专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]X射线摄影系统及调节方法-CN202210937149.7在审
  • 钟灿 - 上海联影医疗科技股份有限公司
  • 2022-08-05 - 2022-11-01 - A61B6/00
  • 本发明提供了一种X射线摄影系统及调节方法。所述X射线摄影系统包括射线探测器以及射线发生器;所述射线探测器相对于所述射线发生器的角度可调节,所述射线发生器被配置为,其所发出的射线的照射方向适配于所述射线探测器的角度调节,以使所述射线照射于所述射线探测器的射线接收面所述X射线摄影系统调节方法包括:调节所述射线探测器相对于所述射线发生器的角度。本发明射线探测器方向的调整,利于避免射线探测器与受检者以及周边设备的干涉,保持射线探测器所发射的射线的较大可摆位角度,避免对操作者视野的遮挡,并使得X射线摄影系统同时满足大尺寸和小尺寸射线探测器介入手术的使用需求
  • 射线摄影系统调节方法
  • [发明专利]射线源微调系统及方法-CN202111050086.5在审
  • 鞠金采;杨斌;孙文峰;李鹏;黄锐鑫;余鸿浩 - 浙江华视智检科技有限公司
  • 2021-09-08 - 2022-01-18 - G01V5/00
  • 本发明涉及一种射线源微调系统及方法,该射线源微调系统包括支撑架、探测板、调节装置及控制器;支撑架能够位于主探测板的板缝处;探测板设置于支撑架且探测板的长度方向与支撑架所在的长度方向保持垂直,探测板能够接收射线源射出的射线;调节装置用于调节射线源相对于主探测板的位置;控制器用于获取探测板上的射线能量值,并控制调节装置调节射线源。上述射线源微调系统,探测板接收射线源发射的X射线,控制器获取探测板上的射线能量值,并判断探测板接收的最高射线能量值的位置是否与主探测板的板缝处对应,若探测板接收的最高射线能量值的位置未与主探测板的板缝处对应,则控制器控制调节装置调节射线源的相对于主探测板的位置。
  • 射线微调系统方法
  • [实用新型]探测装置和多模态医学成像系统-CN202022913462.6有效
  • 张宇;冯娟 - 上海联影医疗科技股份有限公司
  • 2020-12-07 - 2021-12-17 - A61B6/00
  • 本申请涉及一种探测装置和多模态医学成像系统,包括罩壳以及容置于罩壳内的X射线探测器。X射线探测器的探测面与罩壳相对设置。因此X射线探测器的探测面可以接收从罩壳射入的X光线。探测装置还包括容置于罩壳内的超声探测器。超声探测器与X射线探测器之间能够相对运动。超声探测器能够运动至X射线探测器的探测面之外。当需要对待检测组织进行X射线检测时,可以使得超声探测器运动至X射线探测器的探测面之外,使得超声探测器远离待检测组织和X射线探测器。因此探测装置可以根据需要选择X射线探测器或者超声探测器工作,以充分发挥X射线探测器和超声探测器的优点,具有使用灵活方便的优势。
  • 探测装置多模态医学成像系统
  • [发明专利]一种浆体管道输送密度变化探测计及探测方法-CN202011554163.6在审
  • 王浩;范红军;王琦;王进尚;刘玉卫 - 郑州工程技术学院
  • 2020-12-24 - 2021-05-04 - G01N9/24
  • 本发明提供一种浆体管道输送密度变化探测计及探测方法,用于进行管道浆体密度探测探测计包括:射线发射装置,射线发射装置具有放射源,用于向待测管道发射探测射线;封装板,封装板设置在射线发射装置上,使射线发射装置与待测管道之间形成封闭空间,以避免探测射线逃逸;探测装置,探测装置与射线发射装置设置于待测管道相对的两侧,用于对探测射线的强度进行检测;由于探测射线通过待测管道时,与待测管道内的待测物质相互作用并发生强度衰减,通过探测装置进行探测射线衰减检测,进而通过计算即可得出待测管道内物质密度或者密度;设置多个探测装置,能够对待测管道进行多层探测,以实现待测管道内密度变化的检测。
