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[发明专利]测量网络部署的影响-CN202080020670.3在审
发明人：文森特·贡盖;马丁努斯·阿诺德·德荣;埃姆雷·泰佩代伦利奥卢;朴元熙;奥斯汀·张 -专利权人：脸谱公司
申请日： 2020-03-04 - 公布日： 2021-10-29 - 主分类号： H04L12/24 文献下载
摘要：地理区域可以包括受网络部署影响的感兴趣的地理区域。该系统可以通过基于地理区域共享的网络度量的度量特征将地理区域聚类成第一组来识别候选对照区域。
测量网络部署影响

[发明专利]测量网络部署的影响-CN202080020832.3在审
发明人：文森特·贡盖;马丁努斯·阿诺德·德荣;埃姆雷·泰佩代伦利奥卢;奥斯汀·张;朴元熙 -专利权人：脸谱公司
申请日： 2020-03-04 - 公布日： 2021-11-12 - 主分类号： H04L12/24 文献下载
摘要：用户界面可以检索通信网络的测量结果和在通信网络上进行的网络部署。该系统可以生成用于测量网络部署对感兴趣的地理区域的影响的项目。系统可以访问与网络部署前后的时间段相关联的网络性能数据。该系统可以基于增量网络度量来确定影响是否大于阈值，该增量网络度量可以基于所访问的网络性能数据并使用一种或更多种测量方法来确定。该系统可以发送用于在用户界面内呈现影响的可视化的指令。
测量网络部署影响

[发明专利]测量耀斑对线宽的影响-CN200480022394.5无效
发明人： D·齐格尔;P·勒鲁 -专利权人：皇家飞利浦电子股份有限公司
申请日： 2004-07-31 - 公布日： 2006-09-13 - 主分类号： G03F7/20 文献下载
摘要：在光刻中，可以确定由于各种曝光工具引起的耀斑的影响。在示例性实施例中，在涂有光致抗蚀剂的衬底上进行的光刻工艺中，存在用于确定耀斑对线缩短的影响的方法(600)。显影所印制的图形(640)，并从其中得到测量结果(650)。作为这些测量结果的函数，确定耀斑的影响(660)。
测量耀斑影响

[发明专利]克服变差影响的电压测量仪-CN200710068948.0无效
发明人：张春雷;方李 -专利权人：张春雷
申请日： 2007-05-29 - 公布日： 2007-10-17 - 主分类号： G01R19/00 文献下载
摘要：一种用于直流电压测量克服变差影响的电压测量仪，它的第一步进盘由21×10Ω的测量盘与不含电阻的辅助盘I’、辅助盘I”组成，第二步进盘由9×9Ω环形电阻及二只1Ω电阻网构成测量盘，由10×0.5Ω电阻构成辅助盘，第三盘为双滑线盘，两个测量盘与测量滑线间用导线连接，不通过开关切换，使电压测量仪测量时不存在变差及热电势影响。
克服影响电压测量仪

[实用新型]克服变差影响的电压测量仪-CN200720109901.X无效
发明人：张春雷;方李 -专利权人：张春雷
申请日： 2007-05-29 - 公布日： 2008-03-12 - 主分类号： G01R19/00 文献下载
摘要：一种用于直流电压测量克服变差影响的电压测量仪，它的第一步进盘由21×10Ω的测量盘与不含电阻的辅助盘I’、辅助盘I”组成，第二步进盘由9×9Ω环形电阻及二只1Ω电阻网构成测量盘，由10×0.5Ω电阻构成辅助盘，第三盘为双滑线盘，两个测量盘与测量滑线间用导线连接，不通过开关切换，使电压测量仪测量时不存在变差及热电势影响。
克服影响电压测量仪

[发明专利]检测方法及特征尺寸测量仪器-CN200810042327.X有效
发明人：柳会雄 -专利权人：中芯国际集成电路制造（上海）有限公司
申请日： 2008-08-29 - 公布日： 2010-03-03 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种检测方法，用于检测磁场对CD测量仪器的影响程度。该检测方法包括：采用单次测量方法测量电路图形的特征尺寸获得测量值W1；采用多点测量方法测量电路图形的特征尺寸获得测量值W2；获取磁场影响指数，其是测量值W1与W2的比值；其中所述磁场影响指数越大说明特征尺寸测量仪器受到磁场影响越大，当所述磁场影响指数越接近1说明特征尺寸测量仪器受到磁场影响越小。本发明的检测方法运用CD测量仪器提供的不同的测量方法，用两种测量值相比较的比值来定量表征磁场对CD测量仪器的影响程度，操作简单，实施方便，不需要额外的仪器设备或操作人员。此外，本发明还公开了一种应用上述检测方法的CD测量仪器。
检测方法特征尺寸测量仪器

