专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]有机电致发光元件-CN200710140849.9无效
  • 赤井智纪 - 大日本印刷株式会社
  • 2007-08-10 - 2008-02-13 - H05B33/28
  • 其特征在于具有:透明基材、形成于上述透明基材上的透过透过的第一电极层、形成于上述透过透过的第一电极层上、且至少含有发光层的有机EL层、形成于上述有机EL层上的透过的第二电极层、形成于上述透过的第二电极层上、且由无机物组成的透过透过的膜厚调整层、和形成于上述透过透过的膜厚调整层上的反射层,由此实现上述目的。
  • 有机电致发光元件
  • [发明专利]掩模坯料及光掩模-CN200680049390.5有效
  • 三井胜;佐野道明 - HOYA株式会社
  • 2006-12-26 - 2009-01-14 - G03F1/08
  • 该掩模坯料用于制造在透光基板上至少具有灰色调掩模用透光膜的FPD设备,该灰色调掩模用透光膜具有调节透过量的功能,其特征在于,所述灰色调掩模用透光膜是在由超高压汞灯放射的至少从i线到g线的波长带区域中,透光膜的透过率(即透过率)的变动幅度被控制在不足5%的范围内的膜。
  • 坯料光掩模
  • [发明专利]色调掩膜的制造方法-CN201080037805.3无效
  • 金武成 - LG伊诺特有限公司
  • 2010-06-25 - 2012-05-30 - G03F1/32
  • 本发明涉及一种色调掩膜的制造方法,所述色调掩膜被配置为利用单一透过材料而具有多个透过单元,其中色调掩膜的制造方法包括:在衬底上形成透过材料;以及形成透过区,所述透过区用通过等离子体表面处理所述透过材料和调节所述透过材料的透射率而形成的具有与所述透过材料的光透射率不同的透射率的至少一种透过材料形成
  • 色调制造方法
  • [发明专利]图案形成方法-CN200710087851.4无效
  • 三坂章夫 - 松下电器产业株式会社
  • 2004-06-24 - 2007-08-29 - G03F7/20
  • 光掩模,在透过基板上具有:对曝光光有遮光遮光部;被遮光部包围、而且对曝光光有透光的透光部;以及被遮光部包围、且位于透光部周边的辅助图案。辅助图案,配置在与透过透光部的光能形成干涉的距离,遮光部及透光部以彼此相同的相位使曝光光透过,辅助图案,以遮光部及透光部为基准,用相反的相位使曝光光透过,且不被曝光光复制。
  • 图案形成方法
  • [发明专利]灰阶掩模的缺陷检查方法及装置及其制造方法、光掩模的缺陷检查方法、图案转印方法-CN200810081531.2无效
  • 中西胜彦 - HOYA株式会社
  • 2008-02-28 - 2008-09-03 - G03F1/00
  • 提供一种灰阶掩模的缺陷检查方法,能够正确判定具有形成了在掩模使用时的曝光条件下的析像限度以下的细微图案的区域的灰阶掩模的透光部有无缺陷,能够提高缺陷检查的可靠。灰阶掩模具有遮光部、透光部和透光部,灰阶掩模的透光部具有形成了在灰阶掩模使用时曝光的曝光条件下的析像限度以下的细微遮光图案的区域,其中具有:扫描透光部得到透过率信号的工序;及将透过率信号与预先设定的透光部的透过率许可值进行比较,判定透光部有无缺陷的判定工序。在得到透过率信号的工序中,利用规定的光源照射透光部,利用拍摄装置拍摄在透过半透光部的透过光束的作用下从正聚焦位置以规定量散焦后的图像,从该拍摄图像得到透过率信号。
  • 灰阶掩模缺陷检查方法装置及其制造光掩模图案
  • [发明专利]使用光罩的图案形成方法-CN200610148583.8无效
  • 三坂章夫 - 松下电器产业株式会社
  • 2003-04-30 - 2007-06-06 - G03F1/00
