相应的控制信号并发送至所述测试频率产生单元,直至所述测试数据输出频率和所述参考数据输出频率不一致时,获取对应的测试结果。上述的方案,可以实现动态D触发器的在线自动化测试,提高测试效率。
  • 测试电路系统方法
  • [发明专利]一种终端AFC的测试方法和终端测试设备-CN200910080385.6有效
  • 金磊 - 中国移动通信集团公司;北京星河亮点通信软件有限责任公司
  • 2009-03-20 - 2010-09-22 - H04W24/00
  • 本发明公开了一种终端测试设备及利用该终端测试设备测试终端AFC的方法,该终端测试设备,包括:AFC测试控制模块,用于配置下行信号频率信息,以使下行信号频率随时间偏移;信号收发处理模块,用于根据配置的下行信号频率信息对下行信号进行频率偏移处理并发送给被测终端,以及接收所述被测终端发送的上行信号;AFC测试结果输出模块,用于根据配置的下行信号频率和接收到的上行信号频率,输出所述下行信号频率的曲线和所述被测终端AFC的曲线,以及两曲线的同步关系。采用本发明,可使测试结果能准确反映终端的AFC能力,并且提高测试的公平性和客观性。
  • 一种终端afc测试方法设备
  • [发明专利]听诊器频率测试系统-CN201210056144.X有效
  • 焦亚桂 - 温州康诺克医疗器械有限公司
  • 2012-03-06 - 2012-07-25 - A61B7/02
  • 本发明属于医疗器械技术领域,涉及一种测试系统,尤其是涉及一种听诊器频率测试系统。它解决了现有技术中不能快速准确地测试听诊器频率的问题。本听诊器频率测试系统,包括标准信号发生器、频率测试仪、信号采样机构和显示装置,所述的标准信号发生器与频率测试仪相连,所述的频率测试仪与信号采样机构相连,所述的信号采样机构上设有标准声音信号输出口和待测声音信号输出口,所述的频率测试仪上设有分别用于接收标准声音信号和待测声音信号的第一输入端口和第二输入端口,所述的显示装置与频率测试仪相连。本发明具有设计合理,结构简单,易于操作,能够方便、快捷、准确地测试听诊器频率等优点。
  • 听诊器频率测试系统
  • [实用新型]听诊器频率测试系统-CN201220080016.4有效
  • 焦亚桂 - 温州康诺克医疗器械有限公司
  • 2012-03-06 - 2012-12-05 - A61B7/02
  • 本实用新型属于医疗器械技术领域,涉及一种测试系统,尤其是涉及一种听诊器频率测试系统。它解决了现有技术中不能快速准确地测试听诊器频率的问题。本听诊器频率测试系统,包括标准信号发生器、频率测试仪、信号采样机构和显示装置,所述的标准信号发生器与频率测试仪相连,所述的频率测试仪与信号采样机构相连,所述的信号采样机构上设有标准声音信号输出口和待测声音信号输出口,所述的频率测试仪上设有分别用于接收标准声音信号和待测声音信号的第一输入端口和第二输入端口,所述的显示装置与频率测试仪相连。本实用新型具有设计合理,结构简单,易于操作,能够方便、快捷、准确地测试听诊器频率等优点。
  • 听诊器频率测试系统
  • [发明专利]测试装置及测试方法-CN200980131219.2无效
  • 秋田德则 - 爱德万测试株式会社
  • 2009-08-12 - 2011-07-06 - G01R31/28
  • 使工作频率不同的多个测试模块通过单一的同步模块所生成的同步信号而同步。提供一种测试装置,包括:同步模块,在以具有基准频率的基准时钟动作的同时,生成指定周期的同步信号;以及测试模块,以基准频率的n倍频率的高频率时钟动作,基于与同步信号同步的测试周期信号测试测试设备;测试模块具有:对同步信号进行模拟的周期模拟器;移相器,按照模拟的同步信号的相位数据与n的乘积除以基准时钟的周期得到的移相相位(级)数对高频率时钟的相位进行移相;测试周期生成部,生成以移相的高频率时钟的边缘定时转化的测试周期脉冲信号及显示测试周期脉冲信号测试周期的相位差的测试周期相位数据
  • 测试装置方法

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top