  • 一种管道输送密度变化探测方法
  • [发明专利]用于产生检查对象的X射线图像的方法和装置-CN201610384518.9有效
  • J.弗罗伊登贝格尔 - 西门子保健有限责任公司
  • 2016-06-02 - 2020-06-05 - A61B6/00
  • 本发明涉及记录无散射辐射的X射线图像。描述一种用于产生检查对象的X射线图像的方法。在该方法中在X射线探测器的方向上发射X射线,其中在X射线探测器和发射X射线的X射线源之间布置有检查对象。以横穿X射线探测器的探测面的方式移动被布置在检查对象和X射线探测器之间的防散射射线格栅。时间以及位置分辨地检测包括入射在X射线探测器上的X射线的强度的X射线探测器信号。最后,在顾及X射线探测器信号的所检测的强度的由防散射射线格栅的移动造成的时间上的波动的情况下分析X射线探测器信号。还描述一种X射线成像装置。
  • 用于产生检查对象射线图像方法装置
  • [实用新型]一种双源防散射安检机-CN201720889396.9有效
  • 冉现瑞;吕冬煜;孙谦 - 上海英曼尼安全装备有限公司;上海英迈吉东影图像设备有限公司
  • 2017-07-21 - 2018-02-23 - G01V5/00
  • 本实用新型公开了一种双源防散射安检机,包括安检机本体,安检机本体包括一安检机壳体,还包括设置于安检机壳体内的至少两个射线源;与至少两个射线源配合使用的射线探测器,射线探测器设置于安检机壳体上部的侧壁上,其中,射线探测器包括射线探测器盒体;射线探测器盒体的内部分为至少两个射线探测室,相邻射线探测室之间设有隔板;设置于射线探测室内的采传装置;每个射线探测室对应的射线探测器盒体的侧壁上开有供射线通过的射线区域,每个射线区域位于每个射线源与采传装置连成的直线上且位于每个所述射线源与采传装置之间。
  • 一种双源防散射安检
  • [发明专利]用于射线检查的成像系统-CN202110217737.9在审
  • 陈志强;张丽;金鑫;赵振华 - 清华大学;同方威视技术股份有限公司
  • 2021-02-26 - 2022-08-30 - A61B6/03
  • 本发明涉及用于射线检查的成像系统。公开了一种用于射线检查的成像系统,包括:第一射线源组件,包括多个射线源;第二射线源组件,包括多个射线源,第一射线源组件的所有射线源的靶点都布置在第一射线源平面内,第二射线源组件的所有射线源的靶点都布置在第二射线源平面内;多个第一探测器单元,多个第一探测器单元布置在第一探测器平面内;多个第二探测器单元,多个第二探测器单元布置在第二探测器平面内;和探测器支架,多个第一探测器单元和多个第二探测器单元都安装在探测器支架上,其中,第一射线源平面、第二射线源平面、第一探测器平面与第二探测器平面沿行进方向依次分布。
  • 用于射线检查成像系统
  • [发明专利]CT设备、参考探测装置及射线源的射线探测方法-CN201711195381.3有效
  • 叶婷;杜岩峰 - 上海联影医疗科技股份有限公司
  • 2017-11-24 - 2020-11-24 - A61B6/03
  • 本发明提供一种参考探测装置,具有供所述射线通过的入射窗,所述参考探测装置还包括:探测组件,所述射线穿设所述入射窗并投射到所述探测组件上;所述探测组件根据所述射线投射在所述探测组件的投影区域内探测到的射线能量信息确定射线源的焦点位置;和/或,根据所述探测组件的预设区域内探测到的射线能量信息确定所述射线源的射线强度;其中,所述入射窗具有至少两条沿不同方向延伸的边沿,以限定所述投影区域和/或所述预设区域。这样,能够跟踪射线源的焦点位置以及检测射线源的射线强度,进而对CT系统的成像进行修正,避免射线输出波动导致图像成像出现伪影,提高图像成像质量。本发明还提供一种CT设备及射线源的射线探测方法。
