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- [发明专利]一种平行度测量装置-CN202211415632.5在审
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吴子祺;周云鹏
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武汉新芯集成电路制造有限公司
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2022-11-11
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2023-03-28
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G01B11/27
- 本申请提供一种平行度测量装置，包括：光源组件、光路组件以及成像组件；其中，光路组件连接光源组件，以接收光源组件发出的初始光信号，并对初始光信号进行处理，产生分别出射到至少两个待测对象的至少两束光出射信号；以及接收至少两个待测对象基于光出射信号而分别产生的光反射信号，并对光反射信号分别进行处理，产生对应的至少两束光反馈信号；成像组件连接光路组件，以接收至少两束光反馈信号，并基于至少两束光反馈信号进行成像；其中，所成的图像包含有对应至少两束光反馈信号中的标识信息的标识信息图像，以用来表征至少两个待测对象的平行度。从而使得该装置能够实时检测待测对象的平行度，提高待测对象的键合效果。
- 一种平行测量装置
- [发明专利]一种多点光发射测距装置及方法-CN202210256169.8有效
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宋小亮;李杨
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成都量芯集成科技有限公司
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2022-03-16
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2022-06-14
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G01S17/08
- 本发明涉及光电测距领域，公开一种多点光发射测距装置及方法。一种多点光发射测距装置包括：三个及以上光发射通道、光信号接收通道、信号开关矩阵、信号发生器、处理单元。信号发生器在处理单元的控制下产生调制信号，并通过信号开关矩阵连接到指定的光发射通道，投射到被测面，接收透镜将被测面反射的光汇聚于光接收管，再通过信号调理电路送给处理单元计算，得出被测面的距离信息。本发明还公开一种多点光发射测距方法，多个光发射管围绕光接收管呈几何关系排布，且多个光发射管的投射方向呈一定角度，该角度固定或可调。多个光发射管在被测面形成不重叠的投射点，一次测量过程中，不用调整测距设备投射方向和位置即可获取被测面的位置信息。
- 一种多点发射测距装置方法
- [发明专利]检测光学模组光瞳漂移的方法-CN202210187419.7在审
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孙琦
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歌尔光学科技有限公司
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2022-02-28
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2022-07-01
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G01M11/02
- 本申请实施例公开了一种检测光学模组光瞳漂移的方法，其包括待测光学模组，相机模组及控制器；待测光学模组包括显示屏和镜片，显示屏上的目标光点经镜片透射后出射；相机模组设置于待测光学模组的出射光瞳位置的一侧，相机模组在第一位置拍摄目标光点的第一图像并获取第一图像位置信息，在第二位置拍摄目标光点的第二图像并获取第二图像位置信息及在第三位置拍摄目标光点的第三图像并获取第三图像位置信息；控制器用于获取第一图像位置信息与第二图像位置信息之间的第一位置差值及第二图像位置信息与第三图像位置信息之间的第二位置差值，根据第一位置差值和第二位置差值确定第一评价参数，第一评价参数用于表征待测光学模组的光瞳漂移性能。
- 检测光学模组漂移方法
- [发明专利]检测设备及检测方法-CN202110327411.1在审
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陈鲁;白园园;马砚忠;张嵩
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深圳中科飞测科技股份有限公司
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2021-03-26
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2021-10-19
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G01N21/17
- 本发明提供一种检测设备及检测方法，其中，检测设备包括：合光元件，用于使所述泵浦光和第二检测光在到达待测物之前具有公共路径，经过所述公共路径的光束为组合光，所述组合光中心轴线的入射角为锐角；位置探测器，用于探测所述第一光束，并根据所述第一光束在位置探测器感光面形成的光斑位置确定所述待测物表面的高度；探测组件，用于探测所述第二光束，并根据所述第二光束的光强检测所述待测物的结构信息。所述检测设备能够通过组合光倾斜入射至待测物表面并结合位置探测器能够实现待测物表面高度的检测，并利用探测组件实现待测物结构信息的检测；同时第二检测光和泵浦光具有公共路径能够简化光路，提高集成度。
- 检测设备方法
- [发明专利]一种检测辊轴及安装有该检测辊轴的光学膜成型机-CN202010280587.1在审
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李小禹
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温州科镭激光科技有限公司
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2020-04-10
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2020-07-14
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B29C59/00
- 一种检测辊轴，包括辊轴本体和测光装置，所述辊轴本体设有开口腔，所述开口腔内安装测光装置，所述测光装置连接外部的控制主机，所述测光装置用于检测接收光信号并将信号信息传输至外部的控制主机，所述开口腔的开口处设有与辊轴本体表面配合的弧形透光板，所述弧形透光板对应测光装置，当弧形透光板对应外界的光源照射时，光源依次穿过连接辊轴本体的膜料和位于辊轴本体上的弧形透光板进入测光装置内，测光装置接收光信号，并将信号传递至外界的控制主机。本检测辊轴通过辊轴本体和测光装置，除了可以对膜料进行传输或模压，还可以在辊轴本体的转动中通过测光装置对膜料本身是或否达标进行实时测试，从而显著提高了膜料的成品精度。
- 一种检测辊轴装有光学成型
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