  • 一种使用光罩的图案形成方法,其包括:在基板上形成光阻膜的工序;通过光罩向光阻膜照射曝光光的工序;使照射了曝光光的光阻膜显像,使光阻膜图案化的工序,光罩在它的透光基板上形成有:对曝光光具有遮光遮光部、由遮光部包围且对曝光光具有透光的透光部、及由遮光部包围且位于透光部周边的周边部;遮光部及透光部让曝光光在同相位下透过;周边部让曝光光在以遮光部及透光部为基准的,反相位下透过;在遮光部形成区域的透光基板上,形成具有让曝光光部分地透过的透光率且让曝光光在以周边部为基准的反相位下透过的移相膜;周边部形成区域的透光基板的表面露出来。
  • 使用图案形成方法
  • [发明专利]透过反射膜-CN02811180.X无效
  • 武久庆太 - 帝人杜邦菲林日本株式会社
  • 2002-06-04 - 2004-09-15 - G02B5/08
  • 使用透过反射膜制备在用透射光和反射光时均具有优良清晰度的透过反射膜,所述透过反射膜具有包含珠光颜料并且在塑料膜的至少一个表面上形成的透过反射层,条件是透过反射层中的珠光颜料以相对于塑料膜平面为15度或更小的定向角定向,透过反射层中的珠光颜料的平均粒径为3-60μm,并且透过反射层中的珠光颜料的平均粒径(D)与透过反射层的厚度(T)的比值(D/T)为1.3-30。
  • 透过反射
  • [发明专利]色调掩模及其制造方法-CN201080023385.3有效
  • 金武成 - LG伊诺特有限公司
  • 2010-05-26 - 2012-05-09 - H01L21/027
  • 本发明涉及一种色调掩模及其制造方法,用来减少形成多个透过部的透过材料的数目以及过程的数目,从而减少制造成本,其中,所述色调掩模包括:基底;透射区,形成在所述基底上以透射预定波长的辐射光;以及透过区,形成在所述基底上,具有由两种或多种透过材料交替层叠的多个层,并且透过区形成有根据层叠的透过材料的数目具有不同透射率的多个透过部;以及具有阻挡层的阻挡区,该阻挡层形成在具有交替层叠的多种透过材料上
  • 色调及其制造方法
  • [发明专利]透过型防伪膜-CN201910248648.3有效
  • 崔眞荣;李容准;朴范圭 - 纳米麦加株式会社
  • 2019-03-29 - 2021-07-27 - B42D25/351
  • 透过型防伪膜包括:基底、位于所述基底上且具有用于形成真伪判定用图像的衍射图案的衍射光学元件层及沿着所述衍射图案的轮廓形成于所述衍射光学元件层且能够使入射的入射光部分反射及部分透过的透光度调节薄膜。因此,透过型防伪膜可通过使入射光反射及透过以在膜两侧形成衍射图像。本发明的透过型防伪膜能够轻易地呈现复杂的图像,能够不规则地呈现具有随机形状或大小的衍射图案。
  • 透过防伪
  • [发明专利]色调掩模及其制造方法-CN201080023383.4有效
  • 金武成 - LG伊诺特有限公司
  • 2010-05-26 - 2012-05-09 - H01L21/027
  • 本发明涉及一种色调掩模及其制造方法,用来使用单一透过材料形成多个透过单元,其中,所述色调掩模包括:基底;透射区,形成在所述基底上以透射预定波长范围内的辐射光;以及透过区,形成在所述基底上,具有多个透过单元,这些透过单元使用所述预定波长范围根据透过材料的厚度或层叠层的数目具有多个互不相同的透射率。
  • 色调及其制造方法
  • [发明专利]色调掩模、光掩模坯和色调掩模的制造方法-CN201780070662.8有效
  • 美作昌宏 - 株式会社SK电子
  • 2017-12-25 - 2022-12-20 - G03F1/00
  • 本发明的课题在于提供一种能够兼顾图案细微化和多灰阶的色调掩模。其解决手段在于在透明基板上具有:包括第一透膜的第一透过区域;包括上述第一透膜与第二透膜的叠层的第二透过区域;透明区域;以及第一透过区域与第二透过区域邻接的区域,上述第一和第二透过区域对曝光光的透过率分别为10~70[%]和1~8[%],第二透过区域使曝光光的相位反转。其结果,在邻接的第一透过区域与第二透过区域的边界部分,曝光光的强度分布陡峭地变化,能够改善经曝光后的光致抗蚀剂图案的剖面形状。
  • 色调光掩模坯制造方法

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