专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种双目立体相机系统-CN202210575969.6在审
  • 王春茂 - 杭州海康机器人技术有限公司
  • 2022-05-25 - 2022-08-26 - G06T7/593
  • 本申请实施例提供了一种双目立体相机系统,包括:双目相机和投射设备,所述双目相机包括第一成像单元及第二成像单元,其中,所述投射设备与所述双目相机的相对位置可调;所述投射设备,用于向待测量对象的表面投射;所述双目相机,用于利用第一成像单元采集表面包括的待测量对象的第一图像数据,利用第二成像单元采集包括表面包括的待测量对象的第二图像数据;基于所述第一图像数据中的及所述第二图像数据中的,计算得到所述待测量对象的深度信息,其中,所述第一成像单元及所述第二成像单元的公共视野内存在
  • 一种双目立体相机系统
  • [发明专利]单目激光投影系统的外参数标定方法和装置-CN202210417235.5在审
  • 张跃强;蒋卓灿;王骞鹏 - 深圳大学
  • 2022-04-20 - 2022-08-19 - G06T7/80
  • 本申请公开了一种单目激光投影系统的外参数标定方法和装置。该单目激光投影系统的外参数标定方法利用标定板计算空间平面方程,并根据该空间平面方程计算同名像点的三维坐标;然后根据所述同名像点的三维坐标估算所述激光投射器的光心和光轴位置;最后根据预设的激光投射器坐标系,计算所述相机和所述激光投射器之间的位姿关系,可利用该位姿关系生成相机图像和激光投射器虚拟图像之间的平面单应矩阵,从而实现单目激光投影系统的外参数标定。该单目激光投影系统的外参数标定方法可显著提高外参数标定的测量效率,且可显著提高测量精度。
  • 激光投影系统参数标定方法装置
  • [发明专利]一种智能手机的结构光深度相机自校正方法及装置-CN201811547634.3有效
  • 葛晨阳;谢艳梅;周艳辉 - 西安交通大学;宁波盈芯信息科技有限公司
  • 2018-12-17 - 2021-02-26 - H04N13/246
  • 一种智能手机的结构光深度相机自校正方法及装置,由红外激光投射器、图像接收传感器、自校正模块、深度计算模块、手机应用处理AP构成,该装置和方法由投射器投射图案,在参考图像中设定特征块,通过图像接收传感器采集输入图像,并在输入图像中通过相似度准则搜寻该特征块对应的最优匹配块,得到特征块与匹配块之间的偏移量,一旦投射器与图像传感器的光轴发生相对变化,该偏移量会随之发生变化,按一定规则求取最优偏移量并反向调整参考图像,使输入图像中心与参考图像中心能形成一个自反馈调节闭环系统,从而实现输入图像和校正后的参考图像在光轴发生较大范围变动时始终能找到最优匹配关系。
  • 一种智能手机结构深度相机校正方法装置
  • [发明专利]基于的复合材料三维形貌及缺陷综合测量系统和方法-CN202210127007.4有效
  • 胡摇;郝群;韩天爽;徐喜 - 北京理工大学
  • 2022-01-30 - 2023-04-28 - G01B11/24
  • 基于的复合材料三维形貌及缺陷综合测量系统及方法,干涉测量模块、双目视觉测量模块同步分别发射激光,照射到被测复合材料试件的表面形成,数据处理模块对于干涉测量模块、双目视觉测量模块分别控制,用来采集被测复合材料试件的全场干涉图,并对两个模块的信息进行整合,计算得到被测复合材料试件的内部缺陷检测结果和三维空间位置,通过显示模块将被测复合材料试件的三维形貌和内部缺陷综合测量结果反馈给用户;其中,干涉测量模块、双目视觉测量模块共视场,且元器件之间无遮挡关系,两模块所需要的的效果不一样,采用波长不同的两束激光分别照射被测复合材料试件。
  • 基于复合材料三维形貌缺陷综合测量系统方法
  • [发明专利]一种基于数字的应变测量方法和系统-CN202111055264.3在审
  • 苑文楠;贾彦翔;侯师;李继辉;卞伟伟;巴腾跃;邱旭阳 - 北京机械设备研究所
  • 2021-09-09 - 2023-03-14 - G01B11/16
