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[实用新型]精铸件X射线检测的异常缺陷图谱-CN201820546977.7有效
发明人：满月娥;段留章;仇锦;聂衍;许艺达 -专利权人：株洲中航动力精密铸造有限公司
申请日： 2018-04-17 - 公布日： 2018-12-25 - 主分类号： G01N23/04 文献下载
摘要：本实用新型的精铸件X射线检测的异常缺陷图谱，图页包括底片和底板。底片固定在底板上，底片不会轻易移动或脱落，便于底片评定者参照底片进行评片；底板上的透光口使得光线能从透光口进入并透过底片，底片上的异常缺陷影像处于透光口范围内，使得底片评定者能更好地识别底片上的异常缺陷影像将精铸件X射线检测工作中首次发现的异常缺陷，通过对异常缺陷位置再进行透照，将所得承载有异常缺陷影像的底片制作成异常缺陷图谱，底片评定者评片前先看异常缺陷图谱，对异常缺陷有所认知后，再进行评片，这样能不断提高底片评定者对精铸件异常缺陷的认知和底片评定水平
底片异常缺陷评定精铸件底板图谱透光口影像认知本实用新型底片制作漏检透照承载检测移动发现

[发明专利]一种基于异常合成与分解的纹理表面缺陷检测方法与系统-CN202110033380.9有效
发明人：杨华;宋开友;尹周平;侯岳 -专利权人：华中科技大学
申请日： 2021-01-12 - 公布日： 2022-07-05 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于异常合成与分解的纹理表面缺陷检测方法和系统，属于图像处理领域。本发明构建分割引导的缺陷生成网络，可利用少量真实缺陷训练样本生成大量与真实缺陷相似的缺陷样本，同时提出基于高斯采样的异常合成方法可利用无缺陷正样本随机合成异常负样本，可解决工业中缺陷样本量少的难题，进而提高缺陷检测精度；本发明通过采用异常分解网络来将异常负样本分解为纹理背景图像与异常掩膜图像，可有效抑制缺陷被重构到纹理背景中，提高纹理背景重构精度，并可精确分割缺陷区域，将残差图像与异常分割图像融合，进而提高缺陷检出率、降低缺陷过检率。
一种基于异常合成分解纹理表面缺陷检测方法系统

[发明专利]一种配电自动化缺陷管理系统及方法-CN202011258288.4在审
发明人：郭波;吴子辰;田然;李霁轩;顾彬;苏杨;沈哲敏;洪涛;李璟辉;陈鹏;郭焘;纪大伟;戴件胤;梁洋洋;巢玉坚;蔡新忠;夏轩;邓伟;钱琦;徐士元;王烨;毛文杰 -专利权人：国网江苏省电力有限公司信息通信分公司;南京南瑞信息通信科技有限公司
申请日： 2020-11-12 - 公布日： 2021-02-23 - 主分类号： H02J13/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种配电自动化缺陷管理系统及方法，涉及配电自动化缺陷管理领域，其技术方案为：调度控制中心对主站异常、安全异常每日开展人工巡检、分析，同时在日常实用化应用中发现缺陷，确认缺陷后在系统中发起缺陷流程；在主站发现的异常中，需要配电网对缺陷进行分析并对其进行分类，通过推送在缺陷综合监视页面查看主站异常、通信异常、终端异常，并对应着主站缺陷、通信缺陷、终端缺陷以及拓扑不正确，能够实时掌握设备运行状态，满足工作要求，从而实现精准识别缺陷来源，使得很多缺陷可以被发现和被防治。
一种配电自动化缺陷管理系统方法

[发明专利]导致表面缺陷的异常定位方法、装置、系统及电子设备-CN201810564884.1有效
发明人：陈佳伟 -专利权人：杭州海康威视数字技术股份有限公司
申请日： 2018-06-04 - 公布日： 2022-04-05 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明实施例提供了一种导致表面缺陷的异常定位方法、装置、系统及电子设备，导致表面缺陷的异常定位方法包括：获取待检测图像的缺陷检测结果，其中，缺陷检测结果包括待检测图像中的缺陷统计信息，待检测图像为图像采集设备拍摄的包括检测对象的图像；获取与缺陷统计信息匹配的待分析图像；对待分析图像进行检测分析，确定出与缺陷统计信息关联的异常信息，其中，异常信息包括异常位置信息。通过本方案，可以准确定位导致表面缺陷的异常。
导致表面缺陷异常定位方法装置系统电子设备