[发明专利]用于分析高空气球平台大气温度测量受辐射影响的装置-CN201811637828.2有效
发明人：张金强;宣越健;贾盛洁;毕登辉 -专利权人：中国科学院大气物理研究所;北京中科技达科技有限公司
申请日： 2018-12-29 - 公布日： 2023-09-26 - 主分类号： G01K13/024 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于分析高空气球平台大气温度测量受辐射影响的装置，按照本发明提供的技术方案，所述用于分析高空气球平台大气温度测量受辐射影响的设备，包括用于收纳数据采集存储处理单元的载荷舱，在所述载荷舱的上表面设置上端影响因素测量单元，在载荷舱的下表面设置下端影响因素测量单元，还包括与载荷舱下表面连接的悬挂温度测量单元，所述上端影响因素测量单元、下端影响因素测量单元以及悬挂温度测量单元均与数据采集存储处理单元电连接；本发明结构紧凑，连续观测时间长，能实现多要素测量，抗干扰能力强，能有效确定高空气球平台大气温度测量受辐射影响的情况，安全可靠。
用于分析高空气球平台大气温度测量辐射影响装置

[发明专利]一种没有长导线电阻影响的电阻应变仪-CN201410185375.X有效
发明人：王鸿雁;王骁;田昀;王秀红;常艳 -专利权人：秦皇岛市北戴河兰德科技有限责任公司
申请日： 2014-05-05 - 公布日： 2017-03-22 - 主分类号： G01B7/16 文献下载
摘要：本发明公开了一种没有长导线电阻影响的电阻应变仪，通过在测量计算方法中消除了长导线电阻对惠司登电桥测量的影响，使其在电阻应变仪带有长导线的测量中，不需要考虑长导线对测量数据的影响。从根本上消除长导线电阻对惠司登电桥测量的影响并应用到电阻应变仪中。解决了现有技术很难彻底消除长导线电阻对惠司登电桥测量的影响问题。新型电阻应变仪不再考虑导线的长短和导线电阻的大小，只要在测量范围内，导线电阻对测量精度没有影响。
一种没有导线电阻影响应变

[实用新型]用于分析高空气球平台大气温度测量受辐射影响的装置-CN201822275785.X有效
发明人：张金强;宣越健;贾盛洁;毕登辉 -专利权人：中国科学院大气物理研究所;北京中科技达科技有限公司
申请日： 2018-12-29 - 公布日： 2019-08-23 - 主分类号： G01K13/02 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种用于分析高空气球平台大气温度测量受辐射影响的装置，按照本实用新型提供的技术方案，所述用于分析高空气球平台大气温度测量受辐射影响的设备，包括用于收纳数据采集存储处理单元的载荷舱，在所述载荷舱的上表面设置上端影响因素测量单元，在载荷舱的下表面设置下端影响因素测量单元，还包括与载荷舱下表面连接的悬挂温度测量单元，所述上端影响因素测量单元、下端影响因素测量单元以及悬挂温度测量单元均与数据采集存储处理单元电连接；本实用新型结构紧凑，连续观测时间长，能实现多要素测量，抗干扰能力强，能有效确定高空气球平台大气温度测量受辐射影响的情况，安全可靠。
大气温度测量测量单元高空气球影响因素载荷舱本实用新型辐射数据采集存储温度测量单元处理单元上端下表面下端抗干扰能力悬挂连续观测要素测量收纳分析电连接上表面

[发明专利]测量气体爆炸超压后果影响的方法-CN201410614519.9有效
发明人：赵祥迪;王正;袁纪武;姜春明;李磊 -专利权人：中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司青岛安全工程研究院
申请日： 2014-11-04 - 公布日： 2015-02-25 - 主分类号： G01N33/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种测量气体爆炸超压后果影响的方法，主要解决现有技术中无法进行气体爆炸后超压后果影响测试的问题。本发明通过采用一种测量气体爆炸超压后果影响的方法，在气体爆炸超压后果影响测量实验装置上首先进行不放置待测物体的气体爆炸超压后果影响实验，然后进行放置待测物体的气体爆炸超压后果影响实验，通过改变火焰加速装置的间距及层数改变爆炸超压值，进行不同超压情况下的待测物体的测试结果的技术方案较好地解决了上述问题，可用于带压气体爆炸对结构影响的实验中。
测量气体爆炸后果影响方法