  • 本发明涉及一种基于数字的应变测量方法和系统,方法包括以下步骤:获取用于训练的图像集,对图像集中的每张图像进行随机标记,基于所述随机标记生成训练样本集;基于所述训练样本集训练神经网络模型,得到区域识别模型;获取被测表面的原始图像和变形图像;基于所述区域识别模型识别所述原始图像的区域;以所述原始图像的区域中的每个斑点为中心建立参考子区,通过亚像素搜索算法在所述变形图像中搜索所述参考子区对应的变形子区,基于所述参考子区和变形子区得到所述斑点的位移;所有斑点的位移构成所述变形图像的位移场;基于所述变形图像的位移场,通过面内应变计算方法计算得到被测表面的应变场。
  • 一种基于数字应变测量方法系统
  • [实用新型]相关和干涉相结合的三维变形测量系统-CN201220372299.X有效
  • 孙平;孙明勇 - 山东师范大学
  • 2012-07-30 - 2013-02-20 - G01B11/16
  • 本实用新型涉及一种相关和干涉相结合的三维变形测量系统,它包括激光器,激光器发出的激光扩束后经过半透半反镜,分别照到被测物体和参考物面,两者同时经过半透半反镜由成像透镜成像在CCD摄像机上,半透半反镜相对于入射光线成45°角倾斜放置,有参考光路时,在CCD摄像机的靶面上物面和参考面相互干涉,形成干涉图像,测量离面位移分量,去掉参考物光路,采集物面上的图像,利用变形前后的两幅图,运用相关运算计算出面内位移的二个分量它利用典型的对离面位移敏感的数字光路,实现了相关测量物体的面内位移和干涉离面位移,实现了三维位移测量,具有光路简单、操作和数据处理简单快捷的优点。
  • 相关干涉相结合三维变形测量系统
  • [发明专利]实验场的优化制备方法-CN201610615850.1有效
  • 何小元;陈振宁 - 东南大学
  • 2016-07-29 - 2018-08-21 - G01B11/16
  • 本发明公开了一种实验场的优化制备方法,根据计算机设计程序和质量评估准则选择较优的数字场,并且利用转印(水转印、热转印等)、激光切割、丝网印刷、光敏印章、镂空模板等间接制备方法将数字场的整体信息转移到待测量物体的表面,为数字图像相关测量提供精度高、一致性好的场。本发明通过优化选择和间接转移计算机生成的数字场,解决了由于场的质量不稳定导致数字图像相关方法测量精度不确定,以及由于传统的喷漆制作随机场等方法对技术人员操作熟练程度存在依赖性等问题,从而保证了数字图像相关方法在科研和实际工程测量中的可靠性
  • 实验散斑场优化制备方法
  • [发明专利]的制备方法及制备纳米金颗粒涂层的方法和设备-CN201910692609.2有效
  • 李旭哲;罗胜年;李超;卢磊;范端 - 西南交通大学
  • 2019-07-30 - 2022-01-07 - G01N23/2251
  • 本发明公开了的制备方法及制备纳米金颗粒涂层的方法和设备。该的制备方法包括以下步骤:(1)在样品表面附着活性金属膜,得到前驱体;(2)在蒸气气氛下对前驱体进行加热,使活性金属膜转化为纳米颗粒涂层,所述蒸气相对于所述活性金属呈惰性,所述样品在加热过程中不发生变化;(3)停止加热即在样品表面制备得到。本发明中,整个的制备过程为物理过程,不会对样品产生损坏或使样品性质发生变化,提升EBSD和DIC结果的实用性。同时,由活性金属膜原位生成,而活性金属膜的厚度和位置易于控制,因此的精度高且易获取和控制,有助于提升表征结果的准确性。
  • 制备方法纳米颗粒涂层设备
  • [发明专利]图像深度恢复方法和装置-CN202010176326.5有效
  • 户磊;化雪诚;刘祺昌;薛远;王亚运 - 合肥的卢深视科技有限公司
  • 2020-03-13 - 2022-11-04 - G06T7/55
  • 本发明实施例提供一种图像深度恢复方法和装置,所述图像深度恢复方法包括获取参考影像和物体影像;对参考影像和物体影像均进行第一预处理,获得参考特征影像和物体特征影像;对物体特征影像进行阴影检测,获得阴影掩膜;基于参考特征影像和物体特征影像,获得匹配代价特征;基于匹配代价特征和阴影掩膜,进行多路径动态规划,获取路径代价;基于路径代价,获取视差匹配代价,基于视差匹配代价,获取视差值为最小视差匹配代价处的视差值
  • 图像深度恢复方法装置

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