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[发明专利]用于图像数据处理的方法和系统-CN201280058181.2有效
发明人： M·费希尔 -专利权人：卢米尼克斯股份有限公司
申请日： 2012-10-17 - 公布日： 2014-07-30 - 主分类号： G01N15/14 文献下载
摘要：计算机实现的方法、存储介质和系统的实施例可被配置成确定微粒在第一微粒图像中的位置。微粒可具有与之关联的荧光材料。这些实施例可包括计算变换参数，并且变换参数可定义微粒位置在第一微粒图像和第二微粒图像之间的估计移动。实施例可进一步包括将该变换参数施加至微粒在第一图像中的位置以确定微粒在第二图像中的移动位置。
用于图像数据处理方法系统

[发明专利]用于图像数据处理的方法和系统-CN201610213240.9有效
发明人： M·费希尔 -专利权人：卢米尼克斯股份有限公司
申请日： 2012-10-17 - 公布日： 2019-03-01 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：计算机实现的方法、存储介质和系统的实施例可被配置成确定微粒在第一微粒图像中的位置。微粒可具有与之关联的荧光材料。这些实施例可包括计算变换参数，并且变换参数可定义微粒位置在第一微粒图像和第二微粒图像之间的估计移动。实施例可进一步包括将该变换参数施加至微粒在第一图像中的位置以确定微粒在第二图像中的移动位置。
用于图像数据处理方法系统

[发明专利]一种GIS内金属微粒的清除方法、装置、系统及存储介质-CN202110254658.5有效
发明人：赵晓凤;高超;周福升;黄若栋;杨芸;熊佳明;王国利;姚聪伟;庞小峰;宋坤宇;王增彬 -专利权人：广东电网有限责任公司电力科学研究院;南方电网科学研究院有限责任公司
申请日： 2021-03-09 - 公布日： 2022-06-14 - 主分类号： B08B7/00 文献下载
摘要：本发明公开一种GIS内金属微粒的清除方法，通过对GIS进行监测，从而在监测到局部放电时，对放电位置进行定位并将其作为金属微粒的位置；通过所述金属微粒的位置和与GIS相通的收集器的位置求得所述金属微粒移动的最优路径；通过根据所述最优路径控制设置于GIS内不同位置的电磁铁的电流，以将所述金属微粒移动至所述收集器。本发明还公开了一种GIS内金属微粒的清除装置、系统及存储介质。本发明实施例能在金属微粒产生后利用电磁铁进行自动清除，并且通过控制电磁铁的磁性精准地清除金属微粒，实现金属微粒的彻底清除。
一种 gis 金属微粒清除方法装置系统存储介质

[发明专利]微粒分选装置和微粒分选方法-CN201711431785.8有效
发明人：伊藤达巳 -专利权人：索尼公司
申请日： 2014-03-28 - 公布日： 2020-10-02 - 主分类号： B07C5/34 文献下载
摘要：本发明涉及微粒分选装置和微粒分选方法。一种微粒分选装置，包括：第一光照射单元，用于将第一光在第一位置处照射到流过流路的微粒；第二光照射单元，用于将第二光在不同于第一位置的第二位置处照射至微粒；光检测单元，用于检测在第一位置和第二位置处从微粒发出的光；以及控制单元，用于基于分选模式和每个微粒在从第一光获得的光和从第二光获得的光之间的检测时间差来控制微粒的分选。
微粒分选装置方法

