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[发明专利]一种校验码生成方法、处理器及电子设备-CN202311108686.1在审
发明人：王思为;葛蕾 -专利权人：上海芯联芯智能科技有限公司
申请日： 2023-08-31 - 公布日： 2023-10-10 - 主分类号： G06F21/64 文献下载
摘要：本申请提供一种校验码生成方法、处理器及电子设备，该方法包括：获取校验码计算指令；校验码计算指令包括校验码算法指示信息；校验码计算指令属于处理器CPU指令集中的指令；根据校验码算法指示信息，确定校验码多项式；通过计算电路中的各计算分支，得到每个计算分支输出的校验码；其中，通过对第i‑1计算分支输出的校验码和校验码多项式进行计算得到第i计算分支输出的校验码；i为正整数；第0计算分支输出的校验码是根据输入校验码和待校验数据生成的；根据校验码算法指示信息，从各计算分支输出的校验码中确定待校验数据对应的校验码。该方案，能够从硬件的角度实现对不同数据长度的校验数据的处理以及能够实现不同的校验算法类型。
一种校验码生成方法处理器电子设备

[发明专利]LDPC编码中校验比特的计算方法和装置-CN200710305082.0无效
发明人：余荣道 -专利权人：华为技术有限公司
申请日： 2007-12-27 - 公布日： 2009-07-01 - 主分类号： H03M13/11 文献下载
摘要：本发明公开了一种低密度奇偶校验码编码中校验比特的计算方法，包括：计算校验比特分组中的任一校验比特分组的值；利用所述任一校验比特分组的值并行计算其它校验比特分组中校验比特的值。利用本发明，可以并行的计算出其它校验比特分组中校验比特的值初始校验比特之外的其它各校验比特，从而可以降低编码计算的时延，提高编码的效率。
ldpc 编码校验比特计算方法装置

[发明专利]数据校验加速方法、装置、计算机设备及存储介质-CN202011528679.3有效
发明人：潘文卿;艾聪;付世杰;葛云东;宋碧雄;杜泽飞 -专利权人：潍柴动力股份有限公司
申请日： 2020-12-22 - 公布日： 2022-08-05 - 主分类号： H04L1/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种数据校验加速方法、装置、计算机设备及存储介质，该方法包括：获取待校验数据；基于预设数据块的标准数据量对待校验数据进行分段处理，确定多个校验块，校验块的校验数据量大小等于预设数据块的标准数据量大小；获取上位机发送的请求报文，判断请求报文是否为校验请求；若请求报文为校验请求，则执行异步校验处理程序对多个校验块进行校验，异步校验程序包括中断处理程序和异步计算程序，中断处理程序用于对上位机发送校验等待响应，异步计算程序用于对校验块进行计算，并在计算结束后对上位机发送校验响应。本发明通过扩大每次校验处理的校验块的数据量大小，并采用异步计算方法进行数据校验，提高数据校验的处理速度。
数据校验加速方法装置计算机设备存储介质

[发明专利]对iSCSI协议报文的处理方法及装置-CN201110233317.6有效
发明人：刘洋;杨成勇 -专利权人：成都市华为赛门铁克科技有限公司
申请日： 2011-08-15 - 公布日： 2011-12-21 - 主分类号： H04L29/06 文献下载
摘要：本发明实施例提供一种对iSCSI协议报文的处理方法及装置，包括：接收因特网小型计算机系统接口iSCSI协议报文；对接收到的iSCSI协议报文的协议数据单元PDU进行校验计算，以获取iSCSI协议报文的每个PDU的第一校验计算值的偏移量，所述第一校验计算值是疑似正确的校验计算值；对获取到第一校验计算值的偏移量所对应的PDU的基本头字段进行解析，以获取校验计算位置；将所述校验计算位置与所述第一校验计算值的偏移量进行匹配本发明实施例首先获取第一校验计算值的偏移量，然后对获取到第一校验计算值的偏移量所对应的PDU的基本头字段进行解析，可以简化对iSCSI协议报文的PDU校验计算的控制，降低硬件设计的复杂度。
iscsi 协议报文处理方法装置

[发明专利]一种校验数据计算方法及装置-CN201911076571.2在审
发明人：陈灿;张洪岽 -专利权人：华为技术有限公司
申请日： 2019-11-06 - 公布日： 2021-05-11 - 主分类号： G06F11/10 文献下载
摘要：一种校验数据计算方法及装置，该方法应用于包括处理器和校验数据计算单元的校验数据计算装置，在该方法中，当处理器获取待处理数据后，则将该待处理数据存储到该校验数据计算单元的缓存空间，校验数据计算单元则从该缓存空间中获取该待处理数据，并对该待处理数据进行校验计算得到该待处理数据对应的校验数据。当处理器获取待处理器数据后，可以直接将该待处理数据存储到校验数据计算单元的缓存空间中，从而减少了将待处理数据存储到处理器的内存以及从内存将待处理数据搬移到校验数据计算单元的缓存空间的步骤，可以简化校验计算的流程
一种校验数据计算方法装置