[发明专利]测量气体爆炸对结构影响的实验装置-CN201410614520.1有效
发明人：赵祥迪;王正;袁纪武;李磊 -专利权人：中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司青岛安全工程研究院
申请日： 2014-11-04 - 公布日： 2015-03-11 - 主分类号： G01N25/54 文献下载
摘要：本发明涉及一种测量气体爆炸对结构影响的实验装置，主要解决现有技术中无法在同一容器产生多种超压值的问题。本发明通过采用一种测量气体爆炸对结构影响的实验装置，耐压密闭容器(1)的一端设有至少两个进气口，氧气储罐(6)经氧气计量仪(8)、氧气增压泵(20)后与其中一个进气口相连，爆炸气体储罐(7)经爆炸气体计量仪后与另一个进气口相连，在容器(1)内沿气体流动方向上依次设有点火装置(5)、火焰加速装置(11)、压力传感器(4)、固定在容器(1)上的待测物体(12)的技术方案较好地解决了上述问题，可用于带压气体爆炸对结构影响的实验中
测量气体爆炸结构影响实验装置

[实用新型]用于测量重力对板材的影响的设备-CN202122769970.6有效
发明人：邱洪湘;郭炯均 -专利权人：大亚木业（肇庆）有限公司;大亚人造板集团有限公司
申请日： 2021-11-12 - 公布日： 2022-08-09 - 主分类号： G01M13/00 文献下载
摘要：本实用新型属于测量技术领域，公开了一种用于测量重力对板材的影响的设备，它包括适于固定板材的一端部并使板材的另一端部悬空的固定装置、适于实时测量板材的远固定装置端的下垂量并以特定时间间隔外发的第一测距传感器及与所述第一测距传感器信号连接并适于接收距传感器板材所发送的下垂量的控制器本实用新型可以很好地测量板材不同时长后的形变量，进而方便分析重力在板材伸出长度、时间长短等条件下对板材形变的影响。
用于测量重力板材影响设备

[发明专利]一种基于红外热像仪测量眼睛温度的校准方法-CN201710748483.7在审
发明人：袁彬;龚萍;谢亮 -专利权人：中国科学院半导体研究所
申请日： 2017-08-25 - 公布日： 2019-03-05 - 主分类号： A61B5/01 文献下载
摘要：本发明提供了一种基于红外热像仪测量眼睛温度的校准方法，该校准方法包括以下步骤：步骤1)确定眼睛的真实温度和环境温度之间的关系；步骤2)确定测量距离对红外热像仪测量结果的影响；步骤3)确定环境温度对红外热像仪测量结果的影响；步骤4)确定测量距离和环境温度对红外热像仪测量结果的影响；步骤5)确定红外热像仪测量的眼睛温度的误差；步骤6)对红外热像仪测量得到的温度进行校准。所述校准方法在考虑测量距离和环境温度对红外热像仪测量结果影响的情况下，对测量结果进行修正，可以显著提高红外热像仪的测量精度和准确性。
红外热像仪校准测量距离测量眼睛测量红外热像修正

[发明专利]一种通信卫星多波束指向标校测量误差估计方法-CN202110315824.8有效
发明人：何元智;刘韵 -专利权人：军事科学院系统工程研究院网络信息研究所
申请日： 2021-03-24 - 公布日： 2021-09-17 - 主分类号： H04B7/185 文献下载
摘要：本发明公开了一种通信卫星多波束指向标校测量误差估计方法，其步骤包括：计算标校源误差和发射天线误差影响下的标校源信号功率测量值，得到星载设备误差影响下的标校源信号功率测量值，计算接收天线误差影响下的标校源信号功率误差值；计算获得测量误差影响下波束指向偏差的误差。本方法根据标校源信号产生、传输、接收处理流程，分别对星载标校设备和标校站设备存在的影响因素进行估计，具有影响因素考虑全面，符合实际标校测量误差引入情况的特点，提高指向标校测量误差的估计精度，减小卫星多波束标校测量误差，降低测量误差对姿态偏差量计算结果的影响，改善通过卫星姿态调整提高多波束指向精度的效果。
一种通信卫星波束指向测量误差估计方法

[发明专利]可消除测量电路影响的SET脉冲测量电路及集成电路芯片-CN202110774788.1在审
发明人：梁斌;张啸宇;池雅庆;陈建军;袁珩洲;罗登 -专利权人：中国人民解放军国防科技大学
申请日： 2021-07-08 - 公布日： 2021-10-08 - 主分类号： G01R23/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种可消除测量电路影响的SET脉冲测量电路及集成电路芯片，其中可消除测量电路影响的SET脉冲测量电路包括SET脉冲测试链、锁存电路、触发器测试电路、锁存自触发电路四个部分；集成电路芯片中设有测试链模块和两套前述可消除测量电路影响的SET脉冲测量电路，且两套可消除测量电路影响的SET脉冲测量电路的输入相同，且均与测试链模块的输出端相连。本发明能够完全消除测量电路被轰击所产生的额外SET脉冲影响，使测试芯片的实验结果能够更准确地反映芯片的抗辐照性能，对抗辐照集成电路的研究更具有指导意义。
消除测量电路影响 set 脉冲集成电路芯片

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