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专利名称
农业 化学；冶金 建筑 机械工程 区域搜索
主分类
A 农业
B 作业；运输
C 化学；冶金
D 纺织；造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]信号测试电路及信号测试系统-CN202210489748.7在审
  • 常林;林巧珊;曹文;梁迪 - 深圳国实检测技术有限公司
  • 2022-05-07 - 2022-08-09 - G01R31/00
  • 本发明公开了一种信号测试电路及信号测试系统。其中，信号测试电路包括第一接口、第二接口、第一连接器、第二连接器、信号切换模块、开关模块。开关模块生成切换信号，以控制信号切换模块切换第一接口与第二接口连接，或第一接口分别与第一连接器和第二连接器连接。主机生成状态控制信号，当信号切换模块切换第一接口与第二接口接通时，待测设备接收状态控制信号并生成测试信号；当信号切换模块切换第一接口与第一连接器和第二连接器接通时，示波器接收测试信号并对测试信号进行测试操作本发明实施例的信号测试电路简化了信号质量测试的操作流程，同时也便于对待测设备进行操控。
  • 信号测试电路系统
  • [发明专利]信号测试方法及信号测试系统-CN201911254460.6有效
  • 谭华;吴飞;龙腾;林克;黄粤;杨少龙 - 中国电信股份有限公司
  • 2019-12-09 - 2023-03-24 - H04L43/50
  • 本公开提供了一种信号测试方法及信号测试系统，涉及物联网测试领域。其中的信号测试方法包括：手机终端通过信号测试仪的USB接口转串口模块，向信号测试仪的通信模块供电；手机终端上的信号测试客户端通过信号测试仪的USB接口转串口模块，向信号测试仪的通信模块的串口发送信号质量测试指令；信号测试仪的通信模块对当前位置的基站信号质量进行测试；信号测试仪的通信模块通过USB接口转串口模块，向手机终端上的信号测试客户端发送信号质量测试结果。本公开提供了低成本且操作便捷的信号测试方法及信号测试工具。
  • 信号测试方法系统
  • [实用新型]信号测试电路和信号测试系统-CN202221193956.4有效
  • 刘猛;高大斌;雷琴辉;刘俊峰 - 科大讯飞股份有限公司
  • 2022-05-11 - 2023-01-13 - G01R31/28
  • 本申请公开了信号测试电路和信号测试系统。信号测试电路包括采集卡和两个信号调理电路。采集卡设有两个输入接口。两个信号调理电路一一对应连接两个输出接口。其中一个信号调理电路用于接收源信号，并将源信号经过调理后通过相应的输入接口输入至采集卡。另一个信号调理电路用于接收待测试设备同步对源信号进行处理所生成的输出信号，并将输出信号经过调理后通过相应的输入接口输入至采集卡。通过上述方式，本申请可以提高信号测试的精确度。
  • 信号测试电路系统
  • [发明专利]信号测试装置及信号测试方法-CN202110158518.8在审
  • 陈雷 - 苏州源控电子科技有限公司
  • 2021-02-04 - 2021-06-04 - G06F11/22
  • 本发明公开了一种信号测试装置及信号测试方法中，串口连接端用于连接待测串行通讯端COM口；处理器用于监测所述串口连接端中各个引脚的信号状态，基于所述信号状态确定所述待测COM口对应的通信协议，测量对应通信协议下所述待测COM口的信号质量参数。在本实施例中，处理器通过串口连接端引脚的信号状态来确定待测COM口的通信协议，并测量该通信协议下的信号质量，实现了一种设备测试多种通信协议下的信号质量，避免准备多种测试治具，且操作简单。
  • 信号测试装置方法
  • [发明专利]芯片测试系统及芯片测试方法-CN201310574106.8有效
  • 张大成;施瑾;刘远华;顾春华;郝丹丹 - 上海华岭集成电路技术股份有限公司
  • 2013-11-15 - 2014-02-12 - G01R31/28
  • 本发明提供了一种芯片测试系统及芯片测试方法，其中，所述芯片测试系统包括：测试机、晶振及信号分析系统，所述测试机及晶振均与所述信号分析系统连接；所述测试机用以提供测试信号；所述晶振用以提供时钟信号；所述信号分析系统用以获取测试机输出测试信号的信号输出时间；其中，所述测试机根据信号输出时间输出测试信号。在此，通过信号分析系统获取测试机输出测试信号的信号输出时间，测试机据此输出测试信号，由此测试机便能够选择输出测试信号的时刻，进而实现与时钟信号同步，从而得到可靠/准确的芯片测试结果。
  • 芯片测试系统方法
  • [发明专利]连接器的测试治具、测试方法、装置及存储介质-CN202210478178.1在审
  • 侯绍铮;胡远明;秦晓宁;昝孟恩;宋学丹 - 宁畅信息产业（北京）有限公司
  • 2022-05-05 - 2022-07-29 - G06F11/22