[发明专利]一种基于优化支持向量机的路面结构性能计算方法-CN202010913456.2在审
发明人：张永卫;施发垦;李伟;赵飞;吴相军;杨荣新;童毅宾;孔晓智;梁新文;李龙;袁安;侯广涛;邰建飞;唐于杰 -专利权人：中交西安筑路机械有限公司;长安大学
申请日： 2020-09-03 - 公布日： 2021-02-12 - 主分类号： G06Q10/06 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于优化支持向量机的路面结构性能计算方法，利用动态微粒寻优算法优化支持向量机模型参数，其方法包括，首先在模型待寻优参数空间初始化一群微粒，每一个微粒代表参数优化问题的一个潜在最优解，以位置和速度列表对每一个微粒进行表征，然后利用支持向量机对路面结构性能进行计算，以pbest表征某个微粒在动态运动过程中的历史最优位置，以gbest表征所有微粒的历史最优位置，更新微粒个体的位置和速度，根据更新的微粒位置参数返回计算每个微粒的适应度值，然后转入依据适应度值的变化更新微粒个体自身运动最优值和全局运动最优值以及适应度值，最后进行迭代寻优。
一种基于优化支持向量路面结构性能计算方法

[发明专利]一种直流GIL微粒陷阱安装位置的优化方法和装置-CN202010885356.3有效
发明人：赵科;李洪涛;高山;刘媛;腾云;李玉杰;陶风波;张量;胡成博;马勇;陈少波;魏旭;邓洁清;丁然;刘咏飞;徐阳;张照辉;杨騉;马径坦;肖焓艳 -专利权人：国网江苏省电力有限公司电力科学研究院;国家电网有限公司;国网江苏省电力有限公司;江苏省电力试验研究院有限公司
申请日： 2020-08-28 - 公布日： 2022-08-19 - 主分类号： G06F30/367 文献下载
摘要：本发明公开了一种直流GIL微粒陷阱安装位置的优化方法和装置，属于电力系统高压输电线路GIL领域，该优化方法的步骤包括根据实际GIL管道模型，建立直流GIL微粒运动的简化仿真模型；对直流GIL中金属微粒的运动进行仿真，计算金属微粒在预定时间内的运动轨迹；根据金属微粒的运动轨迹，统计金属微粒的落点分布；根据金属微粒的落点分布选择微粒陷阱的安装位置。本发明能够优化微粒陷阱的安装位置，节约直流GIL的建造成本，操作简单，具有较好的工程应用价值。
一种直流 gil 微粒陷阱安装位置优化方法装置

[发明专利]液态环境下微粒三维位置纳米级分辨力测量方法-CN201510018116.2有效
发明人：胡小唐;雷海;胡晓东;常新宇;胡春光;李宏斌 -专利权人：天津大学
申请日： 2015-01-14 - 公布日： 2017-08-08 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明涉及数字全息显微测量领域以及微粒位置测量领域，为提出基于同轴数字全息显微技术及图像处理方法，实现复杂液态环境下多微粒三维位置纳米级分辨力测量。为此，本发明采取的技术方案是，液态环境下微粒三维位置纳米级分辨力测量方法，包括如下步骤利用同轴数字全息显微成像系统对微粒进行实时跟踪并记录微粒全息图像；对微粒的全息图进行预处理；对上述处理得到的全息图进行全息重构；对上述得到的重构信息进行去卷积运算；利用质心法得到微粒的横向位置；通过上述得到的微粒质心位置，得到其在纵向的强度分布曲线；采用多项式拟合对上述曲线进行拟合，其峰值则为微粒在纵向的位置。
液态环境微粒三维位置纳米分辨力测量方法

[发明专利]光罩微粒的定位方法、装置、存储介质与电子设备-CN202011052988.8在审
发明人：夏霜 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2020-09-29 - 公布日： 2022-04-12 - 主分类号： G03F1/84 文献下载
摘要：本公开提供了一种光罩微粒的定位方法、装置、存储介质与电子设备，属于半导体技术领域。所述方法包括：通过目标光罩的路径数据确定预设时间内所述目标光罩经历的位置数据，所述位置数据包括所述目标光罩在各扫描时刻的微粒信息；根据所述位置数据确定所述目标光罩表面存在微粒时的位置信息，以得到所述目标光罩的目标位置数据；根据所述目标位置数据确定所述目标光罩在相邻扫描时刻内的光罩位置数据，并按照位置优先级在所述光罩位置数据中确定所述目标光罩表面的微粒来源位置；根据所述目标光罩的微粒来源位置生成所述目标光罩在所述预设时间内的微粒位置分析报告本公开可以提高确定光罩上微粒来源位置的效率，减少制造成本。
微粒定位方法装置存储介质电子设备

