专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]应对FLASH芯片异常掉电的读取方法-CN201310744401.3有效
  • 胡洪;洪杰;王林凯 - 北京兆易创新科技股份有限公司
  • 2013-12-30 - 2018-09-28 - G11C16/10
  • 本发明涉及存储器技术领域,尤其涉及一种应对FLASH芯片异常掉电的读取方法;其中所述读取方法包括:读取FLASH芯片中掉电保护单元;掉电保护单元用于FLASH芯片在擦除过程中异常掉电时,记录FLASH芯片存储阵列中当前擦除区域的地址信息;当掉电保护单元存储有地址信息时,读取地址信息;当所述地址信息与预读取区域的地址信息相同时,对地址信息对应的存储阵列中区域进行读取修正;读取修正为调整读取时的读取电流;以及读取修正后,对预读取区域进行读取本发明提供应对FLASH芯片异常掉电的读取方法,在对异常掉电时未进行过擦除修正的存储单元进行读取修正后对预读取位置进行读取,减少了读取的误读,提升了FLASH芯片的可靠性。
  • 应对flash芯片异常掉电读取方法
  • [发明专利]充电异常管理方法及相关装置-CN202310763215.8在审
  • 宁红扬;袁振;李士亮 - 荣耀终端有限公司
  • 2023-06-27 - 2023-07-28 - G06F11/07
  • 本申请实施例提供一种充电异常管理方法及相关装置,该方法包括:当电子设备异常停止充电时,记录电子设备的充电接口的引脚的掉电顺序;向云端上传异常停止充电相关数据;其中,异常停止充电相关数据包括:充电接口的引脚的掉电顺序,和/或,电子设备异常停止充电的原因,其中,电子设备异常停止充电的原因与充电接口的引脚的掉电顺序具有预设的对应关系。这样,电子设备的维修人员或者研究人员可以将充电接口的引脚的掉电顺序以及电子设备异常停止充电的原因等数据作为参考数据,更迅速、准确的定位电子设备异常停充的原因。
  • 充电异常管理方法相关装置
  • [发明专利]FLASH芯片及应对FLASH芯片异常掉电的擦除或编程方法-CN201310744405.1有效
  • 胡洪;洪杰;王林凯 - 北京兆易创新科技股份有限公司
  • 2013-12-30 - 2018-09-07 - G11C16/10
  • 本发明涉及存储器技术领域,尤其涉及一种FLASH芯片及应对FLASH芯片异常掉电的擦除或编程的方法;其中,所述应对FLASH芯片异常掉电的擦除或编程方法包括:读取FLASH芯片中掉电保护单元;当掉电保护单元存储有地址信息时,获取地址信息;地址信息为FLASH芯片在擦除过程中异常掉电时,掉电保护单元记录的当前擦除区域的地址信息;根据地址信息,对地址信息对应的存储阵列中区域进行过擦除修正;以及当过擦除修正完成后,对FLASH本发明提供的方法,利用掉电保护单元记录的地址信息,在FLASH芯片异常掉电后再次进行擦除或编程时,对地址信息所对应区域中存储单元进行过擦除修正,减少了存储阵列中较大漏电流存储单元的数量,提高FLASH芯片的可靠性
  • flash芯片应对异常掉电擦除编程方法
  • [发明专利]一种用于SSD整机异常掉电测试方法及其系统-CN201910406396.2有效
  • 罗发治 - 深圳忆联信息系统有限公司
  • 2019-05-15 - 2023-08-29 - G06F11/22
  • 本发明涉及一种用于SSD整机异常掉电测试方法及其系统;其中,方法,包括:S1,Host主机通过交换机与多端口可编程电源分配器,及待测计算机搭建局域网;S2,Host主机对多端口可编程电源分配器进行设置;S3,Host主机导入异常掉电测试脚本,并运行该脚本对待测计算机进行多轮循环异常掉电测试;S4,判断Host主机是否能与待测计算机进行通信;S5,测试结束。本发明通过异常掉电测试脚本控制为待测计算机进行高频次的上下电操作,从而覆盖了对待测计算机从上电启动初始化直至进入Windows操作系统后的整个过程进行高频次的异常掉电的测试场景,对SSD读写时进行的随机异常掉电的测试
  • 一种用于ssd整机异常掉电测试方法及其系统
  • [发明专利]硬盘掉电测试方法、系统及介质-CN202310699413.2在审
  • 谢登煌 - 深圳市晶存科技有限公司
  • 2023-06-13 - 2023-10-03 - G11C29/56
  • 本申请公开了硬盘掉电测试方法、系统及介质,方法包括:对待测硬盘进行逻辑分区,得到第一分区和第二分区;向第一分区的至少一部分区域填充预设的样本数据,并向第二分区发送测试指令;对待测硬盘进行异常掉电;当待测硬盘通过异常掉电,将样本数据拷贝至第二分区,并对待测硬盘进行异常掉电;当确定样本数据拷贝成功并且待测硬盘通过异常掉电,对第一分区进行数据填充操作,直至满足预设的结束条件。根据本申请的技术方案,能够在硬盘填充数据的情况下对硬盘进行测试,更加贴近硬盘的应用场景,实现对硬盘的全面掉电测试。
  • 硬盘掉电测试方法系统介质

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