  • 本申请提供一种连接器的测试治具、测试方法、装置及存储介质，涉及信号测试领域，测试治具包括信号传输模块和连接模块，信号传输模块包括多个传输通道，信号传输模块用于获取连接器的测试信号，基于测试信号的带宽从多个传输通道中选择目标通道，并通过目标通道将测试信号传输至连接模块；连接模块用于接收测试信号，并将测试信号发送至测试设备，以使测试设备通过连接模块采集并分析测试信号，得到测试结果。采用本申请提供的测试治具将连接器的测试信号引出至测试治具，再由测试设备从测试治具中采集测试信号进行测试，能够解决目前无法对非标准PCIe连接器的PCIe高速信号进行测试的问题。
  • 连接器测试方法装置存储介质
  • [发明专利]一种硬件在环测试方法及系统-CN201410548469.9在审
  • 荀野 - 北汽福田汽车股份有限公司
  • 2014-10-16 - 2015-08-19 - G05B23/02
  • 本发明提供一种硬件在环测试方法及系统，首先获取若干测试信号，并为至少一个测试信号设置开关；然后检测所有测试信号，并判断设置开关的所述测试信号是否出现异常，出现异常时关闭该测试信号，截断该异常信号，并对该测试信号重新赋值，继续进行测试。该方案中为每个测试信号配置开关，在测试过程中，如果某个测试信号异常时，则关闭该测试信号，截断异常信号并重新赋予合适的值，进行测试。这样，就避免了现有技术中，需要解决该异常信号后，重新进行下载测试的问题，通过手动赋值的方式，暂时关闭该异常信号对测试的影响，对其他的信号进行测试，该异常信号可后续测试，提高了测试的整体效率。
  • 一种硬件测试方法系统
  • [发明专利]一种带宽可调信号测试治具-CN202010412675.2有效
  • 刘安阳 - 广东浪潮大数据研究有限公司
  • 2020-05-15 - 2023-08-25 - G06F11/267
  • 本发明公开一种带宽可调信号测试治具，包括测试壳体、设置于所述测试壳体上并用于与测试板卡信号连接的测试接口，设置于所述测试壳体上并用于与测试终端信号连接的测试线缆，以及设置于所述测试壳体内、用于调节所述测试线缆的许用带宽的带宽调节模块如此，通过测试接口采集测试板卡的信号，再通过测试线缆将采集到的信号发送给测试终端进行信号测试，中途利用带宽调节模块根据采集到的测试板卡的信号速率调节测试线缆的许用带宽，使得测试线缆的信号传输速率与测试板卡的信号速率匹配，从而在对不同的测试板卡进行信号测试时，可以根据不同的信号速率调节测试线缆的许用带宽，提高信号测试治具对于不同速率信号的适应性，提高测试结果精确性。
  • 一种带宽可调信号测试
  • [实用新型]多功能测试板-CN202223303630.5有效
  • 陈佳荣;陈五四 - 深圳宝龙达信息技术股份有限公司
  • 2022-12-08 - 2023-06-06 - G06F11/22
  • 本实用新型提出一种多功能测试板，该多功能测试板包括：信号采集模块、信号转换模块和测试接口模块；其中，信号采集模块分别与测试主机以及信号转换模块连接，测试接口模块分别与信号转换模块以及待测试设备连接；信号采集模块，用于接收测试主机输出的初始PCIE信号，并将初始PCIE信号发送至信号转换模块；信号转换模块，用于将初始PCIE信号转换为测试接口模块对应的设备测试信号，并将设备测试信号通过测试接口模块输出至待测试设备对待测试设备进行测试本实用新型提供了一种多功能测试板，使得待测试设备的测试过程可以脱离测试主机，避免主机进行设备测试时引起的主机插槽磨损，延长测试主机的使用寿命。
  • 多功能测试
  • [发明专利]一种芯片测试电路、装置及系统-CN202011613846.4在审
  • 顾培东;王波 - 上海捷策创电子科技有限公司
  • 2020-12-30 - 2021-05-04 - G01R31/28
  • 本发明公开了一种芯片测试电路、装置及系统。该芯片测试电路包括：高频信号测试模块，高频信号测试模块与芯片组成回路；第一低频信号测试模块、第二低频信号测试模块、第三低频信号测试模块和第四低频信号测试模块分别与芯片和低频信号测试器件电连接，第一低频信号测试模块、第二低频信号测试模块、第三低频信号测试模块和第四低频信号测试模块的电路结构相同，均包括电阻或者锥形电感。本发明实施例提供的技术方案，在同时传输高频测试信号和低频测试信号的基础上，提高了芯片测试电路可以传输的高频测试信号的频率。
  • 一种芯片测试电路装置系统
  • [发明专利]芯片测试分析电路及芯片-CN202310613715.3在审
  • 张学海 - 广州全盛威信息技术有限公司;北京奕斯伟计算技术股份有限公司
  • 2023-05-26 - 2023-08-18 - G01R31/28
  • 本公开提供一种芯片测试分析电路，包括：地址译码电路，用于产生第一测试选择信号，以及用于产生第二测试选择信号；输出测试电路，用于根据第一测试选择信号，从多个待输出测试信号中选择对应的待输出测试信号，将选择的待输出测试信号输出至测试节点进行输出信号测试分析；输入测试电路，用于根据第二测试选择信号，从多个输入测试通道中选择与第二测试选择信号对应的输入测试通道，以通过选择的输入测试通道将待输入测试信号输入至待测试芯片内部相应的电路进行内部电路测试分析；测试方向选择电路，用于产生测试方式选择信号，测试方式选择信号用于控制输出测试电路与测试节点之间连通或断开，以及控制输入测试电路与测试节点之间断开或连通。
  • 芯片测试分析电路
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