[发明专利]修复函数缺陷的方法、装置及服务器-CN201810210229.6在审
发明人：夏良钊;郑龙日;胡明;包沉浮;韦韬 -专利权人：百度在线网络技术（北京）有限公司
申请日： 2018-03-14 - 公布日： 2018-08-17 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明提出一种不依赖函数源码的修复函数缺陷的方法、装置及服务器，适用于该函数的多个版本。所述方法包括：确定预设缺陷函数；检查所述预设缺陷函数的参数是否存在异常；若存在异常，则向所述预设缺陷函数的上层调用函数返回指示异常的信息；若不存在异常，则执行所述预设缺陷函数。本发明实施例的技术方案过滤参数存在异常的预设缺陷函数，然后根据预设缺陷函数的参数异常情况来选择执行或不执行预设缺陷函数，可以实现无需获取缺陷函数的源码的情况下，对缺陷函数进行修复。
预设修复源码服务器调用函数过滤参数选择执行上层返回检查

[发明专利]一种缺陷识别方法、装置、设备及存储介质-CN202110893431.5在审
发明人：邹扬 -专利权人：格创东智（深圳）科技有限公司
申请日： 2021-08-04 - 公布日： 2023-02-17 - 主分类号： G06F18/2321 文献下载
摘要：本申请提供一种缺陷识别方法、装置、设备及存储介质，涉及了显示技术领域，解决了无法及时确认异常原因，导致大批量的产品报废的问题，包括获取多个待识别缺陷产品的待分析缺陷数据，待分析缺陷数据包含待识别缺陷产品的产品制程机台信息；对多个待分析缺陷数据进行聚集性分析，得到多个缺陷分析结果，缺陷分析结果为具有缺陷聚集性的待分析缺陷数据；根据多个缺陷分析结果，确定异常高发产品制程机台信息和多个待识别缺陷产品的缺陷类型。本申请可以快速定位出待识别缺陷产品的缺陷类型以及异常高发的产品制程机台，能够及时确认异常原因，缩短异常处理时间，降低产品报废率。
一种缺陷识别方法装置设备存储介质

[发明专利]一种电路板表面缺陷检测方法、系统、设备及存储介质-CN202211676405.8在审
发明人：请求不公布姓名 -专利权人：成都数之联科技股份有限公司
申请日： 2022-12-26 - 公布日： 2023-04-07 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明提供一种电路板表面缺陷检测方法、系统、设备及存储介质，涉及缺陷检测技术领域，所述方法包括步骤：(1)对无缺陷的电路板表面图像进行数据扩充处理和图像增强处理，以形成图像数据集；(2)基于图像数据集对无监督异常检测模型进行训练；(3)将待检测的电路板表面图像输入训练后的无监督异常检测模型进行异常分数计算，以获取异常分数校验矩阵；(4)基于异常分数校验矩阵对待检测的电路板表面图像进行缺陷判定和缺陷位置判定。本发明利用无监督异常检测技术进行缺陷检测，无需人工缺陷标注，不会引入人工缺陷标注带来的训练数据噪声，无监督异常检测模型鲁棒性较好，能够完成多种不同的电路板缺陷检测任务。
一种电路板表面缺陷检测方法系统设备存储介质

