专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种雨滴反演方法及装置-CN202210308972.1有效
  • 张扬;刘黎平 - 中国气象科学研究院
  • 2022-03-28 - 2022-07-08 - G06F17/18
  • 本发明提供一种雨滴反演方法及装置,方法包括:获取第一水平极化反射率因子和第一差分反射率因子;第一水平极化反射率因子和第一差分反射率因子是由目标地区的双偏振雷达观测获得的;基于第一水平极化反射率因子和第一差分反射率因子,确定第一雨滴六阶矩、雨滴七阶矩和目标形状因子对;根据第一雨滴六阶矩、雨滴七阶矩和目标形状因子对,利用预先建立的雨滴模型获取目标地区的初始雨滴。本发明利用水平极化反射率因子和差分反射率因子,求取雨滴六、七阶矩以及形状因子对,进一步地利用预先建立的雨滴模型获取目标地区的初始雨滴,避免了差传播相移率的误差对雨滴反演的影响,提高了雨滴反演的精度
  • 一种雨滴反演方法装置
  • [发明专利]MR-TOF质数据存储方法、装置、系统及存储介质-CN202310635797.1在审
  • 梁欣;黄志锰;郭煜文 - 广东省麦思科学仪器创新研究院
  • 2023-05-31 - 2023-09-01 - G06F16/51
  • 本发明实施例公开了一种MR‑TOF质数据存储方法、装置、系统及存储介质,涉及质谱分析技术领域,该方法包括:检测对目标待测物的图采集模式;直行飞行图采集模式时,接收采集的原始直线飞行图数据,计算第一质图的质荷比范围;多次反射飞行图采集模式时,接收采集的原始多次反射飞行图数据,计算第二质图的质荷比范围;根据质荷比范围分别将第一质图和第二质图存储于直线飞行图数据区和多次反射飞行图数据区;构建图索引区,直线飞行图索引区与直线飞行图数据区相关联,多次反射飞行图索引区与多次反射飞行图数据区相关联。本发明实施例可以提高图数据获取效率,便于图检索对比。
  • mrtof数据存储方法装置系统介质
  • [发明专利]基于线阵InGaAs扫描FBG反射的传感解调方法-CN201610131531.3有效
  • 祝连庆;李红;刘锋;董明利;骆飞;娄小平;何巍 - 北京信息科技大学
  • 2016-03-09 - 2018-04-10 - G01D5/353
  • 本发明提供了一种基于线阵InGaAs扫描FBG反射的传感解调方法,该方法包括以下步骤a)宽光源发出的光信号经光纤耦合器传输至FBG;b)所述光信号经FBG反射后将带有解调信息的反射光信号传输至线阵InGaAs光电探测器;c)反射光信号经过线阵InGaAs光电探测器处理后得到与线阵InGaAs光电探测器中像素点位置一一对应的反射光强信息;d)通过设置反射的光强阀值将反射光信号分成多段;e)对每段反射对应的像素点位置与光强数据进行高斯函数拟合分析,并通过最小二乘法判定最佳拟合参数,获取光强峰值对应的像素点位置;f)将光强峰值对应的像素点位置带入至像素点位置与波长的对应关系式中并得出该段反射的中心波长值
  • 基于ingaas扫描fbg反射传感解调方法
  • [发明专利]粗糙面到光滑表面的反射数值退化方法、系统、介质-CN202110616467.9有效
  • 牟媛;盛新庆;吴比翼;郭琨毅 - 北京理工大学
  • 2021-06-02 - 2023-02-24 - G01N21/3581
