专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种基于FPGA的示波器参数自动测量装置及方法-CN202010964663.0有效
  • 王生伟;董建涛;向前;刘洪庆;刘永;褚晓东 - 中电科思仪科技股份有限公司
  • 2020-09-15 - 2023-04-28 - G01R13/02
  • 本发明属于测试技术领域,涉及一种应用于数字荧光示波器参数测量的装置及方法。一种基于FPGA的示波器自动参数测量装置,主要由数据读取控制模块参数测量模块以及数据同步模块组成;所述数据读取控制模块配置为读取DDR3内一次采样的N×8bit并行数据,并将读取的数据送入参数测量模块;所述参数测量模块配置为对输入的N路8bit并行数据进行计算分析得到测量结果,包括电压参数测量模块和时间参数测量模块;所述数据同步模块配置为生成同步信号,实现N路数据读取同步和测量结果显示同步。本发明对多路采样点数据并行比较,计算出当前屏幕显示波形的每一个周期内的参数,使测量结果更全面;所有参数并行计算,显著减少测量计算时间,提高仪器的实时性。
  • 一种基于fpga示波器参数自动测量装置方法
  • [发明专利]一种测量数据图形化显示方法、设备和矢量网络分析仪-CN202011214172.0有效
  • 彭晓林;郑乐乐;陈锋 - 深圳市鼎阳科技股份有限公司
  • 2020-11-04 - 2022-10-21 - G01R31/00
  • 一种测量数据图形化显示装置,包括测量数据获取模块、显示控制模块、显示模块和滑动触发模块测量数据获取模块用于获取测量数据并发送给显示控制模块。显示控制模块用于获取测量数据的参数信息并发送给显示模块测量数据的参数信息包括特征参数和分类参数。显示模块在特征参数显示区图像化显示特征参数,在分类参数显示区显示分类参数。滑动触发模块监测显示区域内的滑动触发信号,将获得的滑动触发信号转化为滑动触发信息发送给显示控制模块。显示控制模块依据滑动触发信息在分类参数值中选取一个,并将与选取的分类参数值相对应的特征参数值发送给显示模块显示。由于通过滑动触发选取分类参数,使得分类参数的调节更方便、更快捷。
  • 一种测量数据图形显示方法设备矢量网络分析
  • [发明专利]位置确定方法、装置、车辆及存储介质-CN202211145366.9在审
  • 周武;黄勇斌;周清清 - 广州汽车集团股份有限公司
  • 2022-09-20 - 2023-01-13 - G01B7/00
  • 本申请公开了一种位置确定方法、装置、车辆及存储介质,该方法包括:获取执行模块的实时位置对应的测量参数测量参数为电阻位置检测模块对执行模块的实时位置进行检测得到;根据测量参数、堵转点参数、总测量参数以及总位置参数确定执行模块的实时位置参数;其中,堵转点参数为执行模块运行至堵转点位置时对应的测量参数;总位置参数为总测量参数对应的位置参数;通过堵转点参数在位置确定方法中的设置,能够减少机械回转误差对电阻位置检测模块精度的影响,从而在降低成本的同时提高电阻位置检测模块的检测精度,扩展了电阻位置检测模块的使用场景。
  • 位置确定方法装置车辆存储介质
  • [发明专利]集成电路测试系统的数字通道多参数并行校准装置-CN202111336015.1在审
  • 丁超;罗锦晖;程虎 - 中国船舶重工集团公司第七0九研究所
  • 2021-11-12 - 2022-04-05 - G01R35/00
  • 本发明公开了一种集成电路测试系统的数字通道多参数并行校准装置,其具有多个参数校准接口,并包括电压测量模块、电压有效值测量模块、信号脉宽测量模块以及电阻模块,通过设置多个参数校准接口,并设置每一个参数校准接口分别与电压测量模块、电压有效值测量模块、信号脉宽测量模块各自组成一条参数校准回路,从而能够同时对测试系统的电压、电压有效值、信号脉宽进行校准,同时通过设置电阻模块分别与电压测量模块、电压有效值测量模块并联形成新的参数校准回路,进而增加了能够进行同时校准的参数种类,本发明所述数字通道多参数并行校准装置能够对多种参数进行同时校准,极大的提高了集成电路测试系统的校准效率。
  • 集成电路测试系统数字通道参数并行校准装置
  • [实用新型]一种LED光电参数测量系统-CN201420535914.3有效
  • 张佳进;陈立畅;高泉;李昆林 - 云南农业大学
  • 2014-09-17 - 2015-02-18 - G01R31/26
  • 本实用新型涉及光电参数测量系统,尤其是一种LED光电参数测量系统。它包括LED光源、用于实现LED电参数测量的电性参数测量模块、用于测量光强度信号的光强测量模块、用于收集LED的相对光谱功率分布并转换成电信号输出的光谱测量模块、用于用户查看的人机界面显示器和Cortex—M3处理器;LED光源产生光信号并传递给电性参数测量模块、光强测量模块和光谱测量模块,电性参数测量模块、光强测量模块和光谱测量模块将光信号转换成电信号并一同输入至Cortex—M3处理器,Cortex—M3处理器将电信号进行整理并反馈给电性参数测量模块、光强测量模块、光谱测量模块以及人机界面显示器。本实用新型通过采用Cortex—M3作为主处理器,实现了系统性能优化及测量速度的提高,具有很强的实用性。
  • 一种led光电参数测量系统

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