专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种测量半导体器件和接触材料间接触的方法-CN201310174157.1有效
  • 郭春生;李睿;冯士维;张燕峰;石磊 - 北京工业大学
  • 2013-05-13 - 2013-08-14 - G01N25/20
  • 本发明属于电子器件测试领域,公开了一种测量半导体器件和接触材料间接触的方法。首先测出待测半导体器件的电压-温度系数曲线,绘制其微分结构函数曲线,进而求出其内部Rth0。然后,测量不同压力F下半导体器件到接触材料的Rth1、Rth2、…、Rthn,进行函数拟合得到Rth-F曲线,并由此求出接触材料的RT。最后由R=Rth-Rth0-RT求出不同压力下半导体器件与接触材料之间的接触。本发明利用压力影响接触的方法,不仅解决了瞬态光热法中光相位受影响及测量受半导体器件内部结构影响的问题,还可以在不损伤半导体器件的条件下准确测出压力与接触的关系。
  • 一种测量半导体器件接触材料间接触热阻方法
  • [发明专利]一种测量界面接触的方法-CN201210143110.4无效
  • 冯士维;石磊;郭春生;刘静;朱慧 - 北京工业大学
  • 2012-05-10 - 2012-09-19 - G01N25/20
  • 一种测量界面接触的方法,属于电子器件的生产测量,以及研究、开发领域。一种测量界面接触的方法,其特征在于,步骤如下:将被测电子元件与被测材料按不同厚度制备成2个以上接触界面;测量电子元件管芯到被测界面的Rdevice;用测试仪测量电子元件管芯与不同厚度材料底面之间的总Rtot;以Rtot为y轴,材料厚度为x轴作直线;将该直线延长至y轴交点处的得到,就是接触Rc与元件管芯到被测界面的Rdevice之和;将得到的减去Rdevice即得到接触Rc。
  • 一种测量界面接触方法
  • [发明专利]一种固定结合面接触的测量方法-CN201710454541.5在审
  • 张冠伟;王佳;高卫国;张大卫;蔡翔;刘兴国 - 天津大学
  • 2017-06-15 - 2017-10-03 - G01N25/20
  • 本发明公开了一种固定结合面接触的测量方法,该方法是基于一种固定结合面接触的测量装置实现的,固定结合面接触的测量装置包括支撑部分、施载部分、导热体、隔热套筒、测量试件和温度检测部分;测量试件包括下试件和上试件;下试件放置在导热体上,上试件放置在下试件上;所述施载部分包括为下试件施加热载荷的发热部件和为上试件施加力载荷的机械式施力机构;所述温度检测部分包括设置在下试件和上试件上的贴片式温度传感器本发明可以实现材料、力载荷、热源温度、表面粗糙度对结合面接触的独立因素影响分析与综合因素影响分析。
  • 一种固定结合接触测量方法
  • [发明专利]界面材料-CN201380076640.4在审
  • 贾森·L·斯特拉德;卡伦·J·布鲁兹达;理查德·F·希尔 - 天津莱尔德电子材料有限公司
  • 2013-12-18 - 2015-12-30 - H05K7/20
  • 一种界面材料被配置为与电子装置一起使用以用于在所述电子装置的产部件与去部件之间传递。所述界面材料通常包括结合接触减小材料的第一材料(例如,间隙填充料等)。所述接触减小材料操作以填充部件的安装所述第一材料的表面的填隙空位,从而减小所述第一材料与所述部件表面之间的表面接触。所述接触减小材料可以被施加于所述第一材料的一个或更多个侧面。或者另选地,所述接触减小材料可以被混合入所述第一材料中。
  • 界面材料
  • [发明专利]基于3ω法的薄层材料间接触的测试方法-CN201410245721.9有效
  • 宣益民;李强;麻景峰 - 南京理工大学
  • 2014-06-04 - 2014-09-10 - G01N25/20
  • 本发明提供一种基于3ω法的薄层材料间接触的测试方法,所述的测试方法是采用3ω法分别测量待测样品对和对比样品的总,然后通过作差计算得到接触。所述的测量方法为:第一待测样品和第三待测样品叠加放置构成接触待测样品对;第二待测样品作为对比对象;用压力加载装置调整待测样品对之间的接触压力大小;将电压测试单元与待测样品表面的加热测温金属线相连,并测量待测样品对和第二待测样品的总,最后通过作差求得接触。本方法可快速测量薄层材料间的接触,测量原理相对其它瞬态法简单。
  • 基于薄层材料间接触热阻测试方法
  • [实用新型]电热水壶-CN202222324866.0有效
  • 吴宝山 - 新东海(佛山)五金电器制造有限公司
  • 2022-08-31 - 2023-01-17 - A47J27/21
  • 本申请公开了一种电热水壶,包括壶体、设于壶体的内胆,以及设于壶体且与内胆热传导接触的加热组件;加热组件包括与内胆热传导接触的传热板、与传热板的远离内胆的一侧热传导接触的发热管,以及设于传热板上的片;片的导热率小于传热板的导热率;传热板正对内胆的一侧表面开设有安装槽,片设于安装槽内;传热板开设有安装槽的区域为区,传热板与发热管热传导接触的面为接触面,接触面至少部分位于区内。传热板与发热管接触的位置的热量被片阻挡,部分热量通过片纵向传递至内胆方向,其余热量横向传递后,再纵向传递至内胆,使得传热板与内胆接触时以较为均匀的方式传递,使得内胆内的水不易于产生噪音。
  • 电热水壶
  • [实用新型]基于电子束加热蒸发的多层结构-CN201620179741.5有效
  • 周国山;薛元;夏佑科;张国栋 - 苏州新材料研究所有限公司
  • 2016-03-09 - 2016-07-27 - C23C14/30
  • 本实用新型公开了基于电子束加热蒸发的多层结构,其包括:钨坩埚,钨坩埚至少包括一段中空的圆柱体结构,在钨坩埚中空的圆柱体内部设有片座,所述片座为中空的圆柱体结构,所述片座底部设有与所述片座一体成型的底座,所述底座的底面为中空结构,所述底座的顶面上依次设有若干层片,所述片的底面为中空结构。本实用新型在坩埚内部设置多层片座结构,多层片座底部不与坩埚底部最高温处直接接触,支撑处尽量减薄,减少直接传热,主要为辐射传热,然后在多层片座内置入多层底部相互间不接触片,这样可以起到更好的效果,从而改变蒸银的直接接触温度,进而消除银颗粒溅射问题。
  • 基于电子束加热蒸发多层结构

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