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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]一种卫星间激光通信系统-CN202310223841.8有效
发明人：郭海娟;刘振兴;邓姣;谢波 -专利权人：湖南迈克森伟电子科技有限公司
申请日： 2023-03-09 - 公布日： 2023-05-23 - 主分类号： H04B10/118 文献下载
摘要：设置于卫星端，采用独立的激光光源和发射镜发射设定波长的激光光束，并且所述的激光光束在经过调制后生成下行信号；光学接收天线：设置于地面端，从卫星上发出的下行信号光经大气信道传输后，被光学接收天线接收并汇聚生成失真波前；变形镜：根据控制电压实时改变镜面面形；分束器：用于从校正后失真波前中分离出信标光和信号光；数据处理模块：接收信标光，用于检测光波波前的扰动信息，经处理转化为相应的控制信号，并通过控制信号控制变形镜各部分的形变，对失真波前进行补偿和校正。
一种卫星激光通信系统

[发明专利]基于差分传感器的波前检测和重构方法-CN201010566694.7无效
发明人：张思炯;杨慧珍 -专利权人：中国科学院国家天文台南京天文光学技术研究所
申请日： 2010-11-30 - 公布日： 2011-06-15 - 主分类号： G01J9/00 文献下载
摘要：基于差分传感器的波前检测和重构方法，其特征在于，步骤如下：待测波前经透镜L1、透镜光栅组合在CCD上成像；焦平面附近放置一个CCD相机记录畸变波前的+1阶和-1阶的衍射图像；然后由图像采集卡将上述两个步骤中的两幅衍射图像的两维光强分布信息同时采集到计算机中；再由计算机使用相位重构算法对信号差Dr进行模式分解及处理，最后得到恢复后的待测波前。
基于传感器检测方法

[发明专利]基于像清晰化原理的自适应光学星体目标成像系统-CN200710118052.9无效
发明人：杨平;许冰;杨伟;胡诗杰;刘渊 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2007-06-28 - 公布日： 2007-11-28 - 主分类号： G02B23/00 文献下载
摘要：本发明能够直接利用天体目标本身作为信标，不需要采用昂贵的波前传感器测量来自天体目标的光束的波前误差，而是利用能反映波前误差信息的像清晰化指标作为衡量系统成像能力的品质因数，控制反射变形镜校正波前误差，使品质因素达到或接近最佳值
基于清晰原理自适应光学星体目标成像系统

[实用新型]一种基于晶体动态介观缺陷检测的光热共路模块-CN201620525989.2有效
发明人：吴少凡;郑熠;黄鑫 -专利权人：中国科学院福建物质结构研究所
申请日： 2016-06-02 - 公布日： 2016-11-02 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：基于本模块的晶体缺陷测量仪通过将泵浦激光与探测激光聚焦于样品的同一点，测试样品的动态介观缺陷，通过样品的移动得到样品的动态缺陷三维分布图，本实用新型的光热共路干涉模块包括泵浦光源、探测光源、会聚光路、样品架、测量光路、激光功率计以及波前探测器，泵浦激光加热测试点，剩余激光由激光功率计接收，探测激光通过被加热的测试点，由于测试点的温度分布，波前发生干涉变化，透过样品的弱激光通过测量光路，照射到波前探测器，测量变化后的波前信息，通过对比计算，获得照射点的发热情况以及吸收大小
一种基于晶体动态缺陷检测光热模块

[实用新型]基于差分位置检测的光学伺服系统-CN201721220619.9有效
发明人：付淑雯;王霞兵;田江有 -专利权人：上海眸特实业有限公司
申请日： 2017-09-22 - 公布日： 2018-04-17 - 主分类号： G02B27/00 文献下载
摘要：本实用新型涉及光学处理设备技术领域，具体涉及一种基于差分位置检测的光学伺服系统，包括设有相机和差分运算器且用以检测焦点位置变化的差分位置检测组件、用以对光进行校正的波前矫正器、用以处理差分位置检测组件的传输信息和控制波前矫正器且同时实现对光学系统进行伺服控制的主处理器有益效果是通过使用光栅和差分运算器，提高了光能的利用率和查分运算精确度，同时结合使用波前矫正器，使得光线可以及时的得到调整，保证了测量的准确性，通过主处理器对信号的处理和对波前矫正器的伺服控制，使得整个设备可以实现自动化和智能化的调整
基于位置检测光学伺服系统