[发明专利]一种管道缺陷模型预测方法、系统、终端设备及存储介质-CN202310953287.9在审
发明人：朱建波 -专利权人：河南博锐流体设备有限公司
申请日： 2023-07-28 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G06F18/20 文献下载
摘要：本申请涉及矿业工程技术领域，尤其涉及一种管道缺陷模型预测方法、系统、终端设备及存储介质。其方法包括，若分析结果为结构性异常，则获取对应的结构异常组件，并提取异常组件对应的同族异常特征至结构性缺陷预测模型，生成结构异常组件对应的目标缺陷预测走势图作为缺陷预测结果；若分析结果为功能性异常，则结合异常功能元件对应的寿命预测模型和逻辑联动关系，生成对应的控制系统缺陷预测分布作为缺陷预测结果。本申请提供的一种管道缺陷模型预测方法、系统、终端设备及存储介质具有提升矿用乳化液输送管道的缺陷预测效果。
一种管道缺陷模型预测方法系统终端设备存储介质

[发明专利]一种风机叶片表面缺陷视觉检测方法-CN202310934084.5有效
发明人：濮晓明;吴放明 -专利权人：无锡市明通动力工业有限公司
申请日： 2023-07-28 - 公布日： 2023-09-22 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明涉及图像数据处理技术领域，具体涉及一种风机叶片表面缺陷视觉检测方法，该方法首先获取风机叶片的正视图灰度图像中灰度值异常的异常区域，根据异常区域在灰度分布以及差异上的特征得到基准缺陷概率，根据异常区域的延伸方向得到对应的角度特征符合程度，根据异常区域的长宽分布得到对应的形状特征符合程度，根据异常区域对应的空间及灰度分布得到对应的纹理特征符合程度，结合基准缺陷概率、角度特征符合程度、形状特征符合程度和纹理特征符合程度，得到每个异常区域的最终缺陷概率，根据最终缺陷概率进行风机叶片表面缺陷检测。本发明通过计算出的最终缺陷概率对风机叶片表面缺陷检测的准确度更高。
一种风机叶片表面缺陷视觉检测方法

[发明专利]一种缺陷检测方法、终端设备及存储介质-CN202211107746.3在审
发明人：王建坤;林丽红;何青;陈伟权;梁火炎;梁火炼;陈俊威;高建彬 -专利权人：厦门博视源机器视觉技术有限公司
申请日： 2022-09-13 - 公布日： 2022-12-09 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种缺陷检测方法、终端设备及存储介质，该方法中包括：采集正常图片和对应的异常图片，将异常图片压缩后，分别构建压缩前后的标签L1和L2；将正常图片、异常图片和标签L2组成第一训练集；构建缺陷定位模型，通过第一训练集进行训练，得到最终缺陷定位模型；将最终缺陷定位模型输出的缺陷定位结果放大后与异常图片进行或运算，得到异常图片对应的缺陷图片；将缺陷图片和标签L1组成第二训练集；构建缺陷分割模型，通过第二训练集进行训练，得到最终缺陷分割模型；基于最终缺陷定位模型和最终缺陷分割模型对待检测图像进行缺陷检测。本发明提高了缺陷检测的精确度。
一种缺陷检测方法终端设备存储介质

[发明专利]一种管道异常时间定位方法、装置、设备和存储介质-CN202210220367.9在审
发明人：陈涵;王亚立;乔宇;代毅 -专利权人：中国科学院深圳先进技术研究院;深圳市博铭维技术股份有限公司
申请日： 2022-03-08 - 公布日： 2023-09-19 - 主分类号： G06V20/40 文献下载
摘要：本发明公开了一种管道异常时间定位方法、装置、设备和存储介质。该方法包括：获取待检测管道视频每帧图像的置信度，其中，所述置信度包括：正常置信度和16种缺陷的置信度；根据所述每帧图像的置信度确定至少一个异常区间，其中，所述异常区间由第一数量的连续异常帧图像组成；根据每个异常区间中每帧图像的16种缺陷的置信度确定每个异常区间对应的目标缺陷集合；根据每个异常区间对应的目标缺陷集合确定目标缺陷对应的目标时间信息。本发明实施例采用渐进式弱监督时间定位方法，通过缺陷分类‑分割的引导，有效定位时间区间，实现更可靠地在异常区间内找异常分类。
一种管道异常时间定位方法装置设备存储介质

