专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]机顶盒读卡器检测装置-CN201220599254.6有效
  • 雷雄 - 珠海迈科电子科技有限公司
  • 2012-11-14 - 2013-05-15 - G01R31/02
  • 本实用新型提供一种机顶盒读卡器检测装置,其包括读卡器接口装置、短路测试电路、读卡器功能测试电路、测试项目切换开关、短路故障警示LED灯组及功能故障警示LED灯;所述接口装置与所述短路测试电路、读卡器功能测试电路通过所述测试项目切换开关电路连接,所述测试项目切换开关在所述短路测试电路、读卡器功能测试电路之间实现切换,选择导通所述接口装置和所述短路测试电路或读卡器功能测试电路;所述短路测试电路、读卡器功能测试电路分别与所述短路故障警示LED灯组及功能故障警示
  • 机顶盒读卡器检测装置
  • [发明专利]一种基于功能测试的光学SOC芯片测试方法及系统-CN202010023011.7有效
  • 舒淑保;姜一平 - 深圳市正宇兴电子有限公司
  • 2020-01-09 - 2022-02-15 - G01R31/28
  • 本发明基于功能测试的光学SOC芯片测试系统,包括上位机系统以及硬件测试系统,所属硬件测试系统包括通信模块以及检测模块,所述检测模块由供电单元、PMU测试单元、FPGA功能测试单元、继电器矩阵单元以及光源控制单元组成;前述各组成单元上行通过总线与上位机系统连接,下行与待测试的光学传感器SOC芯片连接,硬件测试系统主要负责直流参数测试和感光逻辑测试。一种基于功能测试的光学SOC芯片测试方法,采用恒定电压、电流源为被测试器件施加精确的恒定电压或恒定电流;硬件上采用模块化结构,逻辑上利用FPGA功能测试单元针对功能进行测试,实现对光学SOC芯片的物理功能测试和感光逻辑测试测试成本大大低于传统混合信号测试系统。
  • 一种基于功能测试光学soc芯片方法系统
  • [实用新型]一种触摸按键的一体测试设备-CN202220318349.X有效
  • 叶运娣;王重;钟俊响;张钰荣 - 惠州市健达通电子有限公司
  • 2022-02-16 - 2022-08-05 - G01R31/327
  • 本实用新型涉及触摸按键技术领域,具体公开了一种触摸按键的一体测试设备,包括高压线材测试仪、功能测试仪、多路线路同时切换机构,所述多路线路同时切换机构连接高压线材测试仪和功能测试仪;所述功能测试仪包括测试治具;所述多路线路同时切换机构包括高压测试模块、功能测试模块和触摸按键连接模块,所述高压测试模块、功能测试模块依次切换与触摸按键连接模块进行连接,所述高压测试模块连接高压线材测试仪,所述触摸按键连接模块连接测试治具;本实用新型提供的一种触摸按键的一体测试设备,能够将触摸按键所需进行的高压测试功能测试合并后同时测试,有效提高测试效率和减少人工成本的投入,同时具有结构简单和操作方便的优点。
  • 一种触摸按键一体测试设备
  • [发明专利]门锁测试方法、装置、智能终端及计算机可读存储介质-CN202011565868.8在审
  • 王耀 - 深圳旦倍科技有限公司
  • 2020-12-25 - 2022-07-15 - H04L43/0817
  • 本发明公开了一种门锁测试方法、装置、智能终端及计算机可读存储介质,方法包括:获取目标测试程序;获取目标智能门锁;根据上述目标测试程序对上述目标智能门锁进行物联网功能测试,得到测试结果;输出上述测试结果。由于本发明方案基于目标测试程序对智能门锁进行物联网功能测试,获取测试结果并输出,即提供一种出厂前对智能门锁进行物联网功能测试的方案,使得测试人员可以根据测试结果获知智能门锁的物联网功能是否存在问题。因此,有利于帮助测试人员筛选出物联网功能异常的智能门锁,保证出厂的智能门锁的物联网功能正常,提升用户体验。
  • 门锁测试方法装置智能终端计算机可读存储介质
  • [发明专利]翻译机功能测试夹具-CN201710503002.6有效
  • 邓力凡 - 深圳市沃特沃德股份有限公司
  • 2017-06-27 - 2020-02-21 - G06F11/22