[发明专利]波前编码成像系统的优化图像处理-CN200710136351.5有效
发明人：格雷戈里·爱德华·约翰逊;爱德华;R·道斯基;阿什利;K·梅肯;汉斯;B·瓦奇 -专利权人： CDM光学有限公司
申请日： 2003-02-27 - 公布日： 2008-02-06 - 主分类号： G02B27/46 文献下载
摘要：一种图像处理方法，包括步骤：对形成光学图像的波前进行波前编码；将光学图像转换为数据流；以及利用滤波器核心处理数据流以反向转换波前编码的作用并生成最终图像。本发明还披露了用于处理彩色图像的方法和系统，例如通过将色彩与空间信息分离到分离的信道中而进行处理。
编码成像系统优化图像处理

[发明专利]一种基于相位差算法校正涡旋光波前畸变的方法-CN201910329787.9有效
发明人：柯熙政;崔娜梅 -专利权人：西安理工大学
申请日： 2019-04-23 - 公布日： 2021-11-16 - 主分类号： H04B10/11 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于相位差算法校正涡旋光波前畸变的方法，具体按照以下步骤实施：步骤1：采集初始光场和畸变光场的光强信息；步骤2：进行畸变涡旋光束的自适应相位校正，求解畸变涡旋光束的相位，校正畸变涡旋光束本发明一种基于相位差算法校正涡旋光波前畸变的方法，降低了波前校正技术的实验难度，也对涡旋光束实现全面有效地校正。
一种基于相位差算法校正涡旋光波畸变方法

[发明专利]高倍全息位相差放大装置-CN03115177.9无效
发明人：高鸿奕;陈建文;谢红兰;徐至展 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2003-01-27 - 公布日： 2003-07-23 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：一种高倍全息位相差放大装置，由波前记录装置和重构装置两部分构成，波前记录装置由激光光源、望远镜、分束器、反射镜、待测样品和记录介质组成，重构装置包括氦－氖激光光源、望远镜、半透半反镜、全反镜、底片架、透镜、光阑和接收器，先利用波前记录装置拍摄好的含有物体位相信息的全息图，在暗房中处理、吹干以后，放在重构装置的底片架上进行光学重构，经一次或多次重构可将位相差放大到λ/100，也就是说可将波面的测量精度提高到纳米量级
高倍全息相差放大装置

[发明专利]空间三维流场实时测量系统-CN98112211.6无效
发明人：张雨东;姜凌涛;姜文汉 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 1998-08-26 - 公布日： 2000-03-01 - 主分类号： G01M10/00 文献下载
摘要：其特征是在不同投射角(θ≥0°)的测量子系统的激光均穿过被测流场,各二维哈特曼波前传感器输出的信号经数字化,输入处理机得出各子孔径波前倾斜分布信息,再送主计算机解算出三维波前层析位相分布,从而测出流场的三维分布
空间三维实时测量系统

[发明专利]光学波前传感器-CN98112210.8无效
发明人：姜凌涛;张雨东;姜文汉 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 1998-08-26 - 公布日： 2000-03-01 - 主分类号： G02B27/26 文献下载
摘要：光学波前传感器,属于对哈特曼—夏克波前传感器结构的改进。其响应速度快、信息处理量小、数据为并行输出,光学调整简便,使得采样延迟时间大为下降,大大提高了波前传感器的采样速率,同时也简化了算法,降低了对后续计算机的要求,增加了适用性。
光学传感器

