专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]命令表面钻入控制-CN201580035082.6在审
  • E·小莱恩;I·约;T·朗 - 微软技术许可有限责任公司
  • 2015-06-25 - 2017-02-22 - G06F3/0482
  • 原始命令表面(例如,调出或窗格)提供钻入导航功能,当显示呈现与所选命令按钮相关联的额外命令或内容的钻入命令表面时,用于重新使用屏幕上区块。可以通过具有放置在各种命令表面内的推送和弹出功能的命令表面钻入控制来实现钻入导航。响应于执行命令按钮,推送功能将新内容推送到包括由原始命令表面显示的原始内容的命令表面堆栈。钻入命令表面显示新内容和后退按钮。响应于执行后退按钮,弹出功能将新内容从命令表面堆栈移除,使得原始命令表面重新显示原始内容。
  • 命令表面控制
  • [发明专利]一种基于静滴法的集料表面能测试方法-CN202110802076.6有效
  • 罗蓉;罗晶;涂崇志;黄婷婷;汪翔;牛茏昌;苗强 - 武汉理工大学
  • 2021-07-15 - 2022-06-21 - G01N13/00
  • 本发明公开了一种基于静滴法的集料表面能测试方法,其步骤包括:(1)集料打磨及预处理:原始集料分为打磨集料和原始集料;(2)获取表面纹理指数:获取原始集料和打磨集料的表面纹理指数;(3)基于静滴法实验计算表面能:静滴法测试打磨集料的接触角并计算表面能;(4)拟合获得关于表面纹理指数与表面能的函数关系式:由打磨集料的表面纹理指数和打磨集料的表面能拟合获得函数关系式;(5)计算原始集料的表面能:将原始集料的表面纹理指数带入函数关系式,得到原始集料的表面能。本发明方法测量集料表面能时考虑了集料表面纹理影响因素,使静滴法测试准确度显著提高,使静滴法能代替蒸汽吸附法进行集料表面能测试,大大降低试验成本。
  • 一种基于静滴法集料表面测试方法
  • [外观设计]路灯(原始风格)-CN201730462312.9有效
  • 陈丹莹 - 陈丹莹
  • 2017-09-27 - 2018-02-27 - 26-03
  • 1.本外观设计产品的名称路灯(原始风格)。2.本外观设计产品的用途用于照明。3.本外观设计产品的设计要点在于产品外形。4.最能表明本外观设计设计要点的图片或照片主视图。5.请求保护的外观设计包含色彩。
  • 路灯原始风格
  • [外观设计]吊灯(原始风)-CN202030311809.2有效
  • 侯玉琳 - 侯玉琳
  • 2020-06-17 - 2020-11-10 - 26-05
  • 1.本外观设计产品的名称:吊灯(原始风)。2.本外观设计产品的用途:用于照明。3.本外观设计产品的设计要点:在于形状、图案与色彩的结合。4.最能表明设计要点的图片或照片:立体图。
  • 吊灯原始
  • [发明专利]表面肌电信号输出电路及采集设备-CN202310408340.7在审
  • 梁士利;吴颜生 - 东北师范大学
  • 2023-04-17 - 2023-07-21 - A61B5/313
  • 本申请涉及生物电信号处理技术领域,具体为一种表面肌电信号输出电路,包括:表面肌电原始信号处理模块:对从皮肤表面拾取的肌肉电信号进行放大、滤波处理得到表面肌电原始信号;表面肌电包络信号输出模块:基于放大、滤波处理后的所述表面肌电原始信号进行整流、积分和放大处理,得到表面肌电包络信号;同步输出模块:实现所述表面肌电原始信号和所述表面肌电包络信号的同步输出,减少表面肌电原始信号采集传感器的数量,降低信号处理算法的复杂程度,提高表面肌电信号源的丰富性和采集精度。
  • 表面电信号输出电路采集设备
  • [发明专利]减少外延衬底缺陷的形成方法-CN201610293626.5在审
  • 肖德元;张汝京 - 上海新昇半导体科技有限公司
  • 2016-05-05 - 2017-11-14 - H01L21/02
  • 本发明提出了一种减少外延衬底缺陷的形成方法,先对原始外延衬底进行沉浸式缺陷去除处理,去除原始外延衬底较多的刮伤和缺陷,接着,进行抛光处理,接着,通过检测收集原始外延衬底表面形貌数据,并对形貌数据进行分析,获得原始外延衬底不同区域的温度控制分布图和刻蚀时间,并通过分区红外线对原始外延衬底进行分区温度控制,并采用等离子干法刻蚀对原始外延衬底进行不同区域的刻蚀,有针对性的刻蚀去除原始外延衬底不同区域的待刻蚀量,从而去除原始外延衬底表面的缺陷及刮伤,形成表面平滑的外延衬底,进而使后续形成的外延层性能得到提高。
  • 减少外延衬底缺陷形成方法
  • [发明专利]减少外延衬底缺陷的形成方法-CN201610205601.5有效
  • 肖德元 - 上海新昇半导体科技有限公司
  • 2016-04-01 - 2021-01-01 - H01L21/02
  • 本发明提出了一种减少外延衬底缺陷的形成方法,先对原始外延衬底进行沉浸式缺陷去除处理,去除原始外延衬底较多的刮伤和缺陷,接着,进行抛光处理,接着,通过检测收集原始外延衬底表面形貌数据,并对形貌数据进行分析,获得原始外延衬底不同区域的待刻蚀量,并通过待刻蚀量确定不同区域所需的工艺参数,有针对性的刻蚀去除原始外延衬底不同区域的待刻蚀量,从而去除原始外延衬底表面的缺陷及刮伤,形成表面平滑的外延衬底,进而使后续形成的外延层性能得到提高
  • 减少外延衬底缺陷形成方法

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