  • ct设备参考探测装置射线方法
  • [发明专利]安检设备和射线探测方法-CN201510885398.6有效
  • 崔锦;林东;胡斌;谭贤顺;王虹 - 同方威视技术股份有限公司
  • 2015-12-04 - 2019-01-04 - G01V5/00
  • 本发明提出一种安检设备和射线探测方法,涉及安检领域。其中,本发明的安检设备包括射线发射装置和射线探测器;其中,射线探测器包括:前散射探测器,位于待测物体相对于射线发射装置的对侧;射线探测器还包括:背散射探测器,位于射线发射装置与待测物体之间;和/或透射探测器,位于待测物体相对于射线发射装置的对侧。这样的安检设备具有前散射探测器,配合背散射探测器一起使用能够减少探测死角,优化对射线源对侧内部信息的探测;配合透射探测器一起使用,能够实现同时对高密度和低密度物质的探测,从而优化了对待测物体的探测效果,提高了探测的准确度。
  • 安检设备射线探测方法
  • [发明专利]通过X射线准直来控制的探测器旋转-CN201580055465.X有效
  • H-I·马克 - 皇家飞利浦有限公司
  • 2015-10-09 - 2021-03-26 - A61B6/06
  • 本发明涉及能旋转的X射线探测器。为了改善临床工作流程,提供了一种X射线探测器布置(10),其包括:X射线探测器单元(12)和旋转单元(14)。所述X射线探测器单元(12)包括具有被布置为探测器表面(18)的多个X射线探测元件的X射线探测器(16)。所述旋转单元(14)被配置为在接收到旋转信号(22)后,关于至少在与所述探测器表面(18)的相交点处垂直于所述探测器表面(18)的轴(20)来旋转所述X射线探测器。此外,所述旋转信号(22)由X射线源布置的准直器配置依赖性规定,所述X射线源布置用于朝向所述X射线探测器单元提供X射线辐射。
  • 通过射线准直来控制探测器旋转
  • [发明专利]用于控制X射线探测器的系统-CN201580002850.8有效
  • H-I·马克 - 皇家飞利浦有限公司
  • 2015-05-06 - 2017-09-19 - A61B6/00
  • 本发明涉及用于控制用于对X射线辐射的探测的X射线探测器(11)的系统(1)、包括这种系统(1)的X射线成像装置(3)以及用于控制用于对X射线辐射的探测的X射线探测器(11)的方法。用于对X射线辐射的探测的系统(1)包括触发器设备(12)。该触发器设备(12)被配置为远离X射线探测器(11)被布置。触发器设备(12)还被配置为被数据链接到X射线探测器(11)。触发器设备(12)被配置为确定X射线管(2)的X射线曝光的开始,生成激活信号并且将这种信号传递到X射线探测器(11)以激活图像探测
  • 用于控制射线探测器系统
  • [发明专利]X射线检查系统-CN201410851416.4有效
  • 李树伟;张清军;康克军;李元景;李玉兰;赵自然;刘以农;刘耀红;朱维彬;赵晓琳;何会绍 - 清华大学;同方威视技术股份有限公司
  • 2014-12-31 - 2018-01-23 - G01N23/02
  • 本发明公开了一种X射线检查系统,包括X射线发射装置、探测器阵列和X射线束流强度监控装置,X射线发射装置发出的X射线束流包括照射于探测器阵列上的工作束流和照射于探测器阵列之外的冗余束流,X射线束流强度监控装置包括强度探测模块和数据处理模块,强度探测模块设置于X射线发射装置和探测器阵列之间以接受冗余束流的照射并发出探测信号,数据处理模块与强度探测模块耦合以接收探测信号并输出X射线束流强度监控信号。该X射线检查系统的强度探测模块利用的是X射线束流的冗余束流,强度探测模块基本不受X射线发射装置和被检物体的影响,从而可使X射线束流强度的监控结果更加准确可靠。
  • 射线检查系统

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