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[发明专利]偏峰定位光谱分析方法-CN201010550548.5有效
发明人：李帆;赵海燏;叶晓英;耿晓颖 -专利权人：中国航空工业集团公司北京航空材料研究院
申请日： 2010-11-19 - 公布日： 2011-04-20 - 主分类号： G01N21/31 文献下载
摘要：本发明是一种偏峰定位光谱分析方法，其特点是：采用光谱仪进行化学元素含量分析时，在需要确定分析谱线的谱峰位置时，如果不受到其他因素的影响，则应在谱线最高点确定峰位，谱线的最高点为中心波长为λ0的分析谱线的测量点；如果受到其他因素的影响，导致在该谱线峰值位置受到干扰，则不在谱线最高点确定峰位，而在谱峰侧面不受谱线干扰的斜坡处确定峰位，如果这样，首先分别准备一个分析元素的溶液和一个干扰元素的溶液，然后用这两个溶液分别在分析元素分析谱线处进行谱线扫描，则得到分析谱线谱图和干扰谱线谱图，并将两者叠加显示，然后在分析谱线侧面选择一个不受干扰谱线干扰的点或段作为分析峰位/分析谱段，测定所有溶液时均选择此峰位/峰段进行分析。本发明技术方案的优点是能够直接、快速、准确的校正谱线重叠干扰。
定位光谱分析方法

[发明专利]全谱直读光谱仪测量化学元素的方法-CN201510402178.3在审
发明人：袁海军;马建州;廖波;顾德安 -专利权人：无锡创想分析仪器有限公司
申请日： 2015-07-09 - 公布日： 2015-11-04 - 主分类号： G01N21/31 文献下载
摘要：本发明涉及一种全谱直读光谱仪测量化学元素的方法，所述方法包括：使用全谱直读光谱仪对样品进行分析，所述对样品进行分析中包括：调用分析曲线，激发样品；采集光谱；进行数据预处理；通过寻峰法计算参考谱线的标定位置与谱线峰值的偏移量并以所述的偏移量作为分析谱线的偏移量；根据分析谱线的偏移量对分析谱线进行偏移修正；计算谱线强度，带入分析曲线，计算得到元素的含量。本发明根据测试时在标定时参考谱线的峰值位置处的值，通过寻峰法计算测试时参考谱线的峰值位置与标定时参考谱线的峰值位置的偏移量。根据所述偏移量能够实时校正分析谱线的位置，减小了光谱位置偏移对分析数据的影响，提高了分析数据的稳定性和准确性。
直读光谱仪测量化学元素方法

[发明专利]一种基于遗传算法的LIBS定标定量分析方法-CN201510259910.6有效
发明人：孙兰香;于海斌;张鹏;丛智博;辛勇 -专利权人：中国科学院沈阳自动化研究所
申请日： 2015-05-19 - 公布日： 2018-08-24 - 主分类号： G01N21/63 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于遗传算法的LIBS定标定量分析方法，具体步骤为：1)获得LIBS光谱数据；2)获取待测元素特征光谱；3)参数编码，形成遗传算法初始种群；4)计算种群中各个个体适应度；5)按选择、交叉和变异概率形成新种群；6)重复4)、5)至满足结束条件，输出最优谱线(谱线对)位置；7)根据最优谱线(谱线对)进行定标(内定标)定量分析。以本方法得到的最优谱线(谱线对)作为分析线(分析线和参考线)，可以实现对待测元素浓度较为准确的定量分析。其优点在于无需人工选择分析线(参考线)，可以准确的找到高判定系数(R2)、低检出限(LOD)与低相对标准差(RSD)的元素谱线(谱线对)作为分析线(分析线和参考线)。
一种基于遗传算法 libs 定标定量分析方法