[发明专利]电能表现场校验方法-CN200910192060.7有效
发明人：朱亚军 -专利权人：珠海市科荟电器有限公司
申请日： 2009-09-02 - 公布日： 2010-02-24 - 主分类号： G01R35/04 文献下载
摘要：本发明提供一种电能表现场校验方法，该方法使用校验仪与电能表电连接，该方法包括：校验仪计算电能表时间常数与校验仪时间常数之间的差值；校验仪根据计算出的时间常数差值，调整自身的时间常数，使校验仪的时间常数与电能表的时间常数一致；校验仪计算单位时间内消耗的电能值，并接收电能表计算的电能值，计算电能表计算的电能值与校验仪计算的电能值之间的误差值。本发明提供的电能表校现场校验方法在计算电能表误差前先调整校验仪的时间常数，校验的误差值变化较小，便于校验人员精确地读取误差数据。
电能表现场校验方法

[发明专利]用于实现业务任务的码的校验方法及装置-CN201510624931.3有效
发明人：王成龙 -专利权人：北京奇虎科技有限公司;奇智软件（北京）有限公司
申请日： 2015-09-25 - 公布日： 2018-01-19 - 主分类号： G06F11/10 文献下载
摘要：本发明提供了一种用于实现业务任务的码的校验方法及装置。该方法包括获取待校验的码；获取并解析所述待校验的码的生成规则，从所述待校验的码中截取用于自校验的校验码，将剩余的码作为待计算码；获取并解析所述用于自校验的校验码的生成规则，生成所述待计算码的待校验字符；比较所述用于自校验的校验码与所述待校验字符，根据比较结果确定所述待校验的码是否通过校验。本发明实施例在校验的过程中，即时生成待计算码的待校验字符，进而将待校验的码中用于自校验的校验码与待计算码的待校验字符进行比较来确定待校验的码是否通过校验。
用于实现业务任务校验方法装置

[发明专利]一种用于可信计算机的度量系统及方法-CN201611058840.9有效
发明人：肖佐楠;郑茳;匡启和;王廷平;秦赟 -专利权人：苏州国芯科技股份有限公司
申请日： 2016-11-24 - 公布日： 2019-11-26 - 主分类号： G06F21/57 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于可信计算机的度量系统及方法，该系统包括：位于可信计算机内的可信度量部和与可信计算机连接的OPROM校验设备，OPROM校验设备用于存储对可信计算机的主板SPI闪存中的数据进行Hash校验的OPROM校验信息，以及对应的校验结果；可信度量部用于读取和复制OPROM校验信息，根据OPROM校验信息对可信计算机的主板SPI闪存中的数据进行Hash校验，并将对应的校验结果存储至OPROM校验设备采用外接的OPROM校验设备存储OPROM校验信息，以对可信计算机主板上的SPI闪存中的数据进行校验，并存储对应的校验结果，在可信计算机进入操作系统后，用户可以直接查看记录的校验结果，且此过程中无需对主板
一种用于可信计算机度量系统方法

[发明专利]电力现货市场输入数据的数据校验方法-CN202110547037.6在审
发明人：吴洋;邹文滔;刘双全;蒋燕;邵其专;周彬彬;周涵;段睿钦;马腾飞;张琳波;张聪通 -专利权人：云南电网有限责任公司
申请日： 2021-05-19 - 公布日： 2021-07-23 - 主分类号： G06F16/215 文献下载
摘要：本申请涉及一种电力现货市场输入数据的数据校验方法，电力现货市场输入数据的数据校验方法包括通过获取电力现货市场出清计算所需的输入数据，根据输入数据匹配校验规则和/或校验计算方法，基于校验规则和/或校验计算方法对电力现货市场出清计算所需的输入数据进行校验和修正本申请可以根据不同输入数据匹配不同的校验规则或校验计算方法，使校验针对性更高，并且，通过不同的校验规则或校验计算方法可以覆盖更多校验数据，解决了电力现货市场中数据缺失、异常以及逻辑冲突等问题，通过修正输入输入，提高了输入数据的质量，减少了出清算法计算不收敛的次数，增加了结果的合理性与可靠性以提升电力系统的网络安全。
电力现货市场输入数据校验方法

[发明专利]一种监控数据质量的方法和装置-CN201711114545.5在审
发明人：李立威;罗翔;游正朋 -专利权人：北京京东尚科信息技术有限公司;北京京东世纪贸易有限公司
申请日： 2017-11-13 - 公布日： 2019-07-16 - 主分类号： G06F16/215 文献下载
摘要：本发明公开了一种监控数据质量的方法和装置，涉及计算机技术领域。该方法的一具体实施方式包括：以数据计算任务的源数据和/或输出数据作为待校验数据；从预设的数据校验规则集中获取所述待校验数据的校验规则；基于所述校验规则对待校验数据执行数据校验任务；其中，数据校验任务与数据计算任务异步进行本发明实施例能够保证数据质量，大大降低数据计算任务出错的可能性；减少数据计算和校验的工作量和复杂性；便于修改数据校验规则，支持个性化定制数据校验策略。
数据校验数据计算校验数据方法和装置监控数据校验规则计算机技术领域个性化定制输出数据校验源数据预设出错工作量保证

