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- [发明专利]石英晶体微量天平准确性验证试验系统-CN200710195196.4有效
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臧卫国;易忠;孙伟;于钱;杨东升
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北京卫星环境工程研究所
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2007-12-04
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2009-06-10
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G01N5/02
- 本发明涉及一种石英晶体微量天平测量准确性试验装置,包括放气室原位实时称重系统、放气物余弦定量散射系统、角系数检验系统;放气室原位实时称重系统实现放气物质量变化的实时测量,其测量值通过标定的电子天平追溯到国家质量计量基准;放气物余弦定量散射系统通过定量散射方法将10-4g数量级的定量质量传递到石英晶体微量天平表面上的10-7g/cm2数量级的定量质量面密度,实现了石英晶体微量天平的定量加载,其加载量测量准确性可追溯到上级和国家计量系统的质量基准;角系数检验系统,用于验证散射系统角系数的准确性,保证整个质量传递过程的受控。本发明的准确性试验系统的试验精度高,不确定度优于40%,采用放气物的真空下实时的直接称重,实现了放气速率的准确测量。
- 石英晶体微量天平准确性验证试验系统
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