[发明专利]一种基于FFT的信号谱线分析方法与装置-CN201910741117.8在审
发明人：齐乐;王培培;韩敏;吴之光;滕达 -专利权人：山东超越数控电子股份有限公司
申请日： 2019-08-12 - 公布日： 2019-10-25 - 主分类号： G06F17/14 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于FFT的信号谱线分析方法与装置，包括：将原始信号加窗截断并执行FFT，获得频率谱、幅度谱、和相位谱；执行多谱线插值，确定多谱线频率和多谱线幅度；确定是否需要进行谱线修正和修正方向；当确定为需要进行谱线修正时，通过多谱线幅度计算修正因子，并使用修正因子、多谱线频率和多谱线幅度修正频率谱、幅度谱、和相位谱并作为分析结果输出；当确定为不需要进行谱线修正时，直接将频率谱、幅度谱、和相位谱作为分析结果输出。本发明的技术方案能够使用FFT分析并修正不同信号谱线或不同类型的信号谱线，通过可参数化配置的计算手段消除频谱泄露和栅栏效应的影响，降低误差并提高精度，且易于在FPGA上实施。
多谱线信号谱线修正幅度谱频率谱相位谱谱线修正因子参数化配置幅度计算幅度修正计算手段原始信号栅栏效应输出加窗截断频谱泄露分析

[发明专利]基于EDXRF光谱仪快速检测土壤中稀土总量的方法-CN201510999025.1有效
发明人：詹秀春;樊兴涛;袁继海;翟磊;蒯丽君;焦距;刘晓 -专利权人：国家地质实验测试中心
申请日： 2015-12-28 - 公布日： 2018-09-11 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：本发明提供一种基于EDXRF光谱仪快速检测土壤中稀土总量的方法，包括：选用Ce元素的Lβ1谱线、Nd元素的Lα1谱线和Y元素的Kα谱线作为EDXRF法分析稀土总量检测的分析谱线；将Ce元素的Lβ1谱线和Nd元素的Lα1谱线所在的能量区域合并作为一个感兴趣区，分析得到感兴趣区所对应的谱线强度值；还分析得到Y元素的Kα谱线的谱线强度值；通过与标准工作曲线对比分析，再分别乘以RHREE和RLREE，得到被测土壤样品中稀土总量优点为：可对各个地区的各类土壤样品具有稀土总量的测定，并且，测量结果准确、可重复性好，适用于野外现场快速分析。
基于 edxrf 光谱仪快速检测土壤稀土总量方法

[发明专利]一种元素定量分析方法及装置-CN201710550399.4有效
发明人：曾庆栋;余华清;童菊芳;王波云;熊良斌;肖永军;宣文静;张珍云;吕昊;丁么明 -专利权人：湖北工程学院
申请日： 2017-07-06 - 公布日： 2018-04-13 - 主分类号： G01N21/71 文献下载
摘要：本发明实施例提供一种元素定量分析方法及装置，属于光谱分析技术领域。该元素定量分析方法首先获取定标样品集中的每个样品的待测元素的浓度和待测元素的至少两条目标谱线的谱线强度，然后根据预设的每条目标谱线的权重系数和每个样品中每条目标谱线的谱线强度，计算每个样品中待测元素的加权谱线强度，最后再根据每个样品中待测元素的浓度和计算得到的每个样品中待测元素的加权谱线强度进行线性拟合，确定用于对该待测元素定量分析的定标曲线。这种元素定量分析方法采用多条谱线进行加权处理，避免了单条谱线在定量分析中，因等离子体的波动或外界干扰引起的谱线波动，而造成的分析不准确，有效的提高了系统的分析准确度和稳定性。
一种元素定量分析方法装置

[发明专利]校正等离子体发射谱线自吸收效应的方法-CN200810229661.6有效
发明人：于海斌;孙兰香;杨志家;郭前进;辛勇;丛智博 -专利权人：中国科学院沈阳自动化研究所
申请日： 2008-12-12 - 公布日： 2010-06-23 - 主分类号： G01N21/73 文献下载
摘要：本发明公开了一种校正等离子体发射谱线自吸收效应的方法，基于内参考线，通过计算谱线自吸收校正系数得校正后的等离子体发射谱线强度，具体：1)在被分析元素的等离子体发射谱线中选择自吸收校正系数值为1中的一条等离子体发射谱线作为内参考线；2)计算所有被分析元素的等离子体温度T；3)通过自吸收校正系数计算公式计算分析线的谱线自吸收校正系数；4)根据分析线的自吸收校正系数校正分析线的谱线强度；5)重复上述步骤，循环校正谱线强度，当分析线的自吸收校正系数达到设定精度时，获得最终校正后的等离子体发射谱线强度，至此完成自吸收效应的校正过程。通过本方法更准确地计算等离子体温度及更准确地进行物质成分的量化分析。
校正等离子体发射吸收效应方法