[发明专利]微粒位置对场强分布的分类方法、系统、存储介质及设备-CN202310616336.X在审
发明人：彭庆军;朱晓霰;钱国超;邹德旭;周仿荣;王浩州;王山;邹阅培 -专利权人：云南电网有限责任公司电力科学研究院
申请日： 2023-05-29 - 公布日： 2023-08-15 - 主分类号： G06F30/23 文献下载
摘要：本发明实施例公开了微粒位置对场强分布影响的分类方法，该方法包括下列步骤：构建有限元仿真模型；并根据所述有限元仿真模型确定微粒位置对升高座关键部件表面场强的影响数据；最后根据分类算法对所述影响数据进行分类，获取若干个影响程度的微粒位置分类结果，这种方法能够获取升高座内部的微粒对其内部电场的影响程度，并根据该影响程度对微粒位置进行划分，从而为分析微粒影响升高座运行的稳定性提供参数。
微粒位置场强分布分类方法系统存储介质设备

[发明专利]检验罩幕盒外表面的方法与检验罩幕盒微粒的方法与系统-CN202210173672.7在审
发明人：黄世睿;古新安;许庭豪;李信昌 -专利权人：台湾积体电路制造股份有限公司
申请日： 2022-02-24 - 公布日： 2022-12-13 - 主分类号： G01N1/24 文献下载
摘要：一种检验罩幕盒外表面的方法与检验罩幕盒微粒的方法与系统，在检验罩幕盒的外表面的方法中，将空气流导引在外表面上的多个位置中的第一位置。利用导引的空气流自外表面上的第一位置移除一或多个微粒。自外表面的第一位置抽取散射空气，并且确定抽取的散射空气内的微粒的数量为在第一位置的微粒采样数。移动罩幕盒并将空气流导引到此多个位置的其他位置，以确定在其他位置抽取的散射空气内的微粒采样数。依照此多个位置的微粒采样数产生罩幕盒的外表面上的微粒图。
检验罩幕盒外表方法微粒系统

[发明专利]一种利用光子力显微镜测量范德华力的方法及装置-CN202110569296.9在审
发明人：陈鑫麟;裴明润;肖光宗;熊威;韩翔;罗晖 -专利权人：中国人民解放军国防科技大学
申请日： 2021-05-25 - 公布日： 2021-08-24 - 主分类号： G01Q60/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种利用光子力显微镜测量范德华力的方法，它属于测量技术领域，包括以下步骤：步骤一、获取探针微粒不受范德华力作用时受限布朗运动的中心位置；步骤二、获取探针微粒受范德华力作用时受限布朗运动的中心位置；步骤三、计算探针微粒与待测微粒或待测表面之间的范德华力。本发明通过光镊捕获探针微粒，利用测量探针微粒的受限布朗运动的中心位置实现对范德华力的感知和测量，测量精度高，不易损伤待测微粒或表面，且能同时实现微粒与微粒之间，微粒与大表面之间范德华力的测量。
一种利用光子显微镜测量范德华力方法装置