[发明专利]一种十字线缺陷检测方法、系统、阵列基板及显示面板-CN201911173649.2有效
发明人：肖平坦 -专利权人：深圳市华星光电半导体显示技术有限公司
申请日： 2019-11-26 - 公布日： 2023-06-02 - 主分类号： G09G3/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种十字线缺陷检测方法、系统、阵列基板及显示面板，包括步骤：测试基板中十字线缺陷的第一坐标数值；根据所述第一坐标数值标记异常电路；测试出所述异常电路的第二坐标数值，并生成所述十字线缺陷和所述异常电路的异常影像；根据所述第二坐标数值和所述异常影像，确定所述十字线缺陷的准确位置；根据所述十字线缺陷的准确位置进行修补。通过制作出专门的标记异常电路，用以获取未知异常位置与已知异常异常的相对位置关系，进而得到未知异常位置的精确位置所在，实现十字线缺陷的精准“盲修”。能够提高十字线缺陷的盲修准确性，提升产品良率；降低产品生产成本、提高工厂效益。
一种十字缺陷检测方法系统阵列显示面板

[发明专利]一种异常检测模型的检测能力评估方法和装置-CN202310489069.4在审
发明人：宋洋;赵昕 -专利权人：鲸朵（上海）智能科技有限公司
申请日： 2023-05-04 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种异常检测模型的检测能力评估方法和装置，其中方法包括：将测试良品图输入到测试缺陷图生成器，得到测试缺陷图；将测试良品图和测试缺陷图输入待评价的异常检测模型，得到测试良品热力图和测试缺陷热力图；对测试良品热力图和测试缺陷热力图做差分，得到差分热力图；根据差分热力图和若干缺陷点的预设坐标信息，得到每个缺陷点的缺陷评分；根据预设分数阈值和缺陷评分，按预设顺序判断每个缺陷点是否为可识别缺陷，得到每个缺陷点的判断结果；根据每个缺陷点的判断结果，得到异常检测模型的检测能力。本发明通过评估异常检测模型的检测能力，判断模型检出缺陷点的检测能力，避免使用不满足需求的异常检测模型，造成不良品漏失。
一种异常检测模型能力评估方法装置

[发明专利]基于图像处理的塑料模具表面缺陷分析检测方法-CN202311159959.5在审
发明人：李静轩 -专利权人：深圳市伟利达精密塑胶模具有限公司;深圳市林兴塑胶电子有限公司
申请日： 2023-09-11 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明涉及图像边缘检测技术领域，具体涉及基于图像处理的塑料模具表面缺陷分析检测方法，该方法首先获取塑料模具的表面灰度图像对应的模具连接边缘，根据模具连接边缘上像素点的局部灰度分布差异得到邻域异常值，根据邻域异常值得到异常模具连接点；根据异常模具连接点邻域内像素点的灰度偏差程度以及灰度分布情况，得到对应的模具异常区域，根据模具异常区域的形状特征结合其中各个像素点的灰度值，得到其中各个像素点的缺陷置信度，最后结合缺陷置信度得到真实模具缺陷区域，并进行塑料模具缺陷分析检测。本发明通过缺陷置信度得到的真实模具缺陷区域，对塑料模具表面缺陷分析检测的准确度更高。
基于图像处理塑料模具表面缺陷分析检测方法

[发明专利]一种缺陷分析方法、装置、电子设备及存储介质-CN202211739371.2有效
发明人：刘媛媛;王玉柱;施志洋;华佑南;罗晓丹;李晓旻 -专利权人：胜科纳米（苏州）股份有限公司
申请日： 2022-12-30 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种缺陷分析方法、装置、电子设备及存储介质。该方法包括：获取包含目标对象的待分析缺陷图片，并确定所述目标对象在所述待分析缺陷图片中所在的目标区域，其中，所述目标对象存在缺陷；获取预先定义的目标缺陷颜色，并基于所述目标缺陷颜色在所述目标区域中确定目标异常区域；确定所述目标异常区域相较于所述目标区域的异常比例，并基于所述异常比例，对所述目标对象所存在的缺陷进行分析。本发明实施例的技术方案，能够实现精准的缺陷分析。
一种缺陷分析方法装置电子设备存储介质

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