  • 本发明揭示了一种翻译机功能测试夹具,用于测试翻译机的主板,翻译机功能测试夹具包括主板承载座、夹持装置、测试硬件和启动硬件;主板承载座用于承载主板;夹持装置滑动压合于主板承载座以将主板压紧于主板承载座;测试硬件与主板电连接;启动硬件与主板电连接,以使启动启动硬件时,测试硬件对应响应主板的功能。本发明翻译机功能测试夹具,通过主板承载座和夹持装置压合固定翻译机的主板,通过夹持装置激活主板上的功能,并通过测试硬件的反应测试主板上的功能是否正常;可以快速测试主板上的多个功能测试效率更高。
  • 翻译机功能测试夹具
  • [发明专利]对单板进行测试测试设备和方法-CN202010241838.5有效
  • 董经纬;王杨 - 华为技术有限公司
  • 2020-03-31 - 2023-04-07 - G01R31/28
  • 本申请实施例公开了一种对单板进行测试测试设备和方法,属于测试技术领域。该测试设备包括处理器、功能测试部件和硬件测试部件,其中:功能测试部件测试待测单板的功能测试项,并将功能测试项的测试结果发送给处理器;硬件测试部件测试待测单板的测试点处的电压,并将测试点处的电压发送给处理器;处理器根据功能测试项的测试结果和预先存储的功能测试项与电路区域的对应关系确定故障电路区域;根据测试点处的电压和预先存储的测试点与标准电压的对应关系,确定故障测试点;根据预先储存的测试点与器件位置号的对应关系,确定故障测试点对应的器件位置号。
  • 单板进行测试设备方法
  • [发明专利]测试用例筛选方法和系统-CN201210086547.9有效
  • 王巨宏;袁琳;柯硕灏;黄昕;陈锦泽;韩亦纯 - 腾讯科技(深圳)有限公司
  • 2012-03-28 - 2016-10-12 - G06F11/36
  • 一种测试用例筛选方法,包括以下步骤:获取功能节点被触发的次数;根据功能节点被触发的次数计算功能节点的权重;根据功能节点的权重筛选与功能节点相关的测试用例。上述方式可筛选出在实际运行中被触发次数多的功能节点相关的测试用例,功能节点被触发次数多,说明功能节点被使用的频率高,被使用频率高的功能节点的重要性也高,因此上述方式可筛选出实际运行中重要性高的功能节点相关的测试用例,筛选出的测试用例针对性强,根据筛选出的测试用例进行测试可提高软件系统的测试效率。此外,还提供一种测试用例筛选系统。
  • 测试筛选方法系统
  • [发明专利]测试环境搭建利用方法、装置、设备和存储介质-CN202111042226.4在审
  • 范凌;王喆 - 特赞(上海)信息科技有限公司
  • 2021-09-06 - 2022-01-07 - G06F11/36
  • 本申请公开了一种测试环境搭建利用方法、装置、设备和存储介质。该方法包括:接收测试客户端发送的测试服务获取请求,所述请求中携带测试环境标识;测试环境包括:第一测试环境和第二测试环境;第一测试环境包括对软件进行新增功能之前的所有功能进行测试的服务;第二测试环境包括对软件的新增功能进行测试的服务根据测试环境标识,从第二测试环境中获取新增功能测试服务;调用新增功能测试服务进行测试后,向客户端发送测试结果。本申请有效避免现有技术中多个测试小组访问同一个测试环境造成的冲突的问题,并且第二测试环境中的服务数量有限,新建测试环境无需耗费太大成本。
  • 测试环境搭建利用方法装置设备存储介质
  • [发明专利]温度测试方法与应用其的温度测试系统-CN200810182073.1有效
  • 郑传楷 - 英业达股份有限公司
  • 2008-11-28 - 2010-06-23 - H04W24/00
  • 本发明是一种温度测试方法,包括下列步骤。于可携式电子装置的壳体表面上决定多个温度测量位置。从可携式电子装置的多个功能中选出两组测试功能,各组测试功能包括至少部分的功能。分别于两测试时段中启动此可携式电子装置的两组测试功能。测量启动各组测试功能后的温度测量位置的温度,并将测量结果储存为对应的两组温度数值。分别依据此两组温度数值判断两组测试功能是否符合一预设条件。若此两组测试功能皆符合此预设条件,则判断此两组测试功能是否具有相同的至少一个功能。若是,则判定相同的此至少一个这些功能是异常。
  • 温度测试方法应用系统

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