[发明专利]一种用于GIS中的驱赶电极与微粒陷阱协同布置方法-CN202210056108.7在审
发明人：李庆民;胡智莹;耿秋钰;魏来;常亚楠;唐庆华;张弛;李志坚;何金 -专利权人：华北电力大学
申请日： 2022-01-18 - 公布日： 2022-05-27 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本发明针对气体绝缘开关设备(GIS)中驱赶电极使微粒在GIS壳体上初始落点位置具有集中性的特点，提出了一种用于GIS中的驱赶电极与微粒陷阱协同布置方法，本发明方法包括以下步骤：步骤1：建立GIS驱赶电极计算模型；步骤2：设置模型中数据的初始化参数；步骤3：仿真计算5000个微粒随机碰撞驱赶电极后的运动轨迹，统计微粒碰撞电极后初始落点位置分布；步骤4：改变驱赶电极倾斜角度，重复步骤1‑3；步骤5：统计不同倾斜角度驱赶电极下微粒落点概率最大位置数据，通过拟合得到微粒随驱赶电极倾斜角度变化的集中落点位置计算公式。将微粒陷阱中心位置布置在由集中落点计算公式得到的坐标处，能大大提高微粒陷阱对GIS内金属微粒的捕获效率，本发明具有一定的工程意义。
一种用于 gis 中的驱赶电极微粒陷阱协同布置方法

[发明专利]一种成像方法和系统-CN202110737373.7在审
发明人：王征 -专利权人：宁波GQY视讯股份有限公司
申请日： 2021-06-30 - 公布日： 2021-09-14 - 主分类号： G02B30/56 文献下载
摘要：本发明公开一种成像方法和系统，其方法包括：获取待成像位置的位置坐标；根据所述位置坐标控制微粒发射器发射微粒，以及控制所述脉冲光发射器发射脉冲光，使所述脉冲光在所述微粒上反射成像。本发明通过控制微粒发射器与脉冲光发射器使微粒与脉冲光同一时刻到达对应的位置坐标并成像，实现无需幕布或显示屏等成像设备即可实现空间成像的技术效果。
一种成像方法系统

[发明专利]车载微粒传感器数据分析-CN201610178598.2在审
发明人：佩里·罗宾逊·麦克尼尔;奥莱格·由里维奇·古斯京 -专利权人：福特全球技术公司
申请日： 2016-03-25 - 公布日： 2016-10-12 - 主分类号： G01N15/06 文献下载
摘要：本发明公开了一种车载微粒传感器数据分析。一种车辆可包括微粒传感器，所述微粒传感器被配置为产生指示环境微粒的大小和数量的微粒数据。所述车辆还可包括计算装置，所述计算装置被配置为：从至少一个微粒传感器接收所述微粒数据，将所述微粒数据与标识微粒状况的特征数据进行比较，调整车辆设置以处理所述微粒状况或者向用户警告所述微粒状况。一种服务器可通过通信网络从车辆接收路线请求，路线请求指定针对车辆的目的地位置以及描述避免的微粒的特征数据的指示；根据从多个车辆接收到的且包括位置元数据和时间元数据的微粒数据来构建避免微粒的路线；响应于所述请求
车载微粒传感器数据分析

[发明专利]微粒测量装置中的数据校正方法和微粒测量装置-CN201380028501.4有效
发明人：新田尚;今西慎悟;竹内太一 -专利权人：索尼公司
申请日： 2013-04-03 - 公布日： 2018-06-05 - 主分类号： G01N15/14 文献下载
摘要：提供一种技术，据此通过有效地校正由微粒的流道中的流动位置的不一致引起的测量误差能够高精确度地测量荧光和散射光的强度和光谱。提供一种微粒测量装置中的数据校正方法，包括：强度检测过程，允许通过将光照射在流过流道的微粒上来检测从微粒发射的光以获取光的强度信息；位置检测过程，用于获取微粒的位置信息；以及校正过程，用于基于位置信息校正强度信息在数据校正方法的位置检测过程中，检测器接收从微粒发射的散射光中分离的像散S偏振分量，使得S偏振分量在检测器中的接收位置被获取为位置信息。
微粒测量装置数据校正检测器位置检测过程强度信息散射光流道测量荧光基于位置接收位置流动位置强度检测校正过程信息校正发射不一致光照射有效地光谱像散校正测量检测

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