[发明专利]一种用于数据字消息校验的计算工具及其计算方法-CN202110485977.7在审
发明人：王俊杰;陈媛;张峻豪;王安邦;王红园;林星辰 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2021-04-30 - 公布日： 2021-08-03 - 主分类号： G06F11/10 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于数据字消息校验的计算工具及其计算方法，具体包括：输入单元、处理单元、校验计算单元、显示单元；输入单元用于输入数据字消息，数据字消息为十六进制；处理单元将数据字消息转为十进制的消息字数组；校验计算单元遵循校验和的计算法，对消息字数组进行校验和的计算；显示单元用于显示消息字数组校验和的计算结果。本发明的方法在针对数据消息进行测试时，能够生成各种各样的消息覆盖协议内容，每个消息都会进行校验和的计算，比通过人工的方式计算该校验和的效率高且不易出错。
一种用于数据消息校验计算工具及其计算方法

[发明专利]用于计算用于在连续分布式构建中有效高速缓存的校验和的方法和装置-CN201280062431.X有效
发明人： M·弗尔斯特;U·亚当斯;S·舍青格;C·K·肯珀 -专利权人：谷歌公司
申请日： 2012-10-26 - 公布日： 2014-08-20 - 主分类号： G06F9/455 文献下载
摘要：用于确定配置文件的依赖关系是否已经改变、以使得应当重新计算编译策略的方法、系统和计算机可读介质。为个别配置文件计算局部构建校验和。通过对通向配置文件的输入路径加上指示路径是引用文件还是目录的数据以及在配置文件本身上计算的校验和进行排序，来计算局部构建校验和。局部构建校验和的传递闭包继而用来计算全局构建校验和；对局部构建校验和进行排序以便计算全局构建校验和。如果全局构建校验和与先前计算的全局构建校验和不同，则应当重新计算编译策略，因为这是编译策略可能不再有效的信号，例如因为在配置文件中的一些依赖关系已经改变。
用于计算连续分布式构建有效高速缓存校验方法装置

[发明专利]一种电力系统故障计算结果的校验方法-CN201510050038.4有效
发明人：王均慧;杨常府;刘颖;于荣成;张月品;王立鼎;焦邵华 -专利权人：国网北京经济技术研究院;国网天津市电力公司;国家电网公司;北京四方继保自动化股份有限公司
申请日： 2015-01-30 - 公布日： 2018-03-06 - 主分类号： H02H3/00 文献下载
摘要：一种电力系统故障计算结果的校验方法，通过全过程校验，同时采用不同电路学原理，来校验识别电力系统短路故障计算是否存在问题。全过程校验包括电力系统一次设备参数校验、电力系统线路和一次设备连接模型校验、电力系统模型校验和短路计算校验，同时采用基于基尔霍夫定律的电力系统故障计算结果对短路计算部分进行校核，实现短路故障计算的全过程闭环管理
一种电力系统故障计算结果校验方法

[发明专利]计算机的操作系统CRC校验方法和系统-CN201510129103.2有效
发明人：黎昌伟;庄红星;陈业达;陈洪标 -专利权人：广东威创视讯科技股份有限公司
申请日： 2015-03-23 - 公布日： 2017-12-08 - 主分类号： G06F11/10 文献下载
摘要：本发明提供一种计算机的操作系统CRC校验方法和系统，其方法包括步骤在待校验计算机完成老化测试之后，激活所述待校验计算机的操作系统，其中，所述操作系统装载在所述待校验计算机的硬盘的第一分区；获取WinPE运行工具和CRC校验程序，并将所述WinPE运行工具和所述CRC校验程序覆盖安装到所述硬盘的第二分区，其中，所述第二分区装载有所述待校验计算机的测试系统；启动所述WinPE运行工具，在所述待校验计算机进入到WinPE环境后，运行所述CRC校验程序，通过所述CRC校验程序对所述操作系统进行CRC校验。本发明方案的校验效率高、校验准确率高且可以降低重工可能性，可以降低产线成本。
计算机操作系统 crc 校验方法系统

[发明专利]校验和附加方法及校验和附加装置及传感器系统-CN202180024523.8在审
发明人：大塚信也;山本康介 -专利权人：美蓓亚三美株式会社
申请日： 2021-03-26 - 公布日： 2022-11-11 - 主分类号： G06F13/38 文献下载
摘要：校验和附加方法包含：命令取得工序，取得从请求源发送的命令和地址；数据读出工序，根据命令从地址读出数据；校验和计算工序，计算对数据附加的校验和；以及数据发送工序，将校验和以及数据发送到请求源，在校验和计算步骤中，以与命令的种类对应的数据单位来计算校验和。
校验附加方法装置传感器系统

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