专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种天然裂缝钻井液污染后壁面等效渗透的计算方法-CN202111571780.1有效
  • 任冀川;管晨呈;郭建春;苟波;赵峰 - 西南石油大学
  • 2021-12-21 - 2022-08-23 - G06F30/23
  • 本发明公开了一种天然裂缝钻井液污染后壁面等效渗透的计算方法,首先建立天然裂缝钻井液污染模型并划分网格,按照储层实际情况设置渗透、孔隙度、储层压力参数;考虑钻井液固相粒径与岩石孔喉的相对尺寸,将固相污染划分为在壁面形成泥饼及侵入岩石内部堵塞孔喉发生污染两个过程,并分别根据不同的污染机理计算泥浆固相污染对对应位置渗透的影响,结合泥饼渗透及基质渗透计算污染后天然裂缝壁面网格平均渗透,即天然裂缝钻井液污染后壁面等效渗透。本发明原理可靠,计算简便高效,有利于准确钻井液污染后壁面等效渗透分布,对裂缝性碳酸盐岩储层酸化设计具有指导意义。
  • 一种天然裂缝钻井污染后壁等效渗透计算方法
  • [发明专利]一种眼球追踪方法及相关设备-CN201911050893.X有效
  • 王文东 - OPPO广东移动通信有限公司
  • 2019-10-31 - 2022-08-09 - G06F3/01
  • 本申请公开了一种眼球追踪方法及相关设备,应用于电子设备,所述方法包括:获取第一眼睛图像;当所述第一眼睛图像的分辨小于第一预设分辨阈值时,将所述第一眼睛图像输入预先训练的图像超分辨重建模型,得到第二眼睛图像,其中,所述第二眼睛图像的分辨大于所述第一眼睛图像的分辨;根据所述第二眼睛图像运行眼球追踪服务以完成预设功能。实施本申请的实施例,通过SRGAN的超分辨技术将低分辨的眼睛图像转化成高分辨的眼睛图像后,用于眼球追踪应用,从而提升眼球追踪准确度和精确度。
  • 一种眼球追踪方法相关设备
  • [发明专利]一种井下电阻的计算方法-CN202010950453.6有效
  • 耿淦;乔颖慧;顾鹏;常春艳 - 斯伦贝谢油田技术(山东)有限公司
  • 2020-09-11 - 2023-09-29 - G01R27/02
  • 本发明提供一种井下电阻的计算方法,其中在随钻电磁波电阻测井时,根据钻井现场作业条件和所需探测地层深度选择电磁波工作频率,并根据所选择的工作频率进行计算并处理采集的电磁波电阻测井信号;首先钻井仪器下井前,根据作业需求设置工作频率,400KHz或2MHz,然后根据选择工作频率的不同,采取相对应的电阻计算方法,再在地面系统处理上传的电阻值,绘制电阻曲线;优点为:本发明根据工作需求设置工作频率,扩大井深探测范围、加深探测深度,更好地识别地层界面,实现地质导向功能,根据实际情况灵活获得电阻参数,提高石油钻探电阻测量的准确性。
  • 一种井下电阻率计算方法
  • [发明专利]光伏组件中背板与EVA组合体的反射测试方法-CN201210560086.4无效
  • 蒋忠伟;侯秉良;谌能全;孙小菩 - 东莞南玻光伏科技有限公司
  • 2012-12-20 - 2013-04-03 - G01N21/25
  • 一种反射测试方法包括:将背板、背面EVA、隔离膜、电池片、正面EVA、玻璃依次叠放;通过层压设备进行层压,得到带隔离膜的光伏组件;将带隔离膜的光伏组件从隔离膜处剥离分开,得到背板和背面EVA的组合体;测试背板和背面EVA组合体的反射。上述光伏组件中背板与EVA组合体的反射测试方法通过在背面EVA和电池片之间增加隔离膜再进行常规层压,如此便可以将需要测试的背板和背面EVA组合体分离出来,然后进行反射测试,这样便可以方便且准确地测得光伏组件中真实的背板和背面EVA组合体的反射,还可从反射谱图中得到EVA+背板对每一段光谱的反射,直观简便了解光伏组件封装材料的有效反射
  • 组件背板eva组合反射率测试方法
  • [发明专利]一种测定磁性半导体载流子迁移的新方法-CN200510016187.5无效
  • 杨瑞霞;杨帆 - 杨瑞霞
  • 2005-11-21 - 2007-05-30 - G01R31/00
  • 本发明是一种磁性半导体载流子迁移的测定方法,主要解决磁性半导体材料中由于异常霍尔效应的存在,测定非磁性半导体载流子浓度和迁移普遍使用的霍尔效应测量迁移方法对其不再适用。据查文献资料,目前没有可靠测量磁性半导体载流子迁移的方法。本发明提出将电化学C-V方法和范德堡方法(不需加磁场)相结合,用电化学C-V方法测定磁性半导体载流子浓度,用范德堡方法测定电阻,然后根据载流子浓度、电阻与载流子迁移之间的关系,确定磁性半导体的载流子迁移本方法不涉及霍尔测量,避开了异常霍尔效应的影响,具有不需要特制设备、操作方便及测量准确等特点。
  • 一种测定磁性半导体载流子迁移率新方法

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