  • 本发明属于粗糙表面反射的应用技术领域,公开了一种粗糙面到光滑表面的反射数值退化方法、系统、介质,测量粗糙样片的反射,结合遗传算法反演粗糙样片表面粗糙度随波长的变化曲线,并采用四次多项式对粗糙度‑波长曲线进行拟合;将拟合后的粗糙度代入粗糙面菲涅尔反射率的基尔霍夫表达式中,求解光滑表面的反射。并采用Lorentz函数对求解的光滑面反射进行拟合修正,最终结果与抛光样本的反射吻合。本发明适用于光滑表面反射无法直接试验测量的材料。该方法可通过数值方法获得光滑表面反射,为Kramers‑Kronig关系、振子模型等提取材料光学常数的理论提供基础支撑。
  • 粗糙光滑表面反射率数值退化方法系统介质
  • [发明专利]一种人脸识别方法及终端-CN201510386596.8在审
  • 黄晓峰 - 深圳市金立通信设备有限公司
  • 2015-07-03 - 2015-12-16 - G06K9/00
  • 本发明实施例公开了一种人脸识别方法,包括:获取通过待识别人脸反射反射数据,所述反射数据包括预设波长范围内的反射数据,所述预设波长范围包括活体人脸固有的对光线的吸收峰值之间的特定波长范围及非特定波长范围;判断所述反射数据中所述特定波长范围内的反射数据是否大于所述非特定波长范围内的反射数据;若是,则确定所述待识别人脸为活体人脸。
  • 一种识别方法终端
  • [发明专利]光源模组和应用该光源模组的投影系统-CN201510884799.X有效
  • 胡飞;郭祖强;李屹 - 深圳市光峰光电技术有限公司
  • 2015-12-03 - 2018-08-28 - G03B21/20
  • 本发明提供了一种光源模组和应用该光源模组的投影系统,包括:发射宽光的宽光源;发射窄光的窄光源;位于宽光源出光光路上的分光器件,分光器件用于对宽光进行扩束,以使宽光的波长宽度展开为空间宽度;位于分光器件出射的部分宽光的光路上的反射镜,反射镜用于将部分宽反射出去,并将与部分宽光的波长对应的窄反射至部分宽光的原光路上,以使窄光替代部分宽光;位于分光器件和反射镜的出光光路上的合光器件,合光器件用于将未被替换的宽光和窄光合成一束光。本发明中的窄光即红激光可直接与宽光即荧光进行合光,减少了色轮对红激光的散射损失,从而可以提高红光的利用率,相对降低成本。
  • 光源模组应用投影系统
  • [发明专利]高功率效率液晶显示器-CN201280063840.1在审
  • M.埃克;A.林格 - 索尼爱立信移动通讯股份有限公司
  • 2012-11-26 - 2014-08-20 - G02F1/1335
  • 示例性系统包括可以或者在透射模式或者在反射模式操作的半透反射显示器,以及在照明源的透射中具有一个或多个不同峰的照明源,其中在透射操作模式期间来自照明源的光被引导到半透反射显示器。对于透射操作模式,半透反射显示器的透射配置成基本上匹配照明源的透射,使得半透反射显示器的透射中的一个或多个窄通带与照明源的透射中的一个或多个不同峰基本上交叠。对于反射操作模式,半透反射显示器的反射与半透反射显示器的透射基本上相反地关联。
  • 功率效率液晶显示器
  • [发明专利]一种纳米线吸收的测量方法及系统-CN201710873446.9有效
  • 杜文娜;武志勇;时佳;陈杰;张帅;米阳;刘新风 - 国家纳米科学中心
  • 2017-09-25 - 2020-09-29 - G01N21/01
  • 本发明实施例公开了一种纳米线吸收的测量方法及系统,其中测量方法应用于不透明衬底上纳米线吸收的测量,包括:采集显微镜明场下所述不透明衬底反射强度线;采集显微镜明场下所述不透明衬底上待测单根纳米线反射强度线;根据所述不透明衬底反射强度线以及所述不透明衬底上待测单根纳米线反射强度线,计算不透明衬底上待测单根纳米线的吸收。本发明实施例提供的一种纳米线吸收的测量方法及系统,利用显微镜及CCD成像系统可以从不透明衬底上确定待测单根纳米线,实现微区吸收测量;利用反射式测量方法获取不透明衬底反射强度线以及不透明衬底上待测单根纳米线反射强度线,实现了不透明衬底上单根纳米线的吸收测量。