[发明专利]一种角膜地形图测量仪-CN200810102773.5无效
发明人：杨金生;饶学军;张雨东;饶长辉 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2008-03-26 - 公布日： 2008-09-10 - 主分类号： A61B3/107 文献下载
摘要：角膜外表面的反射光经过光学系统传播后被与角膜面共轭的哈特曼波前传感器采集，经波前处理得到波前像差并由此得到角膜地形图。匹配光路完成目标对准以及目标固定等辅助工作。本发明不但可以大面积测量角膜表面信息，而且具有较高的分辨率和测量精度。
一种角膜地形图测量仪

[实用新型]一种条形光斑波前测试装置-CN201220566796.3有效
发明人：雒仲祥;徐宏来;向汝建;马立斌;尹新启 -专利权人：中国工程物理研究院应用电子学研究所
申请日： 2012-10-31 - 公布日： 2013-04-03 - 主分类号： G01J1/00 文献下载
摘要：所述的球透镜Ⅰ与柱透镜Ⅰ组成物镜，柱透镜Ⅱ与球透镜Ⅱ组成目镜，物镜与目镜组合，使得入射的条形光斑在经过组合镜到达相机前完成两个方向上不同倍率的缩束并保留激光束原始的波前信息，通过采集系统实现条形光斑波前测试本实用新型的条形光斑波前测试装置结构简单，易于加工和装调，成本低，测试精度高。
一种条形光斑测试装置

[发明专利]波前编码成像系统的优化图像处理-CN03809371.5有效
发明人：格雷戈里·爱德华·约翰逊;爱德华·R·道斯基;阿什利·K·梅肯;汉斯·B·瓦奇 -专利权人： CDM光学有限公司
申请日： 2003-02-27 - 公布日： 2005-08-03 - 主分类号： G02B27/46 文献下载
摘要：一种图像处理方法，包括步骤：对形成光学图像的波前进行波前编码；将光学图像转换为数据流；以及利用滤波器核心处理数据流以反向转换波前编码的作用并生成最终图像。本发明还披露了用于处理彩色图像的方法和系统，例如通过将色彩与空间信息分离到分离的信道中而进行处理。
编码成像系统优化图像处理

[发明专利]基于电压解耦控制多波前校正器的自适应光学系统-CN201310231058.2有效
发明人：沈锋;叶红卫;周睿;甘永东 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2013-06-12 - 公布日： 2013-09-11 - 主分类号： G02B26/06 文献下载
摘要：一种基于电压解耦控制多波前校正器的自适应光学系统，包括多个波前校正器、分光镜、一个波前传感器和一个波前处理机；多个波前校正器在光路中随意串联排布，波前传感器在空间上与最高精度波前校正器满足共轭关系，最高精度波前校正器对波像差进行高精度直接斜率法校正，其他各波前校正器根据高精度波前校正器的校正电压解耦算法对低阶波前像差进行电压解耦分离，对特定像差进行模式法校正，也可以对全部像差进行直接斜率法校正，最终各个波前校正器校正像差叠加，完成对总体像差的高精度校正
基于电压控制多波前校正自适应光学系统

[发明专利]通过有意引入的光学像差使视觉伪影最小化来改进结构光投影-CN202110494399.3在审
发明人： A·施文德纳;托马斯·延森;J·斯蒂格瓦尔 -专利权人：赫克斯冈技术中心
申请日： 2021-05-07 - 公布日： 2021-11-16 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：投影仪，其被配置成将结构光图案投影到测量对象上，结构光图案能被分解成不同的空间频率，投影仪包括：像素元素矩阵，其中，伪影图案由相邻像素元素之间的伪影区域限定，以及透镜系统，其中，透镜系统确定相对于参考波前具有波前像差的波前；以及摄像头，该摄像头包括透镜系统和成像传感器，其中，摄像头被配置成接收由投影仪投影到测量对象上的结构光图案；以及处理单元，其被配置成通过评估由摄像头提供的成像信息来提供距离信息。
通过有意引入光学差使视觉最小化改进结构投影

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