[发明专利]一种基于多谱线加权的元素测量方法及装置-CN201710548914.5有效
发明人：曾庆栋;余华清;童菊芳;王波云;熊良斌;肖永军;宣文静;张珍云;吕昊;丁么明 -专利权人：湖北工程学院
申请日： 2017-07-06 - 公布日： 2018-03-27 - 主分类号： G01N21/71 文献下载
摘要：本发明实施例提供一种基于多谱线加权的元素测量方法及装置，属于光谱分析领域。该方法首先获取定标样品集中每个样品的待测元素浓度和待测元素的至少两条目标谱线及其对应的内标谱线的强度。将目标谱线与内标谱线的强度比值作为该目标谱线的相对谱线强度，然后根据预设的权重系数组和每条目标谱线的相对谱线强度计算待测元素的加权相对谱线强度，再根据每个样品中待测元素的浓度和计算得到的加权相对谱线强度进行线性拟合这种采用多条谱线进行加权处理的定标方法，避免了单条谱线在定量分析中，因等离子体的波动或外界干扰引起的谱线波动，而造成的分析不准确，有效的提高了系统的分析准确度和稳定性。
一种基于多谱线加权元素测量方法装置

[发明专利]一种光谱分析方法-CN201010622421.X无效
发明人：吴继明;张东明;吕全超 -专利权人：聚光科技(杭州)股份有限公司
申请日： 2010-12-31 - 公布日： 2011-06-22 - 主分类号： G01N21/62 文献下载
摘要：本发明涉及一种光谱分析方法，包括以下步骤：A、建立分析模型：激发标准样品，获得原子光谱信息；从所述光谱信息中选择分析元素的m条特征谱线，m≥2；根据上述m条特征谱线对应的谱线数据及所述分析元素的元素含量/诱导含量，建立分析模型；B、分析未知样品：按照步骤A的方法获得未知样品相应分析元素的谱线数据，并代入上述分析模型，得到未知样品相应分析元素的含量。本发明具有分析模型稳健、分析准确、重现性好等优点。
一种光谱分析方法

[发明专利]一种激光诱导击穿光谱元素谱线归属识别方法-CN201310108904.1无效
发明人：赵南京;刘立拓;刘建国;刘文清;马明俊;王春龙;王寅;余洋;孟德硕;胡丽;张大海 -专利权人：中国科学院安徽光学精密机械研究所
申请日： 2013-03-30 - 公布日： 2013-07-24 - 主分类号： G01N21/63 文献下载
摘要：本发明公开了一种激光诱导击穿光谱元素谱线归属识别方法。通过选定待识别光谱段范围的大小作为分析窗口的大小，对窗口内待识别局部光谱与不同元素发射谱线标准库相结合，由局部相关性分析实现对分析窗口内元素谱线的准确识别，再通过设定分析窗口的移动步长，完成对测量光谱的全谱扫描分析，由此实现对测量光谱中不同元素谱线的归属识别。具有识别速度快、准确率高、自动化程度高等特点，无人为识别干扰因素，完全在计算机系统上实现，有效地解决了目前激光诱导击穿光谱数据处理时元素谱线归属识别的速度、准确率以及谱线识别的自动化程度问题。
一种激光诱导击穿光谱元素归属识别方法

[发明专利]一种采用多谱线比值法提高激光探针分析精确度的方法-CN201410852515.4有效
发明人：李祥友;李阔湖;曾晓雁;郭连波;陆永枫;杨新艳;李嘉铭;王旭朝;朱光正;邹孝恒;喻惠武 -专利权人：华中科技大学
申请日： 2014-12-30 - 公布日： 2015-04-01 - 主分类号： G01N21/63 文献下载
摘要：本发明属于激光探针定量分析技术，具体为一种提高激光探针分析精确度的方法，以利用多谱线比值法提高激光探针定量分析准确度和精密度。该方法首先对被测元素和基体元素的多条谱线间的强度比值进行优化，然后将优化后的一些强度比值作为定量分析模型的输入值，对模型进行训练，使用训练后的分析模型实现对被测物中被测元素的定量分析。该方法自动去除不合适的谱线比值，只留下那些能很好地反映被测元素含量信息和等离子体状态信息的被测元素谱线和基体元素谱线的强度比值留下来参与定量分析，同时，在较宽的谱线强度比值选择范围内，本发明的分析准确度和精密度都好于内标法，说明鲁棒性很好，有利于定量分析。
一种采用多谱线比值提高激光探针分析精确度方法