  • 一种纳米吸收测量方法系统
  • [发明专利]一种在线铁反射光图像增强方法及系统-CN202210550282.7在审
  • 王硕;刘京;武通海;万淼;雷亚国;曹军义 - 西安交通大学
  • 2022-05-20 - 2022-08-16 - G06T5/00
  • 本发明公开了一种在线铁反射光图像增强方法及系统,以在线铁反射光图像中磨粒的轮廓标记为基础,串联融合基于SqueezeNet‑Unet磨粒位置预测网络和ResNeXt‑CycleGAN图像转换网络构建在线铁反射光图像增强模型;确定基于SqueezeNet‑Unet的磨粒位置预测网络的损失函数,结合SSIM损失和L1损失优化ResNeXt‑CycleGAN图像转换网络的循环一致性损失函数,通过加权融合方式设计在线铁反射光图像增强模型的整体损失函数;以图像增强模型的整体损失函数作为优化目标,依次采用在线铁反射光原始图像和传统算法增强图像、原始图像和离线铁图像作为图像增强模型训练样本集,优化在线铁反射光图像增强模型,实现在线铁反射光图像中磨粒特征的增强
  • 一种在线反射光图像增强方法系统
  • [发明专利]光纤光栅峰高精度快速寻峰方法-CN201110278661.7有效
  • 李永倩;姚国珍;尚秋峰;杨志;张静;李天 - 华北电力大学(保定);华北电力大学苏州研究院
  • 2011-09-20 - 2012-05-02 - G01D5/26
  • 本发明公开了一种光纤光栅峰高精度快速寻峰方法,以寻找反射型光纤光栅反射中的正峰为例,首先根据光纤光栅反射多个峰值中的最大值及信噪比,确定寻峰时采用的阈值,再根据设定的反射的宽度和形状特点,判断波峰是光纤光栅反射峰还是噪声形成的峰,并记录光纤光栅反射峰的起始点和结束点的横坐标值;最后找到光纤光栅反射峰两侧的比最大值低3dB的左右两个点,再将两个点对应的横坐标数值求和后除2,得到峰值所在位置。当寻找反射型光纤光栅透射中的负峰时,只需将本方法简单变化后仍然适用;本方法也适用于寻找透射型光纤光栅反射的负峰和透射的正峰。该方法解决了现有方法中寻峰精度低、运算量大的问题。
  • 光纤光栅峰高精度快速方法
  • [发明专利]判定无上反射镜谐振腔增强型光电探测器有效腔模的方法-CN200910091400.7无效
  • 孙晓明;郑厚植;章昊 - 中国科学院半导体研究所
  • 2009-08-19 - 2010-12-15 - G01M11/02
  • 一种判定无上反射镜谐振腔增强型光电探测器有效腔模的方法,包括如下步骤:设计无上反射镜谐振腔增强型光电探测器的结构,形成探测器样品;将设计的探测器样品生长好以后,利用光谱仪测量样品的反射,标出反射中高反带区域的各个漏模;依据光学传输矩阵的原理编辑模拟程序,模拟得到与设计的无上反射镜谐振腔增强型光电探测器结构以及层厚完全一致的理论模拟反射;调节模拟程序中反射镜各层和腔体各层的厚度,使模拟得到的反射与实验测得的反射保持一致,然后改变模拟程序中吸收层的吸收系数,并观察模拟反射中各个漏模的变化,而同时源自谐振腔模式的漏模即腔模不会发生任何变化,从而判定无上反射镜谐振腔增强型光电探测器反射中的漏模是来自有源区吸收还是来自腔模
  • 判定无上反射谐振腔增强光电探测器有效方法

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