专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种辐射计定标方法-CN201010248723.5无效
  • 卢建平;张刊;吴皓;朱磊;王超;秦江 - 中国兵器工业第二○六研究所
  • 2010-08-05 - 2011-01-05 - G01J5/52
  • 本发明公开一种辐射计定标方法,在利用“四点非线性法”完成冷热源绝对定标的基础上,根据辐射计各项参数维持稳定的能力不同,周期性执行“噪声定标”和“增益定标”的“相对定标”过程,获得更加准确的辐射计特性参数和目标观测数据本发明不但能够提高辐射计定标和观测精度,而且不需要频繁执行冷热源绝对定标过程,大大降低了对操作环境的要求,并使辐射计能够完成周期性自动定标,使得野外应用和无人值守长期工作成为可能。
  • 一种辐射计定标方法
  • [发明专利]一种提高航空TDI红外扫描仪绝对辐射定标精度的方法-CN201911298647.6在审
  • 霍家全 - 天津津航技术物理研究所
  • 2019-12-17 - 2020-07-14 - G01J3/28
  • 本发明涉及一种提高航空TDI红外扫描仪绝对辐射定标方法,包括:建立全光路绝对辐射定标标准响应函数;建立半光路绝对辐射定标标准响应函数;建立应用中绝对辐射定标补偿函数;评价绝对辐射定标精度,包括:获取当前开机状态下全光路目标图像数据;根据图像数据获取系统响应图像灰度数据;当前全光路图像灰度与通过绝对辐射定标补偿函数获取的补偿灰度之和作为当前开机状态下系统绝对相应;将补偿后的全光路图象灰度带入到绝对辐射定标反演基准函数,反演出目标温度;以及反演目标温度与目标实测温度差值的绝对值与反演基准函数标定时温度动态范围比值作为绝对辐射定标精度。本发明利用半光路中高稳定性定标黑体,对探测器漂移产生的误差进行补偿,提高了绝对辐射定标精度。
  • 一种提高航空tdi红外扫描仪绝对辐射定标精度方法
  • [发明专利]一种高轨大面阵光学遥感器在轨场地定标方法-CN202211506052.7在审
  • 陈卓一;岳荣刚;王成伦;孔祥皓;殷海啸;陈红燕;伽丽丽 - 中国空间技术研究院
  • 2022-11-28 - 2023-04-28 - G01C25/00
  • 本发明提出一种高轨大面阵光学遥感器在轨场地定标方法,利用地面均匀辐射定标场,能够对拼接后的图像利用平场法计算相对辐射定标系数。根据待定标载荷分辨率,选取适合作为定标场的可用范围;根据可用范围以及待定标载荷幅宽、卫星机动能力,估算遍历所需的时间;根据卫星相机光轴指向及像面探元分布特性,调节卫星姿态控制参数,获得定标场区域分布在相机图像不同区域的一组相关图像;将获得的一组相关图像进行几何校正,将每幅图像中地面定标场区域图像截取出来,按照在像面的对应位置拼接形成一整幅定标图像;利用平场法按照子区内计算、子区间计算、子区内和子区间相乘计算的方法获得相对辐射定标系数
  • 一种大面光学遥感场地定标方法
  • [发明专利]一种用于视频监控系统中的自动定标方法-CN201310128587.X有效
  • 刘玉平;袁肇飞 - 厦门博聪信息技术有限公司
  • 2013-04-15 - 2013-07-10 - G06T7/00
  • 提供一种用于视频监控系统中的自动定标方法,所述系统包括:广角摄像机即枪机,用于拍摄大场景视域内的广角图像即枪机图像;以及PTZ摄像机即球机,用于拍摄大场景视域内的局部放大图像即球机图像。所述方法包括:粗定标步骤,利用枪机图像坐标和球机图像坐标的映射关系以及球机图像坐标和球机物理坐标的映射关系从而获得枪机图像坐标和球机物理坐标的映射关系;以及细定标步骤,利用球机光心图像坐标对粗定标结果进行修正通过本发明的自动定标方法,可以将人从繁琐的定标操作中解放出来,实现了程序的自动化。整个定标时间控制在90s内,和一名熟练的人工去定标时间相当,定标精度甚至优于人工定标
  • 一种用于视频监控系统中的自动定标方法
  • [发明专利]多维折线段测量定标-CN201711329155.X有效
  • 杨文举 - 上海微波技术研究所(中国电子科技集团公司第五十研究所)
  • 2017-12-13 - 2020-11-10 - G01D18/00
  • 本发明公开了一种多维折线段测量定标法,包括如下步骤:S1、确定被测量、直接测量参数和影响测量的所有因素;S2、确定每种影响测量因素的测量点数和直接测量参数的测量点数,通过标准的被测量值测得直接测量参数的值,即定标样本数据;直接测量参数构成一维定标样本数据,每增加一种影响测量的因素,就相对多一维定标样本数据;S3、基于定标样本数据进行折线段定标测量;折线段的定标由最高维向一维逐步归一推进。本发明解决了多维折线段的定标问题,突破了折线段定标使用的局限性,特别是当测量点数越细致时,能够大幅提高测量精度。本发明在多个测试仪器的定标中使用,取得了很好的效果。
  • 多维折线测量定标

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