[发明专利]光谱分析装置和光谱分析方法-CN202110529609.8在审
发明人：冯胜 -专利权人：冯胜
申请日： 2021-05-14 - 公布日： 2022-11-15 - 主分类号： G01N21/25 文献下载
摘要：一种光谱分析装置和光谱分析方法，所述光谱分析装置包括：过滤模块，所述过滤模块适宜于对待测光线进行过滤以获得过滤光线；色散模块，所述色散模块适宜于将所述过滤光线的谱线分开；分析模块，所述分析模块适宜于对所述色散模块分开的谱线进行分析先去除所述待测光线的部分谱线以获得过滤光线，再使过滤光线的谱线分开的方法，能够有效减少所述待测光线的相邻谱线的相互干扰，从而在不增加元器件工艺要求的前提下获得更高分辨率的光谱信息，有效提高光谱分辨率。
光谱分析装置方法

[发明专利]定性分析的方法与设备-CN97112468.X在审
发明人：桑原章二 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 1997-06-12 - 公布日： 1998-04-08 - 主分类号： G01N21/63 文献下载
摘要：一种定性分析是通过以下方法进行首先存入在不同化合物形态中的各种元素的参比光谱谱线数据,激发样品和光谱分析的信号光从样品中发射出来而得到要测定的光谱谱线数据,然后测定看是否这些已测定的光谱谱线数据包括各种特定化合物形成元素的谱线;并且将参比谱线数据与所测得的谱线数据作比较,如果发现所测得的谱线数据包括有任何一种化合物形成元素的谱线,这样便鉴定出了样品中的各元素。
定性分析方法设备

[发明专利]基于加窗四谱线插值FFT的谐波快速分析方法及系统-CN201510326063.0有效
发明人：张俊敏;刘开培;汪立;王黎;田微;何顺帆;姚为 -专利权人：中南民族大学
申请日： 2015-06-15 - 公布日： 2018-03-30 - 主分类号： G01R23/16 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于加窗四谱线插值FFT的谐波快速分析方法及系统，涉及谐波分析领域。该方法包括以下步骤信号预处理；确定四根谱线；计算四谱线插值算法的修正公式；计算基波参数；四谱线插值快速算法；确定谐波参数；进行误差分析。本发明从电力系统的电网信号加窗后的频域表达式入手，根据窗函数主瓣内任意相邻谱线相位相差π的规律，推导出加窗FFT后的真实谱线点附近最大的四根谱线之间的相位规律，提出一种加窗四谱线插值FFT快速算法。相对于双谱线和三谱线插值算法，本发明能有效提高谐波分析的精度；利用该快速算法，计算某次谐波仅需要1次模的运算，能够有效降低计算量和计算时间，显著提升计算速度。
基于加窗四谱线插值 fft 谐波快速分析方法系统

[发明专利]一种在线内标法测定铁基合金中高含量钴的方法-CN202310136252.6在审
发明人：王丹;李辉;张重远 -专利权人：中国科学院金属研究所
申请日： 2023-02-20 - 公布日： 2023-06-06 - 主分类号： G01N21/73 文献下载
摘要：一种在线内标法测定铁基合金中高含量钴的方法，包括以下步骤：自制静态微混合器，待测液和内标液经过蠕动泵后进入自制静态微混合器，混合液经微混合器出口进入仪器的雾化室进行分析；在ICP‑AES上进行测定，在选定的仪器工作参数、钴分析谱线和内标谱线处进行检测，为垂直观测方式；分析谱线的选择和干扰校正，钴元素分析谱线为228.6nm，并通过基体匹配法消除铁基体干扰；内标谱线的选择，选择钇作为内标元素，内标谱线为224.3nm；解决了目前高含量钴的分析中：化学法测试步骤繁杂、周期长，仪器法测试结果波动大的问题，提高了工作效率和结果的准确性和稳定性。
一种在线内标法